- •1. Классификация полупроводниковых материалов.
- •1. Явления поляризации в диэлектриках. Виды поляризации. Диэлектрическая проницаемость и диэлектрические потери.
- •4. Стеклообразные диэлектрики, их свойства и применение.
- •5. Неполярные, полярные и термостойкие органические диэлектрики.
- •6. Конструкционные металлические сплавы на основе Fe, Al, Cu
- •7. Композиционные листовые пластмассы. Материалы для оснований печатных плат вч и свч диапазонов.
- •2.5. Композиционные, наполненные пластмассы
- •2.5.2. Наполнители
- •2.5.3. Пластмассы с листовым наполнителем
- •2.5.4. Листовые материалы для производства печатных плат
- •8. Сегнетоэлектрики
- •12. Керамика, особенности структуры и основные характеристики установочной и конденсаторной керамики.
- •2. Керамика
- •3.3.2. Конденсаторная керамика
- •14. Зонная структура металла, концентрация и подвижность носителей заряда в металле.
- •15. Эпитаксиальный рост пленок полупроводника.
- •16 Анализ p–n перехода, физика работы диода.
- •18. Ионная имплантация примесей в полупроводник.
- •22. Ионно-плазменное осаждение тонких пленок.
- •27.Усилительные каскады на биполярных и полевых транзисторах.
- •1.2 Эквивалентные схемы резисторного каскада на различных частотах
- •31 Ескд. Виды и комплектность конструкторской документации.
- •33. Конструктивные, технологические и эксплуатационные требования к эс
- •34. Стадии и этапы проектирования электронных средств и разработки технической документации.
- •35. Особенности проектирования эс
- •39. Унифицированные базовые конструкции и их влияние на качество и себестоимость.
- •IV. Унификация.
- •41. Защита рэс от атмосферных воздействий.
- •42. Защитные покрытия, их классификация и основные характеристики. Виды и материалы покрытий.
- •44. Обеспечение надежности рэс в процессе проектирования и производства рэс.
- •45. Статистический ряд и его обработка при управлении качеством
- •46. Международные стандарты по управлению качеством.
- •47. Математическая модель биполярного транзистора, ее основные элементы
- •50. Структура и состав сапр. Состав и возможности современных пакетов проектирования рэс.
- •54. Топологическое проектирование рэс (компоновка, размещение, трассировка), как задачи структурной оптимизации.
- •57. Амплитудная модуляция
- •58. Обобщенная трехточечная схема автогенератора
- •58. Транзисторные автогенераторы
- •1.5 Кварцевые автогенераторы
- •61. Физическая сущность процесса детектирования амплитудно-модулированных сигналов
- •В этом случае ток, протекающий через диод будет иметь им-
- •1.4 Схемы диодных детекторов Различают последовательную (рис. 2.5) и параллельную (рис. 2.6) схемы построения диодных детекторов.
- •1.5 Нелинейные искажения в детекторе больших амплитуд
- •1.6 Линейное детектирование в амплитудных детекторах
- •Тогда ток, протекающий в цепи диода, равен
- •Определим среднее значение тока в цепи диода
- •Пусть на вход детектора подан ам- сигнал
- •Определим коэффициент детектирования
- •С учетом выражений (2.6) и (2.4) запишем
- •64. Принцип факсимильной передачи сообщений.
- •65. Типизация технологических процессов. Типовые и групповые технологические процессы.
- •69.Типы и свойства нефольгированных и фольгированных диэлектриков, используемых для изготовления печатных плат.
- •70. Методы изготовления пп по субтрактивной технологии.
- •71. Методы изготовления пп по аддитивной технологии
- •74. Методы изготовления мпп
- •4.3.1.1. Метод металлизации сквозных отверстий
- •4.3.1.2. Метод открытых контактных площадок
- •4.3.1.3. Мпп с выступающими выводами
- •4.3.1.4. Метод попарного прессования
- •4.3.1.5. Метод послойного наращивания
- •4.3.2. Мпп прецизионные на фолыированном основании
- •4.3.4. Мпп прецизионные на нефольгированном основании
- •4.3.5. Мпп изготовленные методом пафос
- •75. Металлизация диэлектриков
- •77. Схемы технологических процессов
- •80. Методы и технология монтажной пайки.
- •81. Пайка одиночной и двойной волной припоя.
- •82. Конвекционная пайка. Температурный профиль пайки. Инфракрасная пайка.
- •83. Производственные погрешности, причины возникновения и законы распределения.
- •84. Задачи технологической подготовки рэс. Стандарты единой системы технологической подготовки производства и их классификация
- •Прогрессивных технологических процессов (тп),
- •Основные функции тпп. Задачи тпп, решаемые на стадиях проектирования
- •88. Изготовление деталей из керамических материалов.
- •Дополнительные операции.
- •89. Теплопроводность (кондуктивный перенос тепла)
- •3.1. Закон Фурье
- •3.2. Тепловые коэффициенты. Тепловые сопротивления. Метод электротепловых аналогий
- •3.3. Теплопередача цилиндрической, однородной стенки (трубы)
- •91. Конвективный теплообмен. Закон Ньютона-Рихмана.
