- •Светотехника. Электрические источники света
- •390005, Рязань, ул. Гагарина, 59/1.
- •В ведение
- •1. Краткая историческая справка. Этапы развития техники электрического освещения
- •2. Закономерности световых потоков
- •2.1. Классификация электромагнитных потоков излучения
- •2.2. Параметры излучения модели абсолютно черного тела
- •2.3. Закономерности теплообмена излучением
- •2.3.1. Теплообмен излучением для тел со свойствами абсолютно черного тела
- •2.3.2. Теплообмен излучением в системе реальных тел
- •2.4. Оптические методы измерения температуры нагретых тел
- •2.5. Параметры излучения оптических систем
- •2.6. Параметры излучения видимого диапазона
- •Яркость освещенных поверхностей (кд/м2)
- •Освещенность (лк)
- •Яркость (кд/м2)
- •2.7. Теоретические основы колориметрии
- •3. Лампы накаливания (тепловые источники излучения)
- •3.1. Применение ламп накаливания
- •3.2. Конструктивные особенности ламп накаливания
- •Коэффициент теплопроводности газов при температуре 400 к и давлении 1 атм
- •3.3. Лампы с йодным циклом (галогенные лампы)
- •3.4. Основы техники инфракрасного нагрева
- •4. Газоразрядные источники света
- •4.1. Общие свойства газоразрядных источников света
- •4.2. Классификация газоразрядных источников света
- •4.3. Энергетические характеристики излучения газового разряда
- •4.4. Параметры электрического режима газового разряда
- •4.4.1. Параметры тлеющего разряда
- •4.4.2. Параметры дугового разряда
- •4.5. Спектральные характеристики паров ртути
- •4.6. Излучение люминофоров
- •4.6.1. Общие закономерности излучения люминофоров
- •4.6.2. Энергетическая структура люминофоров
- •4.6.3. Технология получения люминесцирующего покрытия
- •Свойства основных люминофоров
- •4.7. Лампы тлеющего разряда
- •4.8. Люминесцентные лампы дугового разряда с термоактивным катодом
- •4.8.1. Конструктивные особенности ламп
- •4.8.2. Электрические схемы питания ламп дневного света
- •4.8.3. Особенности эксплуатационного режима ламп дневного света
- •4.9. Компактные и энергоэкономичные люминесцентные лампы
- •Параметры узкополосных люминофоров
- •4.10. Ртутные лампы высокого и сверхвысокого давления
- •4.10.1. Ртутные лампы высокого давления (дрт)
- •4.10.2. Ртутные лампы высокого давления с люминесцирующим покрытием
- •4.10.3. Ртутно-вольфрамовые лампы
- •4.10.4. Ртутные лампы сверхвысокого давления
- •4.11. Металлогалогенные лампы
- •4.12. Натриевые лампы
- •4.12.1. Натриевые лампы низкого давления
- •4.12.2. Натриевые лампы высокого давления
- •4.13. Ксеноновые лампы
- •4.14. Лампы специального назначения
- •4.14.1. Лампы тлеющего свечения
- •4.14.2. Спектральные лампы
- •4.15. Импульсные источники света
- •4.15.1. Основы теории импульсных источников света
- •Пробои типа a, b и c
- •Пробои типа e
- •4 .15.2. Конструктивные особенности газоразрядных ламп импульсного действия
- •Параметры импульсных ламп трубчатой конструкции
- •Возможные варианты охлаждения ламп накачки твердотельных лазеров
- •Дуговые (Kr)
- •Параметры импульсных ламп шаровой конструкции
- •4.16. Безэлектродные источники света (лампы с вч возбуждением разряда – разряд типа d)
- •4.16.1. Безэлектродные лампы с ртутным наполнением
- •Параметры безэлектродных ламп
- •4.16.2. Лампы сверхвысокого давления на парах серы
- •Спектральные характеристики различных источников света
- •Параметры первых образцов серных ламп
- •4.17. Источники ультрафиолетового излучения на эксимерных соединениях (эксилампы)
- •Длины волн основных переходов эксиплексных молекул
- •Длины волн переходов эксимерных и гомоядерных молекул
- •5. Твердотельные источники света (светодиоды)
- •Материал активной области современных светодиодов
- •5.1. Физические основы твердотельных источников света
- •Обеспечение высокого кпд свтодиодов
- •Инжекционный кпд ηинж
- •Внутренний квантовый выход ηген
- •Внешний квантовый выход ηизл
- •5 .2. Проблемы создания светодиодов белого цвета
- •5.2.1. Системы rgb
- •5.2.2. Светодиоды с использованием люминофоров
- •5.3. Органические светодиоды (oled)
- •5.3.1. Принцип действия
- •Преимущества в сравнении c плазменными дисплеями:
- •Дисплеями:
- •5.3.2. Основные направления исследований разработчиков oled-панелей
- •Трудности:
- •Библиографический список
Внутренний квантовый выход ηген
Р
екомбинация
носителей может сопровождаться рождением
фотона (излучательная
рекомбинация),
но может происходить без появления
фотонов (безызлучательная
рекомбинация).
