- •Определение показателя преломления стеклянной плоскопараллельной пластинки при помощи микроскопа Теоретическое обоснование работы
- •Порядок выполнения работы
- •О писание лабораторной установки
- •Порядок выполнения работы
- •I. Определение видимого увеличения микроскопа
- •II. Определение линейного увеличения объектива
- •II. Определение линейного увеличения объектива
- •III. Определение числовой апертуры объектива микроскопа
- •Обработка результатов измерений
- •I. Определение видимого увеличения микроскопа
- •Описание установки и порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Измерения с помощью интерференционных колец Ньютона
- •Теоретическое обоснование работы
- •Описание установки
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов измерений
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Исследование зависимости коэффициента отражения на границе раздела между двумя диэлектриками от угла падения Теоретическое обоснование работы
- •Описание установки и порядок выполнения работы
- •Подготовка к измерениям
- •Измерения
- •Обработка результатов измерений
- •Закон Малюса
- •Закон Брюстера
- •Описание лабораторной установки
- •I. Экспериментальная проверка закона Малюса
- •II. Определение показателя преломления прозрачного диэлектрика на основе закона Брюстера
- •Обработка результатов измерений
- •I. Экспериментальная проверка закона Малюса
- •II. Определение показателя преломления прозрачного диэлектрика на основе закона Брюстера
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Определение концентрации раствора при помощи полутеневого сахариметра Теоретическое обоснование работы и описание установки
- •Закон Малюса
- •Вращение плоскости поляризации раствором естественно-активного вещества
- •Цель работы и ее выполнение
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Изучение спектров испускания и поглощения
- •Монохроматор ум-2 и источники излучения
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка результатов измерений
- •Дополнительное задание Определение постоянной Планка
- •Порядок определения h
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Определение размеров деталей, составляющих хаотическое и упорядоченное множества, с помощью явлений дифракции и интерференции Теоретическое обоснование работы
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Градуировка ширины спектральной щели по дифракционной картине Теоретическое обоснование работы
- •Порядок выполнения работы
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Измерение коэффициентов преломления жидкостей и твердых тел
- •Часть I. Измерение показателя преломления жидкости с помощью рефрактометра.
- •Краткие сведения из теории
- •Описание прибора
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка и анализ результатов измерений
- •Часть II. Измерение с помощью микроскопа показателя преломления стеклянной плоскопараллельной пластины.
- •Краткие сведения из теории
- •Описание экспериментальной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Описание экспериментальной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка и анализ результатов измерений
- •Описание экспериментальной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка и анализ результатов измерений
- •Kпогл n λ λ
- •Описание экспериментальной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка и анализ результатов измерений
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Исследование спектров инертных газов
- •Краткие сведения из теории
- •Описание экспериментальной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка и анализ результатов измерений
- •Описание экспериментальной установки
- •Порядок выполнения работы
- •Обработка и анализ результатов измерений
- •Контрольные вопросы
- •Рекомендуемая литература
- •Описание гониометра г1,5
Описание экспериментальной установки
Принципиальная схема установки представлена на рис. 74.2. Луч излучения лазера L с длиной волны падает на монокристалл кварца, выполненный в виде цилиндрического диска G с полированной боковой поверхностью.
Р
ис.
74.2
Оптическая ось его параллельна основаниям цилиндра. Этот диск может вращаться вокруг вертикальной оси, образуя различные углы с падающим лучом лазера, отсчитываемые по лимбу столика, на котором он расположен. Существенно, что при любом угле падения здесь падающий луч оказывается в плоскости главного сечения, содержащей нормаль в точке падения луча на диск; толщина монокристалла в направлении распространения луча одинакова и равна диаметру D диска. Падающий луч лазера линейно поляризован; электрический вектор в нем колеблется перпендикулярно лучу в горизонтальной плоскости, совпадающей с плоскостью главного сечения диска при любом его повороте на угол .
При прохождении луча сквозь диск вследствие вращения плоскости поляризации возникают две взаимно перпендикулярных компоненты электрического вектора, для которых оптические пути, проходимые в диске, разные, в соответствии с различием в показателях преломления nе и no.
После диска луч проходит через анализатор А (поляроид), который из каждого из взаимно перпендикулярных компонентов пропускает составляющую в направлении своего пропускания так, что на экране S, расположенном за анализатором А, имеет место интерференция поляризованных лучей. При прохождении узкого пучка лазера сквозь диск G последний фокусирует его как цилиндрическая линза. За фокусом пучок расходится и в сечении его в любой плоскости имеет место прямоугольная полоска. На экране S после анализатора А в результате интерференции поляризованных лучей эта полоска разбивается на систему светлых и темных интерференционных полос.
При вращении диска G
вокруг вертикальной оси изменяются
угол
и значение ne
- no,
зависящее от
.
Как следствие, изменяется разность
оптических путей между интерферирующими
лучами в каждой точке экрана. Это
воспринимается как движение
интерференционных полос на экране,
сопровождающее вращение диска. Можно
сосчитать число k
интерференционных максимумов, прошедших
через центр картины, задаваемый нанесенной
на экране меткой С,
при повороте диска на некоторый угол
.
При этом связь между значением
,
диаметром диска D,
длиной волны излучения
и числом прошедших полос k
определяется формулой
,
откуда
(74.4)
При поворотах диска G вокруг вертикальной оси на разные углы всегда имеет место нормальное падение луча на диск G и применима формула (74.1) для разности оптических путей при падении луча по нормали к пластине толщиной D.
Порядок выполнения работы
Включить лазер в присутствии лаборанта в соответствии с инструкцией, находящейся на рабочем месте.
Снять отсчет по лимбу столика с диском G, соответствующий значению = 0, т. е. снять такой отсчет, при котором через метку С на экране проходит центр длинной (нулевой) светлой полосы 1 - 1΄ (рис. 74.3).
Рис. 74.3
Для этого надо сделать отсчеты углов по лимбу, соответствующие прохождению через метку С на экране центров ближайших темных, симметричных относительно нулевой полосы, интерференционных полос Nлев и Nправ. Найти среднее значение углов поворота столика с диском, соответствующее этим отсчетам.
Пример. Отсчет слева 3°50', отсчет справа 356°30', отсюда следует, что отсчет по лимбу,
соответствующий значению = 0, равен:
Поворачивая диск на углы , соответствующие прохождению через метку серий по 10 полос, снимать отсчеты N по лимбу для каждой прошедшей серии, т. е. совмещать метки с серединой каждого 10-го максимума. Эти измерения следует провести до значений = 60°. Результаты измерений занести в табл. 74.1.
Таблица 74.1
|
k |
N |
θ =N - N0 |
|
|
|
|
|
|
