![](/user_photo/2706_HbeT2.jpg)
- •О.С.Агеева, т.Н.Строганова, к.С.Чемезова
- •Предисловие
- •1.Элементы квантовой механики
- •1.1. Гипотеза де Бройля. Корпускулярно-волновой дуализм микрочастиц
- •Опыты Девиссона и Джермера (1927г.)
- •Опыты Тартаковского и Томсона (1928 г.)
- •1.2. Соотношение неопределенностей
- •1.3. Волновая функция
- •1.4. Уравнение Шредингера
- •1.5. Задача квантовой механики о движении свободной частицы
- •1.6. Задача квантовой механики о частице в одномерной прямоугольной потенциальной яме
- •1.7. Понятие о туннельном эффекте.
- •1.8. Атом водорода в квантовой механике. Квантовые числа
- •Состояния электрона в атоме водорода
- •1.9. 1S– состояние электрона в атоме водорода
- •1.10. Спин электрона. Принцип Паули
- •1.11. Спектр атома водорода
- •1.12. Поглощение света, спонтанное и вынужденное излучения
- •1.13. Лазеры
- •1.13.1. Инверсия населенностей
- •1.13.2. Способы создания инверсии населенностей
- •1.13.3. Положительная обратная связь. Резонатор
- •1.13.4. Принципиальная схема лазера.
- •1.14. Уравнение Дирака. Спин.
- •2. Зонная теория твердых тел.
- •2.1. Понятие о квантовых статистиках. Фазовое пространство
- •2.2. Энергетические зоны кристаллов. Металлы. Полупроводники. Диэлектрики
- •Удельное сопротивление твердых тел
- •2.3. Метод эффективной массы
- •3. Металлы
- •3.1. Модель свободных электронов
- •При переходе из вакуума в металл
- •3.2. Распределение электронов проводимости в металле по энергиям. Уровень и энергия Ферми. Вырождение электронного газа в металлах
- •Энергия Ферми и температура вырождения
- •3.3. Понятие о квантовой теории электропроводности металлов
- •3.4. Явление сверхпроводимости. Свойства сверхпроводников. Применение сверхпроводимости
- •3.5. Понятие об эффектах Джозефсона
- •4. Полупроводники
- •4.1. Основные сведения о полупроводниках. Классификация полупроводников
- •4.2. Собственные полупроводники
- •4.3.Примесные полупроводники
- •4.3.1.Электронный полупроводник (полупроводник n-типа)
- •4.3.2. Дырочный полупроводник (полупроводник р-типа)
- •4.3.3.Компенсированный полупроводник. Частично компенсированный полупроводник
- •4.3.4.Элементарная теория примесных состояний. Водородоподобная модель примесного центра
- •4.4. Температурная зависимость удельной проводимости примесных полупроводников
- •4.4.1.Температурная зависимость концентрации носителей заряда
- •4.4.2.Температурная зависимость подвижности носителей заряда
- •4.4.3. Температурная зависимость удельной проводимости полупроводникаn-типа
- •4.4.5. Термисторы и болометры
- •4.5. Рекомбинация неравновесных носителей заряда в полупроводниках
- •4.6. Диффузия носителей заряда.
- •4.6.1. Диффузионная длина
- •4.6.2. Соотношение Эйнштейна между подвижностью и коэффициентом диффузии носителей заряда
- •4.7. Эффект Холла в полупроводниках
- •4.7.1. Возникновение поперечного электрического поля
- •4.7.2. Применение эффекта Холла для исследования полупроводниковых материалов
- •4.7.3. Преобразователи Холла
- •4.8. Магниторезистивный эффект
- •5. Электронно-дырочный переход
- •5.1.Образование электронно-дырочного перехода
- •5.1.1. Электронно-дырочный переход в условиях равновесия (при отсутствии внешнего напряжения)
- •5.1.2.Прямое включение
- •5.1.3.Обратное включение
- •5.2.КласСификация полупроводниковых диодов
- •5.3. Вольт-амперная характеристика электроннно-дырочного перехода. Выпрямительные, детекторные и преобразовательные диоды
- •5.3.1.Уравнение вольт-амперной характеристики
- •Классификация полупроводниковых диодов
- •5.3.2.Принцип действия и назначение выпрямительных, детекторных и преобразовательных диодов
- •5.4. Барьерная емкость. Варикапы
- •5.5.Пробой электронно-дырочного перехода
- •5.6. Туннельный эффект в вырожденном электронно-дырочном переходе. Туннельные и обращенные диоды
- •6.Внутренний фотоэффект в полупроводниках.
