
- •Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет
- •Введение
- •Часть 1. Надежность технических систем
- •Вероятностная оценка надежности технической системы
- •Экспоненциальный закон надежности
- •Системы, резервированные по методу голосования
- •Резервированные системы с параллельным включением резервных элементов
- •Вопросы
- •Простейший поток событий и марковские модели функционирования технической системы
- •Потоки событий. Простейший поток и его свойства
- •Аппроксимация потока редких событий пуассоновским потоком
- •Марковские модели функционирования технической системы
- •Непрерывные цепи Маркова
- •Резервированные системы с восстановлением. Уравнения Колмогорова
- •Вопросы
- •Аппаратурная и информационная надежность навигационной системы
- •Часть 2. Техническая диагностика
- •Основные принципы проектирования средств диагностирования
- •Назначение и достоверность средств диагностирования
- •Математические модели объектов диагностирования
- •Модели безынерционных преобразователей
- •Динамические модели
- •Логико-динамические модели мультирежимных систем
- •Иерархический подход к проектированию и организации средств диагностирования
- •Организация диагностирования. Безусловные и условные диагностические эксперименты
- •Диагностические экспертные системы
- •Структура средств диагностирования навигационной системы
- •Вопросы
- •Методы тестового диагностирования
- •Тестовое диагностирование безынерционных преобразователей
- •Тестовое диагностирование динамических устройств
- •Тестовое диагностирование дискретных устройств. Общий подход
- •Тестовое диагностирование линейных дискретных устройств. Структурный подход
- •Тестовое диагностирование линейных дискретных устройств. Абстрактный подход
- •Тестовое диагностирование аналоговых линейных устройств
- •Тестовое диагностирование мультирежимных систем
- •Принципы тестового диагностирования мультирежимных систем
- •Тестовое диагностирование процессора
- •Тестовое диагностирование распределенных информационно-управляющих систем
- •Структура средств диагностирования
- •Построение проверяющего теста. Управляемость и наблюдаемость периодически нестационарной системы
- •Синтез модели системы обмена
- •Методы функционального диагностирования
- •Методы функционального диагностирования для обнаружения отказов
- •Функциональное диагностирование при поиске структурных нарушений
- •Функциональное диагностирование при поиске отказов в пространстве сигналов
- •Функциональное диагностирование при поиске отказов в пространстве параметров
- •Функциональное диагностирование информационных отказов в интегрированной навигационной системе
- •Вопросы
- •Приложение 1. Основные понятия теории вероятностей
- •Приложение 2. Модели представления знаний.
- •Приложение 3. Основы нечеткого анализа
- •Литература
Тестовое диагностирование линейных дискретных устройств. Абстрактный подход
Рассмотрим задачу тестового диагностирования в случае, когда разработчик не может или не хочет при построении теста для устройства в целом воспользоваться (как это было в подразделе 5.2.2) тестом для его безынерционных преобразователей и определяет класс отказов как всевозможные искажения матриц системы. При этом будем предполагать, что система по-прежнему наблюдаема и управляема и что любой отказ из рассматриваемого класса приводит лишь к искажению матриц диагностируемой системы, но не выводит ее из класса линейных.
Обсуждаемый
тест будет состоять из двух частей
и
.
Обе части строятся по описанию исправной
системы. Рассмотрим первую часть, под
воздействием которой система
последовательно проходит черезnсостояний
.
Пусть эти состояния образуют базис
пространства состояний системы. После
установки в каждое из этих состояний
система находится в свободном движении
(вход равен нулю) на протяженииnтактов, т.е.
имеет вид:
,
где
- установочная последовательность в
,
- входная последовательность изnнулей. Последовательность
существует, т.к. диагностируемая система
управляема.
Вторая
часть теста
содержитmфрагментов (по
числу входов), каждый из которых состоит
из входного набора
и последовательности
,
т.е.
имеет вид:
В
свою очередь, вектор
состоит из нулевых компонент, кроме
одной, равной единице. При этом набор
содержит единицу вi-м
разряде.
Покажем,
что любое неэквивалентное (приводящее
к нарушению отображения вход-выход)
искажение матриц F,
G,
H
обнаруживается тестом
.
Предположим противное, что в системе
присутствует искажение из рассматриваемого
класса отказов, а реакция системы верна.
Воспользовавшись
выражением (5.4) при нулевых входных
последовательностях, запишем выражения
для выходных последовательностей,
формируемых из состояний базиса :
.
Объединяя эти выражения, получаем
где
.
Аналогично
для неисправной системы имеем:
.
Поскольку
,
то
.
