
- •Физические основы электроники Электрофизические методы исследования полупроводников и полупроводниковых приборов
- •Введение в настоящем пособии излагаются основные темы дисциплин, связанных с основами работы полупроводниковых приборов.
- •Требования к подготовке, выполнению и защите работ
- •Тема 1. Приборы, используемые для проведения исследований полупроводниковых приборов
- •1.1. Автоматические мосты переменного тока
- •1.2. Осциллографы
- •1.3. Генераторы
- •Тема 2. Проводимость полупроводников и металлов лабораторная работа № 2.1
- •2.1. Терморезисторы: термисторы и позисторы
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 2.2
- •2.2. Общие сведения
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Подготовка к работе
- •2. Исследование вольтамперной характеристики варистора
- •7. Исследование зависимости сопротивления от температуры
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 2.3
- •2.3. Определение типа носителей в полупроводниках
- •2.3.1. Метод термозонда
- •2.3.2. Метод Холла
- •2.3.3. Определение концентрации и подвижности носителей
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Определение типа носителей с помощью метода термозонда
- •1.1. Подготовка к работе
- •1.2. Определение типа носителей разных кристаллов
- •2. Исследования по методу Холла
- •2.1. Определение типа основных носителей в датчике Холла
- •2.3. Исследование вольтамперной характеристики датчика
- •2.4. Определение микропараметров кристалла датчика Холла
- •2.6. Определение зависимости эдс Холла от величины тока
- •2.9. Определение зависимости эдс Холла величины индукции в
- •Отчетные материалы
- •Тема 3. Полупродниковые диоды Лабораторная работа №3.1 ″Исследование полупроводниковых диодов″
- •3.1. Характеристики полупроводниковых диодов
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Начальные установки
- •2. Исследование вольтамперной характеристики диода при t0
- •2.1. Исследование прямой ветви вах диода д2
- •2.2. Исследование обратной ветви вах диода д2
- •3*. Исследование вах диодов различных типов
- •4. Исследование зависимости обратного тока диода от температуры
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 3.2
- •3.2. Полупроводниковые стабилитроны и стабисторы
- •3.3. Описание стенда
- •Измерения и обработка результатов
- •2. Исследование вольтамперной характеристики стабилитрона при комнатной температуре
- •5. Исследование влияния температуры на напряжение Uст
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа №3.3
- •3.4. Характеристики светодиодов
- •3.4.1. Управляемые источника света. Светодиоды
- •3.4.2. Строение светодиодов
- •3.4.3. Общие сведения об обозначении светодиодов
- •3.4.4. Особенности лабораторной установки
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 3.4
- •3.5. Общие сведения о фотоприемниках
- •3.5.2. Параметры и характеристики фоторезистора
- •3.5.3. Особенности работы фотодиодов
- •3.5.4. Описание установки
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •3. Исследование параметров электрического сигнала от генератора
- •6. Определение параметров импульса эдс от облучаемого фотодиода
- •10. Определение параметров импульса в цепи фоторезистора
- •11. Оценка параметров сигнала от резистора Rизм
- •16*. Исследование величины светового потока от светодиода
- •Отчетные материалы
- •Тема 4. Биполярные транзисторы Лабораторная работа №4.1
- •4.1. Характеристики биполярных транзисторов
- •4.1.1. Схемы включения биполярных транзисторов
- •4.1.2. Схема с общей базой
- •4.1.3. Схема с общим эмиттером
- •4.1.4. Описание установки
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Исследование схемы с общей базой