- •6.1.Фоторезистивный эффект. Фоторезисторы
- •6.1.1.Воздействие излучения на полупроводник
- •5.1.2.Устройство и характеристики фоторезисторов
- •6.2.Фотоэффект в электронно-дырочном переходе. Полупроводниковые фотодиоды и фотоэлементы.
- •6.2.1.Воздействие света наp-n-переход
- •7.Люминесценция твердых тел
- •7.1.Виды люминесценции
- •7.2.Электролюминесценция кристаллофосфоров
- •7.2.1. Механизм свечения кристаллофосфоров
- •7.2.2. Основные характеристики электролюминесценции кристаллофосфоров
- •7.2.3.Электролюминесцентный источник света
- •7.3.Инжекционная электролюминесценция. Устройство и характеристики светодиодных структур
- •7.3.1.Возникновение излучения в диодной структуре
- •7.3.2.Конструкция светодиода
- •7.3.3.Основные характеристики светодиодов
- •7.3.4.Некоторые применения светодиодов
- •7.4 Понятие об инжекционных лазерах
- •8. Транзисторы
- •8.1.Назначение и виды транзисторов
- •8.2.Биполярные транзисторы
- •8.2.1 Структура и режимы работы биполярного транзистора
- •8.2.2.Схемы включения биполярных транзисторов
- •8.2.3.Физические процессы в транзисторе
- •8.3.Полевые транзисторы
- •8.3.1.Разновидности полевых транзисторов
- •8.3.2.Полевые транзисторы с управляющим переходом
- •8.3.3. Полевые транзисторы с изолированным затвором. Структуры мдп-транзисторов
- •8.3.4.Принцип действия мдп-транзисторов с индуцированным каналом
- •8.3.5. Мдп-транзисторы со встроенным каналом
- •8.4. Сравнение полевых транзисторов с биполярными
- •Заключение
- •1.Элементы квантовой механики 4
- •2. Зонная теория твердых тел. 42
- •3. Металлы 50
- •4. Полупроводники 66
- •5. Электронно-дырочный переход 98
- •6.Внутренний фотоэффект в полупроводниках. 109
- •7.Люминесценция твердых тел 114
- •8. Транзисторы 123
4.3.1.Электронный полупроводник (полупроводник n-типа)
Пусть небольшая часть атомов основного вещества замещена атомами примеси с валентностью на единицу большей. В качестве примера рассмотрим кремний, легированный элементом V группы фосфором. Для установления связи с четырьмя ближайшими соседями атом фосфора использует четыре валентных электрона. Пятый электрон в образовании ковалентных связей не участвует, он продолжает двигаться вокруг своего атома, но связан с ним намного слабее.
При сообщении электрону небольшой энергии он отрывается от атома фосфора и приобретает способность свободно перемещаться по кристаллу, превращаясь таким образом в электрон проводимости (свободный электрон). Этот процесс условно показан на рис. 4.3. После ухода пятого валентного электрона атом фосфора становится положительным ионом. Все связи этого иона с соседями заполнены, поэтому положительный заряд перемещаться не может.
|
| |
Рис. 4.3. Атом фосфора в решетке кремния: а) замещение атома Si атомом P; б) отщепление «лишнего» электрона от атома |
Рис. 4.4. Энергетическая диаграмма полупроводника, содержащего донорную примесь |
Таким образом, при ионизации одного атома примеси образуется только один носитель заряда - электрон, дырка при этом не появляется. При T > 0в первую очередь возбуждаются электроны примесных атомов, поэтому их концентрация при низких температурах может во много раз превысить концентрацию собственных носителей заряда. Примеси, являющиеся поставщиками электронов проводимости, называютдонорными примесями, или простодонорами, а уровни этих примесей -донорными уровнями.
