4.3 Расчет пленочных конденсаторов

Пленочный конденсатор представляет собой трехслойную структуру, нанесенную на диэлектрическую подложку. Первый слой - проводящий слой, являющийся ниж­ней обкладкой конденсатора, второй слой представляет собой однослойный или многослойный диэлектрик, и третий слой - проводящий слой верхней обкладки конденсатора.

Цель расчета - определение геометрических размеров и формы пленочных конденсаторов, обеспечивающих получение конденсаторов с воспроизводимыми и стабильными параметрами.

Для микросборки использованы конденсаторы квадратной формы. Их конфигу­рация представлена на рис. 4.2.

Рис. 4.2

Расчет тонкопленочных конденсаторов осуществляется на основе исходных данных (см. табл. 1.1…1.2).

Расчет толщины d диэлектрика конденсатора производится из условия обеспечения электрической прочности Епр.

Значение d определяется по формуле:

d = k3Up/Enp., [см],

где k3 = 3 - коэффициент запаса,

Up= 18 В - рабочее напряжение (см. табл.1.1),

Епр= 5·106 В/см - электрическая прочность для окиси алюминия (Al2O3), (см. табл.1.3)

Для обоих конденсаторов: d = 3 · 18/5 · 106=12· 10"6 см = 1,08· 10-5 см

Определяем удельную емкость C0d конденсатора, соответствующую требуемой электрической прочности, осуществляется по формуле:

C0d= 0,0885ε/d, [пФ/см2],

где d - толщина, см, ε - диэлектрическая проницаемость на частоте 1кГц (см. табл.1.3).

Для обоих конденсаторов: Cod= 0,0885·8/1,08·10-5 =65,556 пФ/см2

Расчет допустимой погрешности Sдоп площади производится по формуле:

Sдоп = Ci - Co - Cт - стC. ,

где: Ci = │δ Ci │ и уСо- допуск на номинал и погрешность воспроизведения удельной емкости, значения которых приведены в табл. 1.1 и равны соответственно 0,1 (10%) и 0,02 (2%); Cт - температурная погрешность, которая рассчитывается по формуле:

Cт = αCi ΔΤ

где: αCi - температурный коэффициент емкости ТКС, характеризует отклонение ΔCi (Τ) емкости от номинального значения Ci в зависимости от изменения температуры ΔΤ. Значение αCi является справочной величиной, αC1 = αC2= 4· 10-4 1/°С,

где: ΔΤ - интервал рабочих температур. ΔТ=60°С

стC - погрешность обусловленная старением материалов, рассчитывается по формуле:

устС = КстС·Δt.

где: КстС - коэффициент старения емкости, характеризует изменение ΔCi (t) емкости Ci в зависимости от времени t, Кстс =10-5 1/час, Δt - время эксплуатации конденсатора. Δt = 1000 часов.

Для обоих конденсаторов:

уСт = 4·10-4·60=0,024

устС = 10-5·1000 = 0,01

Sдоп = Ci - Co - Cт - стC = 0,1-0,02-0,024-0,01= 0,046

Рассчитаем удельную емкость C0S конденсатора, соответствующую допустимой погрешности площади Sдоп конденсатора.

Для конденсатора прямоугольной формы с площадью верхней площадки S=A×B осуществляется по формуле:

C0S = Сi(Sдоп /A)2 Kф/ (1+Kф)2 , [пФ/см2],

где Кф = А/В - коэффициент формы конденсатора; А - большая сторона верхней обкладки конденсатора, [см];

ΔА=ΔВ - ошибка (точность изготовления) линейных размеров, [см] (ΔА=ΔВ=10 мкм = 0,001 см), при изготовлении геометрической формы обкладки конденсатора выбирается квадратной формы: А=В, величина Кф=1 и, следовательно:

C0S = Сi(Sдоп /A)2 / 4 , [пФ/см2].

Для конденсатора Cl: Cos = 2400·(0,046/0,001)2 /4= 1269600 пФ/см2

Для конденсатора С2: Cos = 4800·(0,046/0,001)2/4 = 2539200 пФ/см2

Определяем минимальную удельную емкость С0m конденсатора, обеспечивающую заданное значение Up, а также отвечающую требуемой величине Ci =Ci, по условию:

C0m = min{C0d , C0S}, [пФ/см2].

