
- •Физические основы электроники Электрофизические методы исследования полупроводников и полупроводниковых приборов
- •Введение в настоящем пособии излагаются основные темы дисциплин, связанных с основами работы полупроводниковых приборов.
- •Требования к подготовке, выполнению и защите работ
- •Тема 1. Приборы, используемые для проведения исследований полупроводниковых приборов
- •1.1. Автоматические мосты переменного тока
- •1.2. Осциллографы
- •1.3. Генераторы
- •Тема 2. Проводимость полупроводников и металлов лабораторная работа № 2.1
- •2.1. Терморезисторы: термисторы и позисторы
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 2.2
- •2.2. Общие сведения
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Подготовка к работе
- •2. Исследование вольтамперной характеристики варистора
- •7. Исследование зависимости сопротивления от температуры
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 2.3
- •2.3. Определение типа носителей в полупроводниках
- •2.3.1. Метод термозонда
- •2.3.2. Метод Холла
- •2.3.3. Определение концентрации и подвижности носителей
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Определение типа носителей с помощью метода термозонда
- •1.1. Подготовка к работе
- •1.2. Определение типа носителей разных кристаллов
- •2. Исследования по методу Холла
- •2.1. Определение типа основных носителей в датчике Холла
- •2.3. Исследование вольтамперной характеристики датчика
- •2.4. Определение микропараметров кристалла датчика Холла
- •2.6. Определение зависимости эдс Холла от величины тока
- •2.9. Определение зависимости эдс Холла величины индукции в
- •Отчетные материалы
- •Тема 3. Полупродниковые диоды Лабораторная работа №3.1 ″Исследование полупроводниковых диодов″
- •3.1. Характеристики полупроводниковых диодов
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Начальные установки
- •2. Исследование вольтамперной характеристики диода при t0
- •2.1. Исследование прямой ветви вах диода д2
- •2.2. Исследование обратной ветви вах диода д2
- •3*. Исследование вах диодов различных типов
- •4. Исследование зависимости обратного тока диода от температуры
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 3.2
- •3.2. Полупроводниковые стабилитроны и стабисторы
- •3.3. Описание стенда
- •Измерения и обработка результатов
- •2. Исследование вольтамперной характеристики стабилитрона при комнатной температуре
- •5. Исследование влияния температуры на напряжение Uст
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа №3.3
- •3.4. Характеристики светодиодов
- •3.4.1. Управляемые источника света. Светодиоды
- •3.4.2. Строение светодиодов
- •3.4.3. Общие сведения об обозначении светодиодов
- •3.4.4. Особенности лабораторной установки
- •Отчетные материалы
- •Лабораторная работа № 3.4
- •3.5. Общие сведения о фотоприемниках
- •3.5.2. Параметры и характеристики фоторезистора
- •3.5.3. Особенности работы фотодиодов
- •3.5.4. Описание установки
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •3. Исследование параметров электрического сигнала от генератора
- •6. Определение параметров импульса эдс от облучаемого фотодиода
- •10. Определение параметров импульса в цепи фоторезистора
- •11. Оценка параметров сигнала от резистора Rизм
- •16*. Исследование величины светового потока от светодиода
- •Отчетные материалы
- •Тема 4. Биполярные транзисторы Лабораторная работа №4.1
- •4.1. Характеристики биполярных транзисторов
- •4.1.1. Схемы включения биполярных транзисторов
- •4.1.2. Схема с общей базой
- •4.1.3. Схема с общим эмиттером
- •4.1.4. Описание установки
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Исследование схемы с общей базой
- •1.2. Исследование входных характеристик транзистора в схеме об
- •1.6. Исследование выходных характеристик транзистора в схеме об
- •1.12*. Исследование характеристики обратной связи в схеме об
