Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
L_R_3Optika_i_t_d.doc
Скачиваний:
45
Добавлен:
09.02.2015
Размер:
2.21 Mб
Скачать
  1. Определение длины световой волны при помощи дифракционной решетки

    1. определить длину световой волны при помощи дифракционной решетки

    1. лабораторная установка с дифракционной решеткой, источник света

Краткая теория

Дифракцией называется совокупность явлений, наблюдаемых при распространении света в среде с резкими неоднородностями (например, вблизи границ непрозрачных или прозрачных тел, сквозь малые отверстия и т.п.) и связанных с отклонениями от законов геометрической оптики. Дифракция, в частности, приводит к огибанию волнами препятствий, соизмеримых с длиной волны, и проникновению света в область геометрической тени.

Между интерференцией и дифракцией нет существенного физического различия. Оба явления заключаются в перераспределении светового потока в результате суперпозиции волн. Перераспределение интенсивности, возникающее в результате суперпозиции волн, возбуждаемых конечным числом дискретных когерентных источников, принято называть интерференцией волн. Перераспределение интенсивности, возникающее в результате суперпозиции волн, возбуждаемых когерентными источниками, расположенными непрерывно, принято называть дифракцией света.

Различают два вида дифракции. Если источник света S и точка наблюдения Р расположены от препятствия настолько далеко, что лучи, падающие на препятствие, и лучи, идущие в точку Р, образуют практически параллельные пучки, говорят о дифракции в параллельных лучах или о дифракции Фраунгофера. В противном случае говорят о дифракции Френеля.

Проникновение световых волн в область геометрической тени может быть объяснено с помощью принципа Гюйгенса, согласно которому каждая точка, до которой доходит волновое движение, служит центром вторичных волн (в изотропной и однородной среде они будут сферическими). Огибающая этих волн дает положение фронта волны в следующий момент времени.

Однако этот принцип не дает сведений об амплитуде, а, следовательно, и об интенсивности волн, распространяющихся в различных направлениях. Френель дополнил принцип Гюйгенса представлением интерференции вторичных волн. Учет амплитуд и фаз вторичных волн позволяет найти амплитуду результирующей волны в любой точке пространства. Развитый таким способом принцип Гюйгенса получил название принципа Гюйгенса – Френеля.

Согласно принципу Гюйгенса – Френеля каждый элемент волновой поверхности служит источником вторичной сферической волны, амплитуда которой пропорциональна величине элемента dS. Амплитуда сферической волны убывает с расстояниемrот источника по закону. Следовательно, от каждого участкаdSволновой поверхности в точкуР, лежащую перед этой поверхностью, приходит колебание

где – фаза колебаний в месте расположения волновой поверхностиS,

k– волновое число,

а0– определяется амплитудой светового колебания в том месте, где находитсяdS.

Коэффициент пропорциональности Кзависит от угламежду нормальюnк площадкеdSи направлением отdSк точкеР. Приэтот коэффициент максимален, прион обращается в нуль.

Результирующее колебание в точке Рпредставляет собой суперпозицию колебаний, взятых для всей волновой поверхностиS:

.

Эта формула является аналитическим выражением принципа Гюйгенса – Френеля.

Для наблюдения дифракционной картины в данной работе используется дифракционная решетка – совокупность большого числа одинаковых, отстоящих друг от друга на одно и то же расстояние щелей. Дифракционная решетка имеет две характеристики, которые связаны между собой следующим соотношением:

,

где N– число штрихов на 1мм,

С– постоянная (период) решетки.

Постоянная решетки равна сумме ширины прозрачного промежутка аи непрозрачного штриха в:С=а+в.

Выясним характер дифракционной картины, получающейся на экране при нормальном падении на решетку плоской световой волны (рис. 22.1). Из рисунка 22.1 видно, что разность хода от соседних щелей (отрезок А1К), где– угол отклонения луча от первоначального направления. Следовательно, в точках, в которых выполняется условие

,

колебания взаимно усиливают друг друга, если m– четное, и ослабляют, еслиm– нечетное (– длина волны падающего излучения).

Р

Рис. 22.1 – Схема дифракции световых волн

езультирующее колебание в точкеРдифракционной картины, положение которой определяется углом , представляет собой суммуNколебаний с одинаковой амплитудой, сдвинутых друг относительно друга по фазе на одну и ту же величину . Интенсивность при этих условиях равна

Из рисунка 22.1 видно, что разность хода от соседних щелей равна . Следовательно, разность фаз

,

где длина волны в данной среде.

Окончательное выражение для интенсивности имеет:

.

Первый множитель обращается в нуль в точках, для которых

(22.1)

В этих точках интенсивность, создаваемая каждой из щелей в отдельности, равна нулю. Это условие определяет положение минимумов интенсивности.

Второй множитель принимает значение в точках, удовлетворяющих условию

(22.2)

Это условие определяет положение максимумов интенсивности, называемых главными. Числоmдает порядок главного максимума. Максимум нулевого порядка только один, остальных по два.

Кроме минимумов, определяемых условием (22.1), в промежутках между соседними главными максимумами имеется по (N–1) добавочных минимума. Эти минимумы возникают в том направлении, для которых колебания от соседних щелей погашают друг друга. Направлениядобавочных минимумов определяется условием:

,

Рис. 22.2 – Схема экспериментальной установки

т.е. принимает все целочисленные значения, кроме 0,N, 2N,… т.к. при этих значениях это условие переходит в условие (22.2).

Из условия, определяющего положение главных максимумов (22.2), следует, что

. (22.3)

Эта формула лежит в основе способа определения длины волны в данной работе.

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]