- •1. Опис методів підвищення ефективності термоелектричних матеріалів на основі Ві2Те3, вирощених методом вертикальної зонної плавки
- •Рівняння для вибору параметрів процесу вирощування однорідних легованих по довжині кристали методом вертикальної зонної плавки
- •Значення Zmax t напівпровідникових з'єднань і термоелементів на їх основі при 300 к [5]
- •2. Аналіз вибору оптимальних умов росту для покращення ефективності термоелектричних матеріалів
- •Список використаних джерел
Вступ
В наш час в якості матеріалів для термоелектричних охолоджуючих пристроїв і термогенераторів, що працюють в області низьких температур 200-600 К, використовуються тверді розчини систем Bi2Te3 – Bi2Se3 і Bi2Te3 – Sb2Te3 [1].
Серед халькогенідів, які є компонентами цих твердих розчинів, найбільш детально вивчений телурид вісмуту. Це пояснюється рядом причин: по перше, телурид вісмуту має достатньо великі термоелектричні параметри і широко використовується в термоелектриці. По друге, шляхом легування його можна отримати як n-, так і p- типу провідності і при цьому технологія його виготовлення добре відпрацьована.
Для отримання монокристала на основі Bi2Te3 з високими термоелектричними властивостями, необхідно підібрати оптимальні умови його вирощування.
Термоелектричні матеріали характеризуються такими параметрами: питома електропровідність (σ), коефіцієнт термо Е. Р. С. (α), коефіцієнт теплопровідності (χ), фактор потужності (α2σ), а також термоелектричною добротністю (Z = α2σ/χ). Ці параметри можна підвищити за рахунок зміни багатьох факторів: швидкості росту (ν), температури, легуванням різними домішками, зміни ширини розплавленої зони, зміни градієнту температур (G) в розплаві на фронті кристалізації т. інше [1].
1. Опис методів підвищення ефективності термоелектричних матеріалів на основі Ві2Те3, вирощених методом вертикальної зонної плавки
Термоелектрична ефективність Ві2Те3 і твердих розчинів на його основі залежить від ряду причин, зв’язаних як зі складом цих матеріалів, так і з їх технологією. Розглянемо окремо залежність термоелектричної ефективності матеріалів зі сприятливою структурою і високим степенем однорідності від складу і вплив на величину Z технологічних факторів.
Фізичні параметри віток термоелементів входять до формули, що визначає основні характеристики термоелектричних пристроїв, у вигляді узагальненого безрозмірного параметра (критерій Іоффе) [1]:
, (1)
де – ефективність термоелемента, індекси n і p відносяться до n- і p- віток. Наприклад, максимальний перепад температури на термоелементі при відсутності потоку тепла на холодний спай , максимальний холодильний коефіцієнт (відношення теплової потужності, яка поглинається холодним спаєм, до електричної потужності, яка споживається термоелементом) і максимальний к. к. д. ( )термоелемента в термогенераторі визначається виразом [1]:
, (2)
, (3)
, (4)
де – середня температура термоелемента; – перепад температури на термоелементі. Ці максимальні значення досягаються при певному співвідношенню розмірів віток термоелемента та оптимальних значеннях струмів через термоелемент і опору навантаження (в термогенераторі). Теплотехнічні характеристики термоелектричних пристроїв покращуються при підвищені .
При виготовлені термоелектричних матеріалів необхідно оцінити якість n- і p- віток окремо. Критерієм для такої оцінки служить ефективність термоелектричних матеріалів:
, (5)
Якщо значення Z для n- і p- віток не дуже відрізняються, то
, (6)
Якість термоелектричних матеріалів тим вища, чим вище Z [1].
Вирази (1-6) виконуються за умови, що термоелектричні властивості не сильно відрізняються в робочому інтервалі температур. Якщо ці умови не виконуються, то теплотехнічні властивості обчислюють, застосовуючи різні методи усереднення, найчастіше, к. к. д. термоелемента може бути наближено обчисленим за формулою [2]
, (7)
тут - к. к. д. n- і p- віток, який дорівнює
, (8)
де і – температури холодного і гарячого спая термоелемента.
Для оцінки термоелектричних матеріалів в широкому інтервалі температур використовується середнє значення або обчислюють к. к. д. віток по формулі (8).
Всі величини, які входять в Z, є функціями температури і концентрації носіїв струму [3]:
(9)
(10)
Теплопровідність, як правило, складається із фоновою ( граткової ) χф і електронної χел складових [3].
(11)
(12)
Тут - інтеграли Фермі, побудовані в широкому інтервалі значень приведеного хімічного потенціалу ( ); l0(T) – температурна частина виразу довжини вільного пробігу носіїв ( в загальному вигляді ) і r – показник степеня залежності довжини вільного пробігу носіїв від їх енергії . Таким чином, при заданих величинах m*, , l0, r, χф, і Т як функції μ* можна одержати криву залежності Z від μ* (тобто, від концентрації). Загальна аналітична залежність Z від основних параметрів речовини може бути отримана в припущені, що χел << χф. Тоді вирази (9) – (12) приймають вигляд [3]:
(13)
,
Крім безпосередньої залежності α і σ від n, існує ряд більш складних і більш другорядних залежностей термоелектричних параметрів від концентрації носіїв, а саме часткова залежність μ (рухливості) від n, χф від n, m* (ефективної маси носіїв) від n, так що в загальному випадку задача про залежність Z від n не має точного математичного вирішення. Однак, роблячи ряд спрощених припущень (вважаючи, що χф, m*, і μ не залежить від n), можна визначити оптимальну концентрацію носіїв, при якій величина α2σ досягає максимуму, а потім ввести в аналітичній формулі поправку на залежність χел від n, визначивши, таким чином, концентрацію носіїв, при якій Z досягає максимальних значень [3].
