Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

3479

.pdf
Скачиваний:
2
Добавлен:
15.11.2022
Размер:
5.76 Mб
Скачать

структур схожи по форме, ограничимся лишь подробным анализом дифракции волны на вспомогательной структуре.

H

x

R2+t

П

εr

R2

0 W

d

z

-H2

-h2

Рис. 2.21. Двухпазовая гребѐнка с диэлектрическим слоем (наклонное падение H-поляризованной волны)

Для однородной Е-поляризованной плоской волны, падающей в плоскости x0у на вспомогательную структуру (отсчет угла падения показан на рис. 2.20), проекции векторов напряженностей электрического и магнитного полей падающей волны в области x > R1 + t записываются в виде

Ezn

e j n (x R1 t) e j 0 y ,

 

 

 

H yn

0

 

e

j 0 (x R1

t)

e j

0 y .

(2.41)

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Поле рассеянных волн (поле дифракции) в этой же области представляется совокупностью пространственных гармоник, описываемой рядом Фурье:

 

Ezp

a n e j n (x R1 t) e j n y ,

 

 

n

 

 

 

(2.42)

 

 

 

 

 

 

 

H yp

a n

n

 

e n (x R1

t) e j n y ,

 

 

0

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где an

неизвестные комплексные амплитуды ПГ;

n=2

n/d+k0sin( ),

0=( k20-

2n)1/2 постоянные распространения n-й ПГ

вдоль оси 0y и оси 0x соответственно.

 

 

 

В областях R1+t > x > R1

(ПДВ) и R1

> x > 0 (прицельный зазор)

рассеянные поля представляются в виде соотношений, аналогичных (2.2). Поэтому приведем лишь записи для Е-компонент полей в этих областях:

E(zПДВр

)

(bn

e

j

n (x

R1 )

cn

e j

n (x

R1 ) ) e j n y ,

 

(2.43)

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

E(zзазорр )

(fn

e

j

n x

gn

e j

n x )

e j n

 

y ,

 

 

 

 

(2.44)

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где bn, cn, fn, gn неизвестные комплексные амплитуды ПГ;

 

 

 

 

n=( k 22 -

2n)1/2

поперечная постоянная распространения n-й ПГ в области

ПДВ в направлении оси 0x: k2=( 0

r 0

2)1/2.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

В пазах решетки поле представлено совокупностью волноводных мод:

в области 0 > x > -h1; W > y > 0:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

E(zpосн)

 

 

dm1

sin(qm1

(x

h1)) sin

 

m

y

;

(2.45)

 

 

 

 

 

W

 

 

 

 

 

 

m 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в области 0 > x > -H1; d > y > W:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

E(zpвсп)

dm2

sin(qm2

(x

H1)) sin

 

m

(y

W)

,

(2.46)

 

d

W

 

 

 

 

m 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где dm1 и dm2 - неизвестные комплексные амплитуды волноводных мод; qm1=(k02 r1-( m/W)2)1/2 и qm2=(k02 r2-( m/(d-W))2)1/2 - постоянные

распространения волноводных мод основного и вспомогательного пазов вдоль оси 0x.

Hy -компоненты полей дифракции в рассматриваемых частичных областях находятся в соответствии с уравнениями Максвелла.

Сшивание тангенциальных компонент полей на границах раздела частичных областей x = 0, x = R, x = R+t приводит к системе функциональных уравнений относительно неизвестных комплексных амплитуд ПГ an, bn, cn, fn, gn, dm1, dm2:

a n

0

bn

e

j n t

cn

e

j

n t

,

 

 

 

 

 

n

 

 

 

 

 

 

 

 

n

a n

0

0

n ( bn e

j

n t

cn

e

j

n t

),

n

 

 

 

 

 

bn cn

 

fn e j n R1

gn e j n R1 ,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n ( bn

cn )

n ( fn e j n R1 gn e j n R1 ),

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(fn

gn )e j

n y

 

dm1 sin qm1h1 sin

 

m y

, 0

 

y

W,

 

