Фото №8

Вывод: это Гнейс.

Справка: Гнейс (от нем. Gneis) — метаморфическая горная порода, главными минераламикоторой являются плагиоклаз, кварц и калиевый полевой шпат (микроклин илиортоклаз), в подчиненном количестве могут присутствовать биотит, мусковит,роговая обманка,  пироксен, гранат, дистен, силлиманит и другие минералы.

8-я точка маршрута: ул.Пушкинская «РосТелеком» (см. прил.1)

Исследование и распознавание: Облицовочного материала цоколя и ступенек здания.

• Сочетание разных и по цвету и по форме камней с цементированных во едино

• Структура брегчеевого вида

• Неповторимые очертания в разрезе

Фото №9

Вывод: это Тектоническая брекчия.

Справка: Тектоническая брекчия — Горная порода состоящая из остроугольных, неокатанных обломков пород и соединяющего их цемента. Образуется в результате дробления и механического истирания горных пород в зонах разломов.

9-я точка маршрута:ул.Пушкинская«Государственная Публичная библиотека» (см. прил.1)

Исследование и распознавание: Облицовочного материала здания.

• Серо-коричневого цвета

• Пористое

• Редкое включение )

Фото №9

Вывод: это Вулканический туф.

Справка: Вулкани́ческий.туф  — осадочная горная порода, из вулканического пепла, вулканических бомб и других обломков, выброшенных во время извержения вулкана и уплотнившихся. Часто имеет примесь невулканических пород.

• Оборудование геолаборатории. (Геофак юфу)

• Рентгеновский энергодисперсионный  спектрометр PANalytical Epsilon 5 с поляризацией первичного излучения (3D оптика).

Уникальный энергодисперсионный прибор с поляризацией первичного излучения (3D оптика). 

Благодаря этой конструктивной особенности он обеспечивает высочайшую точность при измерении следовых концентраций тяжелых элементов.

Спектрометр Epsilon 5 внесен в Государственный реестр средств измерений (cертификат.pdf), полностью безопасен для персонала, не стоит на радиационном контроле.

Области применения

Геология, сельское хозяйство, анализ вторичного сырья, производство электроники, анализ металлов в отработанных маслах (по стандарту ASTM), мониторинг промышленных выбросов, научно-исследовательские работы и многие другие отрасли. 

Диапазон определяемых элементов от Na до U, пределы обнаружения элементов - от долей ppm до 100 %.

Рентгеновская трубка специальной конструкции (защищена патентом) с боковым окном, гадолиниевый анод, максимальное напряжение 100 кВ, максимальный ток 24 мА, мощность 600 Вт. Генератор высокого напряжения с выходной мощностью 600 Вт и регулировкой по току и напряжению в диапазонах 0,5-24 мА и 25-100 кВ.

Оптическая система с трехмерной геометрией (патент PANalytical) обеспечивает подавление рассеянного излучения за счет поляризации первичного пучка.

Инновационная конструкция оптической системы позволяет производить определение тяжелых элементов, в том числе редкоземельных элементов, по K-линиям спектра при повышенной чувствительности определения в широком диапазоне. 

Обеспечивает 10-кратное снижение фона и высокое разрешение аналитического спектра.

Детектирующая система позволяет использовать на выбор два вида энергодисперсионных детекторов:

• Ge (германиевый) полупроводниковый детектор PAN-32 на энергетический диапазон 0,7-100 кэВ, разрешение на линии Mn Ka лучше 140 эВ, максимальные загрузки до 2.105 имп/с. Оохлаждение жидким азотом

• Si (кремниевый) полупроводниковый детектор PAN-14 на энергетический диапазон 0,9-15 кэВ, разрешение на линии Mn Ka лучше 165 эВ, максимальные загрузки до 106 имп/с. Пельтье-охлаждение

Программное обеспечение

Пакет управляющих программ, программы количественного и полуколичественного анализа по FP-методу (фундаментальных параметров), построение калибровочных графиков с соблюдением концепции единства измерений по сертифицированным стандартным образцам.

Высокая стабильность всех систем прибора позволяет сохранять калибровку в течение нескольких месяцев. 

