Сборник 1
.pdfФЕДЕРАЛЬНОЕ АГЕНТСТВО СВЯЗИ
Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования
МОСКОВСКИЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ СВЯЗИ И ИНФОРМАТИКИ
Кафедра электроники и микроэлектронных средств телекоммуникаций
Сборник описаний лабораторных работ к лабораторному практикуму
по курсу
ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ЭЛЕКТРОНИКИ
Москва 2005
2
ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА №1
ИССЛЕДОВАНИЕ ИДЕАЛИЗИРОВАННОГО P-N ПЕРЕХОДА
1. Цель работы
Целью настоящей работы является определение основных характеристик идеализированного р-n перехода. Исходными данными являются параметры конструкции: тип полупроводника, концентрация примесей, площадь р-п перехода. Определяются следующие характеристики идеализированного р-п перехода в отсутствие внешнего напряжения:
-контактная разность потенциалов;
-толщина;
-тепловой ток (ток насыщения);
-напряжение и тип пробоя;
-барьерная ёмкость.
2. Краткие теоретические сведения
Р-п переход является одним из самых распространенных видов контактов, используемых в электронике. Его главным свойством является односторонняя проводимость, т.е. способность хорошо проводить ток только при одной полярности приложенного напряжения (прямое напряжение). При обратном напряжении ток на несколько порядков меньше.
В идеальном случае р-п переход представляет собой контакт однородных полупроводников р и п типа. Как правило, одна из областей имеет намного более высокую концентрацию донорной примеси Nд или акцепторной примеси Na. Такие переходы называют асимметричными, их сильнолегированную область - эмиттером, слаболегированную - базой.
На границе р и п областей существуют значительные градиенты концентрации свободных электронов и дырок dn/dx и dp/dx. Поэтому в р-n переходе даже в отсутствие внешнего напряжения происходит диффузия основных носителей в смежную область, т.е. наблюдается диффузионный ток основных носителей. Переход основных носителей в смежную область, где они становятся неосновными, приводит к рекомбинации и, поэтому, к уменьшению концентрации основных носителей. В результате в приграничных областях
4
концентрация свободных электронов и дырок низкая, образуется обедненный слой. Заряды ионов примесей в нём остаются некомпенсированными. Некомпенсированные ионы примесей в приграничных областях являются здесь наиболее количественно значимыми зарядами. Эти заряды создают собственное электрическое поле р-n перехода.
Собственное электрическое поле р-n перехода - тормозящее для диффундирующих основных носителей. Это же поле вызывает встречный дрейф неосновных носителей, т.е. встречный дрейфовый ток. Возникает устойчивое равновесие диффузионного и дрейфового токов, в результате чего тока во внешней цепи нет. Выравнивания концентраций, как это было бы, например, при диффузии газов, не происходит.
Собственное электрическое поле р-n перехода характеризуют контактной разностью потенциален В идеализированном р-n переходе
где - термический потенциал, - концентрации примесей, собственная концентрация:
где |
эффективные плотности состояний, |
- ширина запрещенной |
|
зоны. |
|
|
|
|
Величина |
примерно соответствует |
при котором электрическое |
поле перехода исчезает и перестает препятствовать протеканию большого
диффузионного тока (прямого тока ). Типичные значения |
= 0,3 ... 1,5 В. |
Протяженность приграничных областей с некомпенсированными ионами примесей называют толщиной р-n перехода w. Для идеализированного р-n перехода
От толщины р-n перехода зависит напряженность поля при обратном напряжении Если напряженность превышает критическую Екр, возникает пробой. Поэтому толщина р-n перехода определяет напряжение пробоя, для увеличения которого одну из областей - базу делают слаболегированной. Типичные значения w 0,1...2 мкм.
5
Анализ процессов в идеализированном р-n переходе приводит к так называемой формуле Шокли или теоретической ВАХ:
(4) где — тепловой ток (ток насыщения), I и U — ток и напряжение перехода.