 

(2.47)

 

 

 

W

 

 

n

 

 

 

m 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n

(

fn gn )e j

n y

j

dm1qm1 cos qm1h1

sin

 

 

 

m y

 

, 0

y

W,

 

 

 

 

W

n

 

 

 

 

 

m 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(fn

gn )e j

n y

 

dm2 sin qm2H1 sin

 

m (y

W)

, W

y

d,

 

 

 

 

d

W

 

 

 

 

n

 

 

 

m 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n

(

fn gn )e j

n y

j

dm2qm2 cos qm2H1 sin

 

m (y

W)

, W y d.

 

 

d

W

 

n

 

 

 

 

 

m 1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Разложив функции sin( my/W) и sin( m(y-W)/(d-W)) по полной ортогональной на периоде системе функций exp(j ny) и исключив из полученных уравнений неизвестные амплитудные коэффициенты bn, cn, fn, gn, получим парную систему линейных алгебраических уравнений 1-го рода бесконечного порядка относительно комплексных амплитуд в области x > R + t и волноводных мод dm1 и dm2 в пазах гребенки.

Для построения эффективного вычислительного алгоритма решения полученной СЛАУ использована операция регуляризации в соответствии с обобщенным правилом Миттры (2.7) – правилом редуцирования бесконечных парных СЛАУ. Она заключается в строго определенном выборе числа учтенных ПГ и волноводных мод в основном и вспомогательном пазах гребенки – величин L, M1 и M2 соответственно, и вытекает из требования удовлетворения искомого решения условию Мейкснера, определяющему поведение поля вблизи сингулярностей (ребер решетки).

Указанная операция регуляризации состоит в том, что при общем числе L учитываемых гармоник в области x R1 + t число волноводных мод M1 и M2 выбираются с учетом условия

lim

M1

W d

.

(2.48)

 

L

M2

1 W d

 

 

Учитывая, что M1+M2=L, редуцированная СЛАУ запишется в следующем виде

 

M1

 

M 2

 

 

 

a n rn

dm1 sin(qm1h1)pnm1

dm2 sin(qm2h 2 )pnm2

01,

 

 

m 1

 

m 1

 

 

(2.49)

 

M1

 

 

M 2

 

 

n a nsn

jqm1dm1 cos(qm1h1)pnm1

jqm2dm2 cos(qm2h 2 ) pnm2

0 02,

 

m 1

 

 

m 1

 

 

где

rn

exp( j

n

) / zn1

 

zn5

(1

exp( j2

n

) zn 2 / zn1 );

 

 

zn5

(

 

n

 

n

 

zn3 / zn 4 ) exp( j n

)(zn 4

zn3zn 2 / zn1 )

n ;

 

zn1

(

n

 

 

n )(exp( j

n t)

 

exp(

 

j

n t)) /(2

n )

exp(

j

n t);

zn 2

(

 

n

 

n )(exp( j

n t)

 

exp(

j

n t)) /(2

n )

exp(

j

n t);

zn3

(

 

n

 

n )(exp( j

n t)

 

exp(

j

n t)) /(2

n )

exp(

j

n t);

zn 4

 

( n

 

 

n )(exp( j

n t)

 

exp(

 

j

n t)) /(2 n )

exp(

j

n t);

sn

exp( j

n

) / zn1

 

zn5

(1

exp( j2

n

) zn 2 / zn1 );

 

 

01

exp( j

0

) / z01

z06

 

z010 ;

 

 

 

 

 

 

 

 

02

exp( j

0

) / z01

z07

 

z010 ;

 

 

 

 

 

 

 

 

z06

1

 

exp( j2

0

)

z02 / z01;

 

 

 

 

 

 

 

 

z07

1

 

exp( j2

0

)

z02 / z01;

 

 

 

 

 

 

 

 

z010

(

0

 

0z03 / z01 ) /

0

exp( j

 

0

)(z04

z03

z02 / z01 );

pnm1

W

 

m(1

(

1)m e

j

n W )

;

 

 

 

 

 

 

 

d

(

 

m)2

( n

 

W)2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

pnm2

(d W)

m(e j

n W

(

1)m e

j n W )

.

d (

m)2

( n

(d

W))2

 

 

 

 

Регуляризованная система уравнений (2.49) использована для построения алгоритма численного решения задачи и его программной реализации.

