
- •1.Общие понятия об оптических м-дах
- •2.Понятие м-да и м-дики анализа. Характеристики м-дики.
- •3.4.Физ. Основы рефрактометрического м-да. Коэффициент преломления.
- •5. Дисперсия показателя преломления. Зависимость показателей преломления от температуры, давления. Мольная рефракция.
- •6. Принцип действия рефрактометра Аббе.
- •7. Принцип действия рефрактометра Пульфриха.
- •8. Применение рефрактометрии для идентификации в-ва и контроля качества.
- •9. Физ. Основы поляриметрического м-да.
- •10.11. Типы оптической активности.
- •12. Зависимость угла вращения пл-сти поляризации от строения в-ва
- •13. Спекрополяриметрический м-д.
- •14. Принцип действия кругового поляриметра. Схема прибора.
- •15. Устройство клиновых поляриметров.
- •16. Применение поляриметрии и спектрополяриметрии.
- •17. Физ. Основы нефелометрии и турбидиметрии. Рассеяние и поглощение света.
- •18. Основные требования к химическим реакциям и условия их проведения.
- •19. Приборы нефелометрического анализа.
- •20. Применение нефелометрии и турбидиметрии.
- •21. Основные характеристики электромагнитного излучения. Классификация м-дов спектрального анализа.
- •22.Физ. Основы спектрального анализа.
- •23. Схемы энергетических переходов в атомных спектрах.
- •24. Схемы энергетических переходов в молекулярных спектрах.
- •25. Блок-схема и функции основных узлов атомно-эмиссионного спектрометра. Основные характеристики атомно-эмиссионных спектрометров.
- •28. Типы детекторов атомно-эмиссионных спектрометров. Принцип их действия.
- •29.Основные характеристики атомно-эмиссионных спектрометров.
- •31. Структура таблиц характеристических спектров элементов и атласов спектров.
- •30. Основы качественного атомно-эмиссионного анализа. Определение длин волн характеристических спектральных линий элементов.
31. Структура таблиц характеристических спектров элементов и атласов спектров.
Структура атласа спектров и таблиц спектральных линий.
Для установления принадлежности спектральной линии тому или иному элементу используют таблицы спектральных линий и атласы спектров.
Таблицы спектральных линий содержат перечень линий спектров элементов с указанием длин волн и интенсивностей спектральных линий в относительных единицах.
Атласы спектральных линий содержат увеличенные фотографические или графические изображения спектров элементов, на которых указаны длины волн линии. Атласы и таблицы спектральных линий составлены для всех спектральных приборов с различными источниками возбуждения.
Рассмотрим один из планшетов атласа спектральных линий, представленный на рис., воспроизводящий участок спектра, снятый на спектрографе ИПС-30 с кварцевой оптикой. На каждом планшете представлен узкий диапазон длин волн, на данном планшете — от 3000 до 3130 А°, т.е. 300-313 нм.
В нижней части планшета изображена шкала длин волн, которой снабжен спектрограф. Выше расположен спектр чистого железа. Длину волны любой линии железа можно грубо определить по этой шкале, а затем эту величину уточняют по таблицам спектральных линий. Вертикальные прямые на планшете показывают положение наиболее интенсивных спектральных линий других элементов относительно линий спектра железа. Около символа элемента сверху справа приведена интенсивность линий в относительных единицах, которую обычно оценивают по 10-бальной шкале, а внизу под символом элемента дана длина волны линии. Римской цифрой нижний подстрочный индекс показывает состояние ионизации, в котором находится элемент, дающий эту линию. При этом I обозначает неионизированный атом, II - однозарядный ион, III - двухзарядный ион и т. д.
Спектр железа служит своеобразной шкалой длин волн, т. к. у него много линий, разбросанных по всей оптической области спектра, используемой на практике. Кроме того, длины волн спектра железа известны с большой точностью.
Однако определения значения длины волны или совмещения на планшете еще недостаточно, чтобы однозначно идентифицировать линию, т. е. установить ее принадлежность какому-либо элементу.
Необходимо дополнительное исследование по идентификации спектральной линии. Это связано с тем, что если отсутствие аналитической ЛИНИИ определяемого элемента в спектре пробы гарантирует отсутствие других линий этого элемента в спектре и его самого в пробе, то наличие линии с длиной волны, характерной для последней линии какого-либо элемента, еще не означает, что линия действительно принадлежит этому элементу и, следовательно, элемент присутствует в пробе.
Основной причиной этого является так наложение спектральных линий, связанное с недостаточной разрешающей способностью используемых спектральных приборов. Из таблиц спектральных линий видно, что длина волны последней линии практически любого элемента и пределах ±0,5А° совпадает с длинами волн линий многих других элементов.
Часть элементов, дающих линию испускания в области, близкой к исследуемой спектральной линии, можно во многих случаях исключить, основываясь на данных о происхождении пробы. Дальнейшее исключение возможных наложений спектральных линий проводят с использованием атласов спектров и таблиц спектральных линий. Если идентифицируемая линия в спектре совпадает с линией, указанной на планшете как принадлежащей какому-то элементу, то в исследуемом спектре должны обязательно наблюдаться и более интенсивные линии этого элемента. Поэтому из таблиц выписывают длины волн и интенсивность этих контрольных линий и проверяют их наличие в анализируемом спектре. Если линии с такими длинами волн обнаружены и соотношения интенсивностей всех рассматриваемых линий, включая неизвестную линию λх, совпадают с табличными данными, то можно считать ее идентифицированной (отождествленной) и относящейся к элементу, указанному на планшете. Если же контрольные линии не обнаружены или же соотношение интенсивностей найденных линий отличается от табличных данных, то делается аналогичная проверка по всем элементам, дающим линии, совпадающие с линией λх
Для составления перечня этих элементов оценивают разрешающую способность прибора в исследуемой области по разности длин волн двух почти перекрывающихся линий в спектре железа, соседних с исследуемыми линиями. Их длину волны сначала оценивают грубо по шкале планшета, а затем уточняют по таблицам. Пусть разность длин волн таких контрольных линий равна 0,4 А° (0,04 нм). Это означает, что могли бы совпасть только линии с длинами волн в интервале λх ± 0,2 А°. Из таблиц выписывают все линии длин волн этого интервала с символами элементов, затем исключают те элементы, которые заведомо в исследуемой пробе отсутствугот, а также элементы, которые в выбранном источнике не возбуждаются. Оставшиеся линии идентифицируют при помощи соответствующих контрольных линий спектров элементов, предположительно присутствующих в пробе.