- •92. Теплообмен излучением. Перенос тепла излучением.
- •Закон Ламберта -Этот закон определяет значение плотности потока излучения е в зависимости от его направления по отношению к равномерно излучающей поверхности тела.
- •93. Влагообмен в рэс Первый и второй закон Фика.
- •97. Классификация систем охлаждения рэа
- •11.2.1. Контактный способ охлаждения
- •11.2.2. Естественное воздушное охлаждение
- •11.2.3. Принудительное воздушное охлаждение
- •11.2.4. Жидкостные системы
45. Статистический ряд и его обработка при управлении качеством
В основе управления качеством лежат различные статистические методы. Для их применения необходимо набрать достаточное количество статистических данных по параметрам качества изделий. Как правило, эти данные являются случайными величинами, т. е. могут принимать то или иное значение, причём заранее не известно, какое именно. Сбор и обработка статистических данных основаны на применении так называемого выборочного метода.
Выборкой называют часть изделий, отобранных из общей их совокупности для получения информации о всем количестве изделий, называемом общей или генеральной совокупностью. Если выборка достаточно хорошо представляет соответствующие характеристики генеральной совокупности, то такую выборку называют представительной или репрезентативной.
При анализе и контроле технологических процессов выборку классифицируют по ряду признаков, например по способу отбора (повторные и бесповторные), преднамеренности отбора (пристрастные и случайные), по отношению ко времени отбора (единовременные и текущие), целевому назначению (общепроизводственные, одноагрегатные) и т. д.
Повторная выборка образуется отбором изделий из генеральной совокупности для измерения параметров качества, после чего они возвращаются в совокупность. При бесповторной выборке отобранные изделия не возвращаются в генеральную совокупность. Если при отборе изделий из генеральной совокупности отдается предпочтение изделиям с заранее оговоренным признаком, то такую выборку называют пристрастной или расслоенной. Если же возможность попадания в выборку каждого из изделий равновероятна, то такую выборку называют случайной, например, изделия отбираются наугад из разных источников (разные поточные линии» разные единицы оборудования и т. д.).
Единовременная выборка образуется из партии изделий после их изготовления независимо от того, в какой момент времени изготовлено каждое из них. Текущая выборка в отличие от единовременной состоит из изделий, последовательно изготовленных за определенный промежуток времени. Общепроизводственная выборка служит для получения общей оценки технологического процесса независимо от того, сколько поточных линий, единиц оборудования и т. д. занято в производственном процессе. Одноагрегатная выборка составляется из изделий, изготовленных на определенном оборудовании(агрегате).
Помимо названных выше применяют и другие, так называемые экспериментальные, выборки, предназначенные для анализа точности и стабильности отдельных технологических операций, изучения влияния технологических режимов отдельного оборудования, оснастки на точность и стабильность качества продукции и других целей. Значение параметров качества изделий выборки представляет собой первичный статистический материал, подлежащий обработке, осмыслению и научному анализу.
Предположим, что имеются результаты наблюдений над случайной величиной х. Сначала измеренные значения параметра располагаются в возрастающем или убывающем порядке с тем, чтобы получить так называемый упорядоченный (ранжированный) ряд или упорядоченное распределение различных значений одного и того же параметра качества.
В табл. приведены результаты измерений пробивного напряжения диэлектрических слоев 160 однотипных МОП-структур.
Статистический материал такого вида подвергают дополнительной обработке — строится так называемый статистический ряд, в котором одни и те же значения случайной величины объединяют. Число случаев для каждого из повторяющихся значений (m1, m2,m3,.... тn) называют абсолютной частотой или статистическим весом. Найдя в табл. 2.1 наибольшее и наименьшее значения (210 и 179), составим таблицу, в которой расположим результаты измерений от 179 до 210 В в порядке возрастания.
Д
ля
подсчета частоты можно отмечать штрихами
одинаковые значения по мере просмотра
всех данных. В результате получаем
упорядоченный ряд из 160 наблюдений
Ч
исла,
стоящие в столбце х, называют упорядоченным
рядом параметра качества, а числа,
стоящие в столбце m— рядом
частот. Табл. 2.2а дает более наглядную
картину изменения значений параметра
качества, чем табл. 2.1. Структуры с
пробивным напряжением от 190 до 199 В
встречаются чаще других, а структуры с
пробивным напряжением меньше 179 и
больше 210 В вообще не встречаются. Из
табл. 2.2а видно, как распределяются
значения пробивных напряжений 160
измеренных структур в пределах от 179 до
210 В.
В реальных условиях важно, чтобы данные регистрировались в простой и доступной для использования форме. Для этого широкое распространение получил контрольный листок - бумажный бланк, на котором заранее напечатаны контролируемые параметры, с тем, чтобы можно было легко и точно записать данные измерений. Его главное назначение облегчить процесс сбора данных и автоматически упорядочить данные для облегчения их дальнейшего использования. Каждый раз, когда производится замер, в соответствующую клеточку ставится крест, так, что к концу измерений гистограмма готова.
И
зменение
параметра качества может быть дискретным
или непрерывным. Дискретным изменением
параметра качества называют такое,
при котором рядом лежащие значения в
ранжированном ряду отличаются одно
от другого на некоторую конечную величину
(обычно целое число). Примером дискретного
изменения случайной величины может
быть число дефектных изделий в выборках,
которые периодически берутся из текущего
технологического процесса. Число
дефектных изделий может быть только
целым.
Непрерывным изменением параметра качества называют такое, при котором рядом лежащие его значения в ранжированном ряду отличаются одно от другого на сколь угодно малую величину. Примером непрерывного изменения случайной величины может служить изменение пробивного напряжения; хотя, например, зафиксирован результат измерения — 197 В, пробивное напряжение на диэлектрике обследуемой структуры не обязательно точно равно этому числу. Если применять более точный измерительный прибор, то результат может оказаться равным, например, 196,86 или 197,32 В.
В любом из этих двух случаев измеренное значение находится ближе к 197, чем к 196 или 198 В. Итак, если у 14 структур, зафиксировано пробивное напряжение 197 В, то в действительности значение каждого из них колеблется в пределах, от 166,5 до 197,4 В. При непрерывном изменении параметра качества его распределение называют интервальным.
За величину интервала (его также называют классом), как правило, принимают его середину, т. е. центральное значение.
Число классов, на которые следует группировать статистический материал, не должно быть слишком большим (тогда ряд распределения становится невыразительным и частоты в нем обнаруживают незакономерные колебания), но не должно быть и слишком малым (тогда свойства распределения описываются статистическим радом слишком грубо). Практика показывает, что при достаточно большом числе наблюдений рационально выбирать 10...20 классов. Ширина классов (длина интервалов) может быть как одинаковой, так и различной. Проще брать ее одинаковой. В этом случае ширина класса подсчитывается по формуле
,
где xi, xi+1 — границы i-го класса; xmax, хmin — максимальное и минимальное значения; k — число классов.
Удобно пользоваться относительной величиной, равной отношению частоты mi приходящейся на i-й класс или i-е значение параметра, к общему числу наблюдений n:
wi=mi /n.
Эту относительную величину называют относительной частотой или частостью.
Такие таблицы обычно называют контрольными листами. Анализ производства по контрольному листу, являющемуся одним из семи инструментов качества,— основа аналитической работы; он несет большой объем информации.
Графические методы представления статистического ряда
Д
ля
наглядного представления тенденции
изменения наблюдаемых значений
параметра качества применяют графическое
изображение статистического материала.
Наиболее распространенными графиками,
к которым прибегают при анализе и
контроле качества, шлются полигон,
гистограмма, кумулятивная кривая,
представляющая в совокупности один из
семи инструментов универсального
контроля качества UQC —
графики.
Полигоны, как правило, применяют для отображения дискретных изменений значений параметра, но они могут использоваться при непрерывных (интервальных) изменениях. В этом случае ординаты, пропорциональные частотам интервалов, восставляются перпендикулярно оси абсцисс в точках, соответствующих серединам данных интервалов. Вершины ординат соединяются прямыми линиями
Гистограмма распределения обычно
строится для интервального изменения
значения параметра. Для этого на
интервалах, отложенных на оси абсцисс,
строят прямоугольники (столбики), высоты
которых пропорциональны частотам
интервалов. Гистограмма интервального
ряда, значения которого взяты из табл.
2.4, изображена на рис. 2.2, где по оси
ординат отложены абсолютные значения
частот. Аналогичную форму гистограммы
можно получить, если по оси ординат на
рис. 2.2 отложить соответствующие значения
относительных частот wi
, взятых из табл. 2.4. Если на рис. 2.2 ширину
класса (2,9) принять з
а
единицу шкалы по оси абсцисс, то, например,
для класса 176,5...179,4 В его высота 0,6 будет
одноименно и площадью столбика,
изображающего этот класс. При этом сумма
площадей всех столбиков будет равна
единице, что оказывается удобно. Если
на рис. 2.2 кроме гистограммы нанести еще
и полигон, то по мере роста числа измерений
одновременно уменьшается ширина класса
и полигон превращается в так называеую
кривую плотности вероятностей,
представляющую собой кривую
теоретического распределения (штриховая
линия). Кстати, кривая (рис. 2.2) похожа на
кривую плотности распределения, которую
называют кривой нормального
распределения. Представление данных
по такой бумаге, осуществляется следующим
способом. На основе полученных в
результате измерения параметров качества
значений абсолютных частот mt
или соответствующих частостей
подсчитывают накопленные частоты
(частости), Накопленная частота
(частость) каждого значения параметра
качества получается суммированием всех
частот (частостей), предшествующих
значениям параметра. График накопленных
частот представляет собой кумулятивную
кривую (кумуляту).
