Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

fiz_osnovy_elektroniki_КЛ[1]

.pdf
Скачиваний:
36
Добавлен:
15.02.2016
Размер:
4.24 Mб
Скачать

отсюда

E

dN

 

4 2m*

32 gi L3 E

12

.

(4.49)

dE

 

 

h3

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 4.15. Зона Бриллюэна для простой кубической решетки

Рис. 4.16. Заполнение состояний электронами (твердое тело с почти заполненной зоной)

Вдали от границ зоны Бриллюэна, когда m* const,

(Е) Е1/2. По

мере увеличения числа электронов ЕF растет, растет и

(Е) до тех пор,

пока сфера Ферми в пространстве импульсов (рис. 4.17) не коснется зоны Бриллюэна.

После чего (Е) будет уменьшаться, при этом сфера Ферми искажается (рис. 4.17).

51

 

Рис. 4.17. Искажение сферы Ферми при

 

 

 

 

 

 

 

 

Различают электронные участки сферы Ферми, где

 

 

и где

 

 

 

(m*>0) и дырочные, где

 

(m*<0).

 

 

 

 

 

 

 

 

4.9. Электроны и дырки

Итак, в пространстве импульсов, по мере заполнения электронами импульсного пространства, число состояний увеличивается, увеличивается число состояний и вдали от границ зоны Бриллюэна, сфера Ферми представляет собой сферу и m*>0. При приближении к границам (у потолка зоны Бриллюэна) плотность состояний уменьшается, вид поверх-

ности Ферми изменяется, появляются участки

 

.

 

Такие участки называются дырочными поверхностями Ферми. Электроны ведут себя как фиктивные частицы, обладающие массой и зарядом, противоположными по знаку массе и заряду электрона. Эти частицы называются дырками. Зона, заполненная электронами, не может проводить ток, так как в ней нет свободных состояний. Это относится и к полностью пустой зоне, так как там нет носителей зарядов.

Но проводимость пустой зоны может быть создана путем введения на ее нижние уровни некоторого числа электронов. Поэтому, по аналогии, проводимость в полностью заполненной зоне можно добиться путем удаления некоторого числа электронов с ее верхних уровней. Для этого нужно ввести в рассмотрение фиктивную заряженную частицу,

52

являющуюся зеркальным отражением электрона и обладающую массой и зарядом, противоположным по знаку массе и заряду электрона, находящегося вблизи потока зоны, т.е. дырку. Она заполняет энергетические состояния в заполненной зоне так же, как реальные электроны заполняют энергетические состояния в пустой зоне. Введение группы дырок на верхние уровни зоны эквивалентно образованию почти заполненной зоны, так как дырки аннигилируют с электронами, расположенными вблизи потолка зоны. Дырка представляет собой вакансию электрона, следовательно, ее энергию следует отсчитывать в направлении от потолка зоны вниз. Дырка в середине зоны означает, что кристалл находится в возбужденном состоянии по сравнению с кристаллом, где дырка находится у потолка зоны. Дырка, перемещающаяся вверх (по энергии), соответствует электрону, перемещенному вниз. Эти особенности поверхности Ферми подтверждаются экспериментальными исследованиями.

Рис. 4.18. Состояния, занимаемые дырками в почти заполненной зоне

Методы исследования электронных структур

1.Рентгеновские спектры твердых тел.

2.Циклотронный резонанс (метод, позволяющий измерять m*).

3.Эффект де-Гааза – Ван Альфена (в магнитном поле поверхности Ферми).

4.Аномальный скин-эффект.

5.Электронная удельная теплоемкость.

6.Магнитосопротивление кристалла.

53

5. ФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ПОЛУПРОВОДНИКОВ

Класс полупроводников определяют следующие понятия: а) имеют ковалентную связь между атомами.

б) кристаллическая структура типа алмаза.

в) зонная структура (при Т = 0 К): валентная зона (ВЗ) полностью заполнена электронами; зона проводимости (ЗП) полностью свободна; (при Т = 0 К) между ними имеется узкая запрещенная зона Еg.

5.1. Собственные полупроводники (электроны и дырки)

Химически чистые полупроводники называются собственными полупроводниками. К ним относятся чистые элементы (Ge, Si, Sn, и др.) и многие химические соединения (GaAs, InAs, InSb и др., на молекулу GaAs приходится 8 валентных электронов, образующих ковалентную связь). Для них (при T = 0 K) далее будет показана зонная структура. C повышением температуры до величины, при которой тепловая энергия электронов , электроны переходят из ВЗ в ЗП. Это приво-

дит к появлению в ЗП свободных электронов, а в ВЗ свободных уровней, на которые могут переходить другие электроны этой зоны.

