Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
005_Posobie_Lab_raboty_TEKST.doc
Скачиваний:
124
Добавлен:
12.03.2015
Размер:
593.92 Кб
Скачать

1. Собственное поглощение света при прямых переходах

Генерация свободных носителей заряда в полупроводнике возможна в результате какого-либо внешнего воздействия, например при поглощении оптического излучения.

Интенсивность света, распространяющегося в веществе, уменьшается согласно закону Бугера

I = I0exp(-αx),

где I0– начальная интенсивность; х – длина пути света; α – коэффициент поглощения – величина, обратная длине пути, на котором интенсивность I потока излучения уменьшается в е = 2,73 раза. Коэффициент поглощения является характеристикой среды и зависит от длины волны света. Зависимость коэффициента поглощения от энергии падающего кванта света α(hν) или длины волны света α(λ) называют спектром поглощения.

Квант или фотон оптического излучения обладает энергией Ефоти импульсомpфот

Ефот= hνфот;pфот= h/ λфот,

где νфоти λфот– частота и длина волны света соответственно. Когда энергия фотона, распространяющегося в полупроводнике ≥ ΔEg, то электрон валентной зоны может поглотить его и перейти в зону проводимости. Такое поглощение называется собственным, и при его анализе существенное значение имеет структура энергетических зон.

Для ряда полупроводников, таких как арсенид галлия GaAsили антимонид индияJnSb, вершины парабол (уравнения (В.2) и (В.3)), описывающих энергию электронов в зоне проводимости и в валентной зоне, расположены одна под другой (обычно в точке р = 0). Такие полупроводники называются прямозонными. Переходы электронов через запрещенную зону будут происходить в них прежде всего между энергетическими состояниями, близкими к максимуму валентной зоны и минимуму зоны проводимости (рис.2.1).

При поглощении фотона должны выполняться законы сохранения энергии и импульса

En =Ep+Eфон;pn=pp+pфон,

гдеEn,pnиEp,pp– энергия и импульс электрона в зоне проводимости и в валентной зоне

соответственно. Импульс электрона при 300 К pn≈ movт= 9,1·10-26кг·м/с, импульс фотона рфотпри λфот= 10-6м равен 6,6210-34/10-6= 6,62·10-28кг·м/с, т.е.pn>> рфот. Поэтому можно считать, что в прямозонных полупроводниках импульс электрона практически не изменяется иpn=pp. Такие переходы называют прямыми и изображают вертикальными стрелками (рис.2.1).

Расчет коэффициента собственного поглощения для прямых переходов приводит к соотношению для αс(в см-1)

αс≈ 2,7·105(hνфот- ΔЕg), (2.1)

где hνфоти ΔЕgвыражены в эВ. При hνфот– ΔЕg= 0,01 эВ αс≈ 104см-1и свет практически полностью поглощается на глубине 2 мкм от поверхности.

Из (2.1) следует, что для прямых переходов не должно иметь место поглощение квантов с энергией, меньшей ширины запрещенной зоны. В силу этого край собственного поглощения со стороны длинных волн или малых энергий должен быть очень резким (рис.2.2).

2. Собственное поглощение света при непрямых переходах

Если минимум энергии зоны проводимости и максимум энергии ва-ленной зоны расположены при разных значениях импульса (рис.2.3), что характерно для таких полупроводников, как германий Geили кремнийSi, то расстояние по вертикали между зонами ΔЕgo >ΔЕgТогда прямые переходы электронов происходят для фотонов с hνфот≥ ΔЕg. Величину ΔЕgo называют оптической шириной запрещенной зоны.

Помимо прямых переходов, в таких полупровордниках могут происходить непрямые переходы, показанные на рис. 2.3 стрелкой 2, они происходят с участием фононов. В этом случае законы сохранения энергии и импульса примут вид

En=Ep+ Ефот +Eфон;pn=pp+ рфот+pфон, (2.2)

В полупроводниках = hνфон= 4,45·10-15·1013= 0,045 эВ иEфон<< Ефот≈ ΔЕg, поэтомуEфонв (2.2) можно пренебречь. Импульс фонона>> рфот, так как λфот>>, и лежит в тех же пределах, что и импульс электрона, Тогда (2.2) примет вид

En=Ep+Eфот;pn=pp+pфон.

В кристалле полупроводника имеется большое число фононов с различными значениями импульса, поэтому при переходах с их участием импульс электрона может изменяться в широких пределах. Вследствие того, что вероятность протекания процессов с участием трех частиц много меньше вероятности двух частичных процессов, коэффициент поглощения в области непрямых переходов значительно ниже, чем в области прямых. Величина αсдля непрямых переходов лежит в пределах 10-1…103см-1. С понижением температуры непрямые переходы идут реже, так как падает концентрация и энергия фононов. На рис.2.4 изображена зависимость спектра поглощения для Ge. Изгиб кривой вблизи края поглощения вызван переходом от поглощения на непрямых к прямым переходам.