
- •3.1 Потенц барьер на пов-ти. Работа выхода.
- •3.2 Термоелектронна емісія та її закони.
- •3.3 Термоелектронна емісія при наявності електричного поля (ефект Шотткі). Електростатична (автоелектронна ) емісія.
- •3.4 Фотоелектронна емісія і її закони. Характеристика і параметри фотоелектронної емісії.
- •3.5 Вторичная электронная эмиссия.
- •3,8 Рух електрона в однорідному магнітному полі. Магнітні лінзи
- •3.9 Влияние объемного заряда на прохождение электрического тока в двухэлектродных системах
- •3.11 Термічне вакуумне напилення.
- •3,13 Іонне легування. Фізичні основи.
- •3.10. Іонізація атомів газу. Види ел. Розряду в газі
- •Электричество. При дальнейшей откачке светящийся шнур размывается и расширяется, и свечение заполняет почти всю трубку. Применяется в люминесцентных лампах.
- •3.12 Термічне окислення кремнію
- •3.14.Оптична та рентгенівська літографія.
- •3.15 Отримання кристалів із розплавів. Метод Чохральского
- •3.16 Кристаллизационные процессы
- •3.19 Технологія дифузійного легування.
- •3.20 Катодное распыление,
- •3.7 Движение электрона в неоднородном электрическом поле (фокусирование и рассеивание электронного потока). Электростатические линзы.
3.4 Фотоелектронна емісія і її закони. Характеристика і параметри фотоелектронної емісії.
Если на пов-ть какого-либо металла падает поток эл-магн излучения, то оно частично отражается, частично поглощается. Та часть, которая поглощаеся, может привести к возниновению новых эл-нов в зоне электрической проводимости, т. е. увелчить общую электропроводность металла. Это явление – фотопроводимость или фотоэффект.У пп и диэлектриков может увеличивать электропроводность в несколько раз. При поглощении квантов света в твёрдом теле могут также появляться эл-ны с настолько большой энергией, которые могут преодолеть пов-ть, т. е. потенциальный барьер, тем самым оказаться эмитированными. Это явление – внешний фотоэффект или фотоэлектронная эмиссия.
Закон Эйнштейна: max E фотоэлектронной эмиссии прямопроцонален частоте излучения и не зависит от его интенсивности.
-
закон Эйнштейна
,
- красная граница фотоэффекта
-
работа выхода если между катодом и
анодом приложено поле
Характеристики и параметры фотоэлектронной эмиссии.
1.Фотоэлектронная
чувствительность
,
- фотоэлектрический ток насыщения,
- поток падающего изучения
Если
измеряется в эл./квант, то это увантовый
выход фотоэлектронной эмиссии –
квантовая чувствительность.
Распределение
по спектру излучения возбуждаюего
света – спектральная характеристика.
Форма её зависит от того, что использовано
при построении: квантовая чувствительность
~I
при
(постоянном
числе фотонов) или
при
(постоянной энергии света).
Спектральная
чувствительность
,
где
- мощность выделенного участка излучения.
Рассмотрим для Т=0к.
Характеристика
начинается с
,
когда энергия фотона достаточна для
того, чтобы вырвать эл-н с уровня Ферми.
При увеличении
для
вырывания эл-нов будут доступны
нижележащие уровни и эмиссия будет
расти. Но будет расти в замедленном
темпе, т. к. густота уровня уменьшается
по мере приближения ко дну потенциальной
ямы металла и эл-нов на ней находится
меньше.
Когда
для вырывания доступны все эл-ны из
зоны проводимостиметалла, и квантовая
чувствительность должна перестать
зависеть от
.
Однако согласно квантовой механике
акт поглощения энергии уменьшается
при увеличении
.
По этой причине кривая
начинает снижаться при
.
И
сходя
из спектральной характеристики фотоэл
чувствительности можно сказать, что
все металлы обладают селективным
поглощением, т. е. имеют максимальную
фотоэлектронную эмиссию в определённом
интервале длин волн. Для собственных
пп
необходимая
для возникновения
,
- внешняя работа выхода,
- ширина запрещённой зоны.
Термоэлектронная
работа выхода
Для примесных пп
3.5 Вторичная электронная эмиссия.
Если на пов-ть металла падает поток эл-нов, обладающих большой энергией, то наблюдается идущий от этой пов-ти новый встречный поток эл-нов – вторичная эмиссия.
К
оэффициент
вторич эмиссииs
зависит от энергии первичных электронов.
П
роцессы,
определяющие вторич эмиссию, протекают
не на пов-ти эмиттера, а внутри. Первичные
эл-ны проникают внутрь металла и на
своём пути передают энергию встречающимся
на пути эл-нам металла. Если энергия
эл-нов которые получили энергию от
соударений, будет достаточна для
совершения работы выхода, то они покинут
металл(расположенные недалеко от
пов-ти). А эл-ны, расположенные вдали от
пов-ти, не покинут эмиттер т.к. им
недостаточно энергии для выхода или
они сталкиваются с атомами и отдают им
энергию. Предельная глубина, двигаясь
с которой, эл-ны ещё могут выйти из ме,
наз предельная глубина диффузии.
Вторичная эмиссия сильно зависит от
угла падения вторичных эл-нов на пов-ть.
При увеличении угла увеличивается
число вторич эл-нов в пределах глубины
,
в следствие чего увеличивается s.