
- •1. Классификация полупроводниковых материалов.
- •1. Явления поляризации в диэлектриках. Виды поляризации. Диэлектрическая проницаемость и диэлектрические потери.
- •4. Стеклообразные диэлектрики, их свойства и применение.
- •5. Неполярные, полярные и термостойкие органические диэлектрики.
- •6. Конструкционные металлические сплавы на основе Fe, Al, Cu
- •7. Композиционные листовые пластмассы. Материалы для оснований печатных плат вч и свч диапазонов.
- •2.5. Композиционные, наполненные пластмассы
- •2.5.2. Наполнители
- •2.5.3. Пластмассы с листовым наполнителем
- •2.5.4. Листовые материалы для производства печатных плат
- •8. Сегнетоэлектрики
- •12. Керамика, особенности структуры и основные характеристики установочной и конденсаторной керамики.
- •2. Керамика
- •3.3.2. Конденсаторная керамика
- •14. Зонная структура металла, концентрация и подвижность носителей заряда в металле.
- •15. Эпитаксиальный рост пленок полупроводника.
- •16 Анализ p–n перехода, физика работы диода.
- •18. Ионная имплантация примесей в полупроводник.
- •22. Ионно-плазменное осаждение тонких пленок.
- •27.Усилительные каскады на биполярных и полевых транзисторах.
- •1.2 Эквивалентные схемы резисторного каскада на различных частотах
- •31 Ескд. Виды и комплектность конструкторской документации.
- •33. Конструктивные, технологические и эксплуатационные требования к эс
- •34. Стадии и этапы проектирования электронных средств и разработки технической документации.
- •35. Особенности проектирования эс
- •39. Унифицированные базовые конструкции и их влияние на качество и себестоимость.
- •IV. Унификация.
- •41. Защита рэс от атмосферных воздействий.
- •42. Защитные покрытия, их классификация и основные характеристики. Виды и материалы покрытий.
- •44. Обеспечение надежности рэс в процессе проектирования и производства рэс.
- •45. Статистический ряд и его обработка при управлении качеством
- •46. Международные стандарты по управлению качеством.
- •47. Математическая модель биполярного транзистора, ее основные элементы
- •50. Структура и состав сапр. Состав и возможности современных пакетов проектирования рэс.
- •54. Топологическое проектирование рэс (компоновка, размещение, трассировка), как задачи структурной оптимизации.
- •57. Амплитудная модуляция
- •58. Обобщенная трехточечная схема автогенератора
- •58. Транзисторные автогенераторы
- •1.5 Кварцевые автогенераторы
- •61. Физическая сущность процесса детектирования амплитудно-модулированных сигналов
- •В этом случае ток, протекающий через диод будет иметь им-
- •1.4 Схемы диодных детекторов Различают последовательную (рис. 2.5) и параллельную (рис. 2.6) схемы построения диодных детекторов.
- •1.5 Нелинейные искажения в детекторе больших амплитуд
- •1.6 Линейное детектирование в амплитудных детекторах
- •Тогда ток, протекающий в цепи диода, равен
- •Определим среднее значение тока в цепи диода
- •Пусть на вход детектора подан ам- сигнал
- •Определим коэффициент детектирования
- •С учетом выражений (2.6) и (2.4) запишем
- •64. Принцип факсимильной передачи сообщений.
- •65. Типизация технологических процессов. Типовые и групповые технологические процессы.
- •69.Типы и свойства нефольгированных и фольгированных диэлектриков, используемых для изготовления печатных плат.
- •70. Методы изготовления пп по субтрактивной технологии.
- •71. Методы изготовления пп по аддитивной технологии
- •74. Методы изготовления мпп
- •4.3.1.1. Метод металлизации сквозных отверстий
- •4.3.1.2. Метод открытых контактных площадок
- •4.3.1.3. Мпп с выступающими выводами
- •4.3.1.4. Метод попарного прессования
- •4.3.1.5. Метод послойного наращивания
- •4.3.2. Мпп прецизионные на фолыированном основании
- •4.3.4. Мпп прецизионные на нефольгированном основании
- •4.3.5. Мпп изготовленные методом пафос
- •75. Металлизация диэлектриков
- •77. Схемы технологических процессов
- •80. Методы и технология монтажной пайки.
- •81. Пайка одиночной и двойной волной припоя.
- •82. Конвекционная пайка. Температурный профиль пайки. Инфракрасная пайка.
- •83. Производственные погрешности, причины возникновения и законы распределения.
- •84. Задачи технологической подготовки рэс. Стандарты единой системы технологической подготовки производства и их классификация
- •Прогрессивных технологических процессов (тп),
- •Основные функции тпп. Задачи тпп, решаемые на стадиях проектирования
- •88. Изготовление деталей из керамических материалов.
- •Дополнительные операции.
