Добавил:
TotBob
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз:
Предмет:
Файл:ФМК.ppt
X
- •Физические методы контроля структуры и качества материалов
- •Искровой оптико- эмиссионный спектрометр,
- •Оптико-эмиссионные спектрометры компании OXFORD INSTRUMENTS
- •Рентген флуоресцентный спектрометр
- •Ядерный магнитный резонанс
- •Теоретические основы
- •Характеристики ядер
- •Магнитное экранирование
- •ЯМР в изучении полимеров
- •ЯМР полистирола
- •Особенности спектров
- •МРТ в медицине
- •Выводы
- •Электронная Оже-спектрометрия
- •Реакции на пучок электронов
- •Детектирование Оже электронов
- •Устройство Оже спектрометра
- •Примеры Оже анализа
- •Распределение относительной интенсивности Оже сигналов по глубине пленки Co-Mg-O
- •Зависимость эффективности методов от глубины слоя (Å)
- •Неразрушающий контроль механических свойств и микроструктуры металлопродукции
- •Магнитно-шумовые структуромеры
- •Структуроскоп экспресс-контроля алюминия ВС-30Н
- •Визуально-оптические методы
- •Микроинтерферометр МИИ 4
- •Цифровая голографическая интерференометрия
- •ЦГИ обеспечивает:
- •Функциональная схема ЦГИ
- •Цифровая голографическая интерферометрия (РФЯЦ – ВНИИТФ; ИПСМ РАН)
- •Поля нормальных перемещений поверхности лопатки- имитатора в направлении вектора чувствительности
- •Контурная карта перемещений
- •Визуально-измерительный комплекс Vic-3D 2010
- •Фото ИПСМ РАН
- •Тепловой метод
- •Тепловой эффект деформации
- •Поля деформаций и температур, растяжение, ВТ6
- •Закономерности теплового эффекта деформации при растяжении
- •Прогнозирование
- •Пример осадки
- •Зависимости Поверхности
- •Шкала размеров
- •Пример
- •Микротвердость
- •Микротвердость
- •Влияние времени выдержки
- •Форма отпечатка
- •Поправка
- •Стандартные правила размещения отпечатков
- •Методика определения глубины диффузионного слоя измерением микротвердости.
- •Пример: Влияние покрытий на образование газонасыщенного слоя в ВТ6
- •Наноиндентер
- •Устройство и калибровка
- •График зависимости нагрузки от перемещения
- •Послойное определение механических характеристик методом циклического индентирования
Наноиндентер
Отпечаток
наноиндентера Берковича на тонкой пленке GaN, нанесенной на сапфировую подложку
Устройство и калибровка
62
График зависимости нагрузки от перемещения
63
Послойное определение механических характеристик методом циклического индентирования
Соседние файлы в предмете Физика ползучести и сверхпластичности