- •1.1. Фотометриялық шамалар, олардың энергетикалық шамалармен байланысы.
- •1.2.Дисперсияның электрондық теориясының негіздері
- •2.1.Геометриялық Оптика Негізізгі Заңдылықтары
- •2.1.Жарықтың жұтылуы. Бургер заңы
- •3.1. Ферма принципі және оның қолданылуы.
- •4.1. Жарықтың фазалық және топтық жылдамдығы. Релей формуласы
- •4.2.Жарықтың эллипстік поляризациялануы
- •1.Дисперсия түрлері бақылау әдістері
- •2.Микроскоптың ажырату қабілеті
- •6.1. Фраунгофер дифракциясы. Дифракциялық тор және оның спектрлік сипаттамасы.
- •6.2. Электромагнит толқындардың поляризация түрлері
- •7.1. Ақ жарықты қарапайым түстерге жіктейтін физикалық құбылыстар.
- •7.2. Фотоэлементтер және фотокөбейткіштер
- •1. Жарықтың шашырауы. Релей заңы
- •2.Фотоэффект құбылысы, Эйнштейн теңдеуі
- •1.Спектр түрлері және олардың пайда болу табиғаты
- •1.4. Электромагниттік толқындар спектрі
- •9.2.Линзалардағы және оптикалық құралдардағы сәулелердің жолдары. Жұқа линзаның формуласы.
- •1.Тербелістің когеренттілігі. Когеренттіліктің ұзындығы мен уақыты.
- •2.Анизотроп кристаллдардың түрлері.
- •11.1. Кескінді голографиялық жазудың физикалық әдістерінің негіздері.
- •11.2. Поляризация жазықтығы айналуының теориясы
- •1.Фотондар қатысқан процестердегі энергияның және импульстің сақталу заңдары. Комптон эффектісі
- •2.Жарық рефракциясы туралы түсінік. Лоренц - Лорентц формуласы.
- •13.1. Толық ішкі шағылу. Жарық жетекшілер.
- •13.1.Дифракциялық тордың сипаттамалары
- •14.1. Жасанды анизотропия. Электр өрісінің кристалдардағы жеке деформация тудыру
- •14.2. Қосарланып сыну құбылысы. Поляроидтар
- •15.1. Жарықтың электромагниттік табиғаты.Электромагниттік толқындардың шкаласы
- •16.1. Жарықтың электромагниттік табиғаты
- •19.1. Интерференция құбылысының техникада қолданылуы
- •19.2. Қалыпты және «аномаль» дисперсия. Оны бақылау әдістері.
- •20.1.Төрттен бір, жарты, бір толқын ұзындығына тең қалыңдықтағы пластина.
- •20. 2.Френельдің аумақ әдісі. Амплитуданы график арқылы анықтау.
- •21.1.Екі диэлектрик шекарасына түскен электромагниттік толқындар. Френель формуласы
- •21.2.Брюстер заңы.Шағылған және сынған толқындар үшін электр өрісінің кернеулік векторының е бағыты.
- •22.1.Бірдей қалыңдықтардағы жолақтар.Ньютон сақиналары.
- •22.2. Жарықтың электромагниттік табиғаты.Электромагнит толқындардың шкаласы.
- •2) Ортаның оптикалық тығыздығы, Оның ортаның қасиетімен байланысы
- •1 Сурет.
- •Материалдың сыну коэффициенті ( 20°с, түсі жасыл сәулелер үшін)
- •24 Билет
- •2) Оптикада қолданылатын шамалардың өлшемдіктері
- •25.1. Диэлектриктер үшін Максвелл теңдеулері.
- •25.2. Геометриялық оптика негізіне алынған заңдар
- •26.1. Пуассон дағы және оның қалыптасуы
- •26.2. Оптикалық жүйелердің аберрациялары (кемістіктері)
- •18.2. Адам көзіндегі кескіннің қалыптасуы.
2) Ортаның оптикалық тығыздығы, Оның ортаның қасиетімен байланысы
Сыну көрсеткіші үлкендеу орта, отикаша тығыздау орта деп аталады. Егер бірінші ортадан гөрі екінші орта оптикаша тығыздау болса, онда n21> 1.
