Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Лодиз, Р. Рост монокристаллов

.pdf
Скачиваний:
25
Добавлен:
23.10.2023
Размер:
35.03 Mб
Скачать

7. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ ЖИДКИХ РАСТВОРОВ

327

медленного охлаждения непригоден, то кристалл иногда вы­ ращивают путем испарения при условии, что расплав имеет до­ статочно высокую упругость пара. Если соединение испаряется инконгруэнтно, то после того, как определенная часть его испа­

рится, другая фаза может оказаться устойчивой и

начнет кри­

сталлизоваться. Если

коэффициент распределения

активатора

или

примеси сильно зависит от температуры, то

выращивание

в изотермических условиях имеет значительные

преимущества,

но

если коэффициент

распределения в значительной степени

зависит от состава расплава, стехиометрии, концентрации акти­ ваторов или примесей, то выращивание за счет испарения мо­ жет давать менее однородные кристаллы.

Вполне вероятно, что некоторые из процессов роста, напри­

мер, в расплавах KF и РЬО вызываются испарением

расплава.

Рой [99] использовал расплавы (Na, К)гО-ЗВ2 03 ,

галогенидов и

РЬО

для выращивания кристаллов

ТЮ2 _Х , Сг2 0з,

(А1, С г ) 2 0 3 ,

V 0 2

и 1п2 0з путем изотермического

испарения

расплавов при

температурах

1500—1100 °С.

 

 

 

Гродкиевич

и Нитти [97] выращивали кристаллы

НЮ2 , ТЮ2 ,

Th02 , Ce02 , YbCr03 и А12 03 за счет испарения расплава при температуре 1300°С. Условия роста приведены в табл. 7.4. Витинг [100] выращивал методом испарения кристаллы MgFe2 04 из расплава PbF2 .

Выращивание кристаллов на затравках

При выращивании кристаллов на затравках, а не за счет спонтанного зародышеобразования можно управлять ориенти­ ровкой, скоростью роста, совершенством кристаллов и содер­ жанием в них примесей. Кроме того, в одном из своих вариан­ тов он имеет все преимущества роста в изотермических усло­ виях. Несмотря на явные преимущества метода кристаллизации на затравках, из раствора в расплаве таким методом выраще­ но очень мало кристаллов. Это, вероятно, обусловлено главным образом тем, что скорости роста очень малы, так как в любой многокомпонентной системе и тем более в расплавах затруд­ нена диффузия. При неуправляемом случайном образовании за­ родышей скорости, вероятно, тоже невелики, но их не так просто измерить, они обычно неизвестны, и экспериментатор обычно не придает особого значения их малой величине. Кроме того, для выращивания кристаллов на затравках требуется бо­ лее сложное оборудование, чем для выращивания на спонтанно возникших зародышах.

Возможны, однако, три способа кристаллизации с примене­ нием затравок, причем первые два доведены до практического применения:

328 Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

1. Выращивание путем медленного охлаждения раствора Б присутствии затравки.

2. Выращивание на затравку, расположенную в холодной чавти системы, при избытке кристаллизуемого вещества (ших­ ты), находящегося в контакте с растворителем в более горячей части системы. Такой метод подобен гидротермальной кристал­ лизации, и его иногда называют выращиванием по способу

температурного градиента

или методом

Крюгера — Финке [14].

3. Выращивание на затравку в условиях пересыщения, соз­

даваемого испарением растворителя.

 

 

 

 

Основное

преимущество

методов 1

и

3

состоит в

том, что

для них не

нужны стадии

растворения

и

в

некоторых

случаях

диффузионный путь может быть короче. Наилучшие кристаллы из имеющихся к настоящему времени выращены методом 1. Каких-либо попыток выращивания кристаллов методом 3, на­ сколько известно автору, не предпринималось. Преимущество методов 2 и 3 в том, что выращивание производится в изотер­ мических условиях. Это помогает осуществить рост в системах, где нужная фаза устойчива только в пределах узкой темпера­ турной области и где коэффициент распределения активатора, примеси или компонентов (в случае нестехиометрических соединений) зависит от температуры. В таких случаях более одно­ родные кристаллы дают методы 2 и 3. Но когда растворитель испаряется инконгруэнтно или коэффициент распределения за­ висит от концентрации растворителя, метод испарения не дает кристаллов столь же однородных, как и выращенные по способу температурного градиента. Метод температурного градиента используют для выращивания больших кристаллов, так как тогда размеры кристалла не ограничиваются общим количеством растворенного в растворителе вещества.

