Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Архангелский ПСпице и Десигн Центер Ч2 1996.pdf
Скачиваний:
58
Добавлен:
16.08.2013
Размер:
1.71 Mб
Скачать

124 4. Идентификация параметров моделей с помощью PARTS

Экран "Reverse Recovery"

Время рассасывания носителей заряда

ВЕРХНИЙ СПИСОК

Обозначени

Справочные данные

е

 

 

 

Trr

Время рассасывания

 

носителей заряда

 

Ifwd

Ток

диода в

прямом

 

направлении до переключения

Irev

Обратный ток

диода в

 

первый

момент

при

 

переключе-нии

 

Rl

Эквивалентное

 

 

сопротивление

нагрузки

 

(включая

 

выходное

 

сопротивление генератора)

НИЖНИЙ СПИСОК

Обознач

Значение по

е-ние

умолчанию

TT

5 нс

 

 

Среднее время пролета носителей TT, определяющее в модели диффузионную емкость, идентифицируется в PARTS по переходному процессу, протекающему при запирании ранее открытого диода. Исходные данные: Ifwd - ток, который протекает через открытый диод до начала переключения; Irev - обратный запирающий ток, протекающий через диод в первый момент при резком (скачкообразном) запирании диода; RL - сопротивление, через которое подается запирающий сигнал (включая выходное сопротивление источника сигнала).

4.3. БИПОЛЯРНЫЕ ТРАНЗИСТОРЫ

Основные параметры модели биполярного транзистора (подробнее см. работы [1] и [2]), идентифицируемые программой PARTS:

IS

-

тепловой ток при температуре 27 °С;

XTI

-

температурный коэффициент тока IS;

EG

-

ширина запрещенной зоны;

VAF -

напряжение Эрли в нормальном включении;

BF

-

максимальный коэффициент передачи базового тока β в

 

 

нормальном включении;

NE

-

коэффициент неидеальности в показателе экспоненты для тока

 

 

основных носителей эмиттерного перехода;

 

 

 

4.3. Биполярные транзисторы

 

 

125

ISE

-

тепловой ток основных носителей эмиттерного перехода;

 

IKF

- точка начала

спада зависимости β от

тока коллектора

в

 

 

нормальном включении;

 

 

 

 

XTB -

температурный коэффициент BF и BR;

 

 

 

BR

-

максимальный коэффициент передачи базового тока β в

 

 

инверсном включении;

 

 

 

 

NC

-

коэффициент неидеальности в показателе экспоненты для тока

 

 

основных носителей коллекторного перехода;

 

 

ISC

-

тепловой ток основных носителей коллекторного перехода;

 

IKR

-

точка начала спада зависимости β от тока коллектора в инверсном

 

 

включении;

 

 

 

 

 

RC

-

объемное сопротивление коллектора;

 

 

 

CJС

-

барьерная емкость коллекторного перехода при нулевом

 

 

смещении;

 

 

 

 

 

VJC

-

контактная разность потенциалов коллекторного перехода;

 

MJC

-

коэффициент, учитывающий плавность коллекторного перехода;

FC

-

коэффициент нелинейности барьерных емкостей прямосмещенных

 

 

переходов;

 

 

 

 

 

CJE

-

барьерная емкость эмиттерного перехода при нулевом смещении;

VJE

-

контактная разность потенциалов эмиттерного перехода;

 

MJE

-

коэффициент, учитывающий плавность эмиттерного перехода;

 

TR

-

время переноса заряда в инверсном режиме;

 

 

 

TF

-

время переноса заряда в нормальном режиме;

 

 

 

ITF

-

ток, характеризующий зивисимость времени пролета от тока;

 

VTF

- напряжение, характеризующее

зависимость

времени

пролета

от

 

 

напряжения;

 

 

 

 

 

XTF

- коэффициент,

определяющий

зависимость

времени

пролета

от

 

 

напряжения.

