Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Агаханян Т.М. Основы транзисторной электроники

.pdf
Скачиваний:
29
Добавлен:
24.10.2023
Размер:
11.39 Mб
Скачать

 

 

 

 

Таблица 6-1

Тип

С каналом п-тппа

С каналом р-тппа

 

 

 

 

транзистора

Полярность

Вольт-амперная

Полярность

Вольт-амперная

 

напряжений

характеристика

напряжений

характеристика

44

С управ­ ляющим р-п пере­

ходом

МДП со встроенным каналом

МДП с индуци­

рованным

каналом

вытеснить основные носители из канала. Возможность управле­ ния потенциалом любой полярности в ряде случаев позволяет заметно упростить схемы.

Транзисторы с управляющим р-п переходом и с индуцирован­ ным каналом управляются потенциалом 1 только одной поляр­ ности. Первый из них работает при отрицательном смещении, если канал тг-типа, и положительном, если канал р-типа. Чтобы индуцировать канал «-типа, необходимо подать положительное смещение на затвор (притягивающее электроны в канал), а для индуцирования канала р-типа — отрицательное смещение. Сле­ довательно, указанные виды транзисторов с каналами одного и того же типа электропроводности требуют смещения разной по­ лярности.

Полярность включения источника питания стока ЕСИ (см. рис. 6-10) определяется направлением движения основных носи­ телей в канале. Независимо от структуры транзистора источник Ес и подключается к стоку положительным полюсом для траизи-

1 Здесь п в последующем изложении потенциалы электродов отсчптываются относительно потенциала истока.

230

сторов с каналом /г-типа и, наоборот, отрицательным полюсом для транзисторов с каналом р-типа. Указанные полярности вклю­ чения обеспечивают движение основных носителей от истока к стоку. -

Таким образом, для приборов с однотипными каналами по­ тенциалы затвора и стока (соответственно входа и выхода схемы) имеют одну и ту же полярность для транзисторов с индуцирован­ ным и со встроенным каналом, работающим в режиме обогащения. Это позволяет сравнительно просто согласовать выходы преды­ дущих элементов со входами последующих в схемах с непосред­ ственными связями [Л. 77] при использовании транзисторов с однотипными каналами.

Одинаковые полярности потенциалов стока и затвора, а также отсутствие тока при нулевом смещении у транзисторов с инду­ цированным каналом позволяют строить высокоэкономичные схемы логических элементов. Эти схемы обычно строят на тран­ зисторах с каналами противоположных типов проводимости. Такие пары транзисторов называются взаимодополняющими (ком­ плементарными).

6-5. ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЕ НИЗКОЧАСТОТНЫЕ ПАРАМЕТРЫ ПОЛЕВЫХ ТРАНЗИСТОРОВ И ИХ ЗАВИСИМОСТЬ ОТ РЕЖИМА

В отличие от биполярного транзистора, который управляется током, полевой транзистор представляет собой прибор, управ­ ляемый напряжением, и аналогично электровакуумной лампе характеризуется следующими дифференциальными параметрами.

Крутизной характеристики транзистора S , равной отношению приращения тока стока к вызвавшему его приращению напряжения на затворе при неизменных напряжениях остальных электро­ дов:

в.и/и,СИ = const

п.и = const

Коэффициентом усиления транзистора ц т р , определяемым как отношение приращений напряжения стока и напряжения затвора при холостом ходе на стоке:

ип".и = const

Внутренним сопротивлением транзистора г{ ) определяемым как отношение изменения напряжения стока к соответствую­

щему изменению

тока стока при постоянном напряжении осталь­

ных электродов:

 

 

А/с / С 7 а и = const

 

U n H = const

231

Таким образом, крутизной характеристики и внутренним со­ противлением транзистора определяется максимальное прнращеиие тока стока, вызываемое изменением напряжений соответ­ ственно иа затворе и стоке. Коэффициентом усиления определя­ ется максимальное усиление напряжения затвора, т. е. входного напряжения, которое способен обеспечить транзистор иа выходе (стоке).