Методом роста на затравке пользовался целый ряд исследо­ вателей, в том числе Миллер [101], выращивавший кристаллы KNb03 , Рейнольде и Гуггенгейм [102], кристаллизовавшие фер­ риты, Линарес [103], вырастивший кристаллы ИЖГ, и Кестиджян [104], тоже выращивавший кристаллы ИЖГ. Полнее же всего этот метод изучен, пожалуй, в работе Лодиза с сотруд­ никами [34], которые выращивали кристаллы ИЖГ, используя растворитель ВаО-6Вг03 . Температурная зависимость раство­

римости И Ж Г

в расплаве ВаО - 6Вг0 3 показана

на фиг. 7.28,

а на фиг. 7.29

приведено устройство стандартной

печи. Иссле­

довались возможности выращивания кристаллов путем мед­ ленного охлаждения раствора и методом температурного гра­ диента. Вращение производилось в течение 30 с по часовой

стрелке,

а последующие 30

с — против

часовой

стрелки.

На

фиг. 7.30

показано, как влияет

скорость

вращения

на рост

кри-

7. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ ЖИДКИХ РАСТВОРОВ

329

сталлов ИЖ Г в направлении (ПО) при двух разных скоростях охлаждения. *В экспериментах с медленным охлаждением в от­ сутствие питательной шихты ИЖ Г при скорости охлаждения dQ/dT, равной 10°/ч, плоская часть кривой АВ начинается со скорости вращения 200 об/мин. Значение скорости в точке А

называется

критической

скоростью

вращения.

Она возрастает

 

1300 |

 

 

1

 

 

то

 

 

\ YFE03

 

 

 

 

 

 

 

то

 

 

 

 

 

то

 

 

 

 

I

то

 

 

 

 

f

 

 

 

 

!

 

 

 

 

 

Й 1100 ВаО • 6Те70.

 

 

 

 

 

1060

 

 

 

 

 

юго

 

 

 

 

 

980

Твердая

фаза

 

 

 

20

30

 

 

 

Ю

40

 

 

Растворимость

ИЖГ, вес %

 

 

Ф и г . 7 . 2 8 . Д и а г р а м м а р а с т в о р и м о с т и И Ж Г в В а О • 6 В 2 0 3

[ 4 9 ] .

Кривая А — нулевой избыток Fe^Oj

в расплаве; кривая В — избыток Fe^Oj

в расплаве

 

 

равный 6,5%.

 

 

по мере увеличения dQ/dT и массы раствора. Чем больше dQ/dT, тем больше пересыщение As и тем более важную роль играют процессы диффузии. Точно так же чем больше масса расплава, тем длиннее диффузионный путь, а отсюда вытекает и зави­ симость А от dQ/dT и массы расплава.

При выращивании методом температурного градиента даже при скоростях вращения, достигающих 200 об/мин, скорость роста в ходе эксперимента постепенно уменьшается. Очевидно,

330

 

Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

 

при

этом

растворение

И Ж Г

становится

тем

процессом,

который

лимитирует скорость роста,

так

как шихта

И Ж Г спекается и

ее

поверхность со временем уменьшается. Повышения скоро­

сти

роста

кристаллов

можно

ожидать

при большем

объеме

Огнеупорный

 

 

кирпич

Вал

мешалки

Металлический

кожух

Расплав

соли

Зона роста

Перегородка

Шихта ИЖГ

Алундовый

цемент

Алундовая трубка с канав-' кои на поверхнос­

ти

Держатель (Pt)

Мешалка (Pt)

Тигель (Pi)

Огнеупорный

кирпич

Проволока (Vi)

Ф и г . 7.29. Установка для выращивания И Ж Г на затравку [49].

питательной шихты, больших размерах частиц шихты (улучшаю­ щих циркуляцию растворителя через зону шихты), при более быстром вращении в условиях лучшего распределения и регу­ лирования температур (малые градиенты и температурные флуктуации в зоне шихты способствуют спеканию шихты). Кроме того, более эффективна та ориентировка затравки, ко­ торую применяют в методах вытягивания кристаллов из рас?

7. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ ЖИДКИХ РАСТВОРОВ

331

плава. Такая ориентировка допускает существование большого градиента температуры вблизи границы роста. Это препятст­ вует возникновению концентрационных переохлаждений, обра­ зованию включений расплава, появлению дендритных и ворон­ кообразных форм роста, вызывающих особые трудности при кристаллизации в расплавах, высокая вязкость которых при­ водит к удлинению диффузионного пути частиц вблизи границы роста. Кестиджян [104] продемонстрировал некоторое улучше­

ние качества кристаллов

при вытягивании

ИЖГ

из

раствора

в расплаве, а в работе Ван Хиппела [88] сообщаются

условия

Линца для выращивания

кристаллов ВаТЮ3

при

избытке ТЮг-

0

чО

SO

120

160

200

 

 

Скорость

вращения,

об/мин

 

Ф и г . 7.30. Зависимость скорости роста кристаллов И Ж Г от скорости вра­ щения затравки [49].

На кривых указана скорость охлаждения.

В табл. 7.4 указан ряд кристаллов, выращенных из расплава, вместе с наиболее важными для роста параметрами. Нетрудно видеть, что во многих случаях не всегда имеется достаточно сведений даже о таких основных параметрах, как скорость охлаждения.

7.5.РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ РАСТВОРОВ

ВРАСПЛАВЛЕННЫХ МЕТАЛЛАХ

Метод выращивания кристаллов из раствора, при котором в качестве растворителя используются расплавленные металлы, как и другие процессы выращивания из растворов, имеет свои преимущества и свои недостатки. Монокристаллы многих ме­ таллов и полупроводников выращены таким методом. Ранее

(разд. 4.4) уже говорилось о применении

расплавов

переходных

металлов в качестве растворителей графита при

кристаллиза­

ции алмаза. При кристаллизации алмаза

пересыщение создают

за счет растворения метастабильной в условиях опыта фазы (графита), более растворимой, чем устойчивая в условиях опыта кристаллизуемая фаза (алмаз).

332

р. лодиз. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

 

Наиболее широко метод выращивания из растворов в рас­

плавленных металлах в настоящее время применяется,

вероят­

но, для

получения

кристаллов

полупроводниковых соединений

I I I V

групп, особенно GaP, для которого растворителем часто

служит

Ga. Рост

происходит

при достаточно низких

темпера­

турах, где мала летучесть As и Р, которая сильно затрудняет выращивание кристаллов из расплава. Растворитель особенно

удобен тем, что он не вводит в

систему

примесей и

плавится

при низкой

температуре.

 

 

 

 

 

Затравочная

Графитовая

 

 

 

лодочка

 

 

Смесь

пластинка

CaAs

 

 

 

Sn-OaAs

 

 

 

 

 

 

 

Область В

 

 

 

Область А

 

 

 

Ф и г . 7.31. Схема метода

выращивания

кристаллов GaP за счет

эпитаксии

в

жидкой фазе, или «метода качающейся лодочки».

 

Один из самых первых и самых простых методов выращи­ вания кристаллов GaP из раствора описан Вольфом и др. [105, 106] (см. также [107]); GaP, выращенный из расплавлен­ ного Ga, сыграл важную роль в исследованиях по электролю­ минесценции, так как он дает парные спектры с большим чис­ лом резких линий [108].

Расплавленный Ga, содержащий 5—10 ат.% фосфора, по­ мещают в откачанную ампулу из кварцевого стекла, заваривают и медленно, со скоростью 3—5°/ч охлаждают, начиная с тем­

ператур

1000—1275 °С

и заканчивая

охлаждение при темпера­

турах на

200—300 °С

ниже исходной

температуры для выра­

щивания. В некоторых случаях расплав помещают в тигли из A1N, BN и А12 03 , расположенные внутри кварцевой ампулы, которую затем заваривают. Начиная с температур 900—700 °С, система охлаждается быстрее. Полученные кристаллы извле­

кают

из

расплава механическим путем и путем

выщелачи­

вания

в

концентрированной НС1. Выращенные

кристаллы

представляют собой в основном пластинки, ограненные по пло­ скости {111}, с максимальным размером до 1 см (когда рост про­ исходит из расплава весом около 50 г [108]).

В последние годы наиболее высокий выход электролюминес­ ценции на GaP был получен на кристаллах, выращенных из раствора в Ga, причем полупроводниковые диоды были изго­ товлены методом эпитаксиального выращивания в жидкой

7. РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ ЖИДКИХ

РАСТВОРОВ

333

фазе, или методом качающейся

лодочки.

Такой метод

исполь­

зовали для выращивания GaAs и GaP [109—112]. При выра­ щивании GaP методом жидкофазной эпитаксии почти насыщен­ ный раствор GaP (в жидком Ga) приводят в контакт с затравкой

из GaP (подложкой), а

изменение температуры программи­

руют так, чтобы создать

пересыщение, при котором на за­

травке растут сравнительно тонкие, нужным образом активиро­ ванные слои. На фиг. 7.31 изображена типичная схема при­ меняемой аппаратуры.

