- •1.1. Фотометриялық шамалар, олардың энергетикалық шамалармен байланысы.
- •1.2.Дисперсияның электрондық теориясының негіздері
- •2.1.Геометриялық Оптика Негізізгі Заңдылықтары
- •2.1.Жарықтың жұтылуы. Бургер заңы
- •3.1. Ферма принципі және оның қолданылуы.
- •4.1. Жарықтың фазалық және топтық жылдамдығы. Релей формуласы
- •4.2.Жарықтың эллипстік поляризациялануы
- •1.Дисперсия түрлері бақылау әдістері
- •2.Микроскоптың ажырату қабілеті
- •6.1. Фраунгофер дифракциясы. Дифракциялық тор және оның спектрлік сипаттамасы.
- •6.2. Электромагнит толқындардың поляризация түрлері
- •7.1. Ақ жарықты қарапайым түстерге жіктейтін физикалық құбылыстар.
- •7.2. Фотоэлементтер және фотокөбейткіштер
- •1. Жарықтың шашырауы. Релей заңы
- •2.Фотоэффект құбылысы, Эйнштейн теңдеуі
- •1.Спектр түрлері және олардың пайда болу табиғаты
- •1.4. Электромагниттік толқындар спектрі
- •9.2.Линзалардағы және оптикалық құралдардағы сәулелердің жолдары. Жұқа линзаның формуласы.
- •1.Тербелістің когеренттілігі. Когеренттіліктің ұзындығы мен уақыты.
- •2.Анизотроп кристаллдардың түрлері.
- •11.1. Кескінді голографиялық жазудың физикалық әдістерінің негіздері.
- •11.2. Поляризация жазықтығы айналуының теориясы
- •1.Фотондар қатысқан процестердегі энергияның және импульстің сақталу заңдары. Комптон эффектісі
- •2.Жарық рефракциясы туралы түсінік. Лоренц - Лорентц формуласы.
- •13.1. Толық ішкі шағылу. Жарық жетекшілер.
- •13.1.Дифракциялық тордың сипаттамалары
- •14.1. Жасанды анизотропия. Электр өрісінің кристалдардағы жеке деформация тудыру
- •14.2. Қосарланып сыну құбылысы. Поляроидтар
- •15.1. Жарықтың электромагниттік табиғаты.Электромагниттік толқындардың шкаласы
- •16.1. Жарықтың электромагниттік табиғаты
- •19.1. Интерференция құбылысының техникада қолданылуы
- •19.2. Қалыпты және «аномаль» дисперсия. Оны бақылау әдістері.
- •20.1.Төрттен бір, жарты, бір толқын ұзындығына тең қалыңдықтағы пластина.
- •20. 2.Френельдің аумақ әдісі. Амплитуданы график арқылы анықтау.
- •21.1.Екі диэлектрик шекарасына түскен электромагниттік толқындар. Френель формуласы
- •21.2.Брюстер заңы.Шағылған және сынған толқындар үшін электр өрісінің кернеулік векторының е бағыты.
- •22.1.Бірдей қалыңдықтардағы жолақтар.Ньютон сақиналары.
- •22.2. Жарықтың электромагниттік табиғаты.Электромагнит толқындардың шкаласы.
- •2) Ортаның оптикалық тығыздығы, Оның ортаның қасиетімен байланысы
- •1 Сурет.
- •Материалдың сыну коэффициенті ( 20°с, түсі жасыл сәулелер үшін)
- •24 Билет
- •2) Оптикада қолданылатын шамалардың өлшемдіктері
- •25.1. Диэлектриктер үшін Максвелл теңдеулері.
- •25.2. Геометриялық оптика негізіне алынған заңдар
- •26.1. Пуассон дағы және оның қалыптасуы
- •26.2. Оптикалық жүйелердің аберрациялары (кемістіктері)
- •18.2. Адам көзіндегі кескіннің қалыптасуы.
19.1. Интерференция құбылысының техникада қолданылуы
Жарықтың
интерференция құбылысы ғылым мен
техниканың әртүрлі салаларында кең
қолдану тапты. Интерференциялық әдістер
қарапайым амалдармен-ақ өте дәл өлшеулер
жүргізуге мүмкіндік береді. Әдетте
интерферометрлер көмегімен алдымен
интерференциялық жолақтар жүйесінде
ығысулар өлшенеді, бұдан артынан екі
интерференцияланушы шоқтар арасындағы
фазалар айырымы анықталады, бұдан кейін
ортаның әйтеуір бір сипаттамасының
өзгеруімен байланысты оптикалық жолдар
айырымының өзгерісі есептелінеді.