- •1.14. Исследование характеристик передачи тока в схеме об
- •2. Исследование схемы с общим эмиттером
- •2.2. Исследование входных характеристик транзистора в схеме оэ
- •2.6. Исследование выходных характеристик транзистора в схеме оэ
- •2.11*. Исследование характеристики обратной связи в схеме оэ
- •2.13. Исследование характеристики передачи тока в схеме оэ
- •Отчетные материалы
- •Тема 5. Полевые транзисторы Лабораторная работа № 5.1
- •5.1. Характеристики полевого транзистора
- •5.1.1. Полевой транзистор с управляющим p-n-переходом
- •5.1.2. Полевой транзистор с изолированным затвором
- •5.1.3. Особенности схемы измерения
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •2. Исследование стоковой (выходной) характеристики
- •Отчетные материалы
- •Тема 6. Элементы технологии производства имс Лабораторная работа № 6.1
- •6.1. Элементы технологии изготовления имс
- •6.1.1. Классификация имс
- •6.1.2. Понятие о технологическом цикле производства имс
- •6.1.3. Производство планарного биполярного транзистора
- •6.1.4. Производство планарного полевого транзистора
- •6.1.5. Структура транзисторов статических микросхем памяти
- •6.1.6. Общие сведения о топологии микросхем памяти
- •6.1.7. Описание установки и процедуры испытаний
- •Подготовка к работе
- •Измерения и обработка результатов
- •1. Исследование элементов технологии гибридных имс
- •1.4. Исследование сопротивления резисторов на бгис
- •2. Исследование элементов технологии твердотельных имс
- •2.4. Градуировка окуляров с помощью дифракционной решетки
- •3. Исследование твердотельных микросхем на установке "мим"
- •4. Анализ топологии и параметров микросхемы памяти
- •Отчетные материалы
- •Задачи по темам Аналоговая и Цифровая Электроника
- •П2. Диоды и тиристоры
- •П3. Источники вторичного напряжения
- •П4. Транзисторы
- •П5. Аналоговые устройства
- •П6. Операционные усилители и схемы на их основе
- •П7. Преобразовательные устройства и генераторы
- •П8. Стабилизаторы
- •П9. Логические микросхемы
- •П10. Логические схемы
- •П11. Схемы на лэ
- •П12. Триггеры
- •П13. Регистры и счетчики
- •П14. Преобразователи кодов
- •П15. Мультиплексоры, демультиплексоры, сумматоры
- •П16. Цифро-аналоговые преобразователи
- •П17. Микросхемы (технология и устройство)
- •Рекомендуемая литература Основная литература
- •Дополнительная
Отчетные материалы
В лабораторной тетради представляются:
– заполненные таблицы для каждого из исследуемых диодов;
– экспериментальные зависимости ВАХ (прямые и обратные) для всех исследуемых диодов (на одном графике) при комнатной температуре;
– экспериментальные зависимости ВАХ (прямые и обратные) для диода Д2 (на одном графике) при комнатной и повышенной температурах;
– расчетные зависимости дифференциального сопротивления rd(U) (прямая ветвь и обратная) при комнатной температуре для каждого из исследуемых диодов (на одном графике);
– экспериментальная зависимость обратного тока Iобр и статического сопротивления Rобр(t) (на одном графике) для диода Д2 от температуры;
К защите представляется РГЗ с задачами по темам: ″P-n-переход, ″Реальные диоды″.
Лабораторная работа № 3.2
″Исследование полупроводниковых стабилитронов″
Цели работы: исследование электрических свойств реальных диодов - стабилитронов при различных температурах; определение параметров стабилитрона: вольтамперных характеристик, напряжения стабилизации, дифференциального сопротивления и других.
Приборы и принадлежности: полупроводниковые стабилитроны типа Д815Б, Д817E, универсальный стенд ЭС1А/2, включающий в себя источники питания; измерительные приборы.
3.2. Полупроводниковые стабилитроны и стабисторы
Полупроводниковые стабилитроны и стабисторы – приборы, предназначенные для фиксации в определенных пределах напряжения на какой-либо нагрузке, например, резисторе Rн, при изменении входного напряжения цепи.
