- •Введение
- •1 Теоретическая часть
- •1.1 Принцип действия сканирующего туннельного микроскопа
- •1.2 Классификация сканирующего туннельного микроскопа
- •1.2.1 Стм, работающий на воздухе
- •1.2.2 Cверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп gpi 300
- •1.2.3 Сверхвысоковакуумный низкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп gpi cryo
- •1.3 Схема работы сканирующего туннельного микроскопа
- •1.4. Программное обеспечение стм
- •2 Экспериментальная часть
- •2.1 Технические характеристики стм
- •2.2 Требования к объектам исследования Сканирующей туннельной микроскопии
- •2.3 Область применения сканирующей туннельной микроскопии
- •Заключение
- •Список используемых источников
Заключение
Изучили принцип действия, область применения, классификацию и схему работы сканирующей туннельной микроскопии. С момента своего изобретения СТМ широко используется учеными самых разных специальностей, охватывающих практически все естественнонаучные дисциплины, начиная от фундаментальных исследований в области физики, химии, биологии и до конкретных технологических приложений. Принцип действия СТМ настолько прост, а потенциальные возможности так велики, что невозможно предсказать его воздействие на науку и технику даже ближайшего будущего.
Как оказалось в дальнейшем, практически любые взаимодействия острийного зонда с поверхностью (механические, магнитные ...) могут быть преобразованы с помощью соответствующих приборов и компьютерных программ в изображение поверхности. В настоящее время существует уже целое семейство так называемых сканирующих зондовых микроскопов: атомно-силовой, магнитный силовой, ближнего поля - основные характеристики которых (в первую очередь разрешающая способность) вплотную приблизились к характеристикам СТМ. Например, атомно-силовой микроскоп не требует, чтобы образцы были проводящими, и позволяет при этом исследовать структурные и упругие свойства проводников и изоляторов, а также комбинацию изображений электронных и упругих свойств мягких материалов.
Список используемых источников
1.Р. З. Бахтизин. Сканирующая туннельная микроскопия - новый метод
изучения поверхности твердых тел [Электронный ресурс]/ Р.З.Бахтизин.– Режим доступа:
http://geo.web.ru:8101/db/msg.html?mid=1163636&uri=page2.html – (дата обращения: 24.05.2012г.)
2. А.И.Юсипович, С.Ю.Васильев. Вольт-высотная спектроскопия в конфигурации ex situ сканирующего туннельного микроскопа [Электронный ресурс] / А.И.Юсипович, С.Ю.Васильев. - Режим доступа: http://www.elch.chem.msu.ru/article/stm5/stm5.htm -(дата обращения: 24.05.2012г.)
3. Российская национальная нанотехнологическая сеть. Инструменты нанотехнологий [Электронный ресурс]/ GPI 300. Cверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп - Режим доступа: http://www.rusnanonet.ru/equipment/gpi_300/ - (дата обращения: 24.05.2012г.)
4. Центр естественно-научных исследований [Электронный ресурс]/ Сверхвысоковакуумный низкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп GPI CRYO - Режим доступа: http://www.nsc.gpi.ru/DTMAS/SPMLab/CRYO.html - (дата обращения: 24.05.2012г.)
5.Сканирующая туннельная микроскопия. Аппаратура, принцип работы, применение. Учебное пособие [Электронный ресурс]/ Сканирующая туннельная микроскопия - Режим доступа: http://lab.bmstu.ru/stm/index.html -(дата обращения: 24.05.2012г.)