Интерференциялық әдістер геометриялық, метрологиялық, рефрактометриялық, спектроскопиялық және кейбір басқа өлшеулерде қолданылады. Бұлардан басқа интерференция теориялық мәні бар әртүрлі ғылыми зерттеулерде де қолданылады.
Геометриялық өлшеулерге оптикалық элементтердің (айна, линзалар, призмалар) сапасын зерттеу, машина жасауда қолданылатын механикалық калибрлерді салыстыру, өте кіші механикалық ығысуларды өлшеу және т.т. жатады. Интерференциялық метрологияда толқын ұзындықтарды дәл өлшеу, жарық толқын ұзындығын метрмен салыстыру әдістерін жасаумен шұғылданады. Интерференциялық рефрактометрия әдістерімен сыну көрсеткішінің өте аз шамаға өзгерісі өлшенеді, мысалы, температура, қысым, ылғалдылық және т.т әртүрлі болған жағдайдағы газдар және де сұйықтықтар мен ерітінділерде болатын өзгерістер. Спектроскопияда интерференция жеке спектрлік сызықтардың құрылымын өлшеу үшін және толқын ұзындықтары арасындағы нм-дің мыңдық және он мыңдық бөлігін құрайтын айырымын өлшеу үшін қолданылады.
Интерференциялық рефрактометрия
Рефрактометрия
заттардың сыну көрсеткішін өлшеуге
негізделген физика-химиялық әдістердің
жиынтығы. Рефрактометрияда қолданылатын
барлық әдістер ішіндегі сезгіштігі ең
жоғарысы интерференциялық әдіс; ол
газдар немесе ерітінділердің сыну
көрсеткішіндегі өте кішкентай (
-ге
дейінгі) айырмашылықты өлшеуге мүмкіндік
береді.
Заттың сыну көрсеткіші негізінен оның табиғатымен анықталады, бірақ мұнымен бірге ол сыртқы жағдайға да (мысалы, температураға, қысымға) байланысты. Газдардың сыну көрсеткішін және сұйықтар мен қатты денелердің сыну көрсеткішіндегі аздаған айырмашылықты өлшеу үшін бірнеше интерференциялық әдіс жасалған. Жоғарыда біз Жамен инт ерферометрінің рефрактометриялық өлшеулер үшін қолдану мүмкіндігі айтылған болатын. Қазіргі кезде осы мақсаттар үшін 2.36-суретте келтірілген Рэлей интерферометрі кең түрде қолданылады.
Жарқыраған
саңылаудан жарық
линза көмегімен параллель шоққа айналады,
екі параллель саңылауы бар
диафрагмадан және зерттелетін зат (газ
немесе сұйықтық) орналастырылған
және
түтіктерінен өтеді.
диафрагманың саңылауларынан дифракцияланған
жарықтың интерференциясы нәтижесінде
объективінің тоғысу (фокаль) жазықтығында
саңылауының кескіні орнына екі
интерференциялық жолақтар жүйесі
түзіледі.
Жолақтардың
жоғарғы жүйесін
және
түтіктер арқылы өтетін сәулелер, ал
төменгі жолақтар жүйесін-
және
түтіктерінен тысқары өтетін сәулелер
құрайды. Интерференциялық жолақтар
қысқа фокусты цилиндрлік
объективі көмегімен бақыланады.
және
түтіктеріне орналастырылған заттардың
және
сыну көрсеткіштерінің айырмашылығына
байланысты жоғарғы жолақтар жүйесі сол
жаққа не басқа жаққа ығысады. Осы ығысу
шамасын өлшеп
айырмасын есептеуге болады. Төменгі
интерференциялық жолақтар жүйесі
қозғалмайды. Сондықтан бұлар бойынша
жоғарғы жүйенің орын ауыстыруына санақ
жүргізетін белгі қызметін атқарады.
Рэлей
интерферометрінде бір жолақтар жүйесінің
басқа жолақтар жүйесіне қатысты
горизонталь ығысуын интерференциялық
жолақтың
бөлігіндей дәлдікпен бақылауға болады.
