Kniga_16_Fizicheskie_osnovy_nanoinzhenerii-1

Содержание

223

1.11.ФИЗИЧЕСКИЕ ОСНОВЫ ЗОНДОВЫХ ТЕХНОЛОГИЙ ...........................

161

1.11.1.Сканирующая туннельная микроскопия.............................

162

1.11.2.Атомная силовая микроскопия............................................

167

1.11.3.Методы сканирующей зондовой микроскопии..................

171

2. МЕТОДИЧЕСКИЕ МАТЕРИАЛЫ..................................................

174

2.1. НОРМАТИВНАЯ ДОКУМЕНТАЦИЯ ПО ДИСЦИПЛИНЕ........................

174

2.1.1. Учебно-методический комплекс по дисциплине ...............

174

2.1.2. Примерная базовая программа дисциплины ......................

180

2.2. СТРУКТУРА И СОСТАВ ФОНДОВ ОЦЕНОЧНЫХ СРЕДСТВ

ПО ДИСЦИПЛИНЕ .............................................................................

188

2.2.1. Перечень вопросов для рейтинговых

и контрольных мероприятий................................................

188

2.2.2. Варианты экзаменационных билетов..................................

192

2.3. СПЕЦИФИКАЦИЯ УЧЕБНЫХ ВИДЕО- И АУДИОМАТЕРИАЛОВ,

СЛАЙДОВ, ЭСКИЗОВ ПЛАКАТОВ И ДРУГИХ ДИДАКТИЧЕСКИХ

МАТЕРИАЛОВ...................................................................................

204

2.3.1. Спецификация слайдов – конспектов лекций.....................

204

2.3.2. Пример оформления дидактических материалов

по лекциям.............................................................................

206

ЗАКЛЮЧЕНИЕ .........................................................................................

217

ЛИТЕРАТУРА............................................................................................

219