
- •1.Общие понятия об оптических м-дах
- •2.Понятие м-да и м-дики анализа. Характеристики м-дики.
- •3.4.Физ. Основы рефрактометрического м-да. Коэффициент преломления.
- •5. Дисперсия показателя преломления. Зависимость показателей преломления от температуры, давления. Мольная рефракция.
- •6. Принцип действия рефрактометра Аббе.
- •7. Принцип действия рефрактометра Пульфриха.
- •8. Применение рефрактометрии для идентификации в-ва и контроля качества.
- •9. Физ. Основы поляриметрического м-да.
- •10.11. Типы оптической активности.
- •12. Зависимость угла вращения пл-сти поляризации от строения в-ва
- •13. Спекрополяриметрический м-д.
- •14. Принцип действия кругового поляриметра. Схема прибора.
- •15. Устройство клиновых поляриметров.
- •16. Применение поляриметрии и спектрополяриметрии.
- •17. Физ. Основы нефелометрии и турбидиметрии. Рассеяние и поглощение света.
- •18. Основные требования к химическим реакциям и условия их проведения.
- •19. Приборы нефелометрического анализа.
- •20. Применение нефелометрии и турбидиметрии.
- •21. Основные характеристики электромагнитного излучения. Классификация м-дов спектрального анализа.
- •22.Физ. Основы спектрального анализа.
- •23. Схемы энергетических переходов в атомных спектрах.
- •24. Схемы энергетических переходов в молекулярных спектрах.
- •25. Блок-схема и функции основных узлов атомно-эмиссионного спектрометра. Основные характеристики атомно-эмиссионных спектрометров.
- •28. Типы детекторов атомно-эмиссионных спектрометров. Принцип их действия.
- •29.Основные характеристики атомно-эмиссионных спектрометров.
- •31. Структура таблиц характеристических спектров элементов и атласов спектров.
- •30. Основы качественного атомно-эмиссионного анализа. Определение длин волн характеристических спектральных линий элементов.
5. Дисперсия показателя преломления. Зависимость показателей преломления от температуры, давления. Мольная рефракция.
ЭМ теория Максвелла для прозрачных сред связывает показатель преломления n и диэлектрич постоянную ур-ем: =n2 (1)
Поляризации Р молекулы связана е диэлектрич проницаемостью среды:
Р = Рдеф +Рор = (-1)/( + 2) (М /d) = 4/3 NA, (2)
где Рдеф – деформац-ая поляризация; Рор–ориентац-ая поляризация; М- молек-ая масса в-ва; d-плотность в-ва; NA-число Авагадро; -поляриз-сть мол-лы.
Подставив в уравнение (2) n2 вместо и эл, вместо , получим (n2 - 1)/ (n2 + 2) (М /d) = 4/3 NAэл =Рэл = RM (3)
Эту ф-лу наз-ют ф-лой Лорентца-Лоренца, величина RM в ней - мольная рефракция. Из этой ф-лы следует, что величина RM, определяемая ч-з показатель преломления в-ва, служит мерой электронной поляризации его молекул. В физ-хим-их исследов-ях пользуются также удельной рефракцией:
г = RM / М = (n21)/ (n2 + 2) (1/d) (4)
Мольная рефракция имеет размерность объема, отнесенного к 1 моль в-ва (см3/моль), уд рефракция - размерность объема, отнесенного к 1 гр (см3 /г).
Приближенно рассматривая молекулу как сферу радиуса гм с проводящей поверхностью, показано, что эл = г M3. В этом случае
RM = 4/3 NA г3 (5)
т.е. мольная рефракция равна собственному объему молекул 1 моля в-ва.
Для неполярных веществ RM=P, для полярных RM меньше Р на величину ориентационной поляризации.
Как следует из уравнения (3), величина мольной рефракции определяется только поляризуемостью и не зависит от температуры и агрегатного состояния вещества, т.е. является характеристической константой вещества.