Рис. 5.1. Расщепление дискретных атомных уровней

Если приложить к такому кристаллу электрическое поле Е, то в нем возникает движение электронов в ЗП и ВЗ, приводящее к появлению электрического тока. Кристалл становится проводящим. Чем уже Еg и больше Т, тем больше электронов в ЗП, тем большая проводимость. Так, у Ge Еg=0,66 эВ и при Т=293 К концентрация электронов n=1019 м-3 и =0.48 Ом м. Для сравнения: у алмаза Еg=5,2 эВ (Т=293 К) и n=104 м-3,

=108 Ом м, но при Т=600 К и C= Ge (при Т=293 К).

54

Итак, проводимость полупроводников является проводимостью возбужденной. Она появляется под действием внешних факторов: нагревания, облучения светом и ионизированного излучения.

5.1.1. Дырочные примеси в полупроводниках

Рассмотрим более подробно поведение электронов в ВЗ, в которой возникают свободные уровни вследствие перехода части электронов в ЗП. Эти свободные состояния у потолка ВЗ, как мы рассмотрели в предыдущей теме, эквивалентны зарядам +e с массой mр, численно равной отрицательной массе электрона mn, ранее занимавшего данное состояние вблизи потолка ВЗ. Поэтому ток, создаваемый дырками, будет совпадать как по величине, так и по направлению с током, созданным электронами, почти полностью заполненной ВЗ. На языке ковалентной связи: электрон, перешедший в ЗП – аналогично тому, что атом потерял одну связь, появилась дырка, т.е. при внешнем возбуждении (теплота, облучение) произошла генерация (рис. 5.2) – образовались свободные электрон и дырка.

Рис. 5.2. Процессы генерации и рекомбинации носителей заряда в собственном полупроводнике

Место дырки 1 и 2 может быть занято электронами 3 и 4. Следовательно, дырки 1 и 2 переходят в места 3 и 4, и т. д. В электрическом поле электроны движутся против поля Е, а дырки – вдоль поля Е. Но так как заряд у них разного знака, то токи их складываются. Вследствие теплового движения электрон из ЗП может встретиться с дыркой и происходит процесс, обратный генерации, т.е. исчезает свободный электрон

идырка – это процесс рекомбинации.

5.2.Примесные полупроводники (донорные и акцепторные)

Полупроводники любой степени чистоты всегда содержат примесные атомы, создающие свои энергетические уровни, получившие название примесных уровней. Эти уровни могут располагаться как в разре-

55

шенных, так и в запрещенных зонах. В ряде случаев примеси вводят сознательно для придания полупроводнику необходимых свойств. Рассмотрим типы примесных уровней.

5.2.1. Донорные уровни

Эти уровни создаются примесями атомов, имеющими валентность выше валентности чистого полупроводника. Так, если в решетке Ge (валентность – 4) вводится As (валентность – 5), для установления связей As отдает 4 электрона, 5-й электрон в образовании связей не участвует

(рис. 5.3).

Рис. 5.3. Примесный полупроводник n-типа: а) и б) появление свободного электрона,

в) энергетический донорный уровень

Он продолжает оставаться в поле атома As, ослабленного в Ge в = 16 раз ( Ge=16), а энергия его связи с атомом As уменьшается в 2 = 256 раз, т.е. ЕД 0,01 эВ, при такой энергии он отрывается от атома As, превращаясь в электрон проводимости. На языке зонной теории: между заполненной ВЗ и свободной ЗП располагаются энергетические уровни пятого элемента As. Эти уровни размещаются около дна ЗП на расстоянии ЕД. При сообщении таким электронам энергии ЕД они переходят в ЗП. Образующиеся при этом дырки локализуются у атома As и в проводимости не участвуют. Таким образом, примеси, являющиеся источником электронов в проводимости, называются донорными, а их уровни – донорными уровнями. Полупроводники с донорными примесями называются донорными полупроводниками или полупроводниками n-типа.

5.2.2. Акцепторные примеси

Уровни, создаваемые примесями атомов, валентность которых ниже валентности основного полупроводника, называются акцепторными

56

уровнями. Так если в кристалл Ge ввести примеси In (3-валентного), для образования связи с четырьмя ближайшими соседями Ge, у атома In не хватает одного электрона (рис. 5.4). Такая дефектная связь представляет собой дырку. При Т > 0 К это место может занять любой соседний электрон, для этого нужно ему сообщить Еа 0,01 эВ (Еа = акт).

