
- •41. Уравнения Эберса-Молла
- •42. Статические вах биполярного транзистора в схеме с общей базой
- •43.Статистические входные и выходные вольт-амперные характеристики биполярного транзистора в схеме с общим эмиттером. Транзистор в схеме с общим эмиттером
- •44.Отличия реальных вольт-амперных харак-к биполярного транзистора от идеализированных. Эффект модуляции ширины базы (Эффект Эрли)
- •45. Зависимость коэффициента передачи тока транзистора от тока или
- •46. Эффект оттеснения токов к краю эмиттера. Эффект Кирка.
- •47. Предельные напряжения биполярных транзисторов
- •49. Малосигнальные параметры биполярных транзисторов и эквивалентная т-образная схема замещения транзистора
- •50. Формальная эквивалентная схема транзистора как четырехполюсника. H-параметры
- •51. Физические предпосылки и инерционности работы биполярных транзисторов в схеме с общей базой.
- •52. Физические предпосылки и инерционности работы биполярных транзисторов в схеме с общим эмиттером.
- •53. Анализ переходных процессов в биполярном транзисторе
- •54. Анализ переходных процессов в биполярном транзисторе
- •55. Частотные характеристики транзистора в схеме с общей базой
- •56. Частотные характеристики транзистора в схеме с общим эмиттером.
- •57. Учёт влияния эмиттерной и коллекторной цепей на частотные свойства биполярного транзистора
- •58. Структура и принцип работы динисторов. Вах динистора
- •59. Структура, принцип работы тиристора и вольт-амперная и пусковая харак-ки.
- •60. Температурные зависимости вольт-амперной харак-ки тиристора.Особенности управления тиристорами, входная харак-ка. Входная характеристика тиристора
- •61. Переходные процессы переключения тиристоров. Эффекты dI/dt и dU/dt. Переходные процессы в тиристорах
56. Частотные характеристики транзистора в схеме с общим эмиттером.
Частотную
характеристику в схеме с общим эмиттером
можно получить тем же путём, что и в
схеме с общей базой, то есть из переходной
характеристики
.
Но эту характеристику можно получить
используя общую формулу
.
- граничная круговая
частота в схеме с общим эмиттером.
,
Так как по виду
функции
и
одинаковы, то график АЧХ
в схеме с общим эмиттером имеет качественно
тот же характер, что и график
.
На этом графике при
уменьшается по сравнению с
в
раз. Но так как
,
то граничная частота в схеме с общим
эмиттером в несколько десятков раз
меньше, чем в схеме с общей базой.
Рис.14.14 АЧХ и .
Большую разность
между величинами
и
можно объяснить чисто формально по
структуре формулы
,
где
близка к 1 и небольшое изменение
приводят к большим изменениям
.
С физической точки зрения объяснение следующее:
Как известно,
,
,
.
в n-p-n
транзисторе обусловлен неравновесными
носителями – дырками, которые втекают
в базу. На постоянном токе и низких
частотах они идут только на компенсацию
рекомбинационных потерь дырок в базе.
На высокой частоте ток коллектора
начинает не успевать за изменением
и в базе возникает дисбаланс зарядов
электронов – инжектированных эмиттером
и электронов, уходящих в коллектор. Этот
заряд подтягивает дырки из базового
контакта, в результате ток базы заметно
возрастает, а
- падает, причём уменьшение
наблюд-ся уже на частотах, при которых
амплитуда
почти успевает за изменением тока
:
.
Но временной сдвиг между
и
приводит к увеличению
.
Поскольку
- достаточно большая величина, то
усилительные способности транзистора
сохран-ся на частотах значительно
превышающих граничную частоту
.
Поэтому для
характеристики предельных возможностей
транзистора усиливать высокочастотные
сигналы вводится понятие предельной
частоты усиления транзистора
или
,
которая определяется как частота, при
которой модуль
уменьшается до 1.
Оценим величину
.
Очевидно, что
,
поэтому вблизи значений
:
,
то есть на этих частотах
.
При
по определению
,
то есть
,
а так как
,
то
Предельная частота
является справочным параметром
транзистора, по которому судят о его
предельных частотных свойствах. Во
многом это связано с удобством измерения
.
Это вытекает из следующего. Умножим обе
части равенства, определяющего частотную
харак-ку транзистора в схеме с общим
эмиттером на
:
.
Когда
,
то есть уже при
получаем, что
.
Таким образом, в области спада частотной
характеристики в схеме с общим эмиттером,
произведение коэффициента усиления по
току на частоту есть величина постоянная.
Этот вывод подтверждается и
экспериментальными данными. То есть
для измерения
нет необходимости использовать очень
высокочастотные приборы:
,
,
,
тогда
.
