- •Глава 1 8
- •Глава 6 66
- •Глава 7 70
- •Глава 8 84
- •Глава 9 101
- •Глава 10 106
- •Глава 11 131
- •Глава 12 153
- •Глава 13 173
- •Глава 14 200
- •Глава 15 219
- •Глава 16 244
- •Глава 17 247
- •17.1 Введение 247
- •Глава 18 266
- •Глава 19 268
- •Глава 20 280
- •Глава 1
- •1. Классификация и методы получения нанокластеров и наноструктур
- •1.1 Молекулярные кластеры
- •1.2 Газовые безлигандные кластеры
- •1.2.1 Источники получения кластеров
- •1.2.2 Масс-спектрометры и детектирование кластеров
- •1.3 Коллоидные кластеры
- •1.4 Твердотельные нанокластеры и наноструктуры
- •1.5 Матричные нанокластеры и супрамолекулярные наноструктуры
- •1.6 Кластерные кристаллы и фуллериты
- •1.7 Компактированные наносистемы и нанокомпозиты
- •1.8 Тонкие наноструктурированные пленки
- •1.9 Углеродные нанотрубки
- •Глава 2
- •2Общие положения
- •2.1Объекты и процессы нанотехнологий
- •2.2 Основная концепция нанотехнологии
- •2.2.1 Физико-химические основы нанотехнологии
- •Глава 3
- •3 Наночастицы, нанонаука, нанотехнология, нанофизика, нанохимия, наномеханика, нанобиология, наномедицина и т.Д., закон Мура
- •3.1 Механические свойства нанокристаллических материалов
- •Глава 4
- •4 Методы контроля аттестации наночастиц, наноизделий и наноструктурированных материалов
- •4.1Методы получения наноструктур
- •4.2 Методы получения наносистем
- •4.3 Особенности ультрадисперсных систем
- •Глава 5 Поверхностные эффекты в нанотехнологиях
- •5.1. Атомные и молекулярные орбитали
- •5.2 Поверхность монокристаллов, нанокластеров и пористых сорбентов
- •5.3 Примесные атомы на поверхности
- •5.4 Поверхность металлов и оксидов металлов (электронные свойства)
- •5.5 Поверхность металлов и оксидов металла (магнитные свойства)
- •5.6 Поверхностные центры кислотного и основного типа
- •5.7 Адсорбция
- •5.8 Примеры адсорбции
- •5.9 Адсорбция молекул воды и атомная динамика атомов железа в пористых ионообменниках.
- •5.10 Адсорбция воды и динамика кластеров воды и полимерной сетки.
- •5.11 Катализ. Примеры каталитических превращений с участием поверхности твердого тела и нанокластеров
- •Глава 6
- •6 Самосборка. Магические цифры. Замена построения синтеза объекта «сверху-вниз» на синтез «снизу-вверх»
- •Глава 7
- •7 Физика наночастиц и нанотехнологии, структура наночастиц. Кластеры
- •7.1 Молекулярные кластеры
- •7.2 Газовые безлигандные кластеры
- •7.2.1 Источники получения кластеров
- •7.2.2 Масс-спектрометры и детектирование кластеров
- •7.3 Коллоидные кластеры
- •7.4 Твердотельные нанокластеры и наноструктуры
- •7.5 Матричные нанокластеры и супрамолекулярные наноструктуры
- •7.6 Кластерные кристаллы и фуллериты
- •7.7 Компактированные наносистемы и нанокомпозиты
- •7.8 Тонкие наноструктурированные пленки
- •Глава 8
- •8 Наноструктурированные материалы. Кристаллизация пленок из растворов-расплавов
- •8.1 Разупорядоченные твердотельные структуры
- •8.1.1 Методы синтеза
- •8.1.2 Механизмы разрушения традиционных поликристаллических материалов
- •8.1.3 Механические свойства
- •8.1.4 Наноструктурированные многослойные материалы
- •8.1.5 Электрические свойства
- •8.1.6 Другие свойства
- •8.1.7 Металлические нанокластеры в оптических стеклах
- •8.1.8 Пористый кремний
- •8.2 Наноструктурированные кристаллы
- •8.2.1 Природные нанокристаллы
- •8.2.2 Теоретическое предсказание существования кристаллических решеток из нанокластеров
- •8.2.3 Упорядоченные структуры наночастиц в цеолитах