 

 

 

 

 

Такие параметры, как NF, NR, VAR, NK, ISS, NS, RE, RB, RBM, IRB, XCJC, CJS, VJS, MJS, PTF, QC0, RC0, V0, GAMMA, TRE1, TRE2, TRB1, TRB2, TRM1, TRM2, TRC1, TRC2 программой PARTS не идентифицируются.

Экран "Junction Voltage"

Входная ВАХ насыщенного транзистора

ВЕРХНИЙ СПИСОК

 

НИЖНИЙ СПИСОК

 

 

 

126 4. Идентификация параметров моделей с помощью PARTS

Обозн

Справочные данные

 

Обоз

Значение

а-чение

 

 

на-чение

по умолчанию

Vbe

Напряжение Б-Э в режиме насыщения

 

IS

10-14 А

Vce

Напряжение К-Э в режиме насыщения

 

XTI

3

Ib

Ток базы в режиме насыщения

 

EG

1.11

%Ib

Доля тока неосновных носителей

 

 

 

Этот экран позволяет определить тепловой ток неосновных носителей IS по заданной точке ВАХ транзистора в режиме насыщения. Задаются напряжения база-эмиттер (Vbe), коллектор-эмиттер (Vce<Vbe) и базовый ток Ib, соответствующий этим напряжениям. Задается также %Ib - величина, показывающая, какую часть (сколько процентов) в базовом токе составляет ток неосновных носителей. По этим данным автоматически определяется величина IS при заданных значениях параметров XTI и EG.

Результаты идентификации не очень критичны к величине %Ib, которая по умолчанию равна 80. Если задается точка ВАХ при больших токах, эту величину можно несколько увеличить, при малых токах ее следует уменьшить, так как при уменьшении напряжений растет доля тока паразитных основных носителей. Можно, конечно, проведя в следующих экранах идентификацию тепловых токов основных носителей вернуться к данному экрану и уточнить значение %Ib. Однако подобная итерация обычно незначительно изменяет результаты идентификации.

Значения параметров XTI и EG даются для кремниевых транзисторов. Величину EG можно уточнить в зависимости от типа транзистора, а величину XTI можно подобрать, построив семейство кривых для нескольких температур, если, конечно, есть соответствующие экспериментальные данные.

Следует сказать, что, вообще, характеристики модели не очень чувствительны к определяемому в данном экране параметру IS. Как можно увидеть из соотношений, приведенных в работе [1], они в основном зависят от определяемых далее отношений тепловых токов, а не от их абсолютных значений.

Экран "Output Admitance"

Выходная проводимость транзистора

 

ВЕРХНИЙ СПИСОК

 

НИЖНИЙ СПИСОК

 

 

 

 

 

Значение

Обозначен

 

Справочные данные

 

Обозначени

ие

 

 

 

е

по умолчанию

 

4.3. Биполярные транзисторы

127

 

 

 

 

 

 

hoe

Дифференциальная

 

VAF

100 В

 

 

выходная проводимость

 

 

 

 

Vce

Напряжение К-Э при

 

 

 

 

 

измерении hoe

 

 

 

 

Ток коллектора при

 

 

 

 

 

измерении hoe

 

 

 

 

По заданному значению выходной проводимости hoe в нормальной активной области работы в схеме с общим эмиттером и заданному режиму ее измерения (Vce и Iс) рассчитывается параметр VAF, отражающий эффект Эрли. Этот параметр (см. работу [1]) характеризует не только выходную проводимость, но и зависимости коэффициента передачи тока β и времени пролета от напряжения на закрытом коллекторном переходе. Величину hoe можно получить непосредственно из справочных данных или определить из наклона выходных ВАХ транзистора в нормальной активной области работы в схеме с общим эмиттером.