Возникновение и поглощение фотонов при изменении энергетического состояния электронов возможно лишь при соблюдении законов сохранения энергии и импульса. В простейшем случае, когда электрон не подвержен какому-либо силовому воздействию (свободный электрон), его энергия равна кинетической Ee = meve2/2, при этом импульс pe = mve.
Связь между энергией и импульсом соответствует параболической зависимости
Ee = pe2/2ve
Изменение энергии свободного электрона при изменении скорости ve сопровождается изменением импульса на величину:
pe = 2Ee/ ve.
Нетрудно заметить, что такое соотношение между импульсом и энергией намного больше соотношения между импульсом и энергией фотона pe = hν/c,
поскольку c >> ve/2.
Поведение электрона меняется, когда он оказывается под воздействием электрического поля кристаллической решетки полупроводникового материала. В этом случае для описания энергии и импульса электрона вводится понятие эффективной массы m*e = ђ2/(d2E/dk2), где k = (2π/λ)n0 – волновой вектор, определяемый структурой кристалла, n0 – единичный вектор.
Для электронов в зоне проводимости при малых значениях скорости m*e ≈ me >0 и соответствует параболической зависимости энергии от импульса, как для свободного электрона.
Для электронов в валентной зоне m*e < 0, поэтому связь между энергией и импульсом воспроизводится "перевернутой" параболой. В результате формируются условия прямозонных переходов, когда импульс электронов при переходе из зоны проводимости в валентную зону почти не меняется (рис. 5.5, а) в отличие от непрямозонных, когда импульс при переходе существенно изменяется (рис. 5.5, б).
Вероятность оптически разрешенных переходов в прямозонных структурах гораздо выше, чем в непрямозонных. Оптические переходы в непрямозонных структурах возможны лишь при участии дополнительных частиц, способных принять на себя лишний импульс энергии. Реализовать генерацию в непрямозонных кристаллах возможно лишь в случае наличия в кристаллах примеси с малыми размерами Δx, когда в соответствии с соотношением неопределенности Гейзенберга неопределенность величины импульса может составлять Δp = ђ /Δx, вследствие чего условия межзонного перехода становятся аналогичными условиям в прямозонной структуре (рис.5.6, а). В качестве такой примеси могут выступать атомы азота.
Кроме того, так же, как и в случае инжекционного КПД, использование гетероструктур, квантовых ям, увеличенных размеров активной области и широких контактов – факторов, ограничивающих переход неосновных носителей в барьерные слои, положительным образом сказывается и на величине внутреннего квантового выхода. Эти меры препятствуют безызлучательным переходам и условиям появления оптических переходов за пределами активного слоя с отличными от основного спектра характеристиками.
Существует несколько физических механизмов безызлучательной рекомбинации. Причиной ее часто является наличие в кристаллической решетке различных дефектов – атомов примесей, собственных дефектов, дислокаций и их скоплений (кластеров). В сложных полупроводниках собственными дефектами могут быть междоузлия и вакансии. По структуре энергетических уровней такие дефекты сильно отличаются от замещаемых атомов полупроводника.
Энергетические уровни в запрещенной зоне являются эффективными центрами безызлучательной рекомбинации, особенно если располагаются в середине запрещенной зоны (ловушки). Такие уровни часто называют центрами тушения люминесценции. Переходы на некоторые из этих уровней, в свою очередь, тоже могут быть излучательными, но спектр излучения сильно расширен и не соответствует рабочему диапазону активной области.
Возможен
также механизм безызлучательной
рекомбинации в виде ударной
Оже-рекомбинации.
Оже-рекомбинация протекает с участием,
по крайней мере, трех частиц, когда
выделившаяся энергия рассеивается на
возбуждение либо свободного электрона
в зоне проводимости, либо дырки в
валентной зоне (рис.5.6).
Таким образом, важнейшими средствами, обеспечивающими высокую степень излучательной рекомбинации, являются: исключительная чистота используемых материалов и высокое качество техпроцесса формирования полупроводниковой структуры светодиода.
Особое место занимает безызлучаткльная рекомбинация в поверхностных слоях. Здесь неизбежно нарушение однородности кристаллической структуры и наличие примесных атомов. При разработке светодиодов важно обеспечить достаточно большое расстояние от активной области до мест электрических контактов и общей границы кристалла. Размеры, по крайней мере, одного из электрических контактов не должны быть большими. Обычно это контакт, располагаемый в той стороне кристалла, где происходит выход излучения в открытое пространство.