Түскен және сынған сәуле және сәуленің түскен нүктесінде екі ортаның шекарасына тұрғызылған перпендикуляр бір жазықтықта жатады. түсу бұрышы синусының сыну бұрышы синусына қатынасы берілген екі орта үшін тұрақты шама болады:
(1)
n тұрақты шама екінші ортаның бірінші ортаға қарағандағы салыстырмалы сыну көрсеткіші деп аталады. Ортаның вакуумға қарағандағы сыну көрсеткіші абсолют сыну көрсеткіші деп аталады. Екі ортаның салыстырмалы сыну көрсеткіші олардың абсолют сыну көрсеткіштерінің қатынасына тең:
n = n2 / n1 (2)
Абсолют сыну көрсеткіші аз ортаны оптикалық тығыздығы аз орта деп атайды. Жарық оптикалық тығыздығы көп ортадан оптикалық тығыздығы аз ортаға өткенде n2 < n1 (мысалы, шыныдан ауаға) толық ішкі шағылу құбылысын байқауға болады. Басқаша айтқанда сынған сәуленің жоғалып кетуін. Бұл құбылыс түсу бұрышының ш толық ішкі шағылудың шекті бұрышы деп аталатын бұрыштан асқан кезде байқалады (1 сур.). Түсу бұрышы ш тең болғанда sin 1, ал sin ш n2 / n1 1. Егер екінші орта ауа болса (n2 1), онда (1) формуланы келесі түрде жазған қолайлы болады
sin αш = 1 / n, (3)
бұл жерде n = n1 1 – бірінші ортаның абсолют сыну көрсеткіші. Органикалық шыны – ауа шекарасы үшін (n = 1,5) шекті бұрыш αш = 42о, су-ауа шекарасы үшін (n = 1,33) - αш = 48,7о.

1 Сурет.
Су-ауа шекарасындағы жарықтың толық ішкі шағылуы; S – нүктелік жарық көзі.
Толық
ішкі шағылу құбылысы көптеген оптикалық
қодырғыларда қолданылады. Практика
тұрғысынан ең маңызды және ең қызықты
қолдануы болып волокондық жарықжетекшілерін
жасау табылады. Жарықжетекшілері
оптикалық мөлдір материалдан (шыны,
кварц) жасалған майысқан жінішке (бірнеше
микрометрден милиметрге дейінгі) жіптер.
Жарық жарықжетекшіге енгеннен кейін
оның ішкі беттерінен толық ішкі шағылу
нәтижесінде үлкен қашықтыққа таралуы
мүмкін (2 сур.). Оптикалық жарықжетекшілерін
жасаусен олардың қолдануымен айналыса-тын
ғылыми-техника-лық сала волокондық
оптика
деп аталады. 
Материалдың сыну коэффициенті ( 20°с, түсі жасыл сәулелер үшін)
|
Зат |
Сыну коэффициенті |
|
Оптикалық шынылар |
1,51 ÷ 1,805 |
|
Алмас |
2,4195 |
|
Корунд (сапфир, рубин, А1203) . |
1,768 |
|
Күміс хлориді |
2,09 |
|
Полистирол (15°С) |
1,592 |
|
Полиметакрилметил (органикалық шыны) |
1,491 |
|
Мұз (0°С) |
1,309 |
|
Су |
1,33 |
|
Ауа |
1, 0003 |
2 сурет.
Волокондық жарықжетекшісіндегі жарықтың таралуы.
24 Билет
көпөлшемді құрылымдағы дифракция. Лауэ, Вульф Бреггтердің формулалары
Рентген
сәулесі ашылғаннан (1895) кейін көп кешікпей
ол көрінетін жарықпен салыстырғанда
толқын ұзындығы едәуір кіші электромагниттік
толқын деген жорамал жасалды. Бұл жорамал
Лауэ рентген сәулесінің дифракциясын
дифракциялық тор ретінде кристалдардың
табиғи кеңістіктік торын пайдаланып
бақылауға болады деген идеясын ұсынған
1912 ж. дейін расталмаған күйінде қалып
келеді. Берілген толқын ұзындығы үшін
кристалдық тордан дифракциялану кезінде
максимум алынатын бағытты есептеуді
Лауэ формулалары негізіндде ғана емес,
басқа қарапайым тәсілмен де жүргізуге
болады. Осындай тәсілді бір-бірінен
тәуелсіз ағылшын физиктері Г.Брэг
(1862-1942), Л. Брэгг (1890-1971) және орыстың
кристаллофизигі Г.Вульф ұсынды және ол
Брегг-Вульф әдісі деп аталады. Бұл әдіс
кристалдық тордың түйіндерінде орналасқан
бөлшектерден дифракцияланған толқындардың
интерференциясын қарастыруға негізделген.
Тордың түйіндері арқылы бірдей
қашықтықтарда орналасқан атомдық
қабаттар деп аталатын параллель
жазықтықтар қатарын жүргізуге болады.