Экран "Forvard DC Beta"

Зависимость β от тока

ВЕРХНИЙ СПИСОК

Обозначение

Справочные данные

 

 

hfe1

Значения коэффициента

Iс1

передачи постоянного

hfe2

базового тока при трех

Iс2

различных значениях

hfe3

коллекторного тока

Iс3

 

Vсe

Напряжение К-Э при

 

измерениях hfe

НИЖНИЙ СПИСОК

Обозначени

Значение по

еумолчанию

BF

100

NE

1.5

ISE

0

IKF

0

XTB

1.5

В данном экране аппроксимируется зависимость коэффициента передачи базового тока hfe (по постоянному току) в нормальной активной области работы в схеме с общим эмиттером от значения коллекторного тока (подробнее см. п. 4.2 в работе [1]). В качестве исходных данных задаются три пары значений: величина hfe и соответствующий ток Iс, при котором эта величина измерена. Предполагается, что все измерения проводятся при одном и том же значении напряжения коллектор-эмиттер Vсe, которое тоже

128 4. Идентификация параметров моделей с помощью PARTS

задается в качестве исходных данных. Это позволяет учесть определенную в предыдущем экране зависимость hfe от напряжения.

Первая пара значений должна соответствовать области малых токов, вторая - области средних токов, но при этом все-таки должна располагаться на участке нарастающей зависимости hfe(I) (см. рис. 4.4 в п. 4.2 работы [1]). Третья пара значений должна соответствовать точке максимума зависимости β(I). Таким образом, должны выполняться соотношения hfe1<hfe2<hfe3 и Iс1<<Iс2<<Iс3. Различия между значениями hfe должны составлять не менее

20%.

Модель, заложенная в PSpice не может описать любые зависимости hfe(I). Например, иногда задаваемая величина hfe3 оказывается слишком большой и не соответствующей значениям, которые возможны для данной модели при заданных значениях hfe1 и hfe2. Тогда получается, что коэффициент передачи тока начинает спадать, не достигнув значения hfe3. В этих случаях приходится изменять значения каких-либо из введенных hfe, добиваясь компромисса между возможностями модели и точностью описания реальных характеристик. Например, если, как в указанном выше случае, не достигается требуемое значение hfe3, можно попытаться уменьшить hfe1 или увеличить hfe2, т.е. задать более крутую зависимость в области малых токов. Это может помочь достичь требуемой величины hfe3.

В целом надо отметить, что модель не всегда дает удовлетворительную аппроксимацию зависимости коэффициента передачи базового тока, особенно в области высоких уровней инжекции на спадающем участке зависимости, где действует эффект Кирка.

Если не требуется описывать зависимость hfe(I), можно просто задать значение BF равным коэффициенту передачи базового тока, который в этом случае будет постоянным. Однако это можно делать только для прикидочных расчетов или если заранее известен режим, в котором будет работать транзистор, и значение BF задается именно для этого режима. Иначе при расчете схемы на PSpice возможны серьезные погрешности.

Параметр XTB можно подобрать, если известна температурная зависимость hfe. Тогда полезно построить на экране семейство кривых для разных температур и подобрать по нему подходящее значение XTB.

При задании значений hfe надо решить, для каких значений коэффициентов передачи создается модель: минимальных, средних или максимальных, поскольку часто все эти три величины приводятся в справочниках. Обычно параметры идентифицируются для средних или минимальных значений hfe. Можно идентифицировать параметры и для тех, и для других значений, занеся и в библиотеку PSpice, конечно, под различающимися именами. Тогда можно будет проводить расчет схем и на

4.3. Биполярные транзисторы

129

наихудших (с минимальными hfe), и на типовых транзисторах. Нередко типовые и средние значения даются в справочниках только для одного режима, а режимная зависимость hfe(I) дается для средних типовых транзисторов. Тогда при желании идентифицировать параметры для наихудшего транзистора надо предварительно трансформировать зависимость hfe(I), умножив все значения hfe на то отношение минимального значения hfe к среднему, которое приведено в справочнике для какогонибудь тока.

