
- •Физические основы электроники Электрофизические методы исследования полупроводников и полупроводниковых приборов
- •Введение в настоящем пособии излагаются основные темы дисциплин, связанных с основами работы полупроводниковых приборов.
- •Требования к подготовке, выполнению и защите работ
- •Тема 1. Приборы, используемые для проведения исследований полупроводниковых приборов
- •1.1. Автоматические мосты переменного тока
- •1.2. Осциллографы
- •1.3. Генераторы
- •Тема 2. Проводимость полупроводников и металлов лабораторная работа № 2.1
- •2.1. Терморезисторы: термисторы и позисторы
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 2.2
- •2.2. Общие сведения
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Подготовка к работе
- •2. Исследование вольтамперной характеристики варистора
- •7. Исследование зависимости сопротивления от температуры
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 2.3
- •2.3. Определение типа носителей в полупроводниках
- •2.3.1. Метод термозонда
- •2.3.2. Метод Холла
- •2.3.3. Определение концентрации и подвижности носителей
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Определение типа носителей с помощью метода термозонда
- •1.1. Подготовка к работе
- •1.2. Определение типа носителей разных кристаллов
- •2. Исследования по методу Холла
- •2.1. Определение типа основных носителей в датчике Холла
- •2.3. Исследование вольтамперной характеристики датчика
- •2.4. Определение микропараметров кристалла датчика Холла
- •2.6. Определение зависимости эдс Холла от величины тока
- •2.9. Определение зависимости эдс Холла величины индукции в
- •Отчетные материалы
- •Тема 3. Полупродниковые диоды Лабораторная работа №3.1 ″Исследование полупроводниковых диодов″
- •3.1. Характеристики полупроводниковых диодов
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Начальные установки
- •2. Исследование вольтамперной характеристики диода при t0
- •2.1. Исследование прямой ветви вах диода д2
- •2.2. Исследование обратной ветви вах диода д2
- •3*. Исследование вах диодов различных типов
- •4. Исследование зависимости обратного тока диода от температуры
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 3.2
- •3.2. Полупроводниковые стабилитроны и стабисторы
- •3.3. Описание стенда
- •Измерения и обработка результатов
- •2. Исследование вольтамперной характеристики стабилитрона при комнатной температуре
- •5. Исследование влияния температуры на напряжение Uст
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа №3.3
- •3.4. Характеристики светодиодов
- •3.4.1. Управляемые источника света. Светодиоды
- •3.4.2. Строение светодиодов
- •3.4.3. Общие сведения об обозначении светодиодов
- •3.4.4. Особенности лабораторной установки
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 3.4
- •3.5. Общие сведения о фотоприемниках
- •3.5.2. Параметры и характеристики фоторезистора
- •3.5.3. Особенности работы фотодиодов
- •3.5.4. Описание установки
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •3. Исследование параметров электрического сигнала от генератора
- •6. Определение параметров импульса эдс от облучаемого фотодиода
- •10. Определение параметров импульса в цепи фоторезистора
- •11. Оценка параметров сигнала от резистора Rизм
- •16*. Исследование величины светового потока от светодиода
- •Отчетные материалы
- •Тема 4. Биполярные транзисторы Лабораторная работа №4.1
- •4.1. Характеристики биполярных транзисторов
- •4.1.1. Схемы включения биполярных транзисторов
- •4.1.2. Схема с общей базой
- •4.1.3. Схема с общим эмиттером
- •4.1.4. Описание установки
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Исследование схемы с общей базой
- •1.2. Исследование входных характеристик транзистора в схеме об
- •1.6. Исследование выходных характеристик транзистора в схеме об
- •1.12*. Исследование характеристики обратной связи в схеме об
- •1.14. Исследование характеристик передачи тока в схеме об
- •2. Исследование схемы с общим эмиттером
- •2.2. Исследование входных характеристик транзистора в схеме оэ
- •2.6. Исследование выходных характеристик транзистора в схеме оэ
- •2.11*. Исследование характеристики обратной связи в схеме оэ
- •2.13. Исследование характеристики передачи тока в схеме оэ
- •Отчетные материалы
- •Тема 5. Полевые транзисторы Лабораторная работа № 5.1
- •5.1. Характеристики полевого транзистора
- •5.1.1. Полевой транзистор с управляющим p-n-переходом
- •5.1.2. Полевой транзистор с изолированным затвором
- •5.1.3. Особенности схемы измерения
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •2. Исследование стоковой (выходной) характеристики
- •Отчетные материалы
- •Тема 6. Элементы технологии производства имс Лабораторная работа № 6.1
- •6.1. Элементы технологии изготовления имс
- •6.1.1. Классификация имс
- •6.1.2. Понятие о технологическом цикле производства имс
- •6.1.3. Производство планарного биполярного транзистора
- •6.1.4. Производство планарного полевого транзистора
- •6.1.5. Структура транзисторов статических микросхем памяти
- •6.1.6. Общие сведения о топологии микросхем памяти
- •6.1.7. Описание установки и процедуры испытаний
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Исследование элементов технологии гибридных имс
- •1.4. Исследование сопротивления резисторов на бгис
- •2. Исследование элементов технологии твердотельных имс
- •2.4. Градуировка окуляров с помощью дифракционной решетки
- •3. Исследование твердотельных микросхем на установке "мим"
- •4. Анализ топологии и параметров микросхемы памяти
- •Отчетные материалы
- •Задачи по темам Аналоговая и Цифровая Электроника
- •П2. Диоды и тиристоры
- •П3. Источники вторичного напряжения
- •П4. Транзисторы
- •П5. Аналоговые устройства
- •П6. Операционные усилители и схемы на их основе
- •П7. Преобразовательные устройства и генераторы
- •П8. Стабилизаторы
- •П9. Логические микросхемы
- •П10. Логические схемы
- •П11. Схемы на лэ
- •П12. Триггеры
- •П13. Регистры и счетчики
- •П14. Преобразователи кодов
- •П15. Мультиплексоры, демультиплексоры, сумматоры
- •П16. Цифро-аналоговые преобразователи
- •П17. Микросхемы (технология и устройство)
- •Рекомендуемая литература Основная литература
- •Дополнительная
6.1.2. Понятие о технологическом цикле производства имс
В процессе технологического цикла производства твердотельных интегральных микросхем используются различные операции, содержание которых кратко можно описать следующим образом.