- •89. Теплопроводность (кондуктивный перенос тепла)
- •3.1. Закон Фурье
- •3.2. Тепловые коэффициенты. Тепловые сопротивления. Метод электротепловых аналогий
- •3.3. Теплопередача цилиндрической, однородной стенки (трубы)
- •91. Конвективный теплообмен. Закон Ньютона-Рихмана.
- •92. Теплообмен излучением. Перенос тепла излучением.
- •Закон Ламберта -Этот закон определяет значение плотности потока излучения е в зависимости от его направления по отношению к равномерно излучающей поверхности тела.
- •93. Влагообмен в рэс Первый и второй закон Фика.
- •97. Классификация систем охлаждения рэа
- •11.2.1. Контактный способ охлаждения
- •11.2.2. Естественное воздушное охлаждение
- •11.2.3. Принудительное воздушное охлаждение
- •11.2.4. Жидкостные системы
1. Классификация полупроводниковых материалов.
Классическими полупроводниками являются два элемента IV группы таблицы Менделеева — Ge и Si. Каждый их атом образует чисто ковалентные связи со своими четырьмя ближайшими соседями в решетке алмаза.
Вторую важную группу полупроводников составляют ковалентно-ионные соединения типа AIIIBV и ионно-ковалентные соединения типа AIIBVI, кристаллизующиеся в алмазоподобной решетке, а также некоторые другие, например AIVBVI. Наиболее разработаны и перспективны арсенид и фосфид галлия и фосфид и антимонид индия.
Третья группа полупроводников — это оксиды металлов переменной валентности — Fe, Sn, V, Mn, Cu, Ti и др., способных образовать катионы разной валентности, такие оксиды лишь в исключительных случаях — в предельно окисленном состоянии — стехиометричны и тогда являются диэлектриками. Обычное же их состояние - твердый раствор высших и низших оксидов, например xFеО + yFе2О3 или в общем случае MехОу.
Эту особенность многих оксидов можно трактовать как отклонение от стехиометрического состава. Поэтому рассматриваемые полупроводники называют нестехиометрическими оксидами. Несмотря на ионную природу, эти оксиды, их твердые растворы и стекла на их основе обладают электронной проводимостью. Наличие свободных мест в d-оболочке позволяет металлам, образующим нестехиометрические оксиды, обмениваться электронами. Под действием электрического поля перемещение электронов приобретает направленный характер — дрейф. Поскольку ток переносится не ионами, эти соединения не подвержены электролизу и могут работать под напряжением сколько угодно долго. Однако специфический «прыжковый» механизм электропроводности и чрезвычайно низкая подвижность исключают в этих полупроводниках такие эффекты, как холловский, фотопроводимость; в них невозможны и рп-переходы.
Некоторые из таких оксидов проявляют магнитные свойства. Например, NiO, MnO, FeO — антиферромагнетики, магнетит (Fe3O4) ферримагнетик. Хорошие магнитные свойства в них сочетаются с высоким электрическим сопротивлением, что очень ценно в технике СВЧ. Для многих нестехиометрических оксидов характерна необычная температурная зависимость электропроводности. Такие окислы, как V2О3 и VO2, при высоких температурах имеют металлическую проводимость, однако при понижении температуры до некоторого критического значения их проводимость падает на много порядков и при низких температурах имеет полупроводниковый характер. Такое необычное поведение не имеет однозначного теоретического толкования.
Как полупроводники материалы этой группы используются пока еще редко вследствие сложности явлений, управляющих электропроводностью, униполярности, низкой подвижности электронов. Поэтому в нашем курсе полупроводниковые свойства нестехиометрических оксидов будут отмечаться в связи с их применением в качестве магнитных материалов (ферриты), сегнетоэлектриков (титанат бария) и резисторов (оксиды олова, рутения).
Следствием особенностей физико-химических свойств кремния является его высокая технологичность — стабильность и способность к обработке различными методами, которая состоит в следующем:
1. Пассивирующие, маскирующие и защитные свойства собственного оксида.
Пассивирующие свойства проявляются в резком снижении скорости окисления после образования плотной, тонкой и прочно удерживающейся на поверхности пленки собственного оксида (Si02).
Защитные свойства SiO2 проявляются в том, что для большинства примесей (за исключением ионов натрия) пленка служит непроницаемым барьером. Кремний, покрытый тонкой пленкой оксида, надежно защищен от воздействия агрессивных газов, влаги, паров.
Маскирующая способность — следствие очень небольшой скорости диффузии примесей в SiO2, в 100 ... 1000 раз меньшей, чем в кремнии. Поэтому пленка SiO2 с окнами в ней, соответствующими топологии схемы, служат маской при создании в кремнии планарных pn-переходов путем диффузии электрически активных примесей из газовой фазы при температуре около 1500 К.