(5.6)
При
этом из равенств
и
следует
,
а с учетом (5.6)
.
Отсюда
,
а матрицы
и
связаны соотношением
,
(5.7)
где
R
– неособенная матрица. Поскольку
,
то
(5.8)
или в развернутом виде:
(5.9)
Приравнивая первые строки, получаем:
.
(5.10)
Дополняя (5.9) одной строкой и рассматривая последние n строк, имеем:
Учитывая
,
получаем
.
Отсюда
.
(5.11)
Покажем,
как получить соотношение для
и
,
опираясь на результаты тестирования в
части
.
Запишем выходную реакцию устройства
на последовательность
воспользуемся соотношениями (5.4). Дополним
(5.4) одной строкой и рассмотрим последниеn
строк. Приравнивая выходные
последовательности, получаем:
.
Воспользовавшись соотношениями (5.7), (5.8) и (5.11), получаем:
или
.
Приравнивая
вторые слагаемые левой и правой частей
и умножая слева на
,
получаем:
. (5.12)
Из выражений (5.7), (5.10), (5.11) и (5.12) следует, что исправная и неисправная системы являются эквивалентными, а, значит, наше предположение о наличии в диагностируемой системе неэквивалентного искажения неверно.
Таким
образом, тест
обнаруживает любые неэквивалентные
искажения матриц диагностируемой
системы.
Тестовое диагностирование аналоговых линейных устройств
Ранее обсуждавшиеся средства тестового диагностирования в случае аналоговых устройств могут быть реализованы по-разному. Если эти средства являются внешними, входящими, например, в состав некоторого стенда, на котором тестируется рассматриваемое устройство, то они могут быть исполнены на основе персонального компьютера (рис. 5.4).
При этом средства должны содержать ЦАП, преобразующий генерируемый в ПК цифровой тестовый сигнал в аналоговый, а также АЦП, преобразующий аналоговый сигнал реакции устройства в цифровой.
Методы
построения тестов могут быть различными.
Для линейных устройств может использоваться,
в частности, и частотный подход,
заключающийся в снятии амплитудно-частотной
характеристики устройства или в измерении
ее только на резонансных частотах.
Однако могут быть и другие подходы,
например, связанные с использованием
специальных режимов, в частности, режима
свободного движения устройства (так
называемое
модальное диагностирование). При
реализации этого метода можно обойтись
без ПК и реализовать его с использованием
встроенных средств. Рассмотрим его для
линейного устройства, которое описывается
матричным дифференциальным уравнением:
,
,
где
F(t)
–
-
матрица;G(t)
–
-
матрица,
H(t)
–
-
матрица, x(t)
n1-матрица
(n-мерный
вектор),
m1-матрица,
y(t)
p1-матрица.
При этом в свободном движении уравнения упрощаются:
,
, (5.13)
Предварительно напомним некоторые сведения из теории обыкновенных дифференциальных уравнений. Рассмотрим матричное однородное линейное дифференциальное уравнение (систему однородных линейных дифференциальных уравнений) (5.13).
Пусть уравнение (5.13) стационарно, т.е. F(t)=F. Покажем, что его решение в этом случае имеет вид
,
(5.14)
где экспонента с матричным показателем представляется в виде бесконечного ряда
(5.15)
Из (5.15) следует очевидное выражение для производной по t от матричной экспоненты
.
Продифференцировав обе части равенства (5.16) и подставив результат вместе с исходным выражением в (5.13), получим тождество. Таким образом, выражение (5.14) является решением уравнения (5.13).
Теперь вспомним понятия собственного вектора и собственного числа. Собственный вектор h матрицы F – это вектор, в результате умножения которого на матрицу F получается пропорциональный ему вектор, т.е.:
. (5.16)
Преобразуем это уравнение:
. (5.17)
Данное
уравнение имеет ненулевое решение, если
определитель матрицы
равен нулю, т.е.:
.
Корни
последнего уравнения называются
собственными числами.
В
результате решения уравнения (5.17) для
каждого из собственных чисел получаем
соответствующий собственный вектор
.
Теперь о сути метода модального диагностирования. Весь тестовый эксперимент состоит из n шагов (по числу собственных векторов). На каждом шаге в диагностируемое устройство заносятся новые начальные условия, совпадающие со значением очередного собственного вектора. При этом начальное условие, заносимое устройство диагностирования, является некоторой функцией от этого собственного вектора.
На основании выражения (5.14) и с учетом равенства начальных условий некоторому собственному вектору имеем:
.
С учетом (5.18) получаем:
.
В результате выражение для выхода имеет вид:
.
Таким образом, эталонная реакция может быть сформирована устройством первого порядка.