Рефракция - это мера поляризуемости молекулярной электронной оболочки. Электронная оболочка молекулы слагается из оболочек атомов, образующих данную молекулу. Поэтому, если приписать определенные значения рефракции отдельным атомам или ионам, то рефракция молекулы будет равна сумме рефракций ат и ионов. Рассчитывая рефракцию молекулы через рефракции составляющих ее ч-ц, необходимо учитывать валентные сост-ия атомов, особ-сти их расположения, для чего вводят особые слагаемые - инкременты кратных (двойной и тройной углерод-углеродной) и других связей, а также поправки на особое полож-е отд-ых атомов и групп в мол-ле:
Rm= Ra+Ri, (6)
где RA и Ri - атомные рефракции и инкременты кратных связей соответственно, которые приведены в справочниках.
Ур-ие (6) выражает пр-ло аддитивности мольной рефракции. Физически более обоснован способ расчета мольной рефракции как суммы рефракций не атомов, а связей (С-Н, О-Н, N-H и т.п.), поскольку светом поляризуются именно валентные электроны, образующие химическую связь.
Мольную рефракцию соединений, постр-ых из ионов, расс-ют как сумму ионных рефракций. Пр-ло адд-сти (6) м.б использовано для установления стр-ия мол-л: сравнивают Rm, найденную из данных опыта по ур-ию (3), с рассчитанной по ур-ию (6) для предполагаемой стр-ры мол-лы.
В ряде случаев наблюдается т.н. экзальтация рефракции, состоящая в значительном превышении экспериментального значения RM no сравнению с вычисленным по уравнению (6). Экзальтация рефракции указывает на наличие в молекуле сопряженных кратных связей. Экзальтация рефракция в молекулах с такими связями обусловлена тем, что -электроны в них принадлежат всем атомам, образующим систему сопряжения и могут свободно перемещаться вдоль этой системы, т.е. обладают высокой подвижностью и, следовательно, повышенной поляризуемостью в электромагнитном поле.
Аддитивность имеет место и для рефракции жидких смесей и р-ров - рефракция смеси равна сумме рефракций компонентов, отнесенных к их долям в смеси. Для мольной рефракции бинарной смеси в соответствии с правилом аддитивности можно записать:
R=N1 R1+(1 N1)R2, (7)
для удельной рефракции
r = f1 r1 + (lf1)r2 (8)
где N1 и f1 — мольная и весовая доли первого компонента.
Эти формулы можно использовать для определения состава смесей и рефракции компонентов. Кроме химического строения вещества, величину его показателя преломления определяет длина волны падающего света и температура измерения. Как правило, с увеличением длины волны показатель преломления уменьшается, но для некоторых кристаллических веществ наблюдается аномальный ход этой зависимости. Чаще всего показали, преломления определяют для длин волн ( желтая линия Na-линия D-589нм, красная линия водорода-линия С-656нм, синяя линия водорода-линия F-486нм).
Зависимость рефракции или показателя преломлении света от длины волны называется дисперсией. Мерой дисперсии может являться разность между значениями показателей преломления, измеренными при различных длинах волн, т.н. средняя дисперсия. Мерой дисперсии служит также безразмерная величина-относительная дисперсия:
F,C,D =(nf – nC)/(nD-l)]103 (9)
где nf , nC, nD - показатели преломления, измеренные для линий F и С водорода и D-линии натрия. Относительная дисперсия F,C,D очень чувствительна к присутствию и положению в молекуле двойных связей.
Величина показателя преломления вещества зависит также от температуры измерения. При понижении температуры вещество становится более оптически плотным, т.е. показатель преломления увеличивается. Поэтому при проведении рефрактометрических измерений необходимо проводить термостатированние рефрактометра.Для газов показатель преломления зависит и от давления. Общая зависимость показателя преломления газа от температуры и давления выражается формулой:
n-1=(n0-1)(Р/760)[(1+Р)/(1+t)] (10)
где n - показ преломл при давл Р и темп-ре t°C; n0 - показатель прел-ия при норм усл; Р - давление к мм рт. ст.; и - коэф-ты, завис oт природы газа.