Анализ дифракции на структуре, изображенной на рис. 2.21, однородной плоской электромагнитной волны с Н-поляризацией выполняется аналогично приведенному выше; основное отличие состоит в представлении рассеянного поля в пазах решетки с помощью функций cos(qm1x) и cos(qm2x), cos( my/W) и cos( m(y-W)/(d-W)) для выполнения граничных условий на дне пазов и на ребрах решетки, а в соответствующих суммах по m дополнительно учтена волноводная мода с нулевым индексом (это обусловлено наличием в пазах при Н-поляризации Т-волны). Структуры парных систем граничных уравнений в случаях E- и H-поляризации аналогичны.

На рис. 2.22 представлены расчетные зависимости относительной

энергии P0 зеркально отраженной волны от отношения периода ДР к длине

волны в свободном пространстве

d /

0

при дифракции E-поляризованной

волны на одномерно-периодичной гребенке без диэлектрика.

 

 

1 Р10

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .9

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .8

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .7

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

v y

0 .6

 

 

 

 

 

 

 

 

 

i

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

y( x )

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

v y1 i

0 .5

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

y 1( x )

0 .4

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

0 .3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0 0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

1 .25

1 .5

1 .75

2

2 .25

2 .5

2 .75

 

 

 

 

 

 

xi

 

 

 

æ

 

 

 

1

 

 

X

 

 

2 .75

 

Рис. 2.22. Расчетные зависимости относительной энергии P0

зеркально

отраженной

 

волны

с

Е-поляризацией

от

нормированного частотного параметра (зависимость 1 взята из

литературы; кривая 2 получена авторами)

 

 

 

Параметры ДР были выбраны следующими: H1=0, =h1/d=0.25, u=W/d=0.8. Зависимость 1 получена методом полуобращения. Кривая 2 - результат метода редуцирования СЛАУ при общем числе учитываемых гармоник N=9. Расчеты показывают, что при редуцировании СЛАУ по правилу (2.7) среднеквадратическое отклонение (СКО) приближенного решения от строгого не превышает 7 %, причем кривая 2, полученная численным методом, в широком частотном диапазоне повторяет поведение зависимости, полученной полуаналитическим методом, включая точку, в которой производная функции P0=P0( ) терпит разрыв.

На рис. 2.23 изображены кривые, соответствующие случаю H-поляризации.

1 Р10

 

 

 

 

 

 

 

 

0

.9

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

0

.8

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

0

.7

 

 

 

 

 

 

 

v yi

0 .6

 

 

 

 

 

 

 

y( x )

 

 

 

 

 

 

 

 

 

v y1 i

0

.5

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

y 1( x )

0 .4

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .3

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .2

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .1

 

 

 

 

 

 

 

0

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

1 .25

1 .5

1 .75

2

2 .25

2 .5

2 .75

 

 

 

 

 

 

 

 

 

æ

1 x X 2 .75

Рис. 2.23. Расчетные зависимости относительнойi энергии зеркально отраженной волны Н-поляризации от частотного параметра

Параметры ДР оставлены прежними, волна падает нормально. Общее число учтенных гармоник N=7. Обозначения кривых на рис. 2.23 соответствуют принятым на рис. 2.22. Из рис. 2.23 следует, что при правильно выполненном усечении СКО не превышает 3 %. Численный анализ, проведенный с учетом 15 гармоник, показывает, что для случаев E- и H-поляризованных падающих волн СКО не превышает 2 % (относительно результатов, полученных методом полуобращения).

