
- •Физические методы контроля структуры и качества материалов
- •Искровой оптико- эмиссионный спектрометр,
- •Оптико-эмиссионные спектрометры компании OXFORD INSTRUMENTS
- •Рентген флуоресцентный спектрометр
- •Ядерный магнитный резонанс
- •Теоретические основы
- •Характеристики ядер
- •Магнитное экранирование
- •ЯМР в изучении полимеров
- •ЯМР полистирола
- •Особенности спектров
- •МРТ в медицине
- •Выводы
- •Электронная Оже-спектрометрия
- •Реакции на пучок электронов
- •Детектирование Оже электронов
- •Устройство Оже спектрометра
- •Примеры Оже анализа
- •Распределение относительной интенсивности Оже сигналов по глубине пленки Co-Mg-O
- •Зависимость эффективности методов от глубины слоя (Å)
- •Неразрушающий контроль механических свойств и микроструктуры металлопродукции
- •Магнитно-шумовые структуромеры
- •Структуроскоп экспресс-контроля алюминия ВС-30Н
- •Визуально-оптические методы
- •Микроинтерферометр МИИ 4
- •Цифровая голографическая интерференометрия
- •ЦГИ обеспечивает:
- •Функциональная схема ЦГИ
- •Цифровая голографическая интерферометрия (РФЯЦ – ВНИИТФ; ИПСМ РАН)
- •Поля нормальных перемещений поверхности лопатки- имитатора в направлении вектора чувствительности
- •Контурная карта перемещений
- •Визуально-измерительный комплекс Vic-3D 2010
- •Фото ИПСМ РАН
- •Тепловой метод
- •Тепловой эффект деформации
- •Поля деформаций и температур, растяжение, ВТ6
- •Закономерности теплового эффекта деформации при растяжении
- •Прогнозирование
- •Пример осадки
- •Зависимости Поверхности
- •Шкала размеров
- •Пример
- •Микротвердость
- •Микротвердость
- •Влияние времени выдержки
- •Форма отпечатка
- •Поправка
- •Стандартные правила размещения отпечатков
- •Методика определения глубины диффузионного слоя измерением микротвердости.
- •Пример: Влияние покрытий на образование газонасыщенного слоя в ВТ6
- •Наноиндентер
- •Устройство и калибровка
- •График зависимости нагрузки от перемещения
- •Послойное определение механических характеристик методом циклического индентирования

Устройство Оже спектрометра
Электронный Оже- спектрометр PHI-680 фирмы “Physical Electronics”

Примеры Оже анализа
Изображение границы излома сплавов
Fe - С, полученное с помощью вторичной электронной эмиссии (а), и изображение этой же области, полученное с помощью оже-электронов и характеризующее распределение Fe (б), С (в) и Sb (г) по поверхности
образца.
Профили концентраций никеля(1), хрома(2)
и
кислорода(3) по глубине нихромов ого образца Ni76.3Cr23.7.

Распределение относительной интенсивности Оже сигналов по глубине пленки Co-Mg-O

Зависимость эффективности методов от глубины слоя (Å)

Неразрушающий контроль механических свойств и микроструктуры металлопродукции
ГОСТ 30415-96. Сталь. Неразрушающий контроль механических свойств и микроструктуры металлопродукции магнитным методом.
Применяется для углеродистых сталей. Используются структурно- чувствительные магнитные свойства, преимущественно Нс, методы сравнения с эталоном и статистическая обработка.
Структуроскоп металлоконструкций КРМ-Ц-
Коэрцитиметр КИМ 2М

Магнитно-шумовые структуромеры
ИНТРОСКАН предназначен для контроля остаточных и приложенных напряжений, поверхностной пластической деформации, определения толщины упрочнённого слоя, построения эпюр остаточных напряжений по глубине, оценки напряжений в поверхностных слоях, контроля толщины, ширины
ипрофиля переходной зоны поверхностных слоёв упрочнённых лазерной, плазменной и другими видами обработок, выявления и контроля шлифовочных прижогов, контроля твёрдости углеродистых
илегированных сталей.


Структуроскоп экспресс-контроля алюминия ВС-30Н
применяется для экспресс- контроля предела прочности полуфабрикатов и изделий из алюминиевых сплавов. Прибор может использоваться для контроля других прочностных характеристик различных электропроводящих материалов при наличии экспериментально установленных корреляционных связей между удельной электропроводностью и прочностными характеристиками
Визуально-оптические методы
•Микроинтерферометр МИИ 4
•Цифровая голографическая интерференометрия
•Визуально-измерительный комплекс Vic-3D 2010

Микроинтерферометр МИИ 4
Расстояние между соседними интерференционными полосами соответствует длине полуволны зеленого света (0,275 мкм)
разделение светового пучка на две равные части осуществляется разделительной пластиной 4 или призмой, после чего пучки направляются микрообъективами 5 и 2. Пластинка 3 является компенсирующей.