- •2. Как осуществляется модификация поверхности диэлектрика для туннельной микроскопии.
- •3. Ограничения метода растровой электронно-лучевой микроскопии при исследовании органических материалов. Пути их устранения.
- •4. Ограничения просвечивающей микроскопии при исследовании живой ткани.
- •6. Принцип действия флуоресцентных оптических микроскопов, их достоинства и недостатки.
- •7. Микроскопия темного поля
- •9. В чем сложность исследования размера частиц порошкового материала методом атомно-силовой микроскопии.
- •10. Преимущества атомно-силовой зондовой микроскопии в сравнении с туннельной.
- •11.Достоинства и недостатки рэм во вторичных и в первичных электронах
- •12. Чем определяется разрешающая способность рентгеновского микрозондового анализа.
- •13. Использование эффекта интерференции для измерения толщины тонких пленок.
- •17. Основные структурные элементы электронного растрового микроскопа.
- •18. Принцип действия конфокальных микроскопов.
- •19. Разрешающая способность микроскопа и причины её снижения.
- •20. Основные структурные элементы рентгеновских микроанализаторов электронных микроскопов.
17. Основные структурные элементы электронного растрового микроскопа.
Растровый электронный микроскоп — прибор класса электронный микроскоп, предназначенный для получения изображения поверхности объекта с высоким (до 0,4 нм) пространственным разрешением, также информации о составе, строении и некоторых других свойствах приповерхностных слоёв. Основан на принципе взаимодействия электронного пучка с исследуемым объектом.
Современный РЭМ позволяет работать в широком диапазоне увеличений приблизительно от 10 крат до 1 000 000 крат.
Нижеследующий рисунок иллюстрирует принципиальную схему РЭМ: тонкий электронный зонд (электронный пучок) направляется на анализируемый образец. В результате взаимодействия между электронным зондом и образцом генерируются низкоэнергетичные вторичные электроны, которые собираются детектором вторичных электронов. Интенсивность электрического сигнала детектора зависит как от природы образца (в меньшей степени), так и от топографии (в большей степени) образца в области взаимодействия. Таким образом, сканируя электронным пучком поверхность объекта возможно получить карту рельефа проанализированной зоны.
Тонкий электронный зонд генерируется электронной пушкой, которая играет роль источника электронов, и фокусируется электронными линзами (обычно электромагнитными, иногда электростатическими). Сканирующие катушки отклоняют зонд в двух взаимоперпендикулярных направлениях, сканируя поверхность образца зондом, подобно сканированию электронным пучком экрана электронно-лучевой трубки телевизора. Источник электронов, электронные линзы (обычно тороидальные магнитные) и отклоняющие катушки образуют систему, называемую электронной колонной.
18. Принцип действия конфокальных микроскопов.
конфокальный микроскоп может быть использован для проведения исследований практически любых объектов:
физических структур (квантовые точки, полупроводники, электронные чипы памяти); объектов нанооптики; биологических образцов (измерения флюоресценции, клетки и т. д.).
По сравнению с обычным оптическим прибором особенностью конфокального микроскопа является значительный контраст. В нем используется апертура, которая находится в плоскости изображения и ограничивает поток фонового рассеянного света. В настоящее время использование конфокальных микроскопов широко распространено в клеточной биологии. Благодаря высокому разрешению и контрасту они дают возможность изучить структуру клеток и их органоидов (ядро, цитоскелет, хромосомы, локализации отдельных генов).
Система чёткого изображения достигается при помощи двух основных методов:
Требуемый участок образца освещается фокусированным лучом с высокой интенсивностью, обычно лазера. Таким образом, фокусированный свет внутри конфокального микроскопа направляется на участок образца ниже и выше фокусной поверхности. Для блокирования размытой картинки, находящейся вне фокусной информации от исследуемого образца, используется точечная диафрагма.
Конфокальный микроскоп позволяет получать очень чёткое трёхмерное изображение при помощи последовательного сканирования множества сечений исследуемого образца. Он позволяет оценить результаты исследования клеточной активности в четырёх направлениях (глубина, ширина, высота и время).
Наилучшее горизонтальное разрешение конфокального прибора составляет 0,4 мкм, лучшее вертикальное разрешение данного микроскопа – примерно 1,4 мкм. Оно гораздо выше других традиционных оптических систем. Вышеуказанные данные приведены для конфокального микроскопа с цифровой апертурой 0,65 и длиной волны возбуждения лазера подсветки 633 нм.