Кроме GaAs и GaP, метод качающейся лодочки использо­ вали для выращивания эпитаксиальных слоев Ge [109] и ИЖ Г [113]. Растворителями обычно служат:

GaP

Ga

( + Те->я-тип;

+Zn->/?-ran)

GaAs

Sn

( + Sn-э-п-тип;

+

Z n р - т и п )

Ge

In

(-{-Ga -> р-тип)

 

 

ИЖГ (Y3 Fe5 0i2) РЬО, PbF2

и другие расплавы. Подлож­

кой служит иттрий-алюминиевый гранат.

Для лодочек обычно применяют следующие материалы: графит —для Ge, BN — для GaP и Pt — для ИЖГ.

Для иллюстрации опишем способ получения GaAs. Вначале, когда область А (фиг. 7.31) ниже области В, в лодочку в об­ ласти А помещают смесь Sn—GaAs, а в области В укрепляют затравочную пластинку из GaAs. Графитовую лодочку устанав­ ливают в центре зоны с постоянной температурой в печи соот­

ветствующей

конструкции.

Лодочку

нагревают приблизительно

до 640 °С и

выдерживают

при этой

температуре, чтобы GaAs

растворился в Sn. Затем лодочку наклоняют так, чтобы об­ ласть В оказалась ниже области А. При контакте с подложкой

раствор, вероятно, должен

быть слегка ненасыщенным. Тогда

в результате растворения

затравки удаляется поврежденная

часть поверхности, и при некоторых условиях это способствует

тому, чтобы граница роста

была плоской ' ) . Печь

охлаждают

в течение приблизительно 30

мин от 640 до 500 °С,

затем рас­

твор декантируют и вынимают подложку с образовавшимся на ней активированным эпитаксиальным слоем.

Соответствующие циклы нагревания для других соединений

таковы [109]:

 

 

 

GaAs из Ga — контакт с затравкой

при 900 °С, охлаж­

дение до

400 °С

в течение 30 мин, де­

кантирование.

 

 

Ge из In — контакт с

затравкой

при 500 °С, охлаж­

дение до

400 °С

в течение 30 мин.

') В идеальном случае растворитель должен быть для подложки поли­ рующим травителем.

334

Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

Ge из Sn—Pb—контакт с затравкой при 400 °С, охлаж­ дение до 300 °С В течение 10 мин.

GaP из Ga — контакт с затравкой при 1100 °С, охлаж­ дение до 700 °С в течение 40 мин [ПО].

Можно думать, что метод жидкофазной эпитаксии будет на­ ходить все более широкое применение при выращивании кри­ сталлов из растворов. Логическим продолжением метода выра­ щивания с использованием жидких металлических растворите­ лей служит зонная плавка с градиентом температуры, которая рассматривается в разд. 7.6. Смакула [114] приводит список ряда других кристаллов, выращенных из растворов в жидких металлических растворителях.

7.6. ЗОННАЯ ПЛАВКА С ГРАДИЕНТОМ ТЕМПЕРАТУРЫ

Зонная

плавка

с градиентом температуры была предло­

жена

Пфанном и

впервые применена им одновременно к

очи­

стке и к выращиванию кристаллов [115, 116]. Суть ее

в том,

что

благодаря

наличию температурного

градиента по

всему

об­

разцу

проходит

подвижная узкая

зона растворителя.

На

фиг. 7.32 показана схема метода зонной плавки с градиентом

температуры вместе с соответствующей диаграммой

состояния.

На диаграмме состояния А — растворяемое вещество

(выращи­

ваемый кристалл), а В — растворитель. Допустим,

что у нас

имеется тонкий слой твердого растворителя В между двумя блоками чистого растворяемого вещества А. Поместим всю си­ стему в поле температурного градиента так, чтобы температура слоя превышала самую низкую температуру плавления в рас­

сматриваемой системе,

а

самая

высокая температура остава­

лась

ниже

температуры

плавления выращиваемого

кристалла

А. В

этих

условиях слой

будет

растворять в себе

некоторое

количество компонента А и толщина его будет увеличиваться.

Если при

этом Ti < Т2 < Т3 <

Tit

то зона перемещается

в на­

правлении

7Y Когда она окажется в

области Т2—Т3,

у

более

холодной

поверхности раздела

будет

происходить растворение

А, продолжающееся до тех пор,

пока

не установится

соответ­

ствующая равновесная концентрация С3 , отвечающая линии лик­ видуса. Растворение А у более горячей поверхности продол­

жается до установления концентрации С2

( С 2 > С 3 ) .

