- •1.Классификация современных методов анализа. Краткая характеристика спектроскопических, дифракционных методов и методой анализа поверхности.
- •2.Измерения и обработка результатов при анализе веществ.
- •3.Основные понятия атомно- эмиссионной спектроскопии. Краткие теоретические основы эмиссионного спектрального анализа.
- •4.Характеристика способов атомизации материалов при проведении атомно-эмиссионного спектрального анализа.
- •5.Способы и устройства для регистрации излучения в атомно-эмиссионном спектральном анализе.
- •6.Способы и устройства для разложения электромагнитного излучения в спектр в видимом и уф диапазоне.
- •7.Качественный атомно-эмиссионого спектрального анализ.
- •8.Количественный атомно-эмиссионного спектрального анализ
- •9.Аналитические характеристики атомно- эмиссионного спектрального анализа.
- •10.Основные факторы влияющие на достоверность результатов атомно-эмиссионного спектрального анализа.
- •11.Общая характеристика ик и кр годометодов колебательной спектроскопии
- •12.Теоретические основы колебательных спектров молекул.
- •13.Объединенный закон поглощения Бугера - Ламберта - Бера. Метод базовой линии.
- •14.Приборы и экспериментальная техника ик спектроскопии. Схема и принцип работы двухлучевого ик спектрометра с последовательным сканированием и регистрацией спектра.
- •15.Приборы и экспериментальная техника спектроскопии. Фурье ик спектрометр.
- •16.Методика подготовки образцов в ик спектроскопии.
- •17.Понятие о кр спектроскопии. Эффект комбинационного рассеяния света.
- •18.Приборы и методики кр -спектроскопии.
- •20.Основные практические задачи решаемые ик и кр спектроскопией вмс.
- •21.Природа рентгеновского излучения. Рентгеновская трубка.
- •22.Диспергирующие устройства и детекторы рентгеновского излучения.
- •23.Рентгенооптические схемы спектрометров.
- •24.Рентгеноспектральный микроанализ с использованием растрового электронного микроскопа.
- •25.Рентгеновский флуоресцентный анализ
- •26.Растровая электронная микроскопия (рэм). Эффекты, возникающие при взаимодействии электронов с веществом.
- •27.Устройство электронных микроскопов, принцип работы, аналитические характеристики
- •28.Теоретические основы возникновения топографического и элементного контраста.
- •29.Формирование изображения поверхности с использованием вторичных и отраженных электронов.
- •30. Основные физические принципы сканирующей зондовой микроскопии.
- •31. Принцип действия и устройство зондовых микроскопов.
- •32. Основные аналитические характеристики сканирующей атомно-силовой микроскопии.
18.Приборы и методики кр -спектроскопии.
Блок схема КР-спктрометра
1-лазер; 2-зеркало; 3-образец; 4-входная щель монохроматора; 5-линза; 6-дифракц-я решетка; 7-выходная щель монохроматора ;8-ФЭУ; 9-ЭВМ; 10-объектив
19.Сравнение методов КР и Ик- спектроскопии.
|
КР |
ИК |
Кюветы |
Очень простые(стеклянные) |
Сложные |
Микрообразцы |
Легко исслед-ся |
Легко исслед-ся |
Исследование при высоких и низких темпер-х |
Достаточно просты |
Достаточно просты |
Характеристики образцов |
||
Неприемлемые типы образцов |
Цвет, флюресценция |
Ме, водные растворы, монокристаллы |
Трудности при приготовлении образцов: Жидкости Порошки Монокристаллы Полимеры Отдельные волокна Газы и пары |
Почти отсутствуют -||- -||- -||- Возможны Возможны |
Почти отсутствуют Существуют Большие Существуют Существуют Почти отсутствуют |
Применение в различных областях |
КР |
ИК |
Получение отпечатков пальцев |
Превосходное |
Превосходное |
Лучше всего проявляющ-ся колебания |
симметричные |
антисимметричные |
Исследование водных растворов |
Очень легкое |
Очень легкое |
Проведение кол-го анализа |
простое |
простое |
20.Основные практические задачи решаемые ик и кр спектроскопией вмс.
1) идентификация; 2) определение молекулярной неоднородности полимеров(разветвленность и опред-е молек. массы, группы с ненасыщенными связями, кислородосодержащие группы); 3) анализ сополимеров(определ-е сос-ва, последов-ти расположения мономерных звеньев, констант сополимеризации); 4) анализ модифицирующих добавок в полим-х мат-х (пластификаторы, стабилизаторы, неорганич-е наполнители); 5) опред-е кач-ва сырья и чистоты полимеров. Анализ примесей; 6) изучение химич-х реакций(полимеризации, поликонденсации, деструкции, структурирование).
21.Природа рентгеновского излучения. Рентгеновская трубка.
Рентген излучение возникает в результате перестройки электронной оболочки при удалении электрона при ее удалении из внутренне части, при этом испускании кванта энергии равно разности энергии оболачек между которыми происходит переход. Спектор линейчатый. спектор зависит от порядкового номера элемента.Любой химический элемент имеет свой набор рентгеновского спектра.
Вакуумный баллон с массивной металлической мишенью является анодом, а вольфрамовая спираль – катодом. Между катодом и анодом прикладывается разность потенциалов. Она может доходить до 100кВ. Катод нагревается проходящим электрическим током и при взаимодействии электронов с анодом и их торможении возникает рентгеновское излучение, которое выводится через специальное окно 3. Анод чаще охлаждается.