- •ВВЕДЕНИЕ
- •1. ЭЛЕМЕНТЫ СТРУКТУРНОЙ КРИСТАЛЛОГРАФИИ
- •1.1. Пространственная решетка, элементарная ячейка, базис
- •1.2. Кристаллографические индексы плоскостей
- •1.3. Кристаллографические индексы направлений
- •1.4. Индексы Бравэ
- •1.5. Обратная решетка
- •1.6. Зона и правило зон
- •1.7. Вычисление расстояний и углов в кристаллах
- •1.8. Обратная решетка и дифракция рентгеновских лучей
- •1.9. Задачи
- •2.1. Основы метода и используемое оборудование
- •2.2. Профильный анализ
- •2.3. Качественный рентгенофазовый анализ
- •2.4. Определение состава многофазной смеси порошков
- •2.5. Определение размера области когерентного рассеяния нанодисперсного материала
- •2.6. Лабораторно-практическая работа «Исследование фазового состава и структуры материалов методом рентгеновской
- •дифрактометрии»
- •3. ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ
- •3.1. Дифракция электронов
- •3.2. Получение электронограмм
- •3.3. Анализ электронограмм
- •3.4. Практическое задание по теме «Электронография»
- •4.1. Основы метода сканирующей зондовой микроскопии
- •5. ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ
- •5.2. Историческая справка
- •5.3. Физические основы метода Оже-электронной спектроскопии
- •5.4. Кинетическая энергия Оже-электронов
- •5.5. Оборудование для ОЭС
- •5.7. Качественный анализ
- •5.8. Количественный анализ
- •БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК
- •ПРИЛОЖЕНИЕ
- •ОГЛАВЛЕНИЕ
|
ОГЛАВЛЕНИЕ |
|
ВВЕДЕНИЕ................................................................................................................ |
3 |
|
1. ЭЛЕМЕНТЫ СТРУКТУРНОЙ КРИСТАЛЛОГРАФИИ................................... |
4 |
|
1.1. Пространственная решетка, элементарная ячейка, базис .......................... |
4 |
|
1.2. Кристаллографические индексы плоскостей ............................................ |
10 |
|
1.3. Кристаллографические индексы направлений.......................................... |
13 |
|
1.4. Индексы Бравэ .............................................................................................. |
14 |
|
1.5. Обратная решетка......................................................................................... |
16 |
|
1.6. Зона и правило зон ....................................................................................... |
23 |
|
1.7. |
Вычисление расстояний и углов в кристаллах ......................................... |
26 |
1.8. Обратная решетка и дифракция рентгеновских лучей............................. |
28 |
|
1.9. Задачи ............................................................................................................ |
30 |
|
2. РЕНТГЕНОВСКАЯ ДИФРАКТОМЕТРИЯ. ..................................................... |
35 |
|
2.1. Основы метода и используемое оборудование......................................... |
35 |
|
2.2. Профильный анализ ..................................................................................... |
42 |
|
2.3. Качественный рентгенофазовый анализ.................................................... |
44 |
|
2.4. Определение состава многофазной смеси порошков............................... |
45 |
|
2.5. Определение размера области когерентного |
|
|
|
рассеяния нанодисперсного материала...................................................... |
46 |
2.6. Лабораторно-практическая работа «Исследование |
|
|
|
фазового состава и структуры материалов |
|
|
методом рентгеновской дифрактометрии»................................................ |
47 |
3. ЭЛЕКТРОНОГРАФИЯ ....................................................................................... |
50 |
|
3.1. Дифракция электронов ................................................................................ |
50 |
|
3.2. Получение электронограмм ........................................................................ |
54 |
|
3.3. Анализ электронограмм............................................................................... |
55 |
|
3.4. Практическое задание по теме «Электронография» ................................ |
60 |
|
3.5. Лабораторно - практическая работа «Исследование |
|
|
|
кристаллической структуры и фазового состава |
|
|
тонких пленок методом электронографии» .............................................. |
60 |
4. АТОМНО-СИЛОВАЯ МИКРОСКОПИЯ......................................................... |
66 |
|
4.1. Основы метода сканирующей зондовой микроскопии ............................ |
66 |
|
4.2. Описание метода атомно-силовой микроскопии...................................... |
68 |
|
4.3. Лабораторно-практическая работа «Анализ |
|
|
|
морфологии поверхности материалов методами |
|
|
сканирующей зондовой микроскопии» ..................................................... |
75 |
5. ОЖЕ-СПЕКТРОСКОПИЯ.................................................................................. |
86 |
|
5.1. Основы и возможности метода Оже-спектроскопии ............................... |
86 |
|
5.2. Историческая справка.................................................................................. |
88 |
|
106
5.3. Физические основы метода Оже-электронной спектроскопии |
............... 89 |
5.4. Кинетическая энергия Оже-электронов..................................................... |
90 |
5.5. Оборудование для ОЭС ............................................................................... |
91 |
5.6. Образцы для ОЭС. ........................................................................................ |
93 |
5.7. Качественный анализ................................................................................... |
95 |
5.8. Количественный анализ............................................................................... |
95 |
5.9. Лабораторно-практическая работа: «Исследование |
|
атомного состава приповерхностного слоя материала |
|
методом Оже-спектроскопии».................................................................... |
99 |
БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК.................................................................. |
101 |
ПРИЛОЖЕНИЕ ..................................................................................................... |
103 |
107
Учебное издание
Ожерельев Виктор Вадимович Костюченко Александр Викторович Канныкин Сергей Владимирович Донцов Алексей Игоревич
МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ ТВЕРДЫХ ТЕЛ
Компьютерный набор В.В. Ожерельва, А.В. Костюченко, С. В. Канныкина, А. И. Донцова
Редактор Четвертухина Е. А.
Подписано к изданию 22.11.2021 Объем данных 3,8 Мб.
ФГБОУ ВО «Воронежский государственный технический университет 394026 Воронеж, Московский просп., 14
108