Величина определяет величины и не только идеализированного, но и в некоторой степени реального р-n перехода. Для идеализированного р-n перехода
(5)
где D - коэффициент диффузии, S — площадь р-n перехода, L — диффузионная длина, - концентрация примеси в базе. Значения изменяются в больших пределах в зависимости от типа полупроводника, площади, особенностей изготовления и температуры р-n перехода.
В зависимости от толщины р-n перехода в нём возникает лавинный или, в очень тонких р-n переходах, туннельный пробой. Напряжение лавинного
пробоя можно рассчитать по приближенной формуле:
3
(6)
Напряжение туннельного пробоя |
определяется выражением: |
(7)
Возникает тот пробой, напряжение которого меньше. При характер пробоя - смешанный.
Барьерная емкость р-n перехода во многом определяет его инерционность, т.е. частотные и импульсные свойства. Для идеализированного р-n перехода в отсутствие напряжения
Характеристики реальных р-n переходов оказываются несколько иными из-за влияния сопротивления и неоднородности областей, неидеальности структуры и поверхности полупроводника и других факторов, не учитываемых в идеализированном р-n переходе. Реальные переходы отличаются также намного более сложным влиянием температуры, чем это учитывается в приведённых выше соотношениях. Поэтому исследование реальных р-n переходов является предметом других лабораторных работ.
6
3.Методические указания по выполнению лабораторной работы
3.1.Вызвать программу лабораторной работы, для чего кликнуть мышью на ярлыке ЛАБ1 на рабочем столе.
3.2.Ввести исходные данные согласно заданному преподавателем номеру варианта 1...12 и данным таблицы 1. При вводе чисел пользоваться
экспоненциальной формой записи. Например, число следует записать,
как ЗЕ17, число как 1Е-6. После набора каждого числа нажимать ENTER.
3.3.Перенести в отчёт рисунок р-n перехода с экрана.
3.4.Перенести в таблицу 2 результаты расчёта.
3.5.Исходя из теоретических сведений, предложить вариант конструкции
сувеличенным напряжением пробоя Внести исходные данные и результаты в таблицу 2.
3.6.Исходя из теоретических сведений, предложить вариант конструкции
с уменьшенной барьерной емкостью |
Внести исходные данные и |
результаты в таблицу 2. |
|
3.7.Исходя из теоретических сведений, предложить вариант конструкции
суменьшенным тепловым током Внести исходные данные и результаты в таблицу 2.
4. Содержание отчета
Отчёт должен содержать:
-название и цель работы;
-рисунок р-n перехода с поясняющими надписями, согласующимися с заданным вариантом (как на экране);
-полностью заполненную таблицу 2.
5. Контрольные вопросы
1.Указать направление диффузии и дрейфа в асимметричном р-n переходе при Какие составляющие (электронная, дырочная) будут преобладать?
2.Почему диффузия носителей не приводит к выравниванию концентраций?
3.Какие заряды количественно преобладают вблизи контакта р- и п- областей? Почему на границе областей концентрация подвижных носителей невелика?
4.Какой окажется контактная разность потенциалов при подаче внешнего напряжения, равного
5.Как на свойства р-n перехода влияет выбор типа полупроводника?
6.Как на свойства р-n перехода влияет концентрация примесей?
7.Как на свойства р-n перехода влияет его площадь?
8.Каким должен быть р-n переход с большим напряжением лавинного пробоя? С малым напряжением туннельного пробоя?
7
Таблица 1. Данные исходных вариантов
Таблица 2. Результаты исследований
8
ЛАБОРАТОРНАЯ РАБОТА № 2
ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТАЛЛО-ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЕРЕХОДОВ
1. Цель работы
Целью работы является исследование металло-полупроводниковых переходов при использовании различных сочетаний металла и полупроводника. При этом определяются следующие характеристики и параметры:
-тип контакта (омический или Шотки);
-сопротивление омического контакта. Для контакта Шотки при определяются:
-контактная разность потенциалов;
-толщина;
-тепловой ток;
-барьерная емкость.
2. Краткие теоретические сведения
Контакт металл-полупроводник, как и р-n переход, относится к наиболее распространенным в электронике типам контактов. Чаще всего это обычный, омический контакт, сопротивление которого невелико и не зависит от знака и величины приложенного напряжения. Однако некоторые металлы и полупроводники образуют так называемые контакты Шотки, обладающие, как и р-n переход, односторонней проводимостью. Такие контакты используются в диодах Шотки и некоторых типах транзисторов.