- •8.2.4 Кристаллы из металлических наночастиц
- •8.2.5 Упорядоченные решетки наночастиц в коллоидных суспензиях
- •8.2.6 Наноструктурированные кристаллы для фотоники
- •Глава 9
- •9 Механические свойства наноструктурированных материалов, закон Холла- Петча
- •9.1 Механизмы разрушения традиционных поликристаллических материалов
- •Глава 10
- •10 Проблема высокоплотной записи информации, «терабитный барьер» и атомная плотность записи порядка 103 Тбит/см2
- •10.1 Проект наномеханического вентиля
- •10.2 Наноэлектромеханический одноэлектронный транзистор с «механической рукой»
- •10.3 Наномеханическая память вскоре заменит традиционную магнитную
- •10.4 Механическая память на основе нэмс
- •10.5 «Многоножка» стартует с 10 Гб
- •10.6 Память объемом в 100 Гбайт благодаря нанотехнологиям
- •10.6.1Магнитная flash-память на основе углеродных нанотрубок
- •10.7 Открытые микрожидкостные и наножидкостные системы
- •10.8 Ученые построили первый наножидкостный транзистор для химических компьютеров
- •10.9 Сверхточный детектор массы и силы на основе нанотрубки
- •10.9.1 Датчик наноперемещений
- •10.9.2 Нэмс для взвешивания днк
- •10.10 Вращающийся нанопропеллер
- •10.10.1 Новый подход в наномоторах - использование силы поверхностного натяжения
- •10.11 Газовый наносенсор на основе проводящего полимера
- •10.11.1 Газовая нанотурбина
- •10.12 Продукты нанотехнологий завоевывают мировой рынок
- •10.13 Дисплеи нового поколения на мировом рынке
- •10.13.1 Первый цветной дисплей на нанотрубках от компании Motorola
- •10.14 Молекулярные машины вращают днк вдоль оси
- •10.15 Нановелосипед покажет себя на Tour de France
- •Глава 11
- •11 Термодинамические аспекты поверхности
- •11.1 Химический потенциал
- •11.2 Свободная энергия Гиббса и свободная энергия Гельмгольца
- •11.3 Термодинамика поверхности и поверхностей раздела
- •11.4 Термодинамика криволинейной поверхности
- •При равновесии
- •11.5 Структура поверхности и межфазных границ
- •11.6 Нуклеация и рост нанокластеров в нанопорах вещества
- •11.7 Нуклеация и рост кластеров гидроксида железа в нанопорах (экспериментальное приложение термодинамических параметров)
- •11.8 Нуклеация и рост кластеров на основе твердотельных реакций
- •11.9 Твердотельная нуклеация и рост кластеров. Пример термического разложения оксалата железа
- •Глава 12
- •12 Свойства индивидуальных металлических наночастиц
- •12.1 Определение и классификация
- •12.2 Основные параметры проводниковых материалов. Зависимость от состава проводника и внешних факторов
- •12.3 Перспективы развития
- •12.3.1 Основные ограничения и тенденции развития
- •12.4 Предельные размеры моп-приборов
- •12.4. 1 Законы подобия
- •12.5 Туннелирование
- •12.6 Ограничения, связанные со свойствами материалов
- •12.6.1 Ограничения, связанные с функционированием приборов
- •12.6.2 Ограничения ширины линий и резкости
- •12.7 Материал резистов
- •Глава 13
- •13.1 Определения и классификация
- •13.2 Собственные и примесные полупроводники
- •13.3 Особые электронные состояния в конденсированных средах
- •13.4 Основные параметры полупроводниковых материалов
- •13.5 Контакт электронного и дырочного полупроводников. Свойства электронно-дырочного перехода
- •Глава 14
- •14 Квантовые ямы, проволоки и точки. Приготовление квантовых наноструктур
- •14.1 Введение
- •14.2 Приготовление квантовых наноструктур
- •14.3 Эффекты, обусловленные размерами и размерностью нанообъектов