На энергетической диаграмме донорный уровень будет располагаться в верхней части запрещенной зоны (рис. 4.4), он отстоит от дна зоны проводимости на величинуEd, равнуюэнергии ионизации донора. Подэнергией ионизации донорапонимают минимальную энергию, которую необходимо сообщить электрону, находящемуся на донорном уровне, чтобы перевести его в зону проводимости.Она равна энергии связи пятого валентного электрона с атомом донора.
Энергия ионизации донора значительно меньше энергии ионизации собственных атомов (равной ширине запрещенной зоны). Поэтому в полупроводнике с донорными примесями при низких температурах преобладают электроны, возникшие при ионизации доноров. Электропроводность такого полупроводника обусловлена электронами, поэтому его называют электронным полупроводником, или полупроводникомn-типа.
Кроме электронов, полупроводник n-типа содержит небольшое количество дырок, образующихся при редких переходах электронов из валентной зоны в зону проводимости (как и в собственном полупроводнике). Электроны в полупроводнике n-типа называют основныминосителями заряда, а дырки –неосновными.
4.3.2. Дырочный полупроводник (полупроводник р-типа)
Рассмотрим легирование полупроводника примесью, валентность которой меньше валентности основного вещества на единицу. Например, пусть в кремнии небольшая часть атомов замещена атомами бора - элемента Ш группы периодической системы.
|
| |
Рис.4.5. Атом бора в решетке кремния: а) замещение атома Si атомом B; б) образование дырки |
Рис.4.6. Энергетическая диаграмма полупроводника, содержащего акцепторную примесь |
Для образования связей с четырьмя ближайшими соседями у атома бора не хватает одного электрона. Недостающий электрон может быть захвачен атомом бора у соседнего атома кремния. Для этого требуется небольшая затрата энергии. Атом бора, захвативший электрон, становится отрицательным ионом. Разорванная связь атома кремния не остается локализованной. Этот атом может захватить электрон у другого атома кремния, и положительный заряд будет перемещаться: появилась дырка. Примеси, захватывающие электроны из валентной зоны, называются акцепторами, а энергетические уровни этих примесей -акцепторнымиуровнями. Акцепторные уровни располагаются в нижней части запрещенной зоны. ВеличинаEa - этоэнергия ионизации акцептора, т.е. минимальная энергия, которую необходимо сообщить электрону валентной зоны, чтобы перевести его на акцепторный уровень.В полупроводнике с акцепторными примесями при низких температурах электропроводность обусловлена дырками, поэтому такой полупроводник называютдырочным полупроводником, или полупроводникомp-типа.
В полупроводнике р-типа дырки будут основныминосителями заряда, а электроны –неосновными.
В элементарных полупроводниках IV группы - кремнии и германии - донорами являются элементы V группы: N, Р, As, Sb, а акцепторами - элементы Ш группы:B, Al, Ga, In. В полупроводниковых соединениях типаAIIIBVиAIIBVIнекоторые примеси IVгруппы могут замещать любой элемент. Так кремний, введенный в качестве примеси в арсенид галлия, создает дырки, если он замещает мышьяк, и свободные электроны, если он замещает галлий. Такое нежелательное, с точки зрения полупроводниковой технологии, амфотерное поведение обнаруживается не у всех примесей IV группы. Например, олово в арсениде галлия почти всегда замещает галлий и поэтому является полезной легирующей примесью - акцептором. Элементы из IV группы (теллур, селен, сера), замещающие мышьяк, используются для получения арсенида галлия n-типа, а элементы П группы (цинк, кадмий) широко используются для получения арсенида галлия р-типа.
Другие примесные атомы или дефекты кристаллической решетки могут создавать в запрещенной зоне уровни, расположенные далеко от краев запрещенной зоны - глубокие уровни. Глубокие уровни могут быть уровнями как донорного типа, так и акцепторного. Поставщиками носителей заряда глубокие уровни не являются, а играют роль ловушек.