Характер контакта металл-полупроводник зависит от соотношения работ выхода контактирующего металла и полупроводника . Если, например, будет преобладать диффузия электронов из металла в полупроводник.
При этом в m-n переходе в приграничной области полупроводника образуется избыток свободных электронов, т.е. обогащенный слой, рис. 1. В таком виде в контакте подвижные носители имеются во всех его частях, и поэтому он обладает очень маленьким электрическим сопротивлением. При этом же соотношении в m-p переходе также преобладает диффузия электронов
из металла в полупроводник. Однако из-за рекомбинации электронов с дырками в р-области образуется не обогащенный, а обедненный слой с очень низкой концентрацией подвижных носителей, т.е. с большим сопротивлением. Уменьшение концентрации основных носителей приводит к появлению нескомпенсированных отрицательных ионов акцепторной примеси. Их заряд, вместе с положительным зарядом ионов в приграничной части т-области, образует два слоя зарядов, создающих собственное поле т-р перехода. Как и в
1 Работой выхода называется работа по удалению электрона из данного вещества в бесконечность, где потенциал электрического поля = 0. За исходное значение энергии электрона принимается энергия уровня Ферми данного вещества.
р-n переходе, собственное поле обуславливает равновесие диффузии и дрейфа и «перемешивания» носителей не происходит.
Рис. 1 Металло-полупроводниковые переходы при
Аналогично, при в m-n переходе образуется обедненный слой, а в т-р - обогащенный. Поэтому в этом случае m-n переход - выпрямляющий (Шотки), а т-р - омический.
Рис.2. Металло-полупроводниковые переходы при
В реальном металло-полупроводниковом переходе обычно существует еще один слой зарядов - на поверхности полупроводника (поверхностный заряд). Он возникает из-за дефектов кристаллической решетки полупроводника в его поверхностном слое и из-за захвата поверхностью посторонних акцепторных и донорных примесей. Поверхностный заряд может сильно влиять на электрические характеристики перехода, вплоть до изменения самого характера контакта (омический или Шотки). Поэтому диоды Шотки получили распространение намного позже р-n диодов, когда была создана технология, обеспечивающая высококачественный контакт металла с предельно чистой и бездефектной поверхностью полупроводника. Только у таких переходов контактная разность потенциалов близка к идеализированному значению
10
(1)
В настоящей работе металло-полупроводниковый переход полагается идеальным, описывающимся уравнением (1).
Если контакт омический, т.е. предназначен для подключения к полупроводниковой области, его наиболее важным параметром является сопротивление R. У такого контакта сопротивление практически не зависит от сопротивления m-области и обогащенного слоя. Поэтому R омического контакта определяется размерами и параметрами нейтральной части полупроводника:
(2)
где L и S — толщина и площадь поперечного сечения нейтрального слоя, и N - коэффициент подвижности и концентрация примеси в полупроводниковой области.
В случае контакта Шотки, когда используются его нелинейные свойства, важнейшими параметрами являются:
1. Контактная разность потенциалов в отсутствие внешнего напряжения
(1). Её величина примерно соответствует значению прямого напряжения при котором собственное поле перехода и обедненный слой практически исчезают и возникает большой прямой ток. определяет тепловые потери
и к.п.д. выпрямителей с диодами Шотки. По этим параметрам они значительно превосходят кремниевые р-n диоды.
2. Тепловой токопределяющий масштаб идеализированной ВАХ:
(3)
где А - константа, зависящая от типа полупроводника, Т - абсолютная температура, - термический потенциал.
3. Толщина перехода L, от которой зависит напряженность поля в
переходе Е U/L и поэтому - напряжение пробоя. Так как концентрация подвижных носителей в металле и полупроводнике высокая, толщина перехода определяется практически только толщиной обедненного слоя. В отсутствие внешнего напряжения толщина идеализированного контакта Шотки определяется аналогичным для р-n перехода выражением: