
- •1. Опис методів підвищення ефективності термоелектричних матеріалів на основі Ві2Те3, вирощених методом вертикальної зонної плавки
- •Рівняння для вибору параметрів процесу вирощування однорідних легованих по довжині кристали методом вертикальної зонної плавки
- •Значення Zmax t напівпровідникових з'єднань і термоелементів на їх основі при 300 к [5]
- •2. Аналіз вибору оптимальних умов росту для покращення ефективності термоелектричних матеріалів
- •Список використаних джерел
Вступ
В наш час в якості матеріалів для термоелектричних охолоджуючих пристроїв і термогенераторів, що працюють в області низьких температур 200-600 К, використовуються тверді розчини систем Bi2Te3 – Bi2Se3 і Bi2Te3 – Sb2Te3 [1].
Серед халькогенідів, які є компонентами цих твердих розчинів, найбільш детально вивчений телурид вісмуту. Це пояснюється рядом причин: по перше, телурид вісмуту має достатньо великі термоелектричні параметри і широко використовується в термоелектриці. По друге, шляхом легування його можна отримати як n-, так і p- типу провідності і при цьому технологія його виготовлення добре відпрацьована.
Для отримання монокристала на основі Bi2Te3 з високими термоелектричними властивостями, необхідно підібрати оптимальні умови його вирощування.
Термоелектричні матеріали характеризуються такими параметрами: питома електропровідність (σ), коефіцієнт термо Е. Р. С. (α), коефіцієнт теплопровідності (χ), фактор потужності (α2σ), а також термоелектричною добротністю (Z = α2σ/χ). Ці параметри можна підвищити за рахунок зміни багатьох факторів: швидкості росту (ν), температури, легуванням різними домішками, зміни ширини розплавленої зони, зміни градієнту температур (G) в розплаві на фронті кристалізації т. інше [1].
1. Опис методів підвищення ефективності термоелектричних матеріалів на основі Ві2Те3, вирощених методом вертикальної зонної плавки
Термоелектрична ефективність Ві2Те3 і твердих розчинів на його основі залежить від ряду причин, зв’язаних як зі складом цих матеріалів, так і з їх технологією. Розглянемо окремо залежність термоелектричної ефективності матеріалів зі сприятливою структурою і високим степенем однорідності від складу і вплив на величину Z технологічних факторів.
Фізичні
параметри віток термоелементів входять
до формули, що визначає основні
характеристики термоелектричних
пристроїв, у вигляді узагальненого
безрозмірного параметра
(критерій Іоффе) [1]:
, (1)
де
– ефективність термоелемента, індекси
n
і p
відносяться до n-
і p-
віток. Наприклад, максимальний перепад
температури на термоелементі при
відсутності потоку тепла на холодний
спай
,
максимальний холодильний коефіцієнт
(відношення
теплової потужності, яка поглинається
холодним спаєм, до електричної потужності,
яка споживається термоелементом) і
максимальний к. к. д. (
)термоелемента в термогенераторі
визначається виразом [1]:
, (2)
, (3)
, (4)
де
– середня температура термоелемента;
– перепад температури на термоелементі.
Ці максимальні значення досягаються
при певному співвідношенню розмірів
віток термоелемента та оптимальних
значеннях струмів через термоелемент
і опору навантаження (в термогенераторі).
Теплотехнічні характеристики
термоелектричних пристроїв покращуються
при підвищені
.
При виготовлені термоелектричних матеріалів необхідно оцінити якість n- і p- віток окремо. Критерієм для такої оцінки служить ефективність термоелектричних матеріалів:
, (5)
Якщо значення Z для n- і p- віток не дуже відрізняються, то
, (6)
Якість термоелектричних матеріалів тим вища, чим вище Z [1].
Вирази (1-6) виконуються за умови, що термоелектричні властивості не сильно відрізняються в робочому інтервалі температур. Якщо ці умови не виконуються, то теплотехнічні властивості обчислюють, застосовуючи різні методи усереднення, найчастіше, к. к. д. термоелемента може бути наближено обчисленим за формулою [2]
, (7)
тут
- к. к. д. n-
і p-
віток, який дорівнює
, (8)
де
і
– температури холодного і гарячого
спая термоелемента.
Для
оцінки термоелектричних матеріалів в
широкому інтервалі температур
використовується середнє значення
або обчислюють к. к. д. віток по формулі
(8).
Всі величини, які входять в Z, є функціями температури і концентрації носіїв струму [3]:
(9)
(10)
Теплопровідність, як правило, складається із фоновою ( граткової ) χф і електронної χел складових [3].
(11)
(12)
Тут
- інтеграли Фермі, побудовані в широкому
інтервалі значень приведеного хімічного
потенціалу (
);
l0(T)
– температурна частина виразу довжини
вільного пробігу носіїв ( в загальному
вигляді
) і r
– показник степеня залежності довжини
вільного пробігу носіїв від їх енергії
.
Таким чином, при заданих величинах m*,
,
l0,
r,
χф,
і Т як функції μ*
можна одержати криву залежності Z
від μ*
(тобто, від концентрації). Загальна
аналітична залежність Z
від основних параметрів речовини може
бути отримана в припущені, що χел
<< χф.
Тоді вирази (9) – (12) приймають вигляд
[3]:
(13)
,
Крім безпосередньої залежності α і σ від n, існує ряд більш складних і більш другорядних залежностей термоелектричних параметрів від концентрації носіїв, а саме часткова залежність μ (рухливості) від n, χф від n, m* (ефективної маси носіїв) від n, так що в загальному випадку задача про залежність Z від n не має точного математичного вирішення. Однак, роблячи ряд спрощених припущень (вважаючи, що χф, m*, і μ не залежить від n), можна визначити оптимальну концентрацію носіїв, при якій величина α2σ досягає максимуму, а потім ввести в аналітичній формулі поправку на залежність χел від n, визначивши, таким чином, концентрацію носіїв, при якій Z досягає максимальних значень [3].
