
- •Физические основы электроники Электрофизические методы исследования полупроводников и полупроводниковых приборов
- •Введение в настоящем пособии излагаются основные темы дисциплин, связанных с основами работы полупроводниковых приборов.
- •Требования к подготовке, выполнению и защите работ
- •Тема 1. Приборы, используемые для проведения исследований полупроводниковых приборов
- •1.1. Автоматические мосты переменного тока
- •1.2. Осциллографы
- •1.3. Генераторы
- •Тема 2. Проводимость полупроводников и металлов лабораторная работа № 2.1
- •2.1. Терморезисторы: термисторы и позисторы
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 2.2
- •2.2. Общие сведения
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Подготовка к работе
- •2. Исследование вольтамперной характеристики варистора
- •7. Исследование зависимости сопротивления от температуры
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 2.3
- •2.3. Определение типа носителей в полупроводниках
- •2.3.1. Метод термозонда
- •2.3.2. Метод Холла
- •2.3.3. Определение концентрации и подвижности носителей
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Определение типа носителей с помощью метода термозонда
- •1.1. Подготовка к работе
- •1.2. Определение типа носителей разных кристаллов
- •2. Исследования по методу Холла
- •2.1. Определение типа основных носителей в датчике Холла
- •2.3. Исследование вольтамперной характеристики датчика
- •2.4. Определение микропараметров кристалла датчика Холла
- •2.6. Определение зависимости эдс Холла от величины тока
- •2.9. Определение зависимости эдс Холла величины индукции в
- •Отчетные материалы
- •Тема 3. Полупродниковые диоды Лабораторная работа №3.1 ″Исследование полупроводниковых диодов″
- •3.1. Характеристики полупроводниковых диодов
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Начальные установки
- •2. Исследование вольтамперной характеристики диода при t0
- •2.1. Исследование прямой ветви вах диода д2
- •2.2. Исследование обратной ветви вах диода д2
- •3*. Исследование вах диодов различных типов
- •4. Исследование зависимости обратного тока диода от температуры
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 3.2
- •3.2. Полупроводниковые стабилитроны и стабисторы
- •3.3. Описание стенда
- •Измерения и обработка результатов
- •2. Исследование вольтамперной характеристики стабилитрона при комнатной температуре
- •5. Исследование влияния температуры на напряжение Uст
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа №3.3
- •3.4. Характеристики светодиодов
- •3.4.1. Управляемые источника света. Светодиоды
- •3.4.2. Строение светодиодов
- •3.4.3. Общие сведения об обозначении светодиодов
- •3.4.4. Особенности лабораторной установки
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 3.4
- •3.5. Общие сведения о фотоприемниках
- •3.5.2. Параметры и характеристики фоторезистора
- •3.5.3. Особенности работы фотодиодов
- •3.5.4. Описание установки
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •3. Исследование параметров электрического сигнала от генератора
- •6. Определение параметров импульса эдс от облучаемого фотодиода
- •10. Определение параметров импульса в цепи фоторезистора
- •11. Оценка параметров сигнала от резистора Rизм
- •16*. Исследование величины светового потока от светодиода
- •Отчетные материалы
- •Тема 4. Биполярные транзисторы Лабораторная работа №4.1
- •4.1. Характеристики биполярных транзисторов
- •4.1.1. Схемы включения биполярных транзисторов
- •4.1.2. Схема с общей базой
- •4.1.3. Схема с общим эмиттером
- •4.1.4. Описание установки
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Исследование схемы с общей базой
- •1.2. Исследование входных характеристик транзистора в схеме об
- •1.6. Исследование выходных характеристик транзистора в схеме об
- •1.12*. Исследование характеристики обратной связи в схеме об
- •1.14. Исследование характеристик передачи тока в схеме об
- •2. Исследование схемы с общим эмиттером
- •2.2. Исследование входных характеристик транзистора в схеме оэ
- •2.6. Исследование выходных характеристик транзистора в схеме оэ
- •2.11*. Исследование характеристики обратной связи в схеме оэ
- •2.13. Исследование характеристики передачи тока в схеме оэ
- •Отчетные материалы
- •Тема 5. Полевые транзисторы Лабораторная работа № 5.1
- •5.1. Характеристики полевого транзистора
- •5.1.1. Полевой транзистор с управляющим p-n-переходом
- •5.1.2. Полевой транзистор с изолированным затвором
- •5.1.3. Особенности схемы измерения
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •2. Исследование стоковой (выходной) характеристики
- •Отчетные материалы
- •Тема 6. Элементы технологии производства имс Лабораторная работа № 6.1
- •6.1. Элементы технологии изготовления имс
- •6.1.1. Классификация имс
- •6.1.2. Понятие о технологическом цикле производства имс
- •6.1.3. Производство планарного биполярного транзистора
- •6.1.4. Производство планарного полевого транзистора
- •6.1.5. Структура транзисторов статических микросхем памяти
- •6.1.6. Общие сведения о топологии микросхем памяти
- •6.1.7. Описание установки и процедуры испытаний
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Исследование элементов технологии гибридных имс
- •1.4. Исследование сопротивления резисторов на бгис
- •2. Исследование элементов технологии твердотельных имс
- •2.4. Градуировка окуляров с помощью дифракционной решетки
- •3. Исследование твердотельных микросхем на установке "мим"
- •4. Анализ топологии и параметров микросхемы памяти
- •Отчетные материалы
- •Задачи по темам Аналоговая и Цифровая Электроника
- •П2. Диоды и тиристоры
- •П3. Источники вторичного напряжения
- •П4. Транзисторы
- •П5. Аналоговые устройства
- •П6. Операционные усилители и схемы на их основе
- •П7. Преобразовательные устройства и генераторы
- •П8. Стабилизаторы
- •П9. Логические микросхемы
- •П10. Логические схемы
- •П11. Схемы на лэ
- •П12. Триггеры
- •П13. Регистры и счетчики
- •П14. Преобразователи кодов
- •П15. Мультиплексоры, демультиплексоры, сумматоры
- •П16. Цифро-аналоговые преобразователи
- •П17. Микросхемы (технология и устройство)
- •Рекомендуемая литература Основная литература
- •Дополнительная
4.1.2. Схема с общей базой
На рис. 4.2, а представлена серия входных характеристик Iэ(Uэб)|Uкб для схемы с общей базой (транзистор n-p-n-типа) при различных фиксированных напряжениях Uкб между коллектором и базой.
При напряжении Uкб = 0 входная характеристика Iэ(Uэб)|Uкб, в целом, идентична прямой ветви вольтамперной характеристики диода.
Увеличение величины коллекторного напряжения (Uкб > 0) приводит к смещению серии выходных характеристик ″вверх″ (рис. 2, а): например, при фиксированном напряжении Uэб = 0,6 В значение тока Iэ возрастает (по сравнению с ВАХ при Uкб = 0) от 5 до 10 мА при Uкб = +5 В.
а) б) в)
Рис. 4.2. Входная (а), выходная (б) и переходная (в) характеристики схемы с ОБ
Семейство (серия) выходных характеристик (рис. 4.2, б) схемы с ОБ представляется кривыми Iк(Uкб)|Iэ, полученными при фиксированном значении тока эмиттера Iэ.
Коэффициент передачи тока в схеме ОБ оценивается по соотношению:
= Iк/Iэ|Iэ ≤ 1, (4.1)
например, по данным серии выходных характеристик (рис. 4.2, б).
Характеристика (переходная) обратной связи Uкб(Uэб)Iэ=const представлена на рис. 4.2. Коэффициент обратной связи по напряжению кэ, определяемый как отношение
кэ = Uэб/Uкб |Iэ=const, (4.2)
показывает, на какую величину Uэб необходимо изменить напряжение эмиттер-база при изменении напряжения Uкб коллектор-база для поддержания фиксированного тока эмиттера Iэ. Величина кэ ≈ 10 3 …10 4.
4.1.3. Схема с общим эмиттером
Входные и выходные характеристики схемы с ОЭ с маломощным транзистором представлены на рис. 4.3. Входные (базовые) характеристики транзистора отражают зависимость тока базы Iб(Uбэ)|Uкэ от напряжения Uбэ между базой и эмиттером при фиксированном напряжении Uкэ между коллектором и эмиттером (рис. 4.3, а).
