45. Методы анализа тестопригодности.

Существуют два пути количественной оценки тестопригодности схемы,

которые могут использоваться до генерации теста и оценки его качества счётные и алгоритмические методы.

Методы тестопригодного проектирования.

Классификация использование ТПР в качестве потенциального решения задачи тестирования СБИС обусловлено следующими факторами:

· необходимость эффективных по стоимости методов тестирования, пригодных для использования на всех этапах от разработки до изготовления и эксплуатации;

· неадекватность модели ОКН дефектам СБИС;

· увеличение сложности упаковки СБИС при ограниченном количестве

внешних выводов, что приводит к ухудшению доступности внутренних логических узлов;

· увеличение стоимости и продолжительности решения задачи генерации

тестов;

· увеличение объема информации, содержащегося в тестовых наборах, в

связи с чем, вырастает трудность организации эффективной обработки даннойинформации с помощью автоматического испытательного оборудования;

· значительная стоимость автоматического испытательного оборудования

и времени выполнения тестирования, а также все увеличивающийся разрыв

между производительностью тестера и быстродействием тестируемых схем.

Главными различиями между структурными, ВСТ и неструктурными ме-

тодами ТПР – это:

· точка применения в процессе проектирования;

· количество дополнительного оборудования (логики), которое тре-

буется для реализации метода.

Неструктурные методы представляют собой совокупность правил улуч-

шения управляемости и наблюдаемости некоторых элементов схемы.

· Используются на последних этапах проектирования.

· Требуют незначительных дополнительных аппаратурных затрат для

Реализации

Структурные методы и ВСТ.

· Являются интегральной частью процесса проектирования (начиная с самых ранних этапов).

· Требуют значительно больших аппаратурных затрат по сравнению с не-

структурными методами.

Существует довольно большое количествоструктурных методов илиметодов сканирования.Наиболее известные из них:

ScanPath (сканируемого пути) фирмы NipponElectric (Япония).

RandomAccessScan (сканирование с произвольным доступом) фирмы

Fujitsu (Япония). LSSDh (LevelSensitiveScanDesign) (сканирование, чувствительного к уровню тактового сигнала) фирмы IBM (США).

ScanSet(сканирование-установка) фирмы SperryUnivac (транснацио-

нальная корпорация).BoundaryScan (граничное сканирование) исследовательской группы JTAG при поддержке 200 фирм.

46. Управляемость, наблюдаемость, тестопригодность.

Нетестопригодное изделие– это не то изделие, которое нельзя проверить, а то:

1) которое тестируется неприемлемо длинным тестом (возрастает время

тестирования);

2) для которого время генерации теста велико и/или сложный алгоритм

построения теста;

3) у которого качество теста неприемлемо низко (особенно для БИС,

СБИС из-за плохого доступа к внутренним узлам, из-за ограниченного числавходов – ухудшается управляемость и наблюдаемость).

Т.е. либо схему нельзя адекватно протестировать, либо если и можно, то сбольшими временными затратами на тестирование и построение теста.

I. Для того, чтобы протестировать ПП, необходимо на её входы подать

набор тестирующих векторов. Каждый из векторов необходимо транспортировать через область А. Для этого необходимо установить фиксированные значения узлов схемы в области А путём подачи на первичные входы соответствующего входного набора.

Простота решения этой задачи для каждого узла определяет его управ-

ляемость.II. Реакцию на тест необходимо транспортировать к первичным выходамчерез область В. Это обеспечивается установкой фиксированных значений узлов из области В с использованием уже определённых и ещё неопределённыхсостояний первичных входов.Простота решения этой задачи для каждого узла определяет его наблюдаемость.

Наблюдаемость– способность наблюдать логические состояния внутренних узлов схемы на внешних выходах схемы.Таким образом, изделия – функция значений егоуправляемости и наблюдаемости.Интуитивно ясно, что улучшение тестопригодности сводится к улучше-

нию управляемости и наблюдаемости.