Для конденсатора Cl: C0m = min{65556, 1269600} = 65556 пФ/см2

Для конденсатора С2: С0m = min{65556, 2539200} = 65556 пФ/см2

Рассчитаем площадь SВ верхней обкладки конденсатора:

Sв = Ci / С0m , [см2]

Для конденсатора Cl: SB=2400/65556 = 0,03661 см2

Для конденсатора С2: SB=4800/65556 = 0,07322 см2

Определяем габаритные размеры АВ и ВВ верхней обкладки конденсатора.

Для конденсатора прямоугольной формы размеры обкладки определяются выбранным коэффициентом формы Кф= Авв, задаваясь, с учетом технологических требований и ограничений, размером Вв. Тогда:

Так как выбран конденсатор квадратной формы, для которого Кф =1 то:

Для конденсатора С1: ;

Для конденсатора С2:

Рассчитываем габаритные размеры АН и ВН нижней обкладки конденсатора.

Для конденсатора квадратной формы:

ΑΗ = ΒΗ = ΑΒ+2σ,

где: σ ≥ 200 мкм - технологическое ограничение на перекрытие обкладок конденсатора.

Для конденсатора С1: Ан = Вн = 0,1913+2·0,02= 0,2313 см;

Для конденсатора С2: Ан = Вн = 0,2708+2·0,02= 0,3108 см;

Определяем габаритные размеры АД и ВД диэлектрика.

Для конденсатора квадратной формы

Ад = Вд = Ан+2g

где: g ≥ 100 мкм - технологическое ограничение на перекрытие нижней обкладки конденсатора диэлектриком.

Для конденсатора С1: Ад = Вд = 0,2313+ 2·0,02= 0,2713 см;

Для конденсатора С2: Ад = Вд = 0,3108+2·0,02= 0,3508 см;

Определяем площадь SCi, занимаемую конденсатором.

Площадь конденсатора определяется площадью диэлектрика:

SCi = Sд = АдВд

Для конденсатора Cl: SС1 = SД= 0,27132 = 0,0736 см2

Для конденсатора С2: SС2 = SД= 0,35082 = 0,12306 см2

Расcчитаем добротность Qi конденсатора по формуле:

Qi = 1/tgi,

где tgi = tgД + tgоб;

tgД = 0,3 - тангенс угла диэлектрических потерь в диэлектрике, который является постоянной справочной величиной, его значение берется из табл.1.3; tgоб - тангенс угла потерь в обкладках конденсатора, который определяется по формуле:

tgоб = 4 Ci(rв + rн)/1012,

где f = 1000 Гц - частота, на которой измеряются потери; Ci - номинал емкости конденсатора, [пФ];

rв и rн - сопротивления соответственно верхней и нижней обкладок конден­сатора, [Ом], для конденсатора квадратной формы гв= гв = рsoбкл = 0,2 Ом, значе­ние берется из табл. 1.5. Для алюминиевых обкладок:

Для конденсатора Cl: tgδo6 = 4π·103·2400(0,2+0,2)/1012 = 0,000012063,

tgδ1 = 0,3+0,000012063 = 0,300012063,

Qi= l/tgδ1 = 1/0,300012063 ≈ 3,332

Для конденсатора C2: tgδo6 = 4π·103·4800(0,2+0,2)/1012 = 0,000024127,

tgδ2 = 0,3+0,000024127 = 0,300024127,

Qi = l/tgδ2 = 1/0,300024127 ≈ 3,333

Определим общую площадь конденсаторов на подложке ИМС.

Общая площадь SCG пленочных конденсаторов на подложке рассчитывается по формуле:

где G - количество конденсаторов на подложке ИМС.

Scg = SСl+SС1+SC2 = 0,0736 + 0,0736+ 0,12306 = 0,27026 см2.

После произведенных расчетов конденсаторы, расположенные на подложке ИМС, изображены на рис. 4.3 (масштаб 20:1).

рис. 4.3

Соседние файлы в папке Курсовой - Разработка топологии и технологии изготовления бескорпусной тонкопленочной микросборки
  • #
    02.05.201429.7 Кб31Данные ИМС.xls
  • #
    02.05.2014532.48 Кб34ИМС.vsd
  • #
    02.05.20142.02 Mб78КП.doc