2. Наличие удобных для очистки и последующего восстановления (в том числе эпитаксии) исходных соединений SiCl4, SiHCl3, SiH4. Первые два — тетрахлорид и трихлорсилан представляют собой легкокипящие жидкости, неагрессивные по отношению к нержавеющей стали, что позволяет глубоко чистить их самым простым и эффективным методом - ректификацией.
SiH4 — моносилан, непрочный гидрид кремния, представляющий собой при комнатной температуре газ (Tкип=143 К). Соединения с водородом образуют лишь очень немногие химические элементы, поэтому уже при синтезе моносилана происходит глубокая очистка, которая дополняется низкотемпературной ректификацией. Именно моносилановый кремний благодаря исключительной чистоте по электрическим свойствам наиболее близок к собственному.
3. Кремний образует многие соединения с ценными свойствами, что используется в технологии полупроводниковых приборов и ИС.
Широко применяется диоксид кремния Si02 в виде плавленого кварца - нагревостойкого и высокочистого материала.
Нитрид кремния Si3N4 — одно из наиболее стойких химических соединений. Покрытия из него надежно защищают кремний от воздействия окружающей среды как при обычной, так и при повышенной (до 1473 К) температуре.
Карбид кремния SiC образуется при высокотемпературном взаимодействии кремния с углеродом. Это также термостойкое химическое соединение, которое используется главным образом для покрытий графитовых деталей, находящихся в рабочей камере, где обрабатывается кремний. Благодаря такому покрытию исключается загрязнение кремния углеродом, повышается срок службы графитовых деталей при высокой температуре.
Эпитаксия и гетероэпитаксия — явления, которые впервые приобрели широкое практическое значение именно в технологии кремния. Эпитаксия – доращивание монокристалла при температуре, меньшей температуры плавления. Кремний — единственный материал, который удается наращивать эпитаксиально также и на инородные подложки (гетероэпитаксия).
Главный же недостаток германия — неприменимость планарной технологии из-за низкой температуры плавления (а вследствие этого и низкой скорости диффузии примесей) и отсутствия пассивирующего собственного оксида. Германий оказался непригодным для массового производства ИС, т. е. «не вписался» в микроэлектронику. Он нашел свое применение в детектировании ядерных излучений и ИК-оптике.
Проведенные эксперименты показали, что элементы III группы — Al, Ga, In — образуют с элементами V группы — Р, As, Sb — достаточно стабильные соединения — фосфиды, арсениды и антимониды. Среди соединений, которые могут образовать между собой элементы III и V групп, имеются и узкозонные (InSb, CaSb, InAs), и широкозонные (GaP, GaAs, InP). Еще большей шириной запрещенной зоны Eg>3 эВ обладают нитриды алюминия и галлия, которые, как и алмаз, формально должны быть отнесены к диэлектрикам. Однако благодаря особому строению и ковалентной тетраэдрической связи они все же проявляют полупроводниковые свойства. Их практическое использование будет зависеть от совершенствования технологии и повышения качества материала.
С освоением соединений AIIIBV появилась возможность выбора полупроводников с различной шириной запрещенной зоны и уже одно это резко расширило области их применения. Кроме того, были выявлены преимущества приборных структур, состоящих из слоев различных полупроводников, так называемых гетеропереходов. Дальнейшее изучение полупроводниковых соединений выявило их принципиальные особенности по сравнению с германием и кремнием, которые состоят в следующем.
Высокая подвижность электронов µ, обусловливающая перспективность некоторых широкозонных AIIIBV как материалов для СВЧ-техники. Именно с фосфидом индия (InP) связаны надежды на освоение диапазона частот вплоть до 100 ГГц, тогда как предельные частоты, обеспечиваемые арсенидом галлия, 30...40 ГГц, кремнием — 1 ... 3 ГГц (при этом имеются в виду приборы, изготовленные по современной технологии с размерами активных областей в доли микрометров).
Особенности зонной структуры GaAs обеспечивают ему значительные преимущества при изготовлении и третьего основного типа генераторов СВЧ-колебаний — лавинно-пролетных диодов; их КПД выше, а шумы значительно меньше кремниевых.
Благодаря применению полупроводников, главным образом AIIIBV, с различной шириной запрещенной зоны светодиоды могут испускать спонтанное излучение в ультрафиолетовой, видимой и инфракрасной областях спектра.
Поведение электрона в слоистой структуре определяется уже не столько свойствами материалов слоев, сколько параметрами искусственного потенциала. Изменяя путем подбора вида и толщины смежных слоев амплитуду, форму и период этого потенциала, можно управлять зонным строением. Это означает, по существу, создание по заказу новых полупроводников с требующимися шириной запрещенной зоны, эффективными массами электронов и дырок. Примерами пар материалов, наиболее пригодных для практического изготовления сверхрешеток, являются GaAs—GaP, GaAs—Ga1-xAlxAs, а лучший метод получения — молекулярно-лучевая эпитаксия.