Экран "Vce(sat) Voltage"

Коллекторное напряжение насыщенного транзистора

 

ВЕРХНИЙ СПИСОК

 

 

НИЖНИЙ СПИСОК

 

 

 

 

Обознач

 

Обозначен

Справочные данные

 

 

Значение

ие

 

 

 

е-ние

по

 

 

 

 

BR

умолчанию

Vce

Напряжение

К-Э

 

1

 

насыщенного

 

 

NC

 

 

транзистора

 

 

2

Коллекторный ток

 

 

ISC

0 А

Iс/Ib

Отношение коллекторного и

 

IKR

0 А

 

базового токов

 

 

RC

0 Ом

Данный экран позволяет автоматически определить коэффициент переноса базового тока в инверсном включении BR по величине остаточного напряжения коллектор-эмиттер насыщенного транзистора при токе коллектора Iс и базовом токе Ib. Кроме того, можно задать и ряд других параметров модели - NC, ISC, IKR и объемное сопротивление коллектора RC. Следует учитывать, что большинство этих параметров влияют, конечно, не только на остаточное напряжение насыщенного транзистора, но и на другие характеристики. В частности, BR, NC, ISC и IKR определяют в первую очередь коэффициент передачи базового тока в инверсном включении транзистора. Поэтому если в схемах, которые планируется рассчитывать, возможно инверсное включение, то лучше определить эти параметры из данных для инверсного включения, конечно, если они известны. Для этого можно воспользоваться предыдущим экраном, подставляя в него значения инверсного коэффициента передачи тока.

Параметр RC может также заметно влиять и на частотные характеристики в нормальной активной области работы для транзисторов, в которых

130 4. Идентификация параметров моделей с помощью PARTS

величина RC значительна. Однако чаще всего все эти параметры мало существенны и тогда можно воспользоваться их значениями по умолчанию или принять их равными ранее определенным аналогичным параметрам для нормального включения.

Экран "C-B Capacitance"

Барьерная емкость коллекторного перехода

ВЕРХНИЙ СПИСОК

 

НИЖНИЙ СПИСОК

 

 

 

 

Значение по

Обозначен

Справочные данные

 

Обознач

ие

 

 

е-ние

умолчанию

Cobo1

Барьерная емкость

 

CJC

2 нФ

Vcb1

коллекторного перехода

 

VJC

0.75 B

Cobo2

при двух значениях

 

MJC

0.3333

 

модуля

 

 

 

Vcb2

обратного напряжения

 

FC

0.5 B

Этот экран позволяет подобрать аппроксимацию зависимости барьерной емкости коллекторного перехода от запирающего напряжения.

Первая из вводимых точек зависимости C(V) должна соответствовать небольшому запирающему напряжению (можно задать его равным нулю), вторая - большему напряжению. В результате будут автоматически определены параметры CJС и MОС при заданных VJС и FC. Если известна только одна точка зависимости C(V), ее следует задать в качестве обеих требуемых для идентификации точек. В этом случае программа определит только величину CJС при заданных значениях остальных параметров. Величину MОС в этой ситуации следует задавать исходя из типа коллекторного перехода: 0.5 для резкого перехода, 0.3333 для плавного.

Параметры VJС и FC мало влияют на величину барьерной емкости и то практически только при прямом смещении на переходе, т.е. в режиме насыщения или в инверсном включении, когда само влияние барьерной емкости на характеристики транзистора становится слабым, поскольку начинают доминировать диффузионные емкости. Поэтому обычно заданные по умолчанию значения этих параметров, характерные для кремниевых транзисторов, можно не изменять.

При точном описании емкостей, особенно для высокочастотных схем, надо учитывать, что в реальном транзисторе помимо нелинейных емкостей p-n переходов имеются еще постоянные емкости между выводами транзистора (см. п. 4.2.2 работы [1]). Эти емкости не входят в модель и при расчете на PSpice должны включаться как внешние. В этом случае в PARTS при задании

4.3. Биполярные транзисторы

131

значений емкостей следует вычитать из экспериментальных или справочных значений величины этих внешних паразитных емкостей.

