Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Курсовые / Курсач 5.doc
Скачиваний:
26
Добавлен:
16.04.2013
Размер:
1.11 Mб
Скачать

МКСХТ

Московский институт электронной техники.

Курсовая работа

по курсу “Микросхемотехника”

По теме: ”Проектирование

логического элемента в n-МОП базисе”

преподаватель Миндеева А. А.

Выполнил студент гр.

2001 Г. Задание на курсовую работу

Проектирование логического элемента”

В рамках курсовой работы необходимо:

  1. Минимизировать заданную логическую функцию с учетом схемотехнического базиса.

  2. Разработать электрическую схему логического элемента в заданном схемотехническом базисе. Рассчитать параметры компонентов.

  3. Провести расчет передаточных и переходных характеристик на PC по программе PSPICE.

  4. Предложить технологический маршрут изготовления логического элемента.

  5. Разработать топологию логического элемента в соответствии с предложенным технологическим маршрутом и топологическими допусками.

Заданная функция имеет вид:

Упрощение заданной функции с помощью карты Карно.

Так как логическая функция задана в совершенно дизъюнктивной нормальной форме, то карта Карно заполняется по 1 или хотя бы одно слагаемое принимает значение равное 1:

Заполненная карта Карно выглядит так:

AB

CD

00

01

11

10

00

1

1

1

1

01

1

1

0

0

11

0

0

0

0

10

1

1

1

1

Для считывания F с карты Карно необходимо сначало минимизировать F по нулям,то есть объединяем соседние состояния, при которых F принимает одинаковые состояния. Здесь объединяются квадрат и строка по четыре состояния. Одно состояние может войти в несколько объединений. В результате объединения записываются те переменные, которые не меняются при переходе из клетки в клетку.

После считывания проводятся преобразования к нужному элементному базису при использовании теоремы ди-Моргана и двойной инверсии, в итоге мы получим:

Справочные данные и принятые обозначения.

Толщина изолирующего диэлектрика dSiO2 = 50нМ

Емкость нагрузки С=0,5 пФ

Материал подзатворного диэлектрика – окись кремния (SiO2)

Относительная диэлетрическая проницаемость SiO2 = 4

Диэлектрическая проницаемость ваккума 0 = 8,85*10-12 Ф/м

Подвижность электронов n = 600 см2/В*с

Подвижность дырок p = 300 см2/В*с

Глубина диффузии хJ= 0.7 мкм

Коэффициент влияния подложки  = 0,15

Минимальный топологический размер  = 1 мкм

Напряжение логического нуля U0 = 0,6 В

Напряжение логической единицы U1 = 8 В

Напряжение помехоустойчивости Uпу = 0,8 В

Средняя потребляемая мощность Рср = 0,6 мВт

В данном варианте задан ключ с нелинейной нагрузкой и с поликремниевым затвором.

Разработка электрической схемы в заданном схемотехническом базисе.

После упрощения функции, в соответствии с заданной нагрузкой, получаем следующую элетрическую схему:

Аналитический расчет

параметров транзисторов схемы.

По заданным параметрам определяем Uпор.0 :

Uпор.0 = U0+U0пу = 0,6+0,8=1,4 (В)

Далее находим численные значения следующих величин Uип Uз :

Uип = U1(1+)+Uпор0= 8(1+0.15)+1.4=10.611 (В)

Определяем значение I0:

Рср=(Р0 + Р1) /2 ; Р1 = 0

Рср = Р0/2 = (Uип * I0)/2

В итоге получаем :

I0 = 2*Рср/Uип = (2*0,6*10-3) / 8 = 0,109*10-3 = 0,109 ( мА )

Крутизна нагрузочного транзистора (кн) определяется из следующего выражения :

Затем определяем крутизну для остальных транзисторов:

Найденное к0экв - для схемы в целом. Определим крутизну для каждого транзистора по отдельности, в соответствии с его включением. У параллельно включенных транзисторов крутизна равна, а у последовательно включенных :

1/кэкв = 1/к1 + 1/к2 = 2/к

к=2*кэкв

В итоге, значения для каждого транзистора примут следующие значения:

Для С-, А- и D-сигналов :к=2*кэкв=2.9*10-5 = 5.81*10-5 (А/В2)

В следующем пункте определим геометрические размеры каждого транзистора по следующей методике :

к = куд*W/L

куд = *Суд

Суд = 0*SiO2/dок

а=W/L=к/куд

При а1 L = Lmin, W = Lmin*а;

При а1 L = Wmin/a, W = Wmin.

Для транзисторов с поликремниевым (S iO2) затвором :

Lmin = 2*

Wmin= 2*

Суд = 0*SiO2/dок = 4*8.85*10-12/50*10-9 = 0.708*10-3 (Ф)

Так как транзистор n-канальный, то  = n= 600 (см2/В*с) :

куд = *Суд = 600*10-4*0,708*10-3 = 424,8*10-7 (А/В2)

Геометрические размеры транзисторов Т2, Т3, Т4:

а=W/L=к/куд = 5.81*10-5/424,8*10-7 = 1.369,

так как а1, то L = Lmin= 2*= 2 (мкм).

W = a*Lmin=1,369*2*=2,738 3 (мкм).

Геометрические размеры для нагрузочного транзистора Тн:

к=кн = 3.16*10-6 (А/В2)

а = к/куд = 3.16*10-6/42,48*10-6 = 0,074

так как а1, то W = Wmin.= 2* = 2 (мкм),

L = Wmin/a = 2/0,074 = 27,027  28 (мкм).

Соседние файлы в папке Курсовые