Сходимость метода редуцирования парных СЛАУ проверяется математическим моделированием дифракции плоской Н-поляризованной электромагнитной волны на одномерно-периодичной гребенке со слоем диэлектрика, в частности, анализом угло-частотных характеристик структуры и зависимости постоянной вытекания (-1)-й поверхностной гармоники от частоты падающей волны при различном количестве учитываемых ПГ. Результаты математического моделирования сравниваются с данными, полученными экспериментальным путем.

Результаты расчетов, иллюстрирующие зависимости угла падения (-1)m, соответствующего преобразованию с максимальной эффективностью энергии падающей однородной плоской Н-поляризованной волны в энергию (-1)-й поверхностной гармоники и постоянной вытекания (-1) для соответствующей гармоники от количества учитываемых гармоник, приведены в табл. 2.2. В качестве материала ПДВ выбран полистирол ( r=2.56, tg э < 0.001) толщиной t=6 мм; период d каждой из трех исследуемых гребенок выбран равным 24 мм; ширина пазов ДР W=8 мм (W < min/2). Параметры структуры выбраны таким образом, чтобы частота брэгговского резонанса второго порядка лежала в исследуемом диапазоне частот. Методика определения постоянной вытекания

(-1) приведена в главе 3.

Таблица 2.2 Зависимости дисперсионных характеристик от числа учтенных ПГ

 

 

 

Эксперимент

Абсолют.

 

 

 

 

Кол-во гармоник

Угол

Постоян.

альные

отклонение

 

 

 

 

(-1)m,

вытека-

значения

расчета от

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

град.

ния,

величин

эксперимента

Примечание

 

 

 

(-1), 1/м

(-1)m,

(-1),

(-1)m,

(-1),

 

 

 

 

 

 

 

град

1/м

град

1/м

 

 

 

 

 

 

 

R=5 мм; f=9,8 ГГц; h1=4 мм

 

 

 

 

 

 

 

5.60

5.50

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

9

4.44

6.88

 

 

1.16

-1.33

 

 

 

 

11

4.60

6.43

 

 

1.00

-0.93

Сходимость

 

13

4.65

6.43

 

 

0.95

-0.93

вычислений

при

15

4.80

5.91

 

 

0.80

-0.41

определении

 

17

4.90

5.91

 

 

0.70

-0.41

величин

 

(-1)m и

(-1)

19

4.90

5.91

 

 

0.70

-0.41

близка

 

 

к

21

4.90

5.53

 

 

0.70

-0.03

экспоненциальной

23

5.00

5.53

 

 

0.60

-0.03

 

 

 

 

25

4.90

5.53

 

 

0.70

-0.03

 

 

 

 

 

 

 

R=7 мм; f=12 ГГц; h1=9.2 мм

 

 

 

 

 

 

 

-5.40

0.40

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

5

-5.63

0.78

 

 

0.23

-0.38

 

 

 

 

7

-5.28

0.38

 

 

-0.12

0.02

При

 

малых

9

-5.28

0.36

 

 

-0.12

0.04

значениях

 

 

11

-5.28

0.36

 

 

-0.12

0.04

постоянной

 

13

-5.26

0.34

 

 

-0.14

0.06

вытекания

ошибка

15

-5.26

0.34

 

 

-0.14

0.06

ее

определения

17

-5.26

0.34

 

 

-0.14

0.06

наиболее велика

 

19

-5.26

0.34

 

 

-0.14

0.06

 

 

 

 

 

 

 

R=15 мм; f=10 ГГц ; h1=6.6 мм

 

 

 

 

 

 

 

10.50

1.63

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

5

9.36

2.02

 

 

1.14

-0.39

Для

обеспечения

7

9.46

1.80

 

 

1.04

-0.17

одинаковой

 