Экран "E-B Capacitance”

Барьерная емкость эмиттерного перехода

ВЕРХНИЙ СПИСОК

 

НИЖНИЙ СПИСОК

 

 

 

 

Значение

Обозначен

Справочные данные

 

Обозначени

ие

 

 

е

по

 

 

 

 

умолчанию

Cibo1

Барьерная емкость

 

CJE

5 нФ

Veb1

эмиттерного перехода

 

VJE

0.75 B

Cibo2

при двух значениях

 

MJE

0.3333

 

модуля

 

 

 

Veb2

обратного напряжения

 

 

 

Данный экран аналогичен предыдущему, но относится к барьерной емкости эмиттера. Все сказанное для того экрана справедливо и для данного с тем единственным отличием, что параметр FC одинаков для всех емкостей.

Экран "Storage Time"

Рассасывание носителей заряда в базе насыщенного транзистора

ВЕРХНИЙ СПИСОК

 

НИЖНИЙ СПИСОК

 

 

 

Обозначени

 

Обозначен

Справочные данные

 

Значение

ие

 

 

е

по

 

 

 

TR

умолчанию

ts

Время рассасывания

 

10 нс

Коллекторный ток

 

 

 

Iс/Ib

Отношение коллекторного

 

 

 

 

и базового токов

 

 

 

Этот экран служит для определения среднего времени пролета базы в инверсном направлении TR (т.е. величины диффузионной емкости коллекторного перехода), исходя из времени рассасывания носителей заряда в базе насыщенного транзистора при его запирании. Величину TR можно определять или из частотных характеристик транзистора в инверсном включении, или из постоянной накопления в режиме насыщения (см. п. 4.2.2 работы [1]). Обычно инверсное включение мало интересует и определение

132 4. Идентификация параметров моделей с помощью PARTS

TR из времени рассасывания оправдано. Если же транзистор предполагается использовать в инверсном включении, параметр TR надо определять исходя из предельной частоты в этом включении, как это делается в следующем экране для нормального включения. Следует отметить, что поскольку при расчете времени рассасывания в модели еще не известна диффузионная емкость эмиттерного перехода, в определении параметра TR возможна погрешность для некоторых типов транзисторов.

Экран "Gain Bandwidth"

Предельная частота усиления

 

ВЕРХНИЙ СПИСОК

 

 

Обоз

Справочные данные

на-чение

 

fT

Предельная частота

 

усиления

Коллекторный ток

Vсe

Напряжение К-Э

НИЖНИЙ СПИСОК

Обозна-

 

Значение по

чение

 

умолчанию

TF

 

1 нс

 

 

 

ITF

 

0 А

VTF

 

0 В

XTF

 

0

В данном экране по заданной предельной частоте fT в нормальной активной области (т.е. по частоте, на которой коэффициент передачи базового тока падает до 1) рассчитывается среднее время пролета базы в нормальном направлении TF, определяющее диффузионную емкость эмиттерного перехода. Это наряду с барьерными емкостями важнейший параметр, определяющий частотные характеристики и длительность переходных процессов. Если в справочнике значение fT не приведено, но известна граничная частота f, на которой коэффициент передачи базового тока падает в 2 раз, то fT можно оценить соотношением fT f/hoe, где hoe - коэффициент передачи базового тока при данном режиме. Если известно значение модуля коэффициента передачи hf на какой-то высокой частоте f и значение коэффициента передачи ho в том же режиме на низкой частоте, то

fT можно оценить соотношением fT ≈ f ho hf 2dho2 − hf 2 i. Наконец,

если известна зависимость h(f), то fT можно оценить путем экстраполяции к точке, в которой h=0.

Кроме TF, все остальные параметры по умолчанию в данном экране заданы идеальными. Если их не менять, то особенности частотных характеристик при высоких уровнях инжекции, в частности связанные с эффектом Кирка, моделироваться не будут. Типичные значения для этих параметров следующие: ITF=10 мА ÷ 1 А, VTF=5 В ÷ 50 В, XTF2.