Стабилитроны - приборы, работающие в режиме обратимого лавинного или туннельного пробоя при обратном смещении.
Величина напряжение стабилизации Uст лежит в пределах: тунельный пробой – до 5 В; лавинный пробой – от 6 В до 20-30 В.
Заметим, что напряжение пробоя при необратимом тепловом пробое характеризуется значениями сотни вольт, что значительно больше, чем при лавинном и туннельном пробое.
Стабисторы - приборы, работающие, как и обычный диод, при прямом смещении. Напряжения стабилизации Uст в этом случае определяется величиной предельного прямого напряжения Uпр пред (рис. 3.1, в) и достигает 1 В.
Рабочим участком стабилитрона является участок на обратной ветви вольтамперной характеристики (рис. 3.6) в области напряжений, соответствующих обратимому пробою; стабистора – в области прямых смещений.
Вольтамперные характеристики (зависимости силы тока Iпр через стабилитрон от напряжения Uпр между контактами прибора), представлены на рис. 3.6.
При напряжениях U < Uст ток (обратный) через ″закрытый″ стабилитрон крайне мал, а его сопротивление – велико; явления пробоя еще не происходят. При некотором минимальном значении обратного напряжения Uст ток стабилитрона, ранее незначительный, начинает возрастать – наступает пробой p-n-перехода. Данное значение напряжения пробоя называется напряжением стабилизации Uст прибора. По мере дальнейшего увеличения тока, протекающего через стабилитрон, напряжение на стабилитроне практически не увеличивается (в реальности, по мере увеличения тока через стабилитрон напряжение на нем незначительно возрастает на доли вольта).
Рис. 3.6. ВАХ стабилитронов и стабистора
Упрощенная схема измерения характеристик стабилитрона и стабистора, их УГО представлена на рис. 3.7. Указанные схемы фактически выполняют функции простейших параметрических стабилизаторов напряжения.
а) б) в)
Рис. 3.7. Схемы на стабилитроне (а), стабисторе (б), переходная характеристика (в)
Нагрузка Rн всегда подключается параллельно стабилитрону (стабистору), поэтому напряжение на нагрузке Uн равно напряжению на стабилитроне Uст. Это служит гарантией относительно постоянного напряжения на нагрузке при изменяющемся напряжении Uвх на входе схемы. Ток Iвх схемы, потребляемый от источника напряжением Uвх, равен сумме токов стабилитрона (стабистора) Icт и нагрузки Iн (Iвх = Icт + Iн). Разность напряжений Uвх и стабилитрона (стабистора) Uст падает на балластном сопротивлении Rб:
Uст = Uвх Uб = Uвх IвхRб. (3.5)
Другими словами, балластный резистор принимает на себя часть избыточного напряжения, превышающее напряжение стабилизации.
Переходной характеристикой (рис. 3.7, в) схемы (не путать с ВАХ собственно, стабилитрона) называется зависимость напряжения на нагрузке Uн = Uвых(Uвх) от напряжения на входе Uвх. По мере увеличения напряжения на входе от нуля до напряжения стабилизации Ucт, напряжение на выходе растет (область 1), а затем, по мере возрастания напряжения на входе, напряжение Uвых практически не изменяется (область 2), оставаясь равным Ucт.
Это можно объяснить следующим образом. По мере роста напряжения на входе схемы Uвх от нуля (обратное смещение), в области значений Uобр < Ucт, напряжение на стабилитроне (а также на параллельно включенной нагрузке Rн) монотонно растет (рис. 3.7, в; область 1). Это связано с тем, что из-за разницы между значениями сопротивления резистора Rб и большого сопротивления обратно включенного стабилитрона в области напряжений до Uст. Т.е. пока стабилитрон не ″пробит″, практически все входное напряжение падает на нем из-за большого сопротивления обратносмещенного стабилитрона.
Как только напряжение на входе практически достигает величины напряжения стабилизации Uст, в стабилитроне начинаются соответствующие процессы пробоя. Сопротивление p-n-перехода при этом резко уменьшается, что сопровождается увеличением тока через стабилитрон при незначительном увеличении напряжения на приборе. Даже если напряжение на входе Uвх меняется в значительных пределах (Uвх > Uст), то это не скажется на напряжении выхода, поскольку при пробое стабилитрона сопротивление его p-n-перехода мало по сравнению с сопротивлением Rб и все входное напряжение Uвх, за вычетом Uст, падает на ограничительном сопротивлении.
Таким образом, напряжение на стабилитроне (и нагрузке, если она включена) при протекании процессов пробоя остается практически постоянным при изменении напряжения на входе в широких пределах (рис. 3.7, в, область 2).
Величина напряжения стабилизации зависит от температуры. Напряжение туннельного пробоя находится в прямой зависимости от ширины запрещенной зоны, поэтому с ростом температуры происходит уменьшение Ез, сужение толщины барьера (при возрастании его высоты), увеличение вероятности туннелирования через барьер, и, соответственно, уменьшение напряжения стабилизации.
Напряжение лавинного пробоя связано с длиной свободного пробега и подвижностью носителей. При увеличении температуры увеличивается рассеивание носителей, уменьшается подвижность, носители не могут приобрести необходимую энергию для ионизации атомов, поэтому лавинный пробой начинается при большем напряжении.
В связи с вышесказанным величина напряжения стабилизации Uст конкретного стабилитрона зависит от температуры прибора. На рис. 3.6 пунктирными линиями показано смещение характеристик Uст(Т) при увеличении температуры: напряжение стабилизации Uст может незначительно уменьшаться или возрастать.
Температурный коэффициент напряжения стабилизации ТКН определяется выражением
ТКН = (100/Uст)(Ucт/T), %/К. (3.6)
Значение ТКН может быть как положительным (ТКН > 0), так и отрицательным (ТКН < 0). Знак ТКН зависит от ряда факторов, прежде всего, от характера (вида) пробоя (рис. 3.8, а). Например, если напряжение стабилизации прибора более 6 В, то реализуется обратимый лавинный пробой и ТКН > 0, т.е. по мере возрастания температуры напряжение стабилизации возрастает. Аналогично, при напряжении пробоя менее 5 В в стабилитроне происходит туннельный эффект и ТНК < 0.
а) б) в)
Рис. 3.8. Зависимость ТКН(Uст) (а), УГО (б) стабилитрона, термостабилизация Uст (в)
Следует отметить, что в качестве стабистора могут быть выбраны диоды, у которых происходит ″резкое″ увеличение прямого тока при напряжении Uпр пред (рис. 3.1, а, 3.2, б). В частности, в этом случае напряжение стабилизации германиевого диода составляет примерно 0,7 В, а диода Шоттки – 0,2- 0,3 В.
Поскольку при повышении температуры прямой ток возрастает и ВАХ прямой ветви смещается немного в область меньших напряжений, то напряжение стабилизации стабистора немного уменьшается, т.е. ТКН < 0. Это обстоятельство используется для термостабилизации напряжения стабилизации ″составного″ элемента (рис. 3.8, в), состоящего из нескольких приборов. Например, при увеличении температуры напряжение стабилизации VD1 и VD2 растет, а у VD3 – падает; в итоге – напряжение на нагрузке практически не изменяется.
Дифференциальное сопротивление rd (несколько десятков Ом) и дифференциальная проводимость d элемента определяются следующим образом:
d = 1/rd = dIст/dUст (3.7)
или d = 1/rd = Iст/Uст . (3.8)
Маркировка стабилитрона (стабистора) включает следующие элементы: материал полупроводника (К кремний); обозначение подкласса (буква С); цифру, указывающую на мощность; две цифры, указывающие напряжение стабилизации, и букву, характеризующую особенность конструкции или корпуса. Например, стабилитрон КС168А (в металлическом корпусе) соответствует маломощному стабилитрону с током стабилизации менее 0,3 А и напряжением стабилизации 6,8 В.