Гладков / Выдать 14 февраля 3013 / 1. Поверхность / 3.4. Поверхностные состояния и уровни / Рисунок Поверхностные состояния Зеегер с 543
.doc
оверхностные
состояния, Зеегер, с. 543÷546
Поверхностные состояния, Зеегер, с. 540÷546
Эмпирическим
путем установлено, что влияние состояний
на границе раздела выражается тем
сильнее, чем меньше ширина запрещенной
зоны полупроводника.
На границе раздела часто образуется пленка окисла, особенно если перед изготовлением металлического контакта полупроводник подвергался травлению в окисляющем реагенте. Схема энергетических зон для этого случая представлена на фиг.14.4. Здесь имеются состояния на внутренней поверхности раздела, называемые быстрыми состояниями, и состояния на наружной поверхности, называемые медленными состояниями в соответствии со временем их отклика на воздействие сильного электрического поля, перпендикулярного поверхности кристалла.
В случае, представленном на фиг.14.4, полупроводник обладает проводимостью n- типа, а поверхность заряжена отрицательно.
Электроны проводимости отталкиваются от отрицательного поверхностного заряда, что приводит к образованию либо обедненного слоя, либо инверсионного слоя p- типа, если валентная зона загибается выше квазиуровня Ферми в объеме, как показано на фиг.14.4. Если поверхностные состояния заряжены положительно, то образуется слой накопления.
На фиг.14.5 показано, как изгиб зон, обусловленный заряженными поверхностными состояниями, приводит к выравниванию работ выхода с обеих сторон германиевого p–n- перехода. Несмотря на наличие внутреннего диффузионного потенциала1), равного 0,34 В, разность работ выхода, измеренная методом Кельвина (см., например, [18]), составляет всего лишь 0,002 0,004 эВ [17], что можно объяснить изгибом зон (фиг.14.5).

Главная проблема во всех исследованиях поверхности полупроводников состоит в определении распределения поверхностных состояний по энергиям. Несмотря на многочисленные эксперименты, спор об этом распределении продолжается в основном из-за того, что
1) не удается изменять в широких пределах уровень легирования и тем самым положение уровня Ферми и
2) трудно получить воспроизводимые свойства поверхности, не зависящие от технологии.
Для исследования поверхности использовались следующие явления: поверхностная электропроводность, эффект поля, фотоэффект, поверхностная рекомбинация, автоэлектронная эмиссия, поверхностная фотопроводимость, поглощение и отражение света.
1) См. гл. 5, § 4. – Прим ред.