- •1.2. Исследование входных характеристик транзистора в схеме об
- •1.6. Исследование выходных характеристик транзистора в схеме об
- •1.12*. Исследование характеристики обратной связи в схеме об
- •1.14. Исследование характеристик передачи тока в схеме об
- •2. Исследование схемы с общим эмиттером
- •2.2. Исследование входных характеристик транзистора в схеме оэ
- •2.6. Исследование выходных характеристик транзистора в схеме оэ
- •2.11*. Исследование характеристики обратной связи в схеме оэ
- •2.13. Исследование характеристики передачи тока в схеме оэ
- •Отчетные материалы
- •Тема 5. Полевые транзисторы Лабораторная работа № 5.1
- •5.1. Характеристики полевого транзистора
- •5.1.1. Полевой транзистор с управляющим p-n-переходом
- •5.1.2. Полевой транзистор с изолированным затвором
- •5.1.3. Особенности схемы измерения
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •2. Исследование стоковой (выходной) характеристики
- •Отчетные материалы
- •Тема 6. Элементы технологии производства имс Лабораторная работа № 6.1
- •6.1. Элементы технологии изготовления имс
- •6.1.1. Классификация имс
- •6.1.2. Понятие о технологическом цикле производства имс
- •6.1.3. Производство планарного биполярного транзистора
- •6.1.4. Производство планарного полевого транзистора
- •6.1.5. Структура транзисторов статических микросхем памяти
- •6.1.6. Общие сведения о топологии микросхем памяти
- •6.1.7. Описание установки и процедуры испытаний
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Исследование элементов технологии гибридных имс
- •1.4. Исследование сопротивления резисторов на бгис
- •2. Исследование элементов технологии твердотельных имс
- •2.4. Градуировка окуляров с помощью дифракционной решетки
- •3. Исследование твердотельных микросхем на установке "мим"
- •4. Анализ топологии и параметров микросхемы памяти
- •Отчетные материалы
- •Задачи по темам Аналоговая и Цифровая Электроника
- •П2. Диоды и тиристоры
- •П3. Источники вторичного напряжения
- •П4. Транзисторы
- •П5. Аналоговые устройства
- •П6. Операционные усилители и схемы на их основе
- •П7. Преобразовательные устройства и генераторы
- •П8. Стабилизаторы
- •П9. Логические микросхемы
- •П10. Логические схемы
- •П11. Схемы на лэ
- •П12. Триггеры
- •П13. Регистры и счетчики
- •П14. Преобразователи кодов
- •П15. Мультиплексоры, демультиплексоры, сумматоры
- •П16. Цифро-аналоговые преобразователи
- •П17. Микросхемы (технология и устройство)
- •Рекомендуемая литература Основная литература
- •Дополнительная
5.1.3. Особенности схемы измерения
В работе исследуются схема с общим истоком (ОИ) на основе полевого транзистора КП302А (Рис. 6) - кремниевого планарного полевого транзистора типа ПТУП с n-каналом с управляющим p-n-переходом (рис. 5.6, а). Отметим, что в ряде справочников ПТУП определяется как транзистор с так называемым диффузионным затвором.
Статические параметры транзистора КП302А приведены в таблице 5.1.
Стоковая характеристика реального транзистора КП302А в схеме ОИ приведена на рис. 5.7.
а) б)
Рис. 5.6. Стенд ЭС-4А со схемой ОИ (а) и вид транзистора КТ808А (б)
Рис. 5.7. Стоковая ВАХ транзистора КП302А в схеме ОИ
Подготовка к работе
Лабораторная работа относится к теме: ″Полевые транзисторы″. Предварительно необходимо выполнить задания контрольной работы (РГЗ).
В "заготовке" к работе следует описать:
– планарные структуры ПТУП и ПТИЗ, их обозначение;
– схемы включения транзистора и испытаний;
– какие потенциалы необходимо подавать на затвор и сток для нормальной работы транзистора;
– серии стоковых и стоко-затворных характеристик ПТУП и ПТИЗ;
– маркировку; конструкцию приборов; параметры реальных транзисторов, используя справочники (табл. 5.1);
– таблицы для испытаний.
