14. Интерференция света в тонких плёнках (вывод формулы).

– разность хода, между двумя интерферирующими лучами от О до АВ.

– закон преломления ( ).

– при потере полуволны для оптической разности хода.

, (m=1,2,3…)в точке P – интерференционный max.

,(m=1,2,3…)в точке P – интерференционный min.

15. Кольца ньютона. Полосы равного наклона . Полосы равной толщины       

      Ко́льца Нью́тона — кольцеобразные интерференционные максимумы и минимумы, появляющиеся вокруг точки касания слегка изогнутой выпуклой линзы и плоскопараллельной пластины при прохождении света сквозь линзу и пластину.

Полосы равного наклона       

система чередующихся светлых и тёмных полос, наблюдаемая на экране при освещении прозрачного слоя п о с т о я н н о й т о л щ и н ы (плоскопараллельной пластинки) непараллельным пучком монохроматич. излучения. Каждая полоса создаётся лучами света S и S1 (рис.), падающими на поверхность слоя под одним и тем же углом (р. Появление П. р. н. обусловлено интерференцией света, отражённого «т передней и задней границы пластинки. П. р. н. локализованы в бесконечности и для их наблюдения интерферирующие лучи собирают с помощью линзы L на экран Э или фотопластинку.

Полосы равной толщины       

один из эффектов оптики тонких слоев; в отличие от полос равного наклона наблюдаются непосредственно на п о в е р х н о с т и прозрачного слоя п е р е м е н н о й то л щ и н ы. П. р. т. обусловлены интерференцией света, отражённого от передней и задней границы слоя. При этом максимумы и минимумы освещённости полос совпадают с линиями на поверхности слоя, по к-рым разность хода интерферирующих лучей одинакова и равна целому числу l/2. П. р. т. обусловливают радужную окраску тонких плёнок (мыльных пузырей, масляных и бензиновых пятен); их используют для определения микрорельефа тонких пластинок и плёнок.

16 Применение интерференции. Просветление оптики. Измерение чистоты оптики.

Явление интерференции широко используют для создания различных измерительных и контролирующих устройств.

Существуют специальные приборы — интерферометры, действие которых основано на явлении интерференции. Их назначение — точное измерение длин волн, показателей преломления, коэффициентов линейного расширения и др.

 Используя явление интерференции, можно оценить качество обработки  поверхности изделия с точностью до 10^-6 см

Просветление оптики

Просветление оптики, то есть создание покрытий на поверхности оптических деталей, в первую очередь линз, является одним из простейших и наиболее распространенных применений интерференции света. На поверхности линзы создаётся специальное покрытие.

Измерение чистоты оптики

Для измерения чистоты поверхности оптики существует множество методов, которые можно условно разделить на аналитические методы и методы экспресс-измерений. Первые позволяют получать информацию о чистоте поверхности, отличающуюся достоверностью и полным соответствием измеряемым величинам. Для измерения в таких методах используются растровые, туннельные микроскопы, спектрофотометры, профилометры и т.д. Серьёзным недостатком таких методов является высокая стоимость, энергоёмкость и низкая производительность. Методы экспресс-контроля чистоты поверхности позволяют проводить измерения гораздо быстрее аналитических и предъявляют менее строгие требования к чистоте технологического помещения, в котором проводятся измерения