%=0 ма/8 ТВ

28

38

-Li 1_ ан

ма/в\

Рис. 6-16. Зависимость крутизны характеристики 5 от режима для транзисторов с управляющим р-п

переходом (а); с индуцированным каналом (б) и со встроенным ка­

налом (в).

Коэффициент усиления, крутизна характеристики и внут­ реннее сопротивление транзистора связаны между собой соотно­ шением

ц т р = S T Y

(6-23)

Дифференциальные параметры транзистора можно определить

из его статических

характеристик.

 

 

 

Крутизна вольт-амперной характеристики в крутой области

определяется соотношением

 

 

 

 

 

S == П . ТМ,^ С . П !

(6-24)

из которого следует, что S не зависит

от напряжения на затворе

и пропорциональна напряжению

на

стоке.

 

В пологой области крутизна

определяется соотношением

 

S = 2kn .т£/с.пер-

(6-25)

Зависимость крутизны

полевого

транзистора

с управляющим

р-п переходом от

режима

работы

приведена

на рис. 6-16, а,

МДП-транзистора

с индуцированным каналом — на рис. 6-16, б и

МДП-транзистора

со встроенным

каналом — на рис. 6-16, в.

232

Коэффициент усиления транзистора по напряжению в крутой области вольт-амперной характеристики можно определить из уравнения (6-18). Он равен:

д!с

dUc

(6-26)

|-1тр

die

 

U с п е р - •Ue

Соотношение (6-26) удобно проанализировать, определив ц т р

при фиксированном токе

стока

I c = const, воспользовавшись

для этого выражением вольт-амперной характеристики (6-18). Тогда коэффициент усиления можно представить в следующем

виде:

 

 

 

 

 

 

 

••Sr.-

 

 

 

 

 

 

2U2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Ic=const

 

 

Ц т Р

=

/ г

° "

(6-27)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

^п.т

•и*

 

 

 

16

 

 

Зависимость

 

вида (6-27) изображена

12

 

 

па рис. 6-17. Согласно этой

зависимости

 

 

 

коэффициент усиления по

напряжению

 

 

 

весьма мал практически во всей кру­

 

 

w

той

области и

возрастает

лишь

на

 

 

границе с пологой областью. Поэтому

 

 

полевой

транзистор

как усилительный

0,2

0,4

0,6 0,8 1,0

элемент

целесообразно

использовать

Рпс. 6-17.

Завпспмость ко­

лишь в пологой области. Из соотноше­

эффициента усиления тран­

ний (6-26) и (6-27)

следует,

что при

зистора от напряжения сто­

Uc.n

Uc. пер

коэффициент

усиления

ка при / с

= const.

но

напряжению

ц т р

*-оо. Это резуль­

 

 

характе­

тат

приближенного

представления

вольт-амперной

ристики в пологой области. В действительности коэффициент

усиления

и т р при Uc.и

= Ucntp

имеет

конечную

величину.

Как уже

отмечалось, при напряжениях

\Uc.a\>

\UC.пер|ток I c

продолжает возрастать

(правда,

незначительно), поэтому пред­

ставление транзистора в пологой области идеальным управляе­ мым генератором тока ие совсем правильно.

Дифференциальное внутреннее сопротивление в крутой области определяется соотношением

(6-28)

а. т (Uспер — Uй .и)

Из (6-28) следует, что с увеличением напряжения стока Uc а внутреннее сопротивление повышается и на границе с пологой областью при Uc и с. пер становится бесконечно большим (ri—^oo), т. е. транзистор превращается в идеальный источник тока. Это также является результатом отмеченной выше идеали­ зации в пологой области. На самом деле не учитывалась модуля­ ция длины канала при работе в пологой области. У реаль­ ных приборов внутреннее сопротивление в пологой области доста-

233

rU2c.