Таблица 5.1
-
Параметр
Значение
Максимальный ток стока
24 мА
Ток утечки затвора
0,01 мкА
Обратный ток перехода затвор-сток
1 мкА
Крутизна при Uси = 7 В, Uзи = 0 В
12,5 мА/В
Напряжение отсечки
5 В
Сопротивление сток-исток
150 Ом
Максимальное напряжение сток-исток
20 В
Максимальное напряжение затвор-исток
10 В
Мощность рассеяния по постоянному току
300 мВт
Измерения и обработка результатов
1. Ознакомьтесь со стендом. По разрешению преподавателя включите установку.
2. Исследование стоковой (выходной) характеристики
2.1. Установите значение напряжения Uзи на затворе, первоначально равным нулю. Изменяя напряжение Uси между стоком и истоком (не менее 8–10 точек) снимите стоковую (выходную) Ic(Uси)|Uзи=const характеристику (табл. 5.2).
Таблица 5.2
Uз |
Uc, В |
Iи, мА |
Iс, мА |
Iснас, мА |
Uси нас, В |
Iз, мА |
Rси, Ом |
Rзи, Ом |
Uз = ? В |
0 |
? |
? |
? |
? |
? |
? |
? |
… |
… |
… |
… |
… |
… |
|||
? |
? |
? |
? |
? |
? |
2.2. Установите значение напряжения |Uзи|, равное 0,4…0,7 В. Изменяя напряжение Uси (не менее 8–10 точек) снимите стоковую (выходную) Ic(Uси)|Uзи=const характеристику (табл. 5.2).
2.3. Установите значение напряжения |Uзи|, равное 0,8…1,5 В. Изменяя напряжение Uси (не менее 8–10 точек) снимите стоковую (выходную) Ic(Uси)|Uзи=const характеристику (табл. 5.2).
2.4. Постройте и объясните серию стоковых (выходных) характеристик Ic(Uси)|Uзи=const (на одном графике).
2.5. Постройте и объясните зависимость Rси(Uси) при Uзи = 0.
2.6. На построенной стоковой характеристике отметьте геометрическое место точек (кривую) значений токов насыщения Iнас(Uнас), аналогично рис. 5.3, 5.7.
3. Исследование стокозатворных характеристик Ic(Uзи)|Ucи=const.
3.1. Установите значение Uси первоначально равным 7 В. Изменяя н |Uзи| (не менее 8–10 точек) от нуля вплоть до напряжения Uотс отсечки, снимите стокозатворную Ic(Uзи)|Uси=const характеристику (табл. 5.3).
Таблица 5.3
Uси |
Uз, В |
Iи, мА |
Iс, мА |
Iз, мА |
Rси, Ом |
Rзи, Ом |
Uотс, В |
Uси = ? В |
0 |
? |
? |
? |
? |
? |
Uотс = ? В |
? |
? |
? |
? |
? |
? |
||
? |
? |
? |
? |
? |
? |
||
S = ? мА/В |
3.2. Установите значение Uси первоначально равным 8-15 В. Изменяя напряжение |Uзи| (не менее 8–10 точек) от нуля вплоть до напряжения Uотс отсечки, снимите стокозатворную Ic(Uзи)|Uси=const характеристику (табл. 5.3).
3.3. Установите значение Uси первоначально равным 15-20 В. Изменяя напряжение |Uзи| (не менее 8–10 точек) от нуля вплоть до напряжения Uотс отсечки, снимите стокозатворную Ic(Uзи)|Uси=const характеристику (табл. 5.3).
3.4. Выключите установку.
3.5. Постройте и объясните серию стоко-затворных характеристик Ic(Uси)|Uзи=const (на одном графике в соответствующем квадранте).
3.6. Постройте и объясните зависимость Rси(Uзи) при Uси = 7 В.
3.7. По данным стокозатворной характеристики рассчитайте значение крутизны S = dIcи/dUзи |Uси = 7В; Uзи = 0 полевого транзистора. Полученное значение сравните с данными таблицы 5.1.