- •1. Уровни энергии электронов в кристалле.
- •2. Тепловая генерация электронно-дырочных пар
- •3. Энергия электронов в кристалле полупроводника
- •4. Проводимость полупроводников
- •5. Примесные полупроводники
- •6. Понятие о фононах
- •1. Концентрация носителей заряда в собственном полупроводнике
- •2. Концентрация носителей заряда
- •3. Электропроводность полупроводников
- •4. Эффект Холла
- •1. Собственное поглощение света при прямых переходах
- •2. Собственное поглощение света при непрямых переходах
- •3. Примесное поглощение света
- •4. Равновесные и неравновесные носители заряда
- •5. Механизмы рекомбинации
- •6. Поверхностная рекомбинация
- •7. Релаксация неравновесных носителей заряда
- •8. Фотопроводимость
- •1. Электронно-дырочный переход
- •2. Равновесное состояние р-n-перехода
- •3. Контактная разность потенциалов
- •4. Толщина р-n-перехода
- •5. Токи в равновесном р-n-переходе
- •8. Вольт-амперная характеристика р-n-перехода
- •9. Барьерная емкость р-n-перехода
- •10. Пробой р-n-перехода
- •1. Вырожденные полупроводники
- •2. Неравновесные носители заряда
- •3. Излучательная рекомбинация
- •4. Прямые и непрямые переходы
- •5. Поглощение и усиление света в полупроводниках
- •6. Принцип действия полупроводникового квантового генератора
- •7. Инжекционные полупроводниковый квантовый генератор
- •8. Зависимость мощности оптического
- •9.Спектр излучения
- •10. Расходимость излучения
8. Вольт-амперная характеристика р-n-перехода
Объединяя (3.11) и (3.12) с учетом того, что прямому смещению соответствует V > 0, а обратному V< 0, получим
j = js[exp(qV/kT) – 1]. (3.13)
Соотношение (3.13) представляет собой уравнение вольт-амперной характеристики (ВАХ) р-n-перехода, выражающей количественную связь между плотностью тока, текущего через переход, и внешней разностью потенциалов, приложенной к переходу.
При приложении к переходу обратного смещения exp[-(qV/kT)] → 0, а exp[-(qV/kT)] – 1 → -1. Вследствие этого плотность обратного тока jобстремится к предельному значению –q[(Ln/τn)np0+ (Lp/τp)pn0] = -js. Практически оно достигается уже при qV ≈ 4kT, т.е при V ≈ 0,1 В.
С учетом (3.1) выражение для js можно выразить в виде
js=q[(ni2Ln/ppoτn) + (ni2Lp/nnoτp)].
Видно, что jsувеличивается с уменьшением концентрации основных носителей заряда, т.е. концентрации примеси, с уменьшением ширины запрещенной зоны полупроводника и повышением температуры, так как ni~exp[-(ΔEg/2kT)]. Увеличение niс повышением температуры приводит к понижению Vkи при nno≈ppo≈niсогласно (3.3) – к исчезновению р-n-перехода. Эта температура тем выше, чем шире ΔEgполупроводника и чем сильнее он легирован примесью.
При приложении к р-n-переходу прямого смещения плотность тока через переход растет по экспоненте и уже при незначительных напряжениях достигает большой величины. На рис.3.6 показана ВАХ р-n-перехода, отвечающая уравнению (3.12) и построенная в разных масштабах для прямой и обратной ветвей, в противном случае график для jобслился бы с осью абсцисс. Так при V = -0.5 В jоб≈ js; при V = 0,5 В jпр≈ jse20. Отношениеjпр/jоб≈ 5·108, что свидетельствует о том, что р-n-переход обладает односторонней проводимостью, проявляет высокие выпрямляющие свойства.
Выпрямительные свойства р-n-перехода используются в полупроводниковых диодах, предназначенных для выпрямления переменного тока в схемах питания радиоаппаратуры, ограничения напряжения, в импульсных схемах и т.д.; р-n-переход является основой для изготовления биполярных транзисторов.
9. Барьерная емкость р-n-перехода
Электронно-дырочный переход в силу малой концентрации носителей заряда (рис.3.1.б) представляет собой высокоомную область, где к тому же имеется двойной электрический слой: электронная часть заряжена положительно, дырочная – отрицательно. Таким образом р-n-переход эквивалентен конденсатору, обкладками которого являются границы р-n-перехода, а диэлектриком – обедненная носителями область.
Так называемая барьерная емкость р-n-перехода определяется аналогично емкости плоского конденсатора, т.е. C= εεoS/d. Толщина р-n-перехода определяется соотношением (3.6). При подаче на переход напряжения изменяется высота потенциального барьера и следовательно его толщина, поэтому выражение для емкости перехода имеет вид
, (3.14)
где S – площадь границы раздела областей р- и n-типа. Видно, что увеличение обратного смещения уменьшает барьерную емкость (рис.3.7). График на рис.3.7 построен в координатах (1/С)2= f(V) и позволяет определить величину Vkперехода. Как правило, у большинства р-n-переходов одна сторона легирована примесью значительно сильнее, чем другая. Тогда (3.14), например для Nd>>Na, примет вид
.
Следовательно, зная значения C, V и S, можно определить концентрацию примеси в слаболегированной области перехода.