а) б)
Рис. 4.3. Входные (а) и выходные (б) характеристики схемы с ОЭ
Рассмотрим особенности зависимости тока базы Iб(Uбэ) от напряжения база-эмиттер при отсутствии напряжения между коллектором и эмиттером Uкэ = 0 (рис. 4.3, а). Зависимость тока базы Iб(Uбэ) от напряжения Uбэ представляется экспоненциальной зависимостью (рис. 4.3, а), показывающей, что с ростом напряжения Uбэ ток через базовый контакт Б возрастает, однако величина этого тока мала (доли миллиампер).
Для того, чтобы транзистор работал в нормальном активном режиме, необходимо, чтобы его коллекторный переход был обратно смещенным, т.е. в данном случае для n-p-n-транзистора (коллектор n-типа) потенциал коллектора К выбирается положительным (Uкэ 0).
Зафиксируем напряжение Uбэ = + 0,4 В (рис. 4.3, а). Увеличение обратного напряжения Uкэ на коллекторе, например, от 0 до +10 В, вызывает уменьшение тока Iб от 0,17 мА до 0,08 мА. Это связано с эффектом Эрли: увеличение напряжения Uкэ приводит к расширению коллекторного перехода в область базы, эффективная ширина базы уменьшается, носители, диффундирующие из эмиттера в коллектор через базу, меньше рекомбинируют, так что ток базы – уменьшается.
Т.е. по мере увеличения обратного напряжения Uкэ серия входных характеристик смещается в область меньших токов Iб относительно начальной кривой Iб(Uбэ) со значением Uкэ = 0.
Обратим внимание на точку 1 (рис. 4.3, а) при Uбэ = 0. В этом режиме работы (режим отсечки) поток электронов из эмиттера в базу, а значит, ток Iэ, отсутствуют. Ток Iб через контакт базы Б обусловлен, главным образом, током обратно смещенного коллекторного перехода, а именно, составляющей теплового тока Iко. Именно поэтому при всех значениях Uкэ 0 входные характеристики исходят из точки 1 с отрицательным значением тока базы Iб, равным Iко, а нулевое значение тока базы достигается при напряжении Uбэ > 0,2 - 0,3 В.
Серия выходных характеристик транзистора в схеме с ОЭ определяет зависимость коллекторного тока Iк(Uкэ) при фиксированном токе базы Iб = const (рис. 4.3, б). На серии вольтамперных характеристик можно выделить три области: I – линейная область; II рабочий участок транзистора, находящегося в режиме усиления, этот участок характеризуется слабой зависимостью Iк(Uкэ); III – область пробоя коллекторного перехода.
В области I (режим насыщения, режим двойной инжекции) оба перехода "эмиттер – база" и "коллектор – база" смещены в прямом направлении за счет того, что напряжение Uкэ мало (потенциал к коллектора меньше, чем потенциал б базы, открывающий эмиттерный переход). Крутой наклон характеристики в области I связан с малым электрическим сопротивлением открытого транзистора.
На границе ВАХ области I с областью II ранее открытый коллекторный переход начинает закрываться, и в области II закрытый коллекторный переход находится под воздействием обратного напряжения – нормальный активный режим. Точкам перехода от области I к области II соответствует напряжение Uкэ порядка 0,5…1,5 В в зависимости от величины тока базы.
Коэффициент передачи тока в схеме ОЭ оцениваемый по соотношению:
= Iк/Iб|Iб = /(1 – ) >> 1, (4.3)
может быть экспериментально рассчитан, например, по данным серии выходных характеристик (рис. 4.3, б). Коэффициент может иметь значение 50…100.
Обратим внимание, что в области III (рис. 4.3, б) значение напряжения Uкэ, при котором начинает резко увеличиваться ток Iк (см. пунктирную линию на рисунке 4.3, б), уменьшается по мере увеличения тока. Это обстоятельство связано с тем, что согласно паспортным данным в любой транзисторе мощность, рассеиваемая в области коллекторного перехода в виде тепла, не может превышать некоторого максимального значения Рк мах, равного, в свою очередь, произведению UкIк. Именно поэтому, увеличение Iк приводит к уменьшению Uк, при котором начинается пробой обратносмещенного коллекторного перехода.