точно велико, мало влияет на вид вольт-амперных характеристик, описываемых соотношениями (6-18) и (6-19), но все же в пологой области имеет конечную велпчппу.

Уместно выяснить физический смысл внутреннего сопротивления тран­ зистора, характеризующего нарастание тока 1С с увеличением напряжения Uc. а в пологой области. Рост тока обусловлен несколькими причинами, из которых наиболее важной является модуляция длины канала напряжением отока [Л. 9, 74].

Прп напряжениях Uc. и, превышающих напряжение перекрытия Uc. пер, сокращается эффективная длина канала (см. рпс. 6-13, б), так как удлиняется та часть слоя объемного заряда, которая перекрывает канал. Падение напря­ жения на эффективной длине канала £К ан. эфф остается практически постоян­

ным и равным напряжению перекрытия канала £/с,перРазность между напря­

жением Uс.

а и падением напряжения па капало прикладывается к той части

обедненного

слоя,

которая примыкает

к поверхности, перекрывая

канал.

В соответствии

с

соотношениями для ступенчатого р-п перехода, которые

рассматривались

в § 3-6,

длину

этой части обедненного слоя Д£К ан

можно

определить по формуле

 

 

 

 

 

 

 

А г

 

 

-i/~e<fin\Uc.n-U,

 

 

 

 

Д Ь к

а н = у

i

—— спер I

 

Поскольку падение напряжения на эффективной части капала остается

постоянным,

а его длина

сокращается,

то возрастают напряженность

поля

и соответственно ток стока / с .

Таким образом, величину тока 1С в пологой части характеристики можно определить, учитывая, что ток 1С возрастает по сравнению с током насыщения 1с. пер во столько раз, во сколько увеличивается напряженность поля. Напряженность поля возрастает обратно пропорционально длине ка­ нала. Следовательно, вольт-амперная характеристика полевого транзистора на пологом участке определяется соотношением

I

г

-^-кач

г

 

^кан

 

 

 

 

г

 

* с нас г

 

д г

 

 

 

'с — 'снас т

— 'с.пас

^кан — '"^кан

 

 

 

 

^кан.эфф

 

 

 

 

ИЛИ

 

 

 

 

 

 

 

 

 

'с = *„.

пер

г

^кап

 

„ =

 

Г •

(6-29)

LK™,

 

 

I

 

т

"1 /

е ое п ! Uс,

„ — с п е р

 

 

 

ь к й В - у

I

 

ж

 

 

 

 

На основании этого соотношения можно определить значения r\, S , а также р,Тр в пологой части характеристики. На практике эти величины обычно

определяются

непосредственно

измерением.

Для МДП-транзистора, у

которого может осуществляться управление

по подложке,

следует ввести понятие крутизны по подложке

Тогда для крутой области вольт-амперной характеристики крутизна по нодложке определяется соотношением ,

п

^п.т^п. д

 

£под =

- — = = = = = U с.И )

(6-30)

234

а для пологой

области

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

SП О Д

=

 

 

ер>

 

(6-31)

где

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ГУ д

,

 

 

 

 

 

 

 

* п . д = — K2eyVn en 80 .

 

 

 

 

 

 

 

 

е о е д

 

 

 

 

 

Величины

Unop

и Uо, которые входят

в выражение

для Uc. пер, опреде­

ляются формулами

(6-16) и (6-17).

 

 

 

 

 

С ростом разности потенциалов между подложкой

и истоком,

смещаю­

щей

переход канал — подложка

в обратном направлении, крутизна

по под­

ложке 5 П од уменьшается.

 

 

 

 

 

 

Следующим

низкочастотным

дифференциальным параметром

является

входное сопротивление

транзистора

 

 

 

 

 

 

 

 

/ Л « 7 3 . н \

 

 

 

 

Величину этого сопротивления можно определить, пользуясь

входной

вольт-амперной

характеристикой — зависимостью тока

затвора

/3 . от напряжения

между

затвором и истоком Ua_ и.

