- •Экзаменационный билет № 1
- •1. Стадии жизненного цикла радиоэлектронных устройств и микропроцессорных систем.
- •2. Индикатор тока.
- •Использование индикатора тока
- •Экзаменационный билет № 2
- •1. Сетевой график процесса проектирования мпс и место диагностики и отладки в нем.
- •2. Методика поиска неисправностей с помощью логического анализатора и генератора слов. Логические анализаторы
- •Анализаторы логических состояний
- •Генераторы слов.
- •Экзаменационный билет № 3
- •Параметры функционального использования мпс.
- •Контроль цп.
- •Экзаменационный билет № 4
- •1.Технические параметры мпс.
- •2. Функциональный контроль пзу.
- •Экзаменационный билет № 5
- •1.Параметры технической эксплуатации.
- •2. Тестовый контроль озу.
- •Экзаменационный билет № 6
- •1. Ошибки, неисправности, дефекты. Цель предварительных испытаний.
- •2.Контроль блоков питания мпс
- •Экзаменационный билет № 7
- •1.Техническая диагностика. Термины и определения.
- •2. Контроль увв
- •Экзаменационный билет № 8
- •1.Задачи и классификация систем технического диагностирования.
- •2. Внутрисхемный эмулятор.
- •Экзаменационный билет № 9
- •1.Проблемы контроля из-за двойственной природы мпс.
- •2. Логический анализатор.
- •Экзаменационный билет № 10
- •1.Общая методика поиска неисправностей в мпс.
- •Методы поиска неисправностей в электрических схемах электрооборудования кранов
- •2. Генераторы слов.
- •Экзаменационный билет № 11
- •1.Локализация отказов. Дерево поиска неисправностей.
- •Дерево поиска неисправностей (дпн).
- •2. Тестовый контроль последовательного канала связи.
- •Экзаменационный билет № 12
- •1.Метод тестирования микропроцессорной системы статическими сигналами.
- •2. Логический пульсатор.
- •Использование логического пульсатора
- •Тестирование «стимул—реакция» с помощью пульсатора и пробника
- •Экзаменационный билет № 13
- •1.Основные функции и состав отладочных средств. Основные функции средств отладки
- •Состав отладочных средств
- •2. Функциональный контроль параллельного канала связи.
- •Экзаменационный билет № 14
- •1.Тестирование нагрузками.
- •2. Контроль схем сброса.
- •Экзаменационный билет № 15
- •1.Сигнатурный анализатор и его применение.
- •2. Автоматизация программирования мпс.
- •Экзаменационный билет № 16
- •1.Методика поиска дефектов с помощью системы поэлементного контроля на базе сигнатурного анализатора.
- •2. Контроль системной магистрали мпс.
- •Экзаменационный билет № 17
- •1.Эмулятор микропроцессора.
- •2. Контроль систем прерывания.
- •Экзаменационный билет № 18
- •1.Ручные инструментальный средства. Номенклатура, характеристики.
- •2. Эмулятор пзу. Экзаменационный билет № 19
- •1.Классификация комплексов средств отладки.
- •2. Методика поиска дефектов в шинах питания.
- •2. Тестовый контроль клавиатуры. Экзаменационный билет № 22
- •1.Оценочные комплексы.
- •2. Контроль системного ядра мпс.
- •Экзаменационный билет № 23
- •1.Отладочные комплексы.
- •2. Контроль системы синхронизации.
- •Экзаменационный билет № 24
- •1.Комплексы развития.
- •2. Логический пробник.
2. Генераторы слов.
Генераторы слов – приборы, предназначенные для формирования и подачи входных воздействий на диагностируемую цифровую систему.
Генераторы слов характеризуются:
числом каналов – от2 до 80 (2,8,16,32,64,80)
ёмкостью памяти – от 16 до 2К
частотой подачи воздействий (тактовая частота) – max 50 МГц
способом подачи данных и формирование входных воздействий – генератор последовательных кодов, генератор параллельных кодов.
Др – драйвер выводных сигналов – управляемые источники И
УУВ – устройство управления вводом.
Последовательность входных воздействий, которые необходимо подать на диагностируемую систему, записывается в ЗУ из µ-ЭВМ или с пульта оператора. Устанавливается частота тактирования, с которой входные наборы будут подаваться в диагностируемую систему. Уровни логических "0" и "1" обеспечиваются драйверами. Задается режим цикличности подачи воздействий (один, n – циклов, непрерывный). Сигнал запуска подается либо от µ-ЭВМ, либо от пульта оператора, либо внешний.
По способу реализации устройства управления подразделяются на :
с буферной памятью – данные из ЗУ считываться последовательно
с управляющей памятью – в ЗУ считываются одновременно команды и данные, команды задают действия с данными
с алгоритмическим генерированием последовательностей (на базе микропрограммируемого МП).
В МПС применяются синхронные и асинхронные магистральные сигналы. Для их обеспечения в генератор слов включаются команды, которые позволяют считывать данные из памяти либо при поступлении сигнала внутреннего генератора, либо из вне от объекта контроля. Следовательно, тестовый набор может зависеть как от запрограммированного алгоритма, так и от реакции объекта на входную последовательность.
Экзаменационный билет № 11
1.Локализация отказов. Дерево поиска неисправностей.
Локализация отказов ( без КПА, метод произвольной логики).
