30. Основы качественного атомно-эмиссионного анализа. Определение длин волн характеристических спектральных линий элементов.

Задачи качественного анализа. Основой качественного спек­трального анализа является то, что линейчатый спектр излучения ка­ждого химического элемента является характеристичным. Задача качественного спектрального анализа сводится к отысканию линий оп­ределяемого элемента в спектре пробы. Принадлежность линии дан­ному элементу устанавливается по длине волны и интенсивности линии. Спектр пробы неизвестного состава для расшифровки обяза­тельно снимают на спектрографе, т.е. приборе с фотографическим де­тектированием, даже если предполагается в дальнейшем при анализе использовать приборы с визуальным или фотоэлектрическим детек­тированием.

Расшифровывают спектры и определяют длину волн спек­тральных линий с помощью спектров сравнения, чаще всего спектра железа, Имеющего характерные группы спектральных линий в разных областях длин волн. Спектр анализируемого вещества обычно фотографируют над спектром железа. Для определения длины волны λ_х какой-то линии в анализируемом спектре измеряют расстояние b₁ и b₂ от этой линии до ближайших к ней слева λ₁ и справа λ₂ линий спектра железа, длины волн которых точно известны, и рассчитывают длину волны интересующей линии по интерполяционным формулам, считая, что в узком спектральном диапазоне дисперсия призменного прибора оста­ется постоянной. Пример определения длины волны линии в анализи­руемом спектре приведен на рис.

Расстояние b₁ и b₂ , а также a измеряют на экране специального прибора, спектропроектора, с помощью микроскопа.

a/b₂=(λ1-λ2)/ (λ1-λx)=Δλ_2,1/Δλ_2,х ; а(λ1-λx)= b₂(λ1-λ2); λ2-λx=b₂/а(λ2-λ1)

λx= λ2- b₂/а(λ2-λ1); λx= λ2 + b₂/а(λ2-λ1)

Так как у дифракционных приборов дисперсия практически не зависит от длины волны, для расшифровки спектров, снятых на при­борах этого типа, можно выбиратъ опорные линии в спектре железа, расположенные не очень близко к идентифицируемой линии. Рас­стояние между линиями измеряют при помощи измерительного мик­роскопа МИР-12 или компаратора. При проведении качественного спектрального анализа иногда используют специальные планшеты, на которые нанесены аналитические ЛИНИИ определенных элементов. Совмещая изображение спектра анализируемой пробы с планшетом, например с помощью спектропроектора ПС-18, сразу получают пред­варительную информацию о качественном составе пробы.

1. О бщие понятия об оптических методах введение в оптич

2. Осн характеристики м-дов и методик анализа м-ды контороля

3. Физич. Основы Рефрактометрии

4. Зав-сть показателя преломл. от строения в-ва рефрактометрич

5. Зав-сть показ преломл от усл его идентификации анализ

6. Рефрактометр Аббе приборы для измерения

7. Рефракт. Пульфриха рефрактометрии

8. Практич определение рефрактометрии

9. П оляризованность

10. О птич- активные в-ва Поляриметрический анализ

11. Хар-ки оптич-ой активности

12. Зав-сть удельного вращения пл-сти поляризац от усл его измерения

13. С пектрополяриметрия приборы

14. Круговые поляриметры поляриметрического анализа

15. Поляриметр с круговой компенсацией

16. Применение поляриметрии

17. Ф изические основы м-дов Нефелометрич и

18. Условия проведения измерения

19. Приборы проведения нефел и турбидим м-дов турбидим м-ды

20. Применение м-дов

21. Осн хар-ки ЭМ излучения Спектральные м-ды

22. Классификация спектр м-дов исследования – классификация

23. Основы теории атомных спектров и основы теории

24. Основы теории молекул спектров

25. Блок-схема АЭС Атомно-эмиссион

26. Устр-ва атоматизации в-ва и возбужд спектров анализ

27. Анализаторы излучения

28. Детекторы

29. О сн хар-ки спектрометров

30. Основы качественного атомно-эмиссионного анализа

31. Стр-ра табл характеристич-их спектров эл-тов