 

 

 

 

мка\

 

 

 

 

 

Рпс.

6-18. Вольт-

 

 

 

 

 

 

 

амперная

характе­

 

 

 

 

 

 

 

ристика

затвора

 

 

 

 

Уз*

 

 

для

транзистора

-з -г -1 ,

 

г

з

 

 

с

управляющим

 

в

 

 

р-п

переходом

(а)

 

 

 

 

 

 

 

и МДП-транзисто-

 

ра (б).

а)

 

В полевом транзисторе с управляющим р-п переходом вход­ ным электродом является одна из областей обратно смещенного р-п перехода, вольт-амперная характеристика которого показана па рис. 6-18, а. Сопротивление г в х определяется наклоном вольтамперной характеристики в области обратного смещения и может достигать 10е—109 ом. Обратное смещение на р-п переходе з а т в о р - канал неодинаково вдоль канала и зависит от напряжения на стоке. Это несколько влияет на вид входной вольт-амперной ха­ рактеристики, снятой при различных Ucn. При практических расчетах этим можно пренебречь. При прямом смещении р-п переход отпирается, и входное сопротивление транзистора резко падает (до десятков ом). Однако такой режим не является рабочим. Ток утечки затвора определяется обратным током р-п перехода, который заметно возрастает с повышением температуры.

Входное сопротивление .МДП-транзистора определяется со­ противлением слоя диэлектрика между металлическим затвором и

235

полупроводником. Входная вольт-амперная характеристика при­ ведена на рпс. 6-18, б. Сопротивление г в х может достигать 10°— 101'1 ом. В отличие от транзистора с управляющим р-п переходом МДП-транзистор, имея изолированный диэлектриком затвор, сохраняет высокое входное сопротивление независимо от вели­ чины и полярности напряжения на затворе. Ток утечки затвора

пренебрежимо мал и при

повышенных температурах. Это

дает возможность использовать

высокоомиые сопротивления в цепи

затвора.

 

6-6. ТЕМПЕРАТУРНАЯ ЗАВИСИМОСТЬ ПАРАМЕТРОВ ПОЛЕВЫХ ТРАНЗИСТОРОВ

Прп изменении температуры полупроводника изменяются поло­ жение уровня Ферми и механизм рассеяния подвижных носите­ лей. Если рассматривать диапазон температур, в котором леги­ рующие примеси полностью ионизированы, а собственная прово­ димость еще не наступила, то изменение температуры приводит к пзмененпям контактной разности потенциалов срд на р-п переходе, обратного тока через переход, а также к изменению подвижности основных носителей заряда. Это и обусловливает изменение пара­ метров полевых транзисторов с изменением температуры [Л. 9].

Для транзистора с управляющим р-п переходом в рабочем диапазоне температур концентрация основных носителей в ка­ нале остается практически постоянной. Поэтому изменение напря­ жения отсечки U0 прп изменениях температуры определяется температурной зависимостью контактной разности потенциалов, т. е.

AU0

Д ф в

AT

AT •

При изменении температуры на один градус контактная раз­ ность потенциалов изменяется примерно на 2 мв. Повышение тем­ пературы приводит к уменьшению контактной разности потен­ циалов, поэтому для перекрытия канала необходимо приложить к затвору большее внешнее напряжение.

Другим фактором, подверженным влиянию температуры,-яв­ ляется подвижность основных носителей заряда в канале, темпе­ ратурная зависимость которой определяется приближенной фор­ мулой

(6-32)

где |я0 01 — подвижность носителей при температуре Тг. Для гер­ мания коэффициент п^ = 1,5 для электронов и п^ = 2,3 для дырок, для кремния п^ — 2,6 для электронов и = 2,3 для дырок.

