Устройство Оже спектрометра
Электронный Оже- спектрометр PHI-680 фирмы “Physical Electronics”
Примеры Оже анализа
Изображение границы излома сплавов
Fe - С, полученное с помощью вторичной электронной эмиссии (а), и изображение этой же области, полученное с помощью оже-электронов и характеризующее распределение Fe (б), С (в) и Sb (г) по поверхности
образца.
Профили концентраций никеля(1), хрома(2)
и
кислорода(3) по глубине нихромов ого образца Ni76.3Cr23.7.
Распределение относительной интенсивности Оже сигналов по глубине пленки Co-Mg-O
Зависимость эффективности методов от глубины слоя (Å)
Неразрушающий контроль механических свойств и микроструктуры металлопродукции
ГОСТ 30415-96. Сталь. Неразрушающий контроль механических свойств и микроструктуры металлопродукции магнитным методом.
Применяется для углеродистых сталей. Используются структурно- чувствительные магнитные свойства, преимущественно Нс, методы сравнения с эталоном и статистическая обработка.
Структуроскоп металлоконструкций КРМ-Ц-
Коэрцитиметр КИМ 2М
Магнитно-шумовые структуромеры
ИНТРОСКАН предназначен для контроля остаточных и приложенных напряжений, поверхностной пластической деформации, определения толщины упрочнённого слоя, построения эпюр остаточных напряжений по глубине, оценки напряжений в поверхностных слоях, контроля толщины, ширины
ипрофиля переходной зоны поверхностных слоёв упрочнённых лазерной, плазменной и другими видами обработок, выявления и контроля шлифовочных прижогов, контроля твёрдости углеродистых
илегированных сталей.
Структуроскоп экспресс-контроля алюминия ВС-30Н
применяется для экспресс- контроля предела прочности полуфабрикатов и изделий из алюминиевых сплавов. Прибор может использоваться для контроля других прочностных характеристик различных электропроводящих материалов при наличии экспериментально установленных корреляционных связей между удельной электропроводностью и прочностными характеристиками
Визуально-оптические методы
•Микроинтерферометр МИИ 4
•Цифровая голографическая интерференометрия
•Визуально-измерительный комплекс Vic-3D 2010
Микроинтерферометр МИИ 4
Расстояние между соседними интерференционными полосами соответствует длине полуволны зеленого света (0,275 мкм)
разделение светового пучка на две равные части осуществляется разделительной пластиной 4 или призмой, после чего пучки направляются микрообъективами 5 и 2. Пластинка 3 является компенсирующей.