У випадку невиродженого електронного газу і r=0 вираз для Z набуває вигляду
(14)
Для
одержання речовини з великим значенням
Z
при температурі Т=300К, необхідно підібрати
матеріал з високим відношенням
і
забезпечити в ньому оптимальну
концентрацію носіїв, яка при зроблених
припущеннях може бути представлене як
[3]
(15)
Найбільш
діючим в даний час спосіб підвищення
є використання в якості термоелектричних
матеріалів, твердих розчинів. При
утворенні твердого розчину двох речовин
або сполук в кристалічній гратці
створюються додаткові центри розсіювання
для фононів і електронів в наслідок
наявності деякої надструктури. В цьому
випадку величина рухливості фононної
частини теплопровідності знижується,
однак, так як дебройлівська довжина
хвилі фонона і електрона різні, розсіювання
відбувається також по – різному. В
результаті цього, як правило, χф
спадає значно сильніше, ніж μ. Таким
чином, зростає
,
а відповідно, згідно (14), і добротність
матеріалу. Як слідує з (14), високу
добротність повинні володіти матеріали,
які мають поряд з достатньо високою
рухливістю також і велику ефективну
масу носіїв. В більшості випадків дві
ці умови взаємно виключають одна одну,
так як велика рухливість передбачає
малу ефективну масу. Однак, у випадку
складного енергетичного спектру носіїв
(так званої багатодольнної моделі)
можлива одночасна наявність значної
ефективності маси і рухливості. Такі
речовини володіють найбільш високою
термоелектричною добротністю [3].
При розробці і використанні термоелектричних матеріалів в широкому інтервалі температур досить важливого значення набуває температурна залежність самої величини Z і основних параметрів, які визначають її (α, σ χел, χф, m*).
Температурна
залежність рухливості в широкому
інтервалі температур обумовлена
комбінацією декількох механізмів
розсіювання. В області низьких температур
переважаючим є розсіювання на іонах
домішки (яке підлягає формулі Резерфорда).
При цьому довжина вільного пробігу
пропорційна квадрату енергії носіїв
,
тобто носії з великою енергією розсіюються
слабше, а температурна залежність
рухливості виражається як
.
В області високих температур переважаючим
стає розсіювання на акустичних коливаннях
кристалічної гратки (фононах), при цьому
довжино вільного пробігу носіїв не
залежить від енергії (r=0),
а температурна залежність рухливості
має вигляд [3]
У
значної частини термоелектричних
матеріалів, які є твердими розчинами,
існує ще один механізм розсіяння –
розсіяння на нейтральних домішках
(тобто на неоднорідностях твердого
розчину). Згідно ряду експериментальних
даних довжина вільного пробігу носіїв
в цьому випадку залежить від енергії
як
,
а температурна залежність рухливості
має вигляд [3]
.
Якщо
не врахувати температурну залежність
ефективної маси у деяких речовинах, то
Z
від температури визначається значенням
.
Відомо, що теплопровідність кристалічної
гратки змінюється обернено пропорційно
температурі для чистих матеріалів і
обернено пропорційно
для
твердих розчинів. Здавалося б, виходячи
з цього, величина
,
а відповідно, і Z
повинна була б рости в області високих
температур для випадку розсіяння на
іонах домішки і нейтральних домішках,
по крайній мірі не падати. Насправді,
для деяких термоелектричних матеріалів
характерні більш складні процеси
розсіювання ( двофононне, на оптичній
вітці коливань), які дають сильну
температурну залежність, ніж
[3]
Велику роль при отримання максимальних значень добротності відіграє оптимальний вибір концентрації носіїв. Це досягається за рахунок легування. Тому глибоке легування також впливає на абсолютну величину Z. На кривій залежності Z від температури завжди буде максимум, який відповідає nопт для деякої температури. Цей максимум у випадку рівномірного розподілу домішок і слабкій залежності χф від температури буває досить різким (розтягнутим всього на 30 – 40 К). Однак якщо розподіл легуючої домішки нерівномірний, тоді температурний максимум Z виявляється більш низьким по абсолютній величині. Це відбувається в наслідок того, що ділянки зразка з різною концентрацією носіїв мають Zmax при різних температурах, в той час як при вимірюваннях фіксуються деякі усередненні величини α, σ, χ, а значить і Z, для зразка в цілому [3].
Згідно теорії, оптимальній концентрації носіїв відповідає оптимальна величина термо - е. р. с., яка з врахуванням електронної складової теплопровідності може бути виражена як
(16)
Загальні умови вирощування кристала, рівномірно легованого по довжині, виражається рівнянням [4]
(17)
де Cтр і Cр – стаціонарна (маючи постійне значення) і рівноважна концентрація домішок в розплаві; Cп – концентрація домішок в твердому чи рідкому матеріалі, яким живлять для досягнення заданої стаціонарної концентрації; A – параметр живлення; f – швидкість вирощування; α – характер атмосфери.
В залежності від умов кристалізації, що входять в рівнянні (17), це рівняння можна переписати по різному. Перелік таких рівнянь, що використовуються для вибору параметрів проведення процесу вирощування однорідних легованих по довжині кристали, методом зонної плавки,приведені в таблиці 1 [4].
Таблиця 1.