Спектрометр Epsilon5 имеет сертификат качества ISO 14002 как инструмент для проведения мониторинговых измерений состояния окружающей среды. 

• Рентгеновский спектрометр PANalytical AxiosmAX с дисперсией по длине волны последовательного типа для высокоточного анализа химического состава проб от Be до U.

Новейшая, наиболее современная, надежная и универсальная разработка PANalytical из всех существующих аналогов на рынке.

Широко применяется для анализа сырьевых материалов и конечной продукции: металлов, сплавов, спрессованных и сплавленных таблеток, стекол, пластика, концентратов, пленок, гранул, свободных порошков и жидкостей.

Применяются в различных отраслях промышленности:

• металлургической,

• горнодобывающей,

• цементной,

• ферросплавной, 

• нефтехимической,

• полимерной,

• фармацевтической,

• производстве керамики, стекла и т.д. 

Превосходный гибкий аналитический инструмент для проведения научно-исследовательских работ, в том числе в области нанотехнологий. 

Все спектрометры модельного ряда Axios внесены в Государственный реестр средств измерений, полностью безопасны для персонала, не стоят на радиационном контроле.   

AxiosmAX разработан с учетом требований проведения круглосуточного экспресс-контроля в условиях нагруженного и запыленного производства. Система предварительного вакуумирования пробы, коллектор сбора пыли и оптимальное расположение трубки и оптических модулей в измерительной камере (имеющей минимальный объем) делают измерения спрессованных проб и порошков максимально безопасными, а работу прибора надежной и долговечной.

Диапазон определяемых элементов от Be до U, пределы обнаружения элементов на уровне от долей ppm до 100 %.

Модульность

Каждый прибор конфигурируется под задачи Пользователя. Все приборы PANalytical имеют модульную конструкцию, что позволяет без труда дополнять системы новыми элементами: фиксированными каналами, кристаллами для гониометра, коллектором сбора пыли, системой продувки газом, программными модулями и т.д. Значительнооблегчается сервисное обслуживание благодаря удобному, максимально эргономичному расположению всех модулей внутри спектрометра.

Сканирующий канал - гониометр 

Укомплектован высокоточным гониометром с системой прямого оптического позиционирования (DOPS - воспроизводимость установки угла гониометра 0,0001о), который обеспечивает точность установки угла сопоставимую с фиксированными каналами.

Полувековой опыт исследований и эксплуатации систем PANalytical позволил добиться непревзойденных показателей точности и воспроизводимости результатов анализа. AxiosmAX с DOPS-гониометром практически не имеет аппаратной погрешности. 

Кристаллы-монохроматоры 

Устанавливается до 8-ми кристаллов-монохроматоров на мельницу кристаллов, в том числе изогнутые многослойные синтетические кристаллы. Классические кристаллы LiF200, LiF 220, LiF 420, Ge111 (плоский/изогнутый), PE002 (плоский/изогнутый), InSb111 (плоский/изогнутый), TIAP100 (с покрытием), PX1, PX10, PX8, PX5, PX4a, PX7, PX6 и др.

AxiosmAX может комплектоваться 1 или 2 фиксированными HiPer-каналами, повышенной по чувствительности к легким элементам: B, C, N, O, F, Na, Mg, Al. Таким образом общее количество измерительных кристаллов может достигать 10 шт. 

Рентгеновская трубка

AxiosmAX может быть укомплектован рентгеновскими трубками различной мощности 2.4, 3.0 и 4.0 кВт. Тонкое упрочненное бериллиевое окно 50 и 75 мкм и близкое расположение окна трубки к поверхности пробы (7.5 мм)обеспечивают максимальную чувствительность определения легких элементов.

Рентгеновские трубки серии SST-mAX не имеют аналогов в мире. Изготавливаются прецизионно, по технологии "нулевого испарения" ZETA, благодаря чему обеспечивается отсутствие инструментального дрейфа и, соответственно, не требуется перекалибкровка прибора. Срок службы трубки без потери интенсивности до 12 лет.