9

9.44

1.80

 

 

1.06

-0.17

относительной

 

11

9.42

1.76

 

 

1.08

-0.13

ошибки определения

13

9.42

1.73

 

 

1.08

-0.10

величин

(-1)m и

(-1)

15

9.42

1.76

 

 

1.08

-0.13

требуется

учитывать

17

9.42

1.76

 

 

1.08

-0.13

разное

количество

19

9.42

1.76

 

 

1.08

-0.13

ПГ

 

 

 

Результаты, приведенные в табл. 2.2, подтверждают тот факт, что использование метода редуцирования в задачах дифракции на координатных структурах приводит к покоординатной сходимости комплексных амплитуд пространственных гармоник Флоке. Для обеспечения точности, необходимой для инженерных расчетов, в различных случаях для анализируемой структуры следует учитывать от 9 до 25 гармоник, причем в областях частот, близких к глубинным резонансам канавок ДР и брэгговскому резонансу второго порядка необходимое количество гармоник увеличивается. Учет потерь в диэлектрике приводит к изменению исследуемых параметров на 1-3 %.

Оценка границ области применимости приведенной математической модели дифракции плоской однородной Н-поляризованной волны на двумернопериодичной металлической гребенке, накрытой слоем диэлектрика, и выяснение основных физических закономерностей, обусловленных двойной периодичностью исследуемой структуры, влияющих на ее дисперсионные характеристики, а также выработка рекомендаций по ее алгоритмизации требует выяснения зависимости величины поправки h от геометрических параметров электродинамической системы «двумерно-периодичная идеально проводящая гребенка + диэлектрический волновод». Важность знания поведения данных зависимостей обусловлена тем, что величина поправки h определяет отличия дисперсионных свойств двумерно-периодичной и одномерно-периодичной гребенок с диэлектрическим слоем.

Ниже для наглядности результаты компьютерного моделирования вышеуказанных зависимостей приведены для абсолютных значений частоты падающей плоской однородной Н-поляризованной волны и параметров двумерно-периодичной металлодиэлектрической структуры.

Зависимость поправки h, учитывающей проникновение падающих на структуру волн в запредельные пазы ДР, от величины прицельного расстояния R1 приведена на рис. 2.24 для следующих параметров структуры: r=2.56,

W=8 мм, t=6 мм, h1=30 мм, (-1)m=00. Кривая 1 соответствует частоте падающей волны f=9.4 ГГц ( 0=3.2 см), а зависимость 2 - частоте f=12 ГГц ( 0=2.5 см).

Видно, что зависимости являются периодическими, причем периоды равны половине длины волны в свободном пространстве для соответствующего значения частоты. Через интервалы изменения прицельного расстояния R1, равные четверти длины волны в свободном пространстве, происходит смена минимальных и максимальных значений поправки, используемой для построения эквивалентной одномерно-периодичной структуры, вызванная тем, что при вариации прицельного расстояния периодически изменяется реактивное сопротивление поверхностной волны в планарном диэлектрическом волноводе, вносимое в пазы ДР (воздушный зазор трансформирует это сопротивление). Вариация толщины зазора на четверть длины волны инвертирует величину вносимого сопротивления и влияет на его характер, а

изменение на половину длины волны оставляет вносимое сопротивление

прежним.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 .4

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 .4 h,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 .3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

мм

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 .2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 .1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .9

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

v yi

0 .8

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .7

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

y( x )

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .6

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .5

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .4

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0 .2

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

0 .1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

4

8

1 2

1 6

2 0

2 4

2 8

3 2

3 6

4 0

4 4

4 8

5 2

5 6

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

R1,мм

 

0

 

 

 

 

 

 

xi X

 

 

 

 

 

 

5 6

Рис. 2.24. Зависимости поправок h от величины прицельного расстояния

Из рис. 2.24 следует, что свойства одномерно- и двумерно-периодичных структур могут незначительно отличаться (на участках с минимальной величиной поправки) и иметь значительную разницу при других величинах прицельного расстояния, соответствующих большим значениям поправки. Отсюда вытекает важный практический вывод: существуют такие диапазоны изменения прицельного расстояния, в пределах которых для анализа свойств двумерно-периодичной структуры можно воспользоваться математической моделью, описывающей свойства одномерно-периодичной структуры (так как соответствующая величина поправки h пренебрежимо мала).