- •14.3.1 Размерные эффекты
- •14.3.2 Размерность объекта и электроны проводимости
- •14.3.3 Ферми-газ и плотность состояний
- •14.3.4 Потенциальные ямы
- •14.3.5 Частичная локализация
- •14.3.6 Свойства, зависящие от плотности состояний
- •14.4 Экситоны
- •14.5 Одноэлектронное туннелирование
- •14.6 Приложения
- •14.6.1 Инфракрасные детекторы
- •14.6.2 Лазеры на квантовых точках
- •14.7 Сверхпроводимость
- •Глава 15
- •15 Магнитные кластеры. Влияние наноструктурирования объемного материала на магнитные свойства. Динамика наномагнитов
- •15.1 Хранение информации наномагнитами
- •15.2 Выращивание наноуглеродных ферромагнетиков
- •15.3 Магнитосопротивление наноструктур
- •15.4 Ферромагнитные жидкости
- •15.5 Магнитные материалы и современная медицина
- •15. 6 Магнитные Поля и Тело человека
- •15.7 Доказательства и сомнения, адвокаты и скептики
- •15. 8 Магнитная терапия сегодня
- •15.8.1 Окончательные выводы преждевременны
- •15.8.2 Магнитно-резонансная томография
- •15.9 Магнитная стимуляция - помощь при лечении психических расстройств
- •15.10 Моторы на постоянных магнитах для сердечников
- •15.11 Магниты как проводники и манипуляторы для медицинских процедур
- •15.11.1 Магнитная жидкость поможет сохранить зрение
- •15.11.2 Магнитоуправляемые сепараторы
- •15.11.3 Магниты для извлечения игл и хранения хирургических инструментов
- •15.11.4 Магнито-жидкостная гипертермия
- •15.11.5 Магнитные наночастицы разрушают раковые клетки
- •15.12 Магнетизм и биология: практика и перспективы. Иглотерапия
- •15.13 Красные кровяные тельца и магнитная память
- •Глава 16
- •16 Кластеры атомов редких газов и молекулярные кластеры
- •16.1 Кластеры инертных газов
- •16.2 Сверхтекучие кластеры
- •16.3 Молекулярные кластеры
- •Глава 17 углеродные наноструктуры
- •17.1 Введение
- •17.2 Углеродные молекулы
- •17.2.1 Природа углеродной связи
- •17.3 Углеродные кластеры
- •17.3.1 Малые углеродные кластеры
- •17.3.2 Открытие фуллерена с60
- •17.3.3 Структура с60 и его кристаллов
- •17.3.4 С60, легированный щелочными металлами
- •17.3.5 Сверхпроводимость в с60
- •17.3.6 Фуллерены с числом атомов, большим или меньшим 60
- •17.3.7 Неуглеродные шарообразные молекулы
- •17.4 Углеродные нанотрубки
- •17.4.1 Методы получения
- •17.4.2 Структура
- •17.4.3 Электрические свойства
- •17.4.4 Колебательные свойства
- •17.4.5 Механические свойства
- •17.5 Применения углеродных нанотрубок
- •17.5.1 Полевая эмиссия и экранирование
- •17.5.2 Компьютеры
- •17.5.3 Топливные элементы
- •17.5.4 Химические сенсоры
- •17.5.5 Катализ
- •17.5.6 Механическое упрочнение
- •Глава 18
- •18 Основные принципы водородной энергетики
- •18.1 Принцип работы водородного топливного элемента (тэ)
- •Глава 19
- •19 Использование нанотрубки в качестве транзистора
- •19.1 Компания Infineon создала самый маленький в мире транзистор на нанотрубке
- •19.2 Ibm утроит производительность транзисторов
- •19.3 Транзистор с плавником от Infineon уменьшил flash-память
- •19.4 Сверхконденсаторы из углеродных нанотрубок
- •19.5 Фотонные транзисторы в кремниевом исполнении
- •19.6 Hp провозглашает конец кремниевой эры
- •19.7 Квантовый выключатель - основа будущей нанологики
- •19.8 Способ массового производства электронных схем на основе нанотрубок
- •19.9 Штампуя наносистемы
- •19.10 Компания tsmc объявила о промышленном выпуске чипов по 65-нанометровому техпроцессу к концу 2005 года