Комбинируя слои различного состава и толщины в гетеро эпитаксиальных структурах, можно резко (до 20 раз) повысить дрейфовую скорость электронов, что может значительно увеличить быстродействие приборов СВЧ и вычислительной техники. Физический смысл взаимодействий в такой структуре поясняется рис. 6.8. Она состоит из слоя сильно легированного полупроводника n-типа, например Ga1-xAlxAs, и слоя возможно более чистого полупроводника с несколько меньшей шириной запрещенной зоны— GaAs. Энергетически выгодным в такой структуре оказывается переход электронов проводимости в слой GaAs, и в нем создается необычная ситуация — высокая концентрация свободных электронов при почти полном отсутствии ионов донорных примесей. Последние, как отмечалось выше, служат центрами рассеяния, что и приводит в обычных полупроводниках к падению подвижности при росте концентрации носителей. Сочетание же высокой концентрации носителей и высокой подвижности в структурах с «двумерным» электронным газом открывает возможность изготовления транзисторов ИС с рекордно низким временем переключения (10...30 пс) на основе уже известных материалов. Это новое направление в материаловедении - синтез на базе освоенных веществ структур с совершенно новыми свойствами, т. е. конструирование материалов или кристаллоинженерия.
Недостатки:
1. Низкая растворимость легирующих примесей, которые уже при концентрации свыше 1*1018 см3 начинают выпадать из твердого раствора и, образуя новые фазы, становятся электрически неактивными.
2. Отсутствие собственных оксидов, обладающих достаточной стабильностью и пригодных для получения чистой, свободной от электрически активных состояний границы диэлектрик-полупроводник.
3. Токсичность реагентов, используемых для выращивания монокристаллов и эпитаксии (AsCl3, AsH3, PH3), металлоорганических соединений в сочетании с взрывоопасностью водорода, который служит реакционной средой. Вредные отходы в процессе изготовления.
Почти все металлы образуют соединения с элементами VI группы— халькогенами — серой, селеном и теллуром. Большая часть халькогенидов — полупроводники, которые были объектом исследований, а в ряде случаев находили промышленное применение задолго до того, как был введен сам термин «полупроводник».
Халькогениды существенно расширяют возможности полупроводниковой электроники благодаря прежде всего ценным фото- и пьезоэлектрическим свойствам. Особенность этой группы полупроводников — значительно большее, нежели в случае Si, Ge и даже соединений AIIIBV, влияние технологии на основные свойства. Причина состоит в том, что компоненты халькогенидов могут обладать резко различающимися физико-химическими свойствами, прежде всего упругостями пара при повышенных температурах. Поскольку при изготовлении соединений и приборов из них нельзя обойтись без высокотемпературных обработок, именно соотношение упругостей пара компонентов определяет свойства. В отличие от соединений AIIIBV, где рА<<рв (часто упругостью пара компонента А в них можно пренебречь), в халькогенидах можно видеть и еще три варианта: 1) рА≈рв CdTe, ZnTe; 2) рА<рв, CdS, ZnTe, CdSe, ZnSe; 3) рА>рв HgSe, HgTe. В халькогенидах свинца (PbS,PbSe, PbTe) рА<<рв.
Вследствие разницы упругостей пара компонентов A и В выдержка соединений при повышенной температуре приводит к частичной потере более легколетучего компонента из-за испарения. Отсюда следует одна из характерных особенностей соединений AllBVI и других халькогенидов: их удельное сопротивление можно изменять в широких пределах путем простейшей термообработки в парах одного из собственных компонентов. Благодаря чувствительности к видимому свету соединения AllBVI применяются в качестве материалов тонкопленочных солнечных элементов. Основное их достоинство по сравнению с монокристаллическими — простота технологии и низкая стоимость при КПД, достигающем 10%.
К числу наиболее распространенных оптоэлектронных приборов относятся фоторезисторы, изготовляемые преимущественно на базе полупроводников AllBVI —CdS, CdSe, CdHgTe —и AIVBVI — PbS и PbSnTe.
Значительно большее значение в радиоэлектронике, особенно в ПК-технике и криоэлектронике, имеют приборы, основанные на обратном эффекте — поглощении тепла pn-переходом при протекании через него тока в прямом направлении. Батарея из таких элементов при условии отвода тепла от тепловыделяющих спаев является полупроводниковым холодильником, причем за счет последовательного подключения, когда тепловыделяющая ветвь одного элемента охлаждается теплопоглощающим контактом следующего, удается получить глубокие отрицательные температуры в 'очень малом по объему устройстве. Так можно охлаждать до рабочих температур микроэлектронные устройства типа ИК-фотоприемников, а по мере создания высокотемпературных сверхпроводников— и криотронов Джозефсона.