Для оптимизации времени компьютерного моделирования и точности получаемых результатов при автоматизированном проектировании дифракционных плоских антенн СВЧ диапазона волн целесообразно оценивать величину поправки h. В случае небольших значений поправки h (ниже пороговой величины hпор, определяемой заданным верхним пределом допустимого уровня погрешности определения антенных характеристик моделируемой структуры) имеет смысл использовать математическую модель для одномерно-периодичной структуры с теми же геометрическими размерами и электрическими параметрами материалов, что и у двумерно-периодичной. Использование избирательного к входным данным подхода к математическому моделированию позволяет в подобных случаях почти вдвое сократить затраты необходимого для моделирования машинного времени.

Кривые, демонстрирующие зависимости величины поправки h от ширины пазов ДР, показаны на рис. 2.25. Параметры структуры выбраны следующими: r=2.56, d=24 мм, h1=4 мм, f=9.4 ГГц, (-1)m=00. Приводятся зависимости для нескольких значений прицельного расстояния: R=7 мм, 10 мм, 13 мм, 15 мм. При любом прицельном расстоянии сужение пазов ДР ведет к

снижению поправки h, так как при уменьшении ширины пазов ДР в

запредельные области структуры просачивается меньшая доля энергии, что

ослабляет различия в свойствах одномерно- и двумерно-периодичных структур.

Поэтому при проектировании ПДА следует иметь в виду, что в случае

достаточно узких канавок ДР (W

0/6) для расчетов можно воспользоваться

одномерно-периодичной моделью.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

h,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 .7

1

.7

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

мм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

.6

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

.5

 

 

 

 

 

 

R1=15 мм

 

 

 

 

1

.4

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

.3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

v yi

1

.2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

y( x )

1

.1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

v y1 i

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

y 1( x )

0 .9

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

v y2 i

0 .8

 

 

 

 

 

 

 

13 мм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

y 2( x )

0 .7

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

v y3 i

0

.6

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

y 3( x )

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

.5

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

.4

 

 

 

 

 

 

 

10 мм

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

.3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

.2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

.1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

7 мм

 

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

1

2

3

4

 

5

6

7

8

9

1 0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

W,мм

 

 

0

 

 

 

 

x

 

X

 

 

 

1 0

Рис. 2.25. Зависимости поправки

 

i h от ширины пазов решетки W

Как влияет на поправку h глубина пазов ДР, иллюстрируется рис. 2.26.

Графики

построены для следующих входных данных: r=2.56,

d=24 мм,

W=8 мм,

t=6

мм, f=9.4 ГГц, (-1)m=0 . Моделирование проведено для тех же

значений прицельного расстояния, что и для рис. 2.25.

 

Обращает на себя внимание тот факт, что каждая из кривых может быть

разделена

(вертикальной пунктирной прямой) на два участка: 1

«область

нарастания»

при малых значениях глубины пазов ДР h1 величина поправки h

быстро и монотонно растет с увеличением h1 (интервал h1 от 0 до 6 мм) и 2 – «область насыщения», где увеличение глубины пазов ДР (интервал h1 > 6 мм) не приводит к заметным изменениям величины поправки.

В большей части области 1 величина поправки пропорциональна глубине пазов ДР: при дифракции Е-поляризованной волны на гребенке с мелкими пазами эквивалентная отражающая плоскость (рис. 2.17) может быть смещена от вершин ребер решетки на расстояние X0, равное или превышающее

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]