У випадку невиродженого електронного газу і r=0 вираз для Z набуває вигляду
(14)
Для одержання речовини з великим значенням Z при температурі Т=300К, необхідно підібрати матеріал з високим відношенням і забезпечити в ньому оптимальну концентрацію носіїв, яка при зроблених припущеннях може бути представлене як [3]
(15)
Найбільш діючим в даний час спосіб підвищення є використання в якості термоелектричних матеріалів, твердих розчинів. При утворенні твердого розчину двох речовин або сполук в кристалічній гратці створюються додаткові центри розсіювання для фононів і електронів в наслідок наявності деякої надструктури. В цьому випадку величина рухливості фононної частини теплопровідності знижується, однак, так як дебройлівська довжина хвилі фонона і електрона різні, розсіювання відбувається також по – різному. В результаті цього, як правило, χф спадає значно сильніше, ніж μ. Таким чином, зростає , а відповідно, згідно (14), і добротність матеріалу. Як слідує з (14), високу добротність повинні володіти матеріали, які мають поряд з достатньо високою рухливістю також і велику ефективну масу носіїв. В більшості випадків дві ці умови взаємно виключають одна одну, так як велика рухливість передбачає малу ефективну масу. Однак, у випадку складного енергетичного спектру носіїв (так званої багатодольнної моделі) можлива одночасна наявність значної ефективності маси і рухливості. Такі речовини володіють найбільш високою термоелектричною добротністю [3].
При розробці і використанні термоелектричних матеріалів в широкому інтервалі температур досить важливого значення набуває температурна залежність самої величини Z і основних параметрів, які визначають її (α, σ χел, χф, m*).
Температурна залежність рухливості в широкому інтервалі температур обумовлена комбінацією декількох механізмів розсіювання. В області низьких температур переважаючим є розсіювання на іонах домішки (яке підлягає формулі Резерфорда). При цьому довжина вільного пробігу пропорційна квадрату енергії носіїв , тобто носії з великою енергією розсіюються слабше, а температурна залежність рухливості виражається як . В області високих температур переважаючим стає розсіювання на акустичних коливаннях кристалічної гратки (фононах), при цьому довжино вільного пробігу носіїв не залежить від енергії (r=0), а температурна залежність рухливості має вигляд [3]
У значної частини термоелектричних матеріалів, які є твердими розчинами, існує ще один механізм розсіяння – розсіяння на нейтральних домішках (тобто на неоднорідностях твердого розчину). Згідно ряду експериментальних даних довжина вільного пробігу носіїв в цьому випадку залежить від енергії як , а температурна залежність рухливості має вигляд [3]
.
Якщо не врахувати температурну залежність ефективної маси у деяких речовинах, то Z від температури визначається значенням . Відомо, що теплопровідність кристалічної гратки змінюється обернено пропорційно температурі для чистих матеріалів і обернено пропорційно для твердих розчинів. Здавалося б, виходячи з цього, величина , а відповідно, і Z повинна була б рости в області високих температур для випадку розсіяння на іонах домішки і нейтральних домішках, по крайній мірі не падати. Насправді, для деяких термоелектричних матеріалів характерні більш складні процеси розсіювання ( двофононне, на оптичній вітці коливань), які дають сильну температурну залежність, ніж [3]
Велику роль при отримання максимальних значень добротності відіграє оптимальний вибір концентрації носіїв. Це досягається за рахунок легування. Тому глибоке легування також впливає на абсолютну величину Z. На кривій залежності Z від температури завжди буде максимум, який відповідає nопт для деякої температури. Цей максимум у випадку рівномірного розподілу домішок і слабкій залежності χф від температури буває досить різким (розтягнутим всього на 30 – 40 К). Однак якщо розподіл легуючої домішки нерівномірний, тоді температурний максимум Z виявляється більш низьким по абсолютній величині. Це відбувається в наслідок того, що ділянки зразка з різною концентрацією носіїв мають Zmax при різних температурах, в той час як при вимірюваннях фіксуються деякі усередненні величини α, σ, χ, а значить і Z, для зразка в цілому [3].
Згідно теорії, оптимальній концентрації носіїв відповідає оптимальна величина термо - е. р. с., яка з врахуванням електронної складової теплопровідності може бути виражена як
(16)
Загальні умови вирощування кристала, рівномірно легованого по довжині, виражається рівнянням [4]
(17)
де Cтр і Cр – стаціонарна (маючи постійне значення) і рівноважна концентрація домішок в розплаві; Cп – концентрація домішок в твердому чи рідкому матеріалі, яким живлять для досягнення заданої стаціонарної концентрації; A – параметр живлення; f – швидкість вирощування; α – характер атмосфери.
В залежності від умов кристалізації, що входять в рівнянні (17), це рівняння можна переписати по різному. Перелік таких рівнянь, що використовуються для вибору параметрів проведення процесу вирощування однорідних легованих по довжині кристали, методом зонної плавки,приведені в таблиці 1 [4].
Таблиця 1.