Для выявления дефекта (причины отказа, неисправности) необходимо локализовать неисправность с точностью до конкретного узла системы. Поиск идет «сверху вниз», где вначале имеется неисправная система и она расчленяется на подсистемы, в одной из которых находится отказ. В зависимости от МПС для локализации отказа может потребоваться разделить каждую подсистему на меньшие подсистемы, Очевидно, что способ локализации отказа зависит от конструкции системы.
Контроллеры УВВ и периферийные аналоговые схемы часто имеют большую интенсивность отказов, чем цифровые схемы МПС. Объясняется это более высокими требованиями по быстродействию и рассеиваемой мощности, более высокими рабочими температурами, чувствительностью, точностью, временным и температурным дрейфом регулировок, внешними перегрузками и меньшими диапазонами безопасной работы. Сложные аналоговые микросхемы с высокой плотностью упаковки, используемые в интерфейсе микрокомпьютера, часто работают вблизи предельных значений параметров для достижения максимальной производительности.
Для проверки цифровой части системы при подозрении в отказе нужно:
проверить наличие сигналов синхронизации
проверить сигналы в магистрали
Отсутствие активности свидетельствует о возможном отказе.
Типичный отказ в цифровой ИС – разрыв во входном или выходном выводе. Когда подозревается такой отказ, целесообразно изолировать вывод от остальных схем. Быстрый и не разрушающий способ изолирования заключается в том, чтобы отсосать припой из отверстия, в котором находится вывод, с помощью специального приспособления. После этого вывод, отгибается в центр отверстия, чтобы он нигде не касался медного проводника. Конечно, эта процедура довольно затруднительна, но вывод можно просто вытащить из отверстия. После этого вывод следует проверить на наличие сигналов; при подозрительном выходном выводе рекомендуется закорачивать его площадку на печатной плате на напряжение питания Vcc или на землю и проверять схемы в тракте распространения сигнала.
Если некоторые модули (платы) можно удалить с сохранением работоспособности базовой системы, то этой процедурой можно воспользоваться для контроля функционирования узлов МПС. В системе может быть предусмотрен режим свободного счета, позволяющий проверить работу ядра системы по активности шины адреса и работу ПЗУ.
Плату удлинителя с переключателями на сигнальных линиях и шинах можно использовать для разрыва выбранных сигнальных трактов между отдельным модулем (или платой) и МПС → для устранения трактов обратной связи и «зависших шин». Еще более простой способ разрыва сигнальных трактов, проходящих через краевой разъем, заключается в том, чтобы поместить в нужные контакты разъема кусочек изолирующей ленты.
Отыскивать неисправности в петлях цифровой обратной связи довольно трудно, так как ошибки распространяются по этим петлям. В петле обратной связи с неправильным выходным сигналом он посылается на вход, что в свою очередь приводит к получению неверного сигнала на выходе. Разрыв тракта обратной связи предотвращает такое действие, и, следовательно, при задании управляемых сигналов на входах можно проследить их прохождение со входа на выход. Однако зачастую не так легко обеспечить подачу требуемых входных сигналов, так как при этом требуется одновременно управлять большим числом линий, связанных с проверяемым входом.
Иногда микросхемы удается динамически проверить на месте с помощью цифрового компаратора. Прибор подключается к подозреваемой микросхеме, и в него вставляется заведомо исправная микросхема, аналогичная проверяемой. После этого компаратор сравнивает работу двух микросхем и индицирует несовпадение сигналов. Цифровой компаратор позволяет проверить большинство ТТЛ-микросхем в рабочих условиях, но, конечно, для каждой используемой микросхемы требуется аналогичная запасная.
Методы и средства поиска неисправностей, применяемые в изделиях, реализованных на основе так называемой «произвольной логики», малоэффективны для микропроцессорных систем, так как для получения содержательной информации о работе компьютера необходимо одновременно анализировать большое число сигналов. Для эффективного сокращения времени на локализацию и устранение отказа в систему встраиваются такие средства, как схемы контроля питания, диагностические программы, индикаторы правильного функционирования системы и сигнатурный анализ.
Если схемные платы в системе можно легко удалять и заменять на заведомо исправные, следует воспользоваться этой возможностью и изолировать отказ до одной схемной платы. Когда в системе применяются несколько идентичных схемных плат, например платы памяти в системе с шиной S100, то для проверки можно поменять их друг с другом. Конечно, здесь имеется риск повредить исправную плату, если отказ является следствием, а не причиной. При этом в заменяющей плате возникают те же проблемы, что и в первой, дефектной плате. Во всех случаях замену плат необходимо проводить с выключенным питанием, чтобы избежать повреждений микросхем из-за электрических перегрузок.
При наличии идентичной системы для локализации отказа производится функциональное сравнение. Оно полезно в том случае, когда неясно, существует ли отказ, — на самом деле это может быть особенность производства или конструктивное ограничение.
Если подозрение падает на микросхему в панельке, попробуйте до замены покачать ее, чтобы устранить плохие контакты. Последней подозреваемой микросхемой является микропроцессор, но часто именно его стараются заменить прежде всего. Интенсивность отказов микропроцессоров очень низка; однако они являются сложными приборами, и проверить их работу затруднительно. Такая же ситуация характерна для всех БИС, применяемых в микропроцессорных системах. В случае опытного образца или новой модели микросхемы может возникнуть явление, называемое «нехарактерным поведением», — микросхема, имеющая параметры, близкие к предельным, случайно выходит за пределы и начинает работать хаотически. Отказ такого типа очень трудно локализовать, так как он возникает только в определенных ситуациях и даже не всегда.