57. Учёт влияния эмиттерной и коллекторной цепей на частотные свойства биполярного транзистора
В современных транзисторах, изготовленных методом диффузии примеси, толщина базы порядка 0,2÷1 мкм. Следовательно, .
Пример: кремниевый
транзистор,
мкм
= 0,5·10-6м
= 5·10-7
м,
,
см2/с
в интегральных схемах, тогда
с
что определяет предельные частотные
свойства транзистора на уровне:
.
Однако реальные предельные частоты
такого транзистора будут меньше из-за
влияния времен перезаряда барьерных
ёмкостей p-n
переходов транзистора. Как известно,
обусловлена изменением нескомпенсированных
зарядов ионов донорной и акцепторной
примесей при изменении напряжения на
переходе. Предположим, что к эмиттерному
переходу приложено напряжение
,
которое может изменяться в любую сторону.
Рис. 14.15. Эмиттерная цепь транзистора
Предположим, что
- уменьшилось на
.
Так как это прямое напряжение, это
приведёт к расширению области объёмного
заряда. Так как ионы доноров и акцепторов
неподвижны и жёстко связаны с
кристаллической решёткой, то расширение
возможно за счёт ухода основных носителей
– дырок через базовый контакт и электронов
через эмиттерный контакт. Ток,
обусловленный этими носителями является
током перезаряда, в данном случае разряда
барьерной ёмкости
.
При увеличении
- область объёмного заряда будет сужаться
за счёт подхода этих носителей к
переходам. Эти носители будут переносить
ток заряда
.
Таким образом полный ток эмиттера будет
склад-ся из тока инжекции, переносимого
электронами из эмиттера в базу и тока
перезаряда
.
Так как ток переносится основными
носителями, то он не передаётся в ток
коллектора, следовательно, наличие
этого тока будет умень-ть коэффициент
инжекции:
,
причём
с ростом частоты
возрастает, а
- умень-ся. Частотная зависимость
от
определяется для малой переменной
составляющей синусоидальной формы:
,
,
.
Обозначим,
.
,
отсюда
,
где
- граничная частота коэффициента
инжекции, то есть частота при которой
уменьшается в
раз по сравнению с
при НЧ. Очевидно, что
,
то есть пропорционально
.
Поэтому в высокочастотных усилительных
схемах ток покоя должен быть повышенным.
Пример: для маломощных ВЧ транзисторов
,
,
.
При
:
.
При
:
.
Рассмотрим процессы, протекающие в
коллекторной цепи.
Рис.14.16. Коллекторная цепь
Предположим, что
на коллекторе – запирающее напряжение,
а
- переменный. Коллекторная и базовая
области транзистора обладают некоторыми
объёмными сопротивлениями, включёнными
последовательно с коллекторным переходом.
Поэтому
.
Тогда, если
,
а, следовательно,
и
увел-ся, то напряжение на коллекторном
переходе уменьшается, а так как это
напряжение – запирающее, то его уменьшение
приводит к сужению области объёмного
заряда, то есть к заряду барьерной
ёмкости
.
Ток заряда ёмкости обусловлен дырками,
втекающими в базовый контакт, а в
коллекторной области – электронами,
втекающими в коллекторный контакт. При
уменьшении
процесс обратный. Отсюда следует, что
ток перезаряда ёмкости
всегда препятствует изменению тока
.
Поэтому с ростом частоты, результирующий
ток
убывает за счёт роста емкостного тока
.
Учёт влияния ёмкости
на частотные свойства транзистора
проводится, как и в предыдущем случае,
с помощью постоянной времени:
При этом частотная зависимость коллекторного тока :
,
где
- граничная частота коллекторного
перехода. Величина
зависит от конструкции транзистора, в
частности, от степени легирования
коллекторной области. Для дискретных
транзисторов
, то есть
;
- сотни Ом. Но
- собственный параметр транзистора, то
есть когда он не включён в электрическую
схему. В транзисторных каскадах в цепь
коллектора всегда включён внешний
нагрузочный резистор, в этом случае:
то есть быстродействие
транзистора огран-ся параметрами внешней
схемы. В высокочастотных транзисторах
с тонкой базой и высокоомным коллектором
протяжённость области объёмного заряда
может быть достаточно заметной
.
Поэтому время пролёта электронов через
эту область может быть сравнимо со
временем пролёта базы. Для таких
транзисторов вводится ещё один параметр:
,
где V
– дрейфовая скорость электронов. У Si
- 107
см/c,
при этом
с.
С учётом всех факторов, влияющих на
инерционность транзистора, граничная
частота оценивается приближённой
формулой:
.
Степень влияния
отдельных составляющих зависит как от
структуры транзистора, так и от режима
работы. При малых токах важно
,
при высокоомной нагрузке
.