Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
дмитриева курсовая рабта.docx
Скачиваний:
9
Добавлен:
17.09.2019
Размер:
259.78 Кб
Скачать

Заключение

Изучили принцип действия, область применения, классификацию и схему работы сканирующей туннельной микроскопии. С момента своего изобретения СТМ широко используется учеными самых разных специальностей, охватывающих практически все естественнонаучные дисциплины, начиная от фундаментальных исследований в области физики, химии, биологии и до конкретных технологических приложений. Принцип действия СТМ настолько прост, а потенциальные возможности так велики, что невозможно предсказать его воздействие на науку и технику даже ближайшего будущего.

Как оказалось в дальнейшем, практически любые взаимодействия острийного зонда с поверхностью (механические, магнитные ...) могут быть преобразованы с помощью соответствующих приборов и компьютерных программ в изображение поверхности. В настоящее время существует уже целое семейство так называемых сканирующих зондовых микроскопов: атомно-силовой, магнитный силовой, ближнего поля - основные характеристики которых (в первую очередь разрешающая способность) вплотную приблизились к характеристикам СТМ. Например, атомно-силовой микроскоп не требует, чтобы образцы были проводящими, и позволяет при этом исследовать структурные и упругие свойства проводников и изоляторов, а также комбинацию изображений электронных и упругих свойств мягких материалов.

Список используемых источников

1.Р. З. Бахтизин. Сканирующая туннельная микроскопия - новый метод

изучения поверхности твердых тел [Электронный ресурс]/ Р.З.Бахтизин.– Режим доступа:

http://geo.web.ru:8101/db/msg.html?mid=1163636&uri=page2.html – (дата обращения: 24.05.2012г.)

2. А.И.Юсипович, С.Ю.Васильев. Вольт-высотная спектроскопия в конфигурации ex situ сканирующего туннельного микроскопа [Электронный ресурс] / А.И.Юсипович, С.Ю.Васильев. - Режим доступа: http://www.elch.chem.msu.ru/article/stm5/stm5.htm -(дата обращения: 24.05.2012г.)

3. Российская национальная нанотехнологическая сеть. Инструменты нанотехнологий [Электронный ресурс]/ GPI 300. Cверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп - Режим доступа: http://www.rusnanonet.ru/equipment/gpi_300/ - (дата обращения: 24.05.2012г.)

4. Центр естественно-научных исследований [Электронный ресурс]/ Сверхвысоковакуумный низкотемпературный сканирующий туннельный микроскоп GPI CRYO - Режим доступа: http://www.nsc.gpi.ru/DTMAS/SPMLab/CRYO.html - (дата обращения: 24.05.2012г.)

5.Сканирующая туннельная микроскопия. Аппаратура, принцип работы, применение. Учебное пособие [Электронный ресурс]/ Сканирующая туннельная микроскопия - Режим доступа: http://lab.bmstu.ru/stm/index.html -(дата обращения: 24.05.2012г.)

26

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]