Монохромат рентген сәулелерінің жіңішке
шоғы кристалға, оның атомдық жазықтықтарымен
сырғу бұрышын жасап түсетін болсын
(3.51-сурет). Көршілес екі атомдық
жазықтықтардан айналық шағылған
толқындар (1
және 2
сәулелері) когерентті болатындықтан,
бұлар өзара интерференцияланады.
Кристалдың торы шағылдырушы дифракциялық
тор ролін атқарады. Егер
көрші
екі атомдық жазықтықтың ара қашықтығы
болса, онда 1
және 2
толқындадың жол айырымы
болады (рентген сәулелері үшін барлық
орталардың сыну көрсеткіші 1-ге жуық).
жол айы рымы
толқын
ұзындығына еселі болатын бағыттарда
осы толқындар бірін-бірі күшейтеді.
Сондықтан Фраунгофер максимумдары
пайда болатын бағыттар үшін шартты
былай жазуға болады:
(3.62)
мұндағы
- максимум реті. (3.62) теңдеуі Брегг-Вульф
формуласы деп аталады.
Шындығында
рентген сәулелері кристалдағы көптеген
атомдық жазықтықтардан шағылады, яғни
өзара екі шоқ емес, шоқтардың көп саны
интерференцияланады. Осының нәтижесінде
(көп жарық шоқтарының интерференциялану
жағдайы сияқты) максимумдар айқынырақ
бола түседі. Брегг-Вульф шартын қорытып
шығарғанда кристалдың табиғи шоқтарына
параллель атомдық жазықтықтардан
шағылған рентген сәулелері қарастырылды.
Әрине дәл осылайша рентген сәулелерінің
атомдық жазықтықтардың басқа жүйелерінен,
мысалы, кристалдың элементар кубтарының
диогональдары арқылы жүргізілген
жазықтықтардан шағылуын да қарастыруға
болады. Жалпы кристалда әртүрлі бағыттарда
атомдық жазықтықтардың көптеген
жүйелерін жүргізуге болады (3.51-сурет).
Жазықтықтар жүйесінің әрқайсысы егер
(3.62) шарты орындалатын болса, дифракциялық
максимумды бере алады. Бірақ бұлардың
әрқайсысы үшін
әртүрлі болады. Ескеретін нәрсе Лауэ
формулалары бойынша және Брэгг-Вульф
формуласы бойынша есептеу бірдей нәтиже
береді. Бірақ Брэгг-Вульф әдісінің
өзінше маңызы зор, өйткені бұл әдіс
рентген сәулелерінің спектроскопиясы
(рентген сәулелерінің спектрлік құрамын
зерттеу) және рентгенқұрылымдық талдау
(кристалдардың құрылымын зерттеу) негізі
болып табылады.

Рентген сәулелері дифракциясының қолданылулары
Рентген
сәулелерінің толқын ұзындығын анықтау.
(3.62)
Брэгг-Вульф формуласы, егер кристалдағы
көрші атомдық жазықтықтардың
ара қашықтығы белгілі болса,
сырғу бұрышы бойынша, рентген сәулелерінің
толқын ұзындығын анықтауға мүмкіндік
береді.d
шамасын тәуелсіз жолмен есептеп, тауып
алуға болады. Элементар (қарапайым)
кубтардан тұратын кристалды алайық. Ас
тұзының (NaCl) кристалы осындай кристалдың
мысалы бола алады.
NaCl-
дың бір грамм-молекуласының массасы
М=58,4,
және мұнда
Авогадро санына тең NaCl молекуласы
болады. Сондықтан бір грамм-молекуладағы
Na+
және Cl-
иондарының саны
-ға
тең.
Ас
тұзы кристалының элементар ұяшығын
қарастырайық. Осы кристалдың құрылымын
зерттеу нәтижелері элементар куб
төбелерінде Na+
және Cl-
иондары орналасатындығын көрсетті.
Кубтық ұяшықтың сегіз төбесіне сегіз
ион орналасады, бірақ әрбір төбе сегіз
көрші ұяшыққа ортақ болатындықтан,
әрбір ұяшыққа бір ионнан келеді. Егер
ұяшық қабырғасының ұзындығы d-ға
тең болса, онда оның көлемі
,
ал
ион бар бір грамм-молекуланың көлемі,
ал
болады.
Осы көлем М
массасының
кристалл тығыздығының қатнасына тең,
сонда
немесе бұдан
.
NaCl
кристалы үшін
,
және
шамаларының белгілі сан мәндері бойыншаd=0,281
нм
болатындығы алынады.
мәнін пайдаланып, ас тұзы кристалының
рентген сәулелері үшін дифракциялық
максимумдар беретін бұрыштарын өлшеп
(3.62) Брэгг-Вульф формуласы бойынша
толқын ұзындығын тауып алуға болады.