Новое покрытие трубки CHI-BLUE обеспечивает полную герметичность, устойчивость к лучам, агрессивным средам, и, соответственно, еще более долгую службу трубки. 

• Дифрактометр ДРОН-7

Дифрактометр ДРОН-7 - предназначен для рентгенодифракционного анализа поликристаллов и решения ряда задач монокристальной дифрактометрии в научно-исследовательских, учебных и заводских лабораториях. Управление дифрактометром, сбор данных и обработка результатов измерений осуществляются от персонального компьютера.

В состав дифрактометра входят: гониометр, высоковольтный источник питания рентгеновской трубки, рентгеновская трубка, детектор, блок управления и сбора данных, блок управления приводом, приборный каркас с защитой, программа управления и сбора данных. Каждый модуль обеспечивает преобразование перемещения шагового двигателя в угловое перемещение через червячный вал и зубчатое колесо. В качестве измерителей угловых перемещений используются фотоэлектрические датчики угол-код инкрементного типа, установленные непосредственно на главной оси гониометра, что обеспечивает прямое измерение их угловых перемещений. Источник питания рентгеновской трубки COMPACT 3K5-RS232-MAN обеспечивает высокую надежность работы рентгеновской трубки и дифрактометра в целом. Блок управления и сбора данных и блок управления приводом обеспечивают управление исполнительными механизмами гониометра и измерительным каналом. Рентгеновские трубки трех типов БСВ-27, 28 и 29 с линейным и точечным фокусом, отличаются размерами фокусного пятна и могут иметь различный материал анода. Защита от неиспользованного рентгеновского излучения выполнена в соответствии с нормами радиационной безопасности (НРБ 99).

• Сканирующий электронный микроскоп

Сканирующий электронный микроскоп - микроскоп, который сканирует исследуемый образец электронным лучом. Измеряет интенсивность квантов, испускаемых образцом. Это могут быть вторичные электроны, отраженные электроны и т.д. Преобразует измеренную интенсивность в электрический сигнал. По сравнению с оптическими микроскопами характеризуется более высокими пространственным разрешением и глубиной резкости, а также возможностью проведения химического анализа на основе регистрации спектра рентгеновского излучения, генерируемого при облучении поверхности образца электронным пучком. Схема действия растрового электронного микроскопа: электроны, испускаемые электронной пушкой (нить накала обычно из вольфрама), ускоряются до энергии 2-40 кэВ; набор магнитных линз и отклоняющих катушек сканирования формирует электронный пучок малого диаметра, разворачиваемый в растр на поверхности образца. При облучении этой поверхности электронами возбуждаются три типа излучения, несущего полезную информацию: рентгеновские лучи, вторичные электроны и отраженные (обратнорассеянные) электроны. Пространственное разрешение сканирующего электронного микроскопа зависит от поперечного размера электронного пучка, который в свою очередь зависит от электронно-оптической системы, фокусирующей пучок. Разрешение также ограничено размером области взаимодействия электронного зонда с образцом, т. е. от материала мишени. Размер электронного зонда и размер области взаимодействия зонда с образцом намного больше расстояния между атомами мишени, таким образом, разрешение сканирующего электронного микроскопа не настолько велико, чтобы отображать атомарные масштабы, как это возможно, например, в просвечивающем электронном микроскопе. Однако сканирующий электронный микроскоп имеет свои преимущества, включая способность визуализировать сравнительно большую область образца, способность исследовать массивные мишени (а не только тонкие пленки), а также разнообразие аналитических методов, позволяющих измерять фундаментальные характеристики материала мишени. В зависимости от конкретного прибора и параметров эксперимента, может быть получено разрешение от десятков до единиц нанометров. Сканирующие микроскопы применяются в первую очередь как исследовательский инструмент в физике, электронике, биологии. В-основном, это получение изображения исследуемого образца, которое может сильно меняться в зависимости от применяемого типа детектора. Эти различия позволяют делать вывод о физике поверхности, проводить исследование морфологии поверхности. Электронный микроскоп практически единственный прибор, который может дать изображение поверхности современной микросхемы или промежуточной стадии фотолитографического процесса.