- •19.10.1 Hp избавит мир от транзисторов
- •Глава 20 Наномашины и наноприборы
- •20.1 Микроэлектромеханические системы (memSs)
- •20.2 Наноэлектромеханические системы (nemSs)
- •20.2.1. Изготовление
- •20.2.2 Наноприборы и наномашины
- •20.3 Молекулярные и супрамолекулярные переключатели
5.4 Поверхность металлов и оксидов металлов (электронные свойства)
Структура и свойства поверхности, включающей слой или более атомов металлов или их оксидов, значительно отличаются от отдельных атомов или атомных кластеров на поверхности. Поскольку появляется двумерная структура (а в действительности свойства поверхности распространяются вглубь твердого тела на десятки нанометров), то для характеристики свойств используются уже не отдельные атомные или молекулярные орбитали, их магнитные моменты и характеристические частоты, а электронные зоны, валентные зоны и зоны проводимости, фононные и магнонные возбуждения. Однако поверхностные состояния имеют энергии, отличные от массивных твердых тел. Одна из причин — это нарушение трехмерной периодичности на поверхности. В кристаллическом поле или поле лигандов пониженной симметрии для поверхности оксидов переходных металлов вырождение d-уровней снимается и их энергия становится ниже энергии вырожденных d-электронов (орбитали еg и t2g) массивного оксида. Качественные оценки энергии поверхностных уровней можно сделать, например, с помощью формулы ΔЕS = (1 — β)Еg/2, которая характеризует расстояние пониженного одноэлектронного донорного уровня до зоны проводимости (или повышенного акцепторного уровня до валентной зоны).
Здесь Еg — ширина запрещенной зоны, β = (Г – η) / (1 - η), Г = MS/Mv — отношение поверхностной и объемной константы Маделунга, η = (I — A)2zMve, I — потенциал ионизации металла, А — сродство к электрону неметалла, z — валентность, е — заряд.
Обычно берется β = MS/MV. Таким образом, донорный уровень находится ниже зоны проводимости (акцепторный — выше валентной зоны).
Большинство оксидов и сульфидов металлов полупроводники, в которых электронная проводимость носит активационный характер согласно формуле
σ = σ0 exp { - Eσ / (kT)} (5.1)
где Еσ — энергия активации электропроводности. Угол наклона подобных кривых в координатах lg σ — 1/Т дает энергию перехода от одного электронного уровня на другой. Обычно при низких температурах наблюдается небольшой наклон, соответствующий примесным уровням Еim ≈ 0,01 ÷ 0,1 эВ, при более высоких температурах — большой наклон, соответствующий переносу через запрещенную зону, которая для оксидов металла соответствует величинам Еg = 2 ÷10 эВ. Изменения ширины запрещенной зоны для оксидов переходных металлов, полученные из оптических данных, показаны на рис. 5.14.
Можно легко найти, что характер зависимости Е g для оксидов различных металлов подобен зависимости Q (рис. 5.6), связанной с величинами энергий связи кислорода с поверхностью тех же металлов. Такое подобие представляет безусловный интерес и имеет, видимо, общую тенденцию переноса закономерности построения
молекулярных орбиталей для отдельных ионов на организацию зон в поверхностных слоях оксидов металлов. Так, например, минимумы Еg и Q наблюдаются для d3 и d7 конфигураций, а максимумы для d°, d5 и d10 конфигураций. Поверхность металлов существенно отличается от оксидов как в структурном, так и электронном аспектах. Ближайшими атомами теперь служат атомы металла, а не кислорода.
Рис.
