5. Обработка результатов измерений

5.1. Построить графики зависимостей I(λ) иI₀(λ) по ре­зультатам табл. 5.1.

5.2. Построить график зависимости коэффициента спектрально­го пропускания в функции от длины волны λ. При этом учесть, что при измерениях без полупроводниковой пластины имеет место соот­ношение

,(55.4)

где i₀(λ) - значение фототока,I₀(λ) - спектральная плотность потока излучения,S(λ) -спектральная чувствительность фотоэле­мента,T₀(λ) - коэффициент спектрального пропускания монохроматора. Величина фототокаi(λ) после того, как на входную монохроматора установили пластину, дается соотношением

, (55.5)

где смысл сомножителей аналогичен их смыслу в уравнении (55.4), а Т(λ) - спектральный коэффициент пропускания полупроводника. Из (55.4) и (55.5) следует формула для определенияТ(λ):

Т(λ) =i(λ)/i_o(λ), (55.6)

5.3. По графику (55.6) определить значение λгр и ширину запрещенной зоны германияЕg. Пользуясь соотношением (55.2),определите коэффициент поглощения α для трех значений λ: λ_о ~ λ_гp , λ₂ - середина линейного участка графика Т(λ); λ₃ в области наибольшего пропускания.

5.4. Пользуясь графиками градуировки монохроматора, спект­ральной чувствительности фотоэлемента S(λ), спектрального пропу­скания монохроматора Т(λ), постройте зависимость интенсивности излучения светодиода I(λ). Амплитуда сигнала дается соотношением

U(λ) = i(λ)R, (55.7)

где I(λ) определено формулой (55.5). Отсюда

, (55.8)

Здесь R = 1003 Ом.

5.4. По графику I(λ) определите длину волны λ₀, соответст­вующую максимальному значению интенсивности.

5.5. Используя соотношение (55.4), определите ширину запрещенной зоны германия.