
- •Глава 7 полевые транзисторы
- •7.1. Общие сведения
- •7.2. Полевой транзистор с управляющим р-n-переходом
- •7.2.1. Устройство и принцип действия
- •7.2.2. Статические характеристики
- •7.3. Полевой транзистор с управляющим переходом типа металл - полупроводник
- •7.4. Идеализированная структура металл-диэлектрик - полупроводник
- •7.4.1. Общие сведения о мдп-структуре
- •7.4.2. Физические процессы в идеализированной мдп-структуре.
- •7.4.3. Особенности реальной мдп-структуры
- •7.5. Полевой транзистор с изолированным затвором
- •7.5.1. Уравнение тока стока и статические характеристики мдп-транзистора с индуцированным каналом
- •7.5.2. Мдп-транзистор со встроенным каналом
- •7.5.3. Параметры мдп-транзисторов
- •Крутизна стокозатворной характеристики
- •7.5.4. Особенности мдп-транзисторов с коротким каналом
- •7.6. Электрические модели полевых транзисторов
- •7.6.1. Статическая модель полевого транзистора с управляющим р-n-переходом
- •7.6.2. Нелинейная динамическая модель полевого транзистора с управляющим переходом
- •7.6.3. Малосигнальная модель полевого транзистора с управляющим р-n-переходом
- •7.6.4. Нелинейная динамическая модель мдп-транзистора
- •7.6.5. Малосигнальная модель мдп-транзистора
- •7.7. Шумы полевых транзисторов
- •7.7.1. Шумы полевых транзисторов с управляющим р-n-переходом
- •7.7.2. Шумы мдп-транзисторов
7.6.3. Малосигнальная модель полевого транзистора с управляющим р-n-переходом
Эта
схема для каналаn-типа
показана на рис. 7.20. Она легко получается
из нелинейной модели (для большого
сигнала). При малом сигнале диоды
заменяются дифференциальными
сопротивлениями rзи
и
rзс.
При обратном напряжении на диодах эти
сопротивления очень велики. Значения
емкостей Ссз
и
Сиз
в
этой схеме постоянны и определяются
выбранными рабочими напряжениями
Uзи
и Uси.
Зависимый генератор в случае малой
амплитуды переменного тока можно
представить как
(7.76)
где
–
комплексная (частото-зависимая) крутизна.
Объясним комплексный характер крутизны. Дело в том, что не весь входной сигнал Úзиучаствует в управлении током канала. Управление осуществляется напряжениемÚ′зи, имеющимся на емкостиСзи, т.е. между затвором и каналом. При этом
(7.77)
Если пренебречь шунтирующим действием большого сопротивления rзи (rзи >> 1/ωСзи), то
(7.78)
Поэтому на схеме для тока генератора нужно было бы записать выражение
(7.79)
Применив здесь статическую крутизну транзистора или крутизну при низких частотах (ω → 0) и подставив в (7.79) выражение для Úзи из (7.78), получим
(7.80)
т.е. выражение (7.76), где
(7.81)
Модуль крутизны
(7.82)
где характеристическая частота
(7.83)
называется предельной частотой полевого транзистора. Очевидно, что при f=fs модуль уменьшается в √2 раз от значения S.
Расчет показывает, что постоянная времени (Rи + Rk )Сзи приблизительно равна времени пролета носителей tnp в канале. Поэтому если Rи > Rk, то вместо (7.83) можно записать
(7.84)
Величина tnp может быть выражена через электрофизические параметры и напряжения [см. (7.64)]:
(7.85)
Поэтому предельная частота fs тем выше, чем меньше длина канала L, больше подвижность носителей в канале и выше напряжение между стоком и истоком.
При малых полях μ является постоянной величиной, при больших полях скорость Vy = μEy стремится к скорости насыщения, ограничивая время пролета значением
(7.86)
Проведенные рассмотрения справедливы и для ПТ с управляющим переходом типа металл-полупроводник. При использовании в нем арсенида галлия fs возрастает вследствие большей подвижности электронов по сравнению с кремнием.
7.6.4. Нелинейная динамическая модель мдп-транзистора
Динамическая модель для большого сигнала МДП-транзистора с каналом n-типа показана на рис. 7.21. Эта схема отличается от нелинейной модели для ПТ с управляющим переходом тем, что диоды присоединены не к затвору, а к подложке. Схема применима для МДП-транзисторов как с индуцированным, так и встроенным каналом.
КонденсаторыСип
и Ссп
представляют емкости исток-подложка
и сток-подложка. Подключаются они через
сопротивления подложка-исток Run
и подложка-сток Rcn,
которые могут быть при необходимости
пересчитаны в сопротивления, шунтирующие
емкости. Сопротивления Run
и
Rcn
учитывают омические сопротивления
между границей обедненного слоя на его
краях и контактом П
подложки.
О резисторах Rи и Rc говорилось ранее.
7.6.5. Малосигнальная модель мдп-транзистора
Малосигнальная
эквивалентная схема показана на
рис. 7.22. Одновременно штриховыми линиями
изображены элементы МДП-структуры, что
наглядно поясняет связь параметров
эквивалентной схемы с этими элементами.
Из четырех конденсаторов, показанных на рис. 7.22, только Сиз и Ссз непосредственно связаны с МДП-структурой. Быстродействие, определяемое перезарядом этих конденсаторов, принципиально связано со временем пролета через канал. Емкости Сиз и Ссз зависят от напряжений. Если Uси мало, то обе емкости равны друг другу (Сиз = Ссз = CokwL/2). Когда МДП-транзистор входит в режим насыщения, принимают Сиз = 2/ЗСокwL, а Ссз = 0. Еще два конденсатора включены между подложкой и истоком (Сип) и подложкой и стоком (Ссп) и отображают барьерные емкости обедненных областей соответствующих обратновключенных р-n-переходов
Генератор тока учитывает влияние переменного напряжения затвора на амплитуду переменного тока стока, а резистор rси – дифференциальное сопротивление цепи сток-исток, определяемое выражением (7.59) и (7.60).
В заключение следует заметить, что приведенные модели (эквивалентные схемы) в достаточной мере отражают устройство и принцип действия полевых транзисторов, но для высоких частот они должны быть усложнены. Однако для первого уровня расчетов на ЭВМ обычно применяют даже более простые модели.