
- •41. Уравнения Эберса-Молла
- •42. Статические вах биполярного транзистора в схеме с общей базой
- •43.Статистические входные и выходные вольт-амперные характеристики биполярного транзистора в схеме с общим эмиттером. Транзистор в схеме с общим эмиттером
- •44.Отличия реальных вольт-амперных харак-к биполярного транзистора от идеализированных. Эффект модуляции ширины базы (Эффект Эрли)
- •45. Зависимость коэффициента передачи тока транзистора от тока или
- •46. Эффект оттеснения токов к краю эмиттера. Эффект Кирка.
- •47. Предельные напряжения биполярных транзисторов
- •49. Малосигнальные параметры биполярных транзисторов и эквивалентная т-образная схема замещения транзистора
- •50. Формальная эквивалентная схема транзистора как четырехполюсника. H-параметры
- •51. Физические предпосылки и инерционности работы биполярных транзисторов в схеме с общей базой.
- •52. Физические предпосылки и инерционности работы биполярных транзисторов в схеме с общим эмиттером.
- •53. Анализ переходных процессов в биполярном транзисторе
- •54. Анализ переходных процессов в биполярном транзисторе
- •55. Частотные характеристики транзистора в схеме с общей базой
- •56. Частотные характеристики транзистора в схеме с общим эмиттером.
- •57. Учёт влияния эмиттерной и коллекторной цепей на частотные свойства биполярного транзистора
- •58. Структура и принцип работы динисторов. Вах динистора
- •59. Структура, принцип работы тиристора и вольт-амперная и пусковая харак-ки.
- •60. Температурные зависимости вольт-амперной харак-ки тиристора.Особенности управления тиристорами, входная харак-ка. Входная характеристика тиристора
- •61. Переходные процессы переключения тиристоров. Эффекты dI/dt и dU/dt. Переходные процессы в тиристорах
50. Формальная эквивалентная схема транзистора как четырехполюсника. H-параметры
Рис. 13.4. Транзистор как четырехполюсник
Поэтому наряду с
Т-образной эквивалентной схемой замещения
транзистора используются формальные
схемы замещения транзистора как
активного четырехполюсника, измерение
параметров которых проводится со стороны
внешних выводов транзистора. При этом
транзистор рассматривается как активный
четырехполюсник с произвольной
внутренней структурой (рис. 13.4). Величины
токов
,
и напряжений
,
на внешних зажимах четырехполюсника
взаимосвязаны. В зависимости от того,
какие две из этих величин принять за
независимые переменные, а какие —
за функции, можно получить различные
системы параметров транзистора как
активного четырехполюсника. Наиболее
часто за независимые переменные принимают
входной ток
и выходное напряжение
.
Тогда
,
.
Изменение этих величин описывается полным дифференциалом:
; (13.3,
а)
. (13.3,
б)
Для малых сигналов
зависимость тока от напряжения линейна,
и частные производные предст-ют собой
постоянные коэффициенты, которые
обозн-ся буквой h. Тогда, заменяя бесконечно
малые приращения
,
конечными малыми приращениями
,
,
а их — малыми переменными сигналами i
и u,
уравнения (13.3) можно записать в виде:
, (13.4,
а)
,
(13.4, б)
где
— входное сопротивление при коротком
замыкании на выходе;
—
коэффициент обратной передачи напряжения
при холостом ходе на входе;
—
коэффициент прямой передачи тока
при коротком замыкании на выходе;
—выходная проводимость при холостом
ходе на входе.Системе уравнений (13.4)
соответ-ет эквивалентная схема
замещения транзистора, показанная на
рис. 13.5.
Рис. 13.5. Эквивалентная схема транзистора в системе h -параметров
Вид этой схемы одинаков при включении транзисторов с общей базой и общим эмиттером, но значения h-параметров в схемах с общей базой и общим эмиттером различны,Связь h-параметров с элементами Т-образной эквивалентной схемы замещения транзистора с общей базой устанавливается следующими приближенными формулами:
; (13.5,
а)
; (13.5,
б)
; (13.5,
в)
. (13.5,
г)
Для транзистора в схеме с общим эмиттером:
; (13.6,
а)
; (13.6,
б)
; (13.6,
в)
. (13.6,
г)
Формулы (13.5) и (13.6) позволяют устан-ть характер зависимости величины каждого h-параметра от режима работы транзистора и температуры, так как аналогичные зависимости параметров Т-образной эквивалентной схемы известны.Рассмотренные эквивалентные схемы замещения транзисторов можно использовать для расчета малосигнальных электронных схем в области низких и средних частот. Для области высоких частот необходимо учитывать комплексный характер параметров транзисторов и влияние барьерных емкостей эмиттерного и коллекторного переходов.
51. Физические предпосылки и инерционности работы биполярных транзисторов в схеме с общей базой.
Динамические параметры транзистора опред-ют его инерционность при быстрых изменениях входных токов. Рассматриваем n-p-n транзистор и не учитываем вначале барьерные ёмкости p-n переходов.
Схема с общей базой
Рис.14.1. Схема с ОБ
Предположим, что
до момента
транзистор находился в режиме отсечки,
в момент
- скачок тока
.
При скачке эмиттерного тока
в момент
в базу из эмиттера мгновенно инжект-ся
электроны (
).
Концентрация этих электронов около
эмиттера повышенная, а в глубине базы
оказ-ся равновесной, то есть возникает
градиент их концентрации. Под его
действием электроны диффундируют от
эмиттера к коллектору. До тех пор, пока
электроны не достигнут коллектора и не
перейдут в него,
.
Поэтому время пролёта (диффузии) первых,
самых быстрых электронов через базу
опред-ет время задержки нарастания
тока
.
Скорость диффузии отдельных электронов
сильно разл-ся и электроны, инжектированные
в базу одновременно, доходят до коллектора
за разное время. Поэтому ток коллектора
нарастает плавно и достигает стационарной
величины
за время
- длительность нарастания фронта.Установление
тока
сопровожд-ся накоплением в базе
неравновесных носителей и установлением
тока базы. Мгновенная инжекция электронов
в базу в момент
создаёт в ней неравновесный отрицательный
заряд. Для его компенсации в базу из
контакта мгновенно начинают подтягиваться
дырки. Они и опред-ют ток базы
.
Так как в течение
инжектированные электроны не уходят
из базы, то они увел-ют неравновесный
отрицательный заряд в базе, а так как
он компен-ся дырками, то в течение
:
.
При
всё большая часть инжектированных
эмиттером в базу электронов начинает
уходить из базы в коллектор, рост
неравновесного заряда
Рис. 14.2. Временные диаграммы включения транзистора в схеме с ОБ
Рис. 14.3. Накопление в базе неравновесных носителей
в базе замедл-ся,
что приводит к уменьшению
.
При
из базы в коллектор выходит прибл-но
столько электронов, сколько их инжектирует
эмиттер. Поэтому
опред-ся в основном током рекомбинации. Таким
образом, замедление роста тока коллектора
относ-но скачка тока эмиттера
опред-ся временем диффузии инжектированных
эмиттером электронов через область
базы. Причем время
опред-ся диффузией самых быстрых
электронов, а время
- средним временем диффузии всей массы
электронов.