Уменьшение подвижности основных носителей заряда с ро­ стом температуры приводит к увеличению сопротивления полу-

236

проводникового материала! При рассмотрении зависимости тока стока полевого транзистора с управляющим р-п переходом от температуры необходимо учитывать два фактора, определяющие изменение электропроводности канала. Повышение температуры

приводит к

уменьшению контактной разности

потенциалов фд,

в результате

чего расширяется токопроводящий

участок канала

и увеличивается его электропроводность. С другой стороны, повы­ шение температуры приводит к уменьшению подвижности носи­ телей заряда в канале, что вызывает уменьшение его электро­ проводности. Рассмотренные факторы на электропроводность канала, а слодовательпо, и па величину тока стока влияют про­ тивоположно, причем при определенных условиях действие этих факторов может взаимно компенсироваться и при некотором

смещении

ток

стока практически

не

зависит

от

температуры.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ийи=-1ое

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ю°с

 

 

 

Рис.

6-19.

 

Стокозат-

 

 

 

 

 

 

•ь=го°с

 

ворпые характеристи­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ки

при

различных

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

температурах.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

jo°c

 

а — для

транзистора с

 

 

 

 

 

 

 

 

 

управляющим

р-п

пере­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ходом;

б

МДП-тран-

О

1

г

з

в

в

-*

о

знстора.

 

 

 

 

а)

На рис. 6-19, а приведены стокозатворные характеристики тран­ зистора с.управляющим р-п переходом в пологой области, снятые при различных температурах. Левее точки с нулевым темпера­ турным дрейфом температурный коэффициент тока стока отри­ цателей, т. е. с ростом температуры ток стока уменьшается, правее точки с нулевым дрейфом температурный коэффициент тока стока положителен.

В зависимости от степени влияния фд или \ i o c у разных тран­ зисторов точка с нулевым температурным дрейфом будет нахо­ диться при различных смещениях на затворе С/3.и . При больших на­ пряжениях отсечки U0 небольшие изменения контактной разности потенциалов Д фд не окажут существенного влияния, и прак­ тически при всех режимах смещения Uan температурный коэф­ фициент тока стока будет отрицательным. При достаточно же малых напряжениях отсечки транзистор будет иметь положитель­ ный температурный коэффициент тока стока.

При изменениях температуры изменяется обратный ток р-п перехода затвор—канал, что вызывает изменение тока в цепи затвора / 3 .

На температурной зависимости тока стока МДП-транзисторов изменение подвижности носителей заряда в канала сказывается

237

также, как

и для транзисторов с управляющим р-п

переходом

[Л. 9]. Но

в отличие от транзистора с управляющим

р-п перехо­

дом механизм изменения порогового напряжения здесь сложнее. Температурный коэффициент тока стока зависит от диапазона температур и у различных транзисторов может иметь разный знак. У МДП-транзисторов не существует рабочей точки, в которой ток стока не зависел бы от температуры. Это иллюстрируется стокозатворными вольт-амперными характеристиками, снятыми при раз­ личных температурах и приведенными на рис. 6-19, б.

Температурная зависимость порогового напряжения для тран­ зистора с индуцированным каналом определяется изменением уровня Ферми, изменением объемного заряда в обедненной под­ вижными носителями области р-п перехода канал — подложка, а также температурной зависимостью величины заряда в диэлек­ трике, зависящей от технологии производства транзисторов. Этими же факторами определяется температурная зависимость напря­ жения отсечки для транзисторов со встроенным каналом.

6-7. ЭКВИВАЛЕНТНЫЕ СХЕМЫ ПОЛЕВОГО ТРАНЗИСТОРА

Процесс распространения тока в канале полевого транзистора с управляющим р-п переходом и МДП-транзистора следует рас­ сматривать как процесс в нелинейной резистивно-емкостпой ли­ нии с распределенными параметрами [Л. 78]. Однако при работе на тех частотах, где коэффициент усиления по мощности больше единицы, полевой транзистор можно заменить эквивалентной схемой, состоящей из сосредоточенных элементов, параметры которых зависят от режима работы.

