Примерный перечень вопросов к экзамену

№

п/п

Наименование

разделов и тем

ВСЕГО

(часов)

Аудиторные занятия

(час)

Самостоятельная работа

в том числе

Лекции

1

Введение. Изменение структуры вещества при изменении температуры и давления. Современные методы исследования структуры вещества. Дифракционные методы. Резонансные методы. Основные этапы развития представлений о структуре вещества и методов структурного анализа.

3

3

0

2

Основная задача структурного анализа. Дифракционный структурный анализ как преобразование Фурье. Фазовая проблема. Понятие о прямых методах структурного анализа.

2

2

0

3

Основные представления о симметрии кристаллов. Решетка Бравэ. Примитивная ячейка. Элементарная ячейка кристалла. Элементы симметрии кристаллов. Кристаллографические сингонии. Понятие группы симметрии. Точечные группы симметрии. Пространственные группы симметрии.

4

2

2

3

Фурье-образ кристалла. Пространство объекта и обратное пространство. Связь между прямым и обратным пространствами. Влияние симметрии функции на ее Фурье-образ. Фурье-образ неоднородного объекта.

4

2

2

4

Фурье-образы атомного ядра, электронной плотности атома, элементарной ячейки кристалла, решетки Бравэ. Фурье-образы конечной и бесконечной линейных цепочек, состоящих из материальных точек. Влияние дефектов кристаллической решетки на дифракционную картину.

3

3

5

Интенсивность дифракционных линий при рассеянии излучения конечными и бесконечными кристаллами. Интерференционная функция пространственной кристаллической решетки.

2

2

6

Геометрия дифракционной картины монокристаллов. Уравнения Лауэ. Формула Вульфа — Брэгга. Дифракционная картина поликристалла.

4

2

2

7

Фурье-образы кристаллов со сложными элементарными ячейками. Законы погасания. Использование законов погасания при интерпретации рентгенограмм.

5

3

2

8

Интенсивность дифракционной картины. Влияние статических и динамических искажений кристаллической решетки на интенсивность дифракционной картины.

2

2

9

Основные методы дифракционного структурного анализа — рентгенографический, нейтронографический и электроннографичекий. Сравнительный анализ различных методов структурного анализа

3

3

10

Методы и аппаратура дифракционных структурных исследований. Классификация экспериментальных методов.

2

2

11

Основные представления о ядерном гамма резонансе. Эффект Мессбауэра. Механизмы взаимодействия гамма-квантов с веществом.

2

2

12

ЯГР-спектроскопия. Требования к источникам и поглотителям гамма-квантов. Применение ЯГР-спектроскопии к исследованиям структуры вещества.

4

2

2

13

Ядерный магнитный резонанс. Ядерный квадрупольный резонанс. Электронный парамагнитный резонанс.

2

2

14

Синхротронное излучение. Применение синхротронного излучения для исследования структуры вещества.

2

2

15

Тонкая структура рентгеновских спектров поглощения. Изучение ближнего порядка в аморфных материалах и жидкостях.

2

2

ИТОГО:

46

36

0

10