5.14. Изменение ширины запрещенной зоны
Еg
для ряда оксидов переходных металлов
Нагревание поверхности металла приводит к термоэмиссии электронов с энергией Е = (l/2)mV2x (Vx — составляющая скорости, перпендикулярная поверхности), превышающей потенциальный барьер ф. Плотность термоэлектронного тока
J = AT'2 exp { - ф / (2kT)} (5.2)
Построение зависимостей log(J/T2) в функции (1/Т) позволяет определить работу выхода электрона с поверхности металла — ф. Надо отметить, что на эту величину влияет, с одной стороны, образование двойного электрического слоя, увеличивая ф, и, с другой стороны, действие внешнего электрического поля, перпендикулярного к поверхности, которое уменьшает потенциальный барьер для выхода электрона с поверхности.
Многочисленные измерения работы выхода электрона с поверхности монокристаллов показывают различие ф для разных граней монокристалла. Так, для W грань (100) имеет ф = 4,58 эВ; грань (111) — 4,40 эВ; (110) — 4,30 эВ. Для Мо грань (100) имеет ф = 4,40 эВ; грань (111) — 4,15 эВ; (ПО) -5,1 эВ.
Поверхностные электронные состояния определяются также с помощью группы методов спектроскопии электронного проектора и ионного проектора. Здесь используется холодная автоэмиссия в сильных электрических полях.
На рис. 2.9 показан спектр электронов с поверхности вольфрама, причем максимум при -0,35 эВ соответствует высокой плотности поверхностных состояний, которая изменяется после адсорбции. Для разных граней Rh, Pd, Ir и Pt были также получены максимумы электронной плотности при 0,31 эВ. Так, для граней (100) и (110) Pt эти данные хорошо соответствуют расчетам для орбиталей, образующих t2g-зону при 0,35 эВ ниже уровня Ферми. Максимум плотности поверхностных состояний наблюдается почти во всех случаях ниже уровня Ферми. Спектроскопия ионного проектора отражает состояние вакантных электронных уровней и зон на поверхности. Так, для вольфрама методом спектроскопии электронного проектора наблюдались незаполненные локализованные состояния на поверхности вольфрама до 4 эВ выше уровня Ферми.
Особый интерес представляют чистые поверхности металлов, для которых необходим вакуум 10-9 Торр и ниже (10-7 Па). Ряд поверхностей по данным ДМЭ обнаруживает периодичность поверхностного слоя, отличную от объемной, которая свидетельствует об изменении межатомных расстояний на поверхности. Такие эффекты наблюдались для Pt, Au, Ni. Интересен эффект перестройки граней, особенно с высокими индексами Миллера. Если разрезать кристалл под малыми углами (5 ÷ 15°) к поверхности граней (100), (110) и (111), то они перестраиваются. Данные ДМЭ свидетельствуют о том, что образуются ступенчатые поверхности, состоящие из террас с низкими индексами, разделенными ступеньками почти моноатомной высоты. Ступенчатые поверхности термостабильны и могут сохранятся на чистых поверхностях Pt и Сu в условиях вакуума до температур близких к температурам плавления. Перестройка поверхности может носить кооперативный характер или осуществятся путем диффузии отдельных атомов. Атомарную диффузию наблюдают методами электронного или ионного проектора. Для вольфрама были получены значения энергии активации диффузии атомов по граням: (110) ED = 88, (211) — 51, (321) — 84 КДж/моль. Для Rh острия были получены величины ED -грань (111) - 15, (311)-52, (110) - 58, (100) — 84 КДж/моль. Диффузия может носить как единичный, так и коллективный характер, как, например, для грани (111) Rh.
Применение РФЭС и УФЭС также эффективно для изучения зонной структуры поверхности переходных металлов и позволяет обнаружить поверхностные уровни. На рис. 5.15 показан спектр УФЭС грани (100) W. В области валентных уровней хорошо заметен максимум при 0,2 4- 0,3 эВ ниже уровня Ферми.
Этот пик весьма чувствителен к адсорбированным атомам и практически исчезает после адсорбции Н2 или
С2Н4 на грани (100) W, что и дает возможность отнести его к поверхностным состояниям. Максимум в
районе 3 ÷ 4 эВ ниже ЕF принадлежит объемной d-зоне и влияние на нее адсорбции невелико.
Подобные состояния, чувствительные к адсорбции, обнаружены методом УФЭС на грани (100) Pt.
Рис.
5.15. Спектр
УФЭС поверхности (100) W