Возник­

ший градиент

концентрации вызывает диффузию компоненты А

в направлении

более холодной поверхности

раздела,

где рас­

твор становится пересыщенным (переохлажденным) и при концентрации компонента В, равной kC3 (где k — коэффициент распределения), происходит кристаллизация компонента А.

7.

РОСТ КРИСТАЛЛОВ ИЗ ЖИДКИХ РАСТВОРОВ

335

Непрерывный

процесс растворения — диффузии — кристаллиза­

ции приводит к перемещению расплавленного слоя по всему объему.

Пфанн [116] проанализировал факторы, влияющие на длину зоны, ее форму и изменение состава по длине кристаллизовав-

Концентрация С компонента

В

Ф и г . 7.32. Схема метода зонной плавки с градиентом

температуры [116].

шегося слитка. Часто бывает важно вырастить кристаллы с ма­ лым содержанием примесей. Тогда предпочтительнее системы, в которых растворимость растворителя в кристаллизуемом сое­ динении невелика. Нередко бывает желательно иметь в образце однородное распределение примесей. Если во всем слитке соз­

дан

однородный

градиент температуры (фиг. 7.32),

то зона

перемещается за

счет изменений в составе, которые

вызывают

ее смещение вдоль линии ликвидуса от Г4 к 7\. При

этом

со­

став

твердого кристаллического соединения изменяется от

kC^

336 Р. ЛОДИЗ. РОСТ МОНОКРИСТАЛЛОВ

до kC\. При уменьшении градиента температуры кристалл бу­ дет более однородным, но скорость движения зоны будет мень­ ше. Зону можно поддерживать почти при постоянной темпера­ туре в течение всего полного прохода с помощью кольцевого нагревателя в обычной установке для зонной очистки, пере­ мещая нагреватель [и зону, содержащую раствор -)- В)] вдоль слитка. Тем самым обеспечивается высокий градиент тем­ пературы вблизи поверхностей плавления и кристаллизации, способствующий быстрому росту и получению обычно более однородных кристаллов. Это — один из вариантов метода зон­ ного выравнивания примесей. К числу монокристаллов, выра­

щенных методом зонной плавки с

температурным

градиентом,

относятся

GaAs

(растворитель Ga)

[117], a-SiC

(растворитель

Сг) [118],

германий

(растворитель

РЬ) [116] и GaP

(раствори­

тель GaAs) [119, 120].

 

 

 

Типичные условия

и результаты

выращивания

представлены

в работе

Плескета и др. [120] по кристаллизации

GaP. Эти ав­

торы перемещали

зону (Ga + GaP)

вдоль слитка

из GaP с по­

мощью передвижного нагревателя. Такой метод представляет

собой усовершенствованный метод Бродера и

Вольфа

[119] и

иногда называется методом движущегося

растворителя.

Неболь­

шую затравку GaP помещают

на дно

цилиндрического

тигля

из BN с острым концом. Сверху

идет слой Ga

толщиной

6 мм,

а еще выше — плотный поликристаллический

слиток GaP. Ти­

гель в откачанной запаянной кварцевой ампуле вводят в печь сопротивления, позволяющую регулировать крутизну профиля изменения температуры. Печь снабжена одновитковым радиа­ ционным нагревателем, который обеспечивает создание локаль­ ного резкого температурного градиента и расплавленной зоны (Ga-f-GaP), перемещаемой вдоль образца. Зону устанавли­ вают при температуре около 1160 °С (которая соответствует концентрации около 10 вес.% GaP в Ga). Скорость перемещения зоны вверх по слитку составляет около 4 мм/сут; в других процессах роста из раствора, где скорость снижена из-за про­ цессов диффузии (таких, как рост в водных растворах, распла­ вах и гидротермальный рост), она примерно того же порядка. Таким методом выращены кристаллы размером до 5 см.

7.7. К О М Б И Н И Р О В А Н Н Ы Е МЕТОДЫ ВЫРАЩИВАНИЯ ПО МЕХАНИЗМУ ПАР — Ж И Д К О С Т Ь — КРИСТАЛЛ

В многокомпонентных системах в равновесии может участ­ вовать более двух фаз. Рост по механизму пар — жидкость — кристалл (П — Ж — К), который описали Вагнер и Эллис [121], — единственный известный пример такого рода, но вполне возможно представить себе такие процессы, как превращение

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