- •Министерство образования и науки Российской Федерации
- •1. Предпробивные процессы в конденсированных
- •1.1. Тепловая неустойчивость
- •1.2. Электромеханическая неустойчивость
- •1.3. Электрополевая и токовая неустойчивость
- •1.4. Ионизационная неустойчивость
- •1.5. Описание развития разряда в диэлектрике
- •2. Основы фрактального подхода
- •3. Компьютерная модель роста разрядной структуры
- •3.1. Возможности компьютерного моделирования
- •3.2. Общая структура модели разряда
- •3.3. Расчет распределения плотности свободных зарядов в структуре разряда
- •3.4. Расчет электрического потенциала внутри диэлектрика
- •3.5. Расчет вероятности роста структуры разряда
- •Методические указания к лабораторной работе
- •1 Параметры модели
- •2 Описание программы
- •3 Расчет и анализ результатов моделирования
- •4 Порядок выполнения работы
- •5 Контрольные вопросы
1. Предпробивные процессы в конденсированных
ДИЭЛЕКТРИКАХ
Основным процессом, ответственным за инициирование и развитие разряда в диэлектриках, является генерация и перенос носителей зарядов в сильных электрических полях. Генерация электронов, дырок и ионов осуществляется из электродов за счет авто электронной и термоавтоэлектронной эмиссии. Носители зарядов образуются и в самом диэлектрике за счет диссоциации молекул, ударной или электростатической ионизации собственных и примесных состояний диэлектрика. Взаимодействие носителей заряда с веществом сопровождается формированием неустойчивостей, приводящих к инициированию и развитию плазменных каналов. Можно выделить несколько типов таких неустойчивостей: тепловая, электромеханическая, электрополевая, токовая и ионизационная.
1.1. Тепловая неустойчивость
Это наиболее универсальный тип неустойчивости. Она возникает в диэлектриках с большой проводимостью и сильным ее возрастанием с увеличением температуры, например, для активационной зависимости
(T) =exp (W/kT) (1.1)
где W - энергия активации проводимости, k - постоянная Больцмана, T - температура в градусах Кельвина. При приложении напряжения диэлектрик разогревается токами проводимости. Неоднородность реальных диэлектриков вызывает появление зон с интенсивным и умеренным тепловыделением. Рост температуры увеличивает проводимость локальных областей. В этих областях будет происходить шнурование тока, интенсивный разогрев и фазовый переход, который может быть обусловлен проплавлением, разрушением или ионизацией "разогретыми" в электрическом поле носителями заряда. Напряженность поля, при которой развивается тепловая неустойчивость определяется из баланса энергии
(1.2)
где , c - удельная плотность и теплоемкость материала, t - время действия электрического поля. Тепловая неустойчивость используется в различных теориях теплового пробоя твердых диэлектриков.
1.2. Электромеханическая неустойчивость
Электромеханические (пандеромоторные) силы электрического поля создают давления на диэлектрик
(1.3)
где и- относительные диэлектрические проницаемости для частоты воздействующего напряжения и оптического диапазона, E - локальная напряженность поля. Возникающие при этом механические напряжения недостаточны для разрушения диэлектриков. С учетом дефектов на границе электрод-диэлектрик может оказаться достаточным для разрушения давление P~2107н/м2. Давление необходимое для разрушения может быть достигнуто у устья микротрещин, образующихся в объеме твердых диэлектриков. Электромеханическая неустойчивость может увеличиться за счет инжекции в диэлектрике объемного заряда. Электрическое поле, действуя на заряд плотностью, создает дополнительную локальную силу
F =E (1.4)
Жидкие диэлектрики под действием этой силы приходят в электро-гидродинамическое движение (ЭГД-течение). Кулоновское расталкивание зарядов одного знака в зоне объемного заряда создает натяжение в жидкости (пониженное давление) и жидкость "вскипает". Кулоновское натяжение и ЭГД-течение вызывает кавитацию с образованием микропузырьков. Ионизация в микропузырьках приводит к инициированию разряда.