Первоначально выращивается полупроводниковый кристалл кремния. Специальными методами достигается идеальность его кристаллической решетки и необходимое содержание примесей. В исходном состоянии диаметр кристалла кремния может достигать десятки сантиметров.
Цилиндрический кристалл кремния разрезается на тонкие пластины толщиной до 50-80 мкм, которые в дальнейшем выступают как подложка. На каждой подложке в процессе дальнейшего технологического процесса одновременно будет формироваться сотни одинаковых микросхем.
Фотолитография (рентгеновская литография, электронолитография) как процесс переноса рисунков с фотошаблонов на поверхность пластины кремния (подложки), включает в себя следующие неоднократные процедуры (итерации):
– выращивание на поверхности кремния слоя окиси SiO2;
– нанесение на поверхность пластины слоя фоторезиста – полимера, ″твердеющего″ под действием света;
– первичная сушка;
– установка фотошаблонов (фотомаски) на поверхность подложки;
– экспозиция (облучение) кристалла через маску в ультрафиолетовом свете;
– проявление (обработка облученного фоторезиста);
– вторичная сушка фоторезиста;
– химическое травление и удаление остатков фоторезиста;
– формирование металлических электродов на поверхности подложки;
– "раскрытие" новых окон в пленке окисла, в которые путем диффузии направляются примеси для создания областей эмиттеров и коллекторов, истоков и стоков и т. п. Это достигается использование новых фотошаблонов.
Свет обладает дифракционными свойствами, поэтому при облучении маски граница между темными и светлыми участками схемы не резкая, а размытая. Этот эффект приводит к ограничению минимального размера окна, через которое идет формирование структуры (облучение, легирование и т.п.) до 1 мкм. Этот размер сравним с применяемой длиной волны ультрафиолета (УФ).
Таким образом, дифракционные свойства света накладывают дальнейшие ограничения на увеличение степени интеграции схемы.
В то же время размеры некоторых элементов в современных микросхемах составляют десятые доли микрон (субмикронные размеры). Для получения таких схем необходимо уменьшать длину волны света, используемого для облучения фотомаски. Поэтому вместо УФ перспективным является использование рентгеновского излучения или электронных пучков. В частности, при использовании рентгеновского излучения и электронных пучков с энергией 104 эВ можно получить минимальные размеры элемента на схеме менее 10 100 нм.
Как правило, перечисленный выше процесс повторяется неоднократно (5 – 6 итераций) в зависимости от сложности схемы.
Диффузия – процесс, при котором формируются области р- и n- переходов, области стока (С), истока (И), базы (Б), эмиттера (Э), коллектора (К). В качестве акцептора используется обычно бор, в качестве донора – мышьяк.
Эпитаксиальный процесс – ориентированное выращивание одного монокристалла на поверхности другого. В частности, выращивается второй или третий кремниевый слой на поверхности окисла кремния из газовой фазы и создается объемная многослойная конструкция микросхемы.
Термическое оксидирование – создание на поверхности кремния пленки окисла во влажной среде. Пленка SiO2 служит не только защитой структуры от окисления, но и выполняет диэлектрическую (электроизоляционную) функцию, например в МОП-конденсаторах, полевых транзисторах и т. п.
Ионная имплантация – внедрение в объем пластины примесей (бора, фосфора, мышьяка) в виде ионов с высокой энергией как для устранения неоднократных высокотемпературных нагревов для диффузии, так и для удобства процесса, поскольку при ионной имплантации ионы не проникают через тонкие слои окисла, которые можно использовать для защиты отдельных структур.
Металлизация – процесс осаждения металла (золото, алюминий, никель) на электрические соединения, контакты, выводы.
После проведения многочисленных технологических операций наступает завершающая фаза – скрайбирование, которая представляет собой механическое разрезание описанной выше плоской кремниевой пластины с сотнями одинаковых микросхем на отдельные кристаллы. Каждый из данных кристаллов является готовой микросхемой, помещаемой в отдельный корпус. После того, как к каждой твердотельной микросхеме привариваются (обычно, лазерная сварка) золотые проволочки в качестве электрических контактов, происходит ″заваривание″ микросхемы в пластмассовый корпус.