Малосигнальные эквивалентные схемы

Эквивалентная схема полевого транзистора приведена на рис. 6-20. Для общности предполагается, что подложка, на которой изготавливается транзистор, имеет отдельный вывод. Генераторы тока Sru3 и и Sn0Jlua и отражают эффект модуляции проводимости канала (и, следовательно, величины тока стока) при изменении потенциалов затвора иа „ и подложки иП и относительно истока. У полевых транзисторов с управляющим р-п переходом подложка образует второй затвор и обычно соединяется с основным затво­ ром. Параметры транзистора: крутизна вольт-амперной харак­ теристики по затвору S T , крутизна по подложке 5П 0 д, дифферен­ циальное внутреннее сопротивление транзистора ri T — изменя­ ются с изменением режима. Зависимость этих параметров от ре­ жима работы рассматривалась в § 6-5.

Сопротивления гн и гс складываются из объемных сопротив­ лений полупроводника на участках менаду концами канала и кон-

238

тактами истока и стока, сопротивлений их контактов и выводов. Сопротивления г„ и г0 имеют величину порядка нескольких ом или десятков ом. Сопротивление гс в реальных схемах является как бы частью сопротивления нагрузки, которое обычно много больше гс. Поэтому влиянием объемного сопротивления стоковой области /-с на работу схемы можно пренебречь. Объемное сопротив­ ление области истока ;•„ создает обратную связь, несколько сни­ жающую эффективную крутизну транзистора. Уменьшение кру­ тизны характеристики можно оценить при помощи формулы (известной в теории электронных усилителей)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 + 5 т г „ '

 

 

 

(6-33)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где

S T

— крутизна

характеристики

для

теоретической

модели

транзистора,

соответствующей

активной

области

канала.

 

Из-за

 

обратной

 

связи,

 

 

 

 

>

Затвор

 

обусловленной

сопротив

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1г.

 

 

леиием

г„, одновременно

 

 

 

 

 

 

увеличивается

 

внутреннее

 

 

 

 

 

 

 

 

сопротивление

 

 

транзи­

 

 

 

 

 

 

 

 

стора

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

^ = ^ ( 1 + < $ > , , ) +

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

^ г 4

т

( 1 + 5 т г и

)

(6-34)

 

o - C Z>

 

 

 

 

Ч

(ri T

— внутреннее

 

сопро­

 

 

 

 

 

•CZD-o

 

Исток

 

 

 

 

 

Стон

тивление

 

теоретической

 

 

 

 

 

 

 

 

модели

транзистора).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Если

параметры

экви­

 

 

 

 

 

 

 

 

валентной

схемы

измеря­

 

 

 

 

 

 

 

 

ются

экспериментально,

 

 

 

 

 

 

 

 

то

уменьшение

крутизны

 

 

 

 

6

Подложил

 

и

увеличение

 

внут­

Рис.

6-20.

Эквивалентная схема

полевого

реннего

 

 

сопротивления

транзистора.

 

 

 

 

учитываются

 

автомати­

 

 

 

 

 

 

 

 

чески,

поэтому

при

расчетах

в

эквивалентной

схеме рис. 6-20

величины

 

iS"T

и

г^т

 

можно

заменить

соответственно

величинами

S

и г{

и

считать

 

г„ =

0.

Если

же

параметры

рассчитывают­

ся

(например,

при разработке

нового

прибора),

то

влияние

обратной

 

связи

можно

учесть

при помощи

формул

(6-33)

и (6-34).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Сопротивление контакта затвора г3 и объемное сопротивление

подложки

и ее контакта г п о д

имеют величины порядка

нескольких

ом или десятков ом и оказывают несущественное влияние на ра­ боту транзистора.

Для полевого транзистора с управляющим р-п переходом емкости затвор—сток С3 с , затвор—исток С3 - п , подложка—исток Сц.а и подложка—сток ССП являются зарядными емкостями

239

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