Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Лабораторная работа №12

.DOC
Скачиваний:
169
Добавлен:
01.05.2014
Размер:
1.09 Mб
Скачать

8

ГОСКОМВУЗ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ

СПбГЭТУ

КАФЕДРА ТОЭ

Электромагнитное экранирование.

Отчет по лабораторной работе №12

Студент гр.4221 Шамин Д. А.

Преподаватель Морозов В. В.

1996

Электромагнитное экранирование.

Цель работы: исследование экранирующего действия проводящих коротких тонкостенных цилиндров и прямоугольных пластин в переменном электромагнитном поле.

Основные теоретические положения.

Экранирование электромагнитного поля открытыми проводящими оболочками возможно за счет индуцирования в них токов, создающих в них встречные компенсирующие поля.

На основании закона электромагнитной индукции электродвижущая сила, наводимая в проводящем контуре, равна скорости изменения магнитного потока, пронизывающего этот контур: e = - d Ф / d t , где e — ЭДС, наводимая в контуре; Ф — магнитный поток, проходящий через поверхность, опирающуюся на этот контур.

Знак “минус” в правой части уравнения показывает, что возникающая в контуре ЭДС вызывает в нем ток такого направления, при котором создаваемый им вокруг контура вторичный магнитный поток препятствует изменению первичного магнитного поля. В результате внутри контура внешний первичный магнитный поток ослабляется встречным вторичным магнитным потоком. Ослабление поля зависит от сопротивления контура. В разомкнутом контуре ток и, следовательно, ослабление отсутствуют. На высоких частотах сопротивление проводящего замкнутого контура практически равно его реактивной части, т.е. индуктивному сопротивлению, пропорциональному частоте. С ростом частоты увеличивается сопротивление контура, но пропорционально частоте увеличивается и величина ЭДС. Поэтому на высоких частотах ослабление поля слабо зависит от частоты.

Коэффициент экранирования S определяется как отношение напряженности Hi магнитного поля внутри экрана к напряженности H0 внешнего магнитного поля: S = Hi /H0 . На высоких частотах коэффициент S стремится к нулю. В этом случае встречный магнитный поток внутри экрана полностью компенсирует внешний первичный магнитный поток.

С уменьшением частоты внешнего электромагнитного поля реактивное индуктивное сопротивление контура становится соизмеримым с активной составляющей сопротивления, определяемой тепловыми потерями в контуре. В результате ЭДС уменьшается быстрее, чем сопротивление контура, вихревые токи и, следовательно, встречный магнитный поток ослабляются, а коэффициент экранирования стремится к единице.

Качественная зависимость модуля коэффициента экранирования от частоты — амплитудно-частотная характеристика — приведена на рис. 1, а картины магнитных полей исследуемых в работе экранов — на рис. 2.

Экспериментальная установка.

В работе исследуется экранирующее действие не замкнутого на торцах латунного цилиндра, такого же цилиндра с продольным разрезом и 2х параллельных прямоугольных пластин.

Однородное магнитное поле в ограниченной области пространства создается двумя коаксиальными плоскими катушками Гельмгольца, расположенными на расстоянии, равном радиусу, при одинаковом направлении токов в их обмотках (рис. 3).

Напряженность магнитного поля в центре данного устройства H0 = 0.7 I n / r0 , где I — действующее значение тока; n = 10 — число витков катушки; r0 =0.15 м — средний радиус обмотки. В области x=y=z=r0/3 поле можно считать однородным, совпадающим с H0 с точностью до 1.5 %.

Последовательно соединенные катушки Гельмгольца подключены к генератору (рис. 4). Экраны, укрепленные на специальных стержневых подставках, вносятся в область однородного магнитного поля. При этом отдельно исследуются два режима, когда вектор H0 параллелен стенкам экрана (продольное поле) и перпендикулярен им (поперечное поле).

Для измерения напряженности магнитного поля используются две миниатюрные плоские катушки К1 и К , расположенные во взаимно перпендикулярных плоскостях. Катушки вмонтированы в цилиндрический держатель из оргстекла. На его корпусе нанесена шкала, позволяющая определять расстояние от точки О (центр экрана) до точки наблюдения. Катушка К1 измеряет составляющую вектора напряженности магнитного поля, направленную параллельно оси цилиндрического держателя, катушка К2 — вдоль его радиуса.

Индуцированные в измерительных катушках напряжения регистрируются микроселективным вольтметром. На его входном зажиме размещена плата П с двумя выводами для последовательного подключения катушек К1 и К2. При измерении магнитного поля с помощью катушки К2 необходимо держатель повернуть так, чтобы показания индикатора микроселективного вольтметра были максимальными.

Экспериментальные данные.

N=20, a1=130 A/м В , a2=220 А/м В, С=1220 пФ, f=100 кГц. При простом диэлектрике поле однородно.

Цилиндр

0

z

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

U (z) ,mV

1,9

3,3

8,9

22

41

53

59

62

63

63

60

90

y

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

U (y) ,mV

1,9

2,3

2,7

3,8

3,5

1,6

2

2

1,5

1,3

1

Распиленный цилиндр

0

z

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

U (z) ,mV

70

70

69

69

69

69

68

68

68

64

62

90

y

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

U (y) ,mV

1,3

1,1

1

1,4

1,8

1,8

1,4

1

1,3

1,3

1

Параллельные пластины

0

z

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

U (z) ,mV

71

70

70

70

69

68

68

67

65

64

61

90

y

0

1

2

3

4

5

6

7

8

9

10

U (y) ,mV

1

0,7

0,8

0,9

1,8

2

2,8

3

3,8

3,5

4

Определение АЧХ

f ,кГц

100

50

30

20

10

2

U (z) ,мкВ

1,80E+03

100

37

100

10

2

z=7

f ,кГц

100

50

30

20

10

2

U (z), мкВ

60000

2000

400

2600

36

2,5

f ,кГц

50

22,5

20

8,6

2

U ,mV

8

6,4

8,4

1,3

2

U ,mV

0,71

0,96

1,7

0,55

1,8

/S/

0,08875

0,15

0,2

0,42

0,9

Выводы

В данной работе мы исследовали экранирующие действия проводящих коротких тонкостенных цилиндров и прямоугольных пластин в переменном электромагнитном поле. Мы убедились, что экранирование электромагнитного поля открытыми проводящими оболочками возможно за счет индуцирования в них токов, создающих в них встречные компенсирующие поля. Экспериментально полученные данные подтвердили теоретические выводы о том, что на высоких частотах коэффициент экранирования стремится к нулю, а на низких к единице. Это объясняется тем, что на высоких частотах встречный магнитный поток внутри экрана полностью компенсирует внешний первичный магнитный поток, а на низких реактивное индуктивное сопротивление контура становится соизмеримым с активной составляющей сопротивления, определяемой тепловыми потерями в контуре. В результате ЭДС уменьшается быстрее, чем сопротивление контура, вихревые токи и, следовательно, встречный магнитный поток ослабляются.

Соседние файлы в предмете Теория электромагнитного поля