IV. Форма итогового контроля

Экзамен

V. Учебно-методическое обеспечение курса

1. Рекомендуемая литература (основная)

Бабушкин А.Н. Введение в структурный анализ. Изд. УрГУ, 2002, 110 c. (рек.УМО)

Шаскольская М.П. Кристаллография. М.: Высш.школа, 1984.

Жданов Г.С., Ильюшин А.С., Никитина С.В. Дифракционный и резонанс-

ный структурный анализ. М.: Наука, 1980.

Найш В.Е. Теория симметрии кристаллов. Свердловск: УрГУ, 1986.

Васильев Е.К., Нахмансон М.С. Качественный рентгенофазный анализ.

Новосибирск: Наука, Сиб. отделение, 1986.

Крамер-Агеев Е.А., Лавренчик В.Н., Самосадный В.Т., Протасов В.П.

Экспериментальные методы нейтронных исследований. М.: Энергоатомиздат,

1990.

2. Рекомендуемая литература (дополнительная)

Порай-Кошиц М.А. Основы структурного анализа химических соединений.

М.: Высшая школа, 1982.

Шафрановский И.И., Алявдин В.Ф. Краткий курс кристаллографии. М.:

Высш.школа, 1987.

Липсон Г., Стипл Г. Интерпретация порошковых рентгенограмм. М.:

Мир, 1972.

Алсанов Л.А.Инструментальные методы рентгеноструктурного анализа.

М.: МГУ, 1983.

Крушатина Н.А. Применение методов электронографии к определению

атомной структуры кристаллов. Свердловск: УрГУ, 1985.

Миркин Л.И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристал-

лов. М.: ГИФМЛ, 1961.

Вертхейм Г. Эффект Мессбауэра: Принципы и применения. М.: Мир,

1966.

6. Ресурсное обеспечение

Студентам выдается электронный вариант курса лекций. При чтении используется мультимедийное оборудование и ресурсы Интернет

Автор

Бабушкин А.Н., д.ф.м.н., профессор, кафедра физики низких температур, УрГУ

(ФИО, ученая степень, ученое звание, кафедра, вуз)