Рис. 5.4. Примесный полупроводник р-типа:

а) и б) появление дырки; в) энергетический акцепторный уровень

На языке зонной теории это означает: вблизи потолка ВЗ на расстоянии Еа появляются свободные уровни. Это приводит к тому, что при относительно невысоких температурах электроны из ВЗ переходят на примесные уровни. Связываясь со свободными связями, они в электропроводности не участвуют, а появившиеся в ВЗ дырки становятся носителями положительного заряда и создают электропроводность. Итак, примеси, захватывающие электроны из ВЗ полупроводника, называются акцепторными, а энергетические уровни этих примесей – акцепторными уровнями. Полупроводники, содержащие такие примеси, называются дырочными, или полупроводниками р-типа.

5.3.Положение уровня Ферми и концентрация носителей

вполупроводниках

5.3.1. Собственные полупроводники

Если обозначить концентрацию электронов – n, а дырок – р, то для собственных полупроводников n=р, так как число дырок в ВЗ равно числу электронов в ЗП. Как показывают расчеты, при Т=0 К энергия Ферми

E F

g 2 ,

(5.1)

т.е. уровень Ферми располагается посередине ЗЗ. При повышении Т он смещается вверх к дну ЗП, если mp>mn, и вниз к потолку ВЗ, если mp<mn

(рис. 5.5).

57

Рис. 5.5. Положение уровня Ферми в собственном полупроводнике:

1 – Т=0 К; 2 – Т>0 К, mp>mn; 3 – Т>0 К, mp<mn

Однако это смещение незначительно, и им обычно пренебрегают. Расчет дает:

 

 

 

 

 

 

3

2

 

 

 

2n m

 

m

 

Eq

 

 

p

n

kT

 

 

n p

 

 

 

 

 

 

e 2kT ,

(5.2)

 

 

 

 

 

 

 

 

h 2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

т.е. n = (Еg,Т), а также и для р.

5.3.2. Примесные полупроводники

Электронный полупроводник

 

 

 

 

 

3

 

Д

 

 

 

Д

 

,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

3 2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

n

 

 

где NД – концентрация донорских примесей и

 

 

 

 

 

 

n

32

EД

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

kT .

 

 

 

Д

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Дырочный полупроводник

 

 

 

E F

 

 

E a

 

kT

ln

 

N a

h 3

 

 

,

2

2

 

 

 

3

 

 

2 2

m p

k T

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

где – концентрация акцепторной примеси и

 

 

2

mp

k T

3

2

 

 

 

.

p 2Na

 

 

 

 

 

h 2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

58

 

 

 

 

(5.3)

(5.4)

(5.5)

(5.6)

5.4. Неравновесные носители заряда

При Т > 0 К идут процессы генерации свободных носителей заряда. Если бы этот процесс был единственным, то концентрация носителей возрастала бы со временем. Однако, наряду с этим, возникает процесс рекомбинации свободных носителей. Он состоит в том, что свободные электроны при встрече с дыркой занимают ее место, и пара исчезает. При любой Т между генерацией и рекомбинацией устанавливается равновесие, которому соответствует равновесная концентрация носителей. Такие носители называются равновесными. Помимо теплового возбуждения, генерация носителей может происходить под действием света, ионизации, инжекции носителей через контакт. Это приводит к появлению дополнительных носителей, которые называются неравновесными. Каждый неравновесный носитель, возникнув в полупроводнике, живет ограниченное время, до рекомбинации. Поэтому вводят понятия времени жизни носителей: n и p электронов и дырок. Как показывает теория, концентрация избыточных носителей через время t после выключения возбужденной генерации (например света) равна

n

n0

e

t

(5.7)

n

и

 

 

 

 

 

 

 

t

 

p

p0

e p ,

(5.8)

где n0, p0 – концентрация электронов и

дырок к моменту выключения

возбуждения. Если t = , то из (5.7) и (5.8)

следует:

 

n

n 0 e и

.

(5.9)

Таким образом, среднее время жизни избыточных носителей равно времени, в течение которого их концентрация уменьшается в е раз. Свободные носители заряда диффундируют в объеме полупроводника за время своей жизни на расстояние L, которое называется диффузионной длиной носителей. Расчеты дают:

L D ,

(5.10)

где D – коэффициент диффузии носителей, связанный с их подвижностью u соотношением Эйнштейна:

D kTu q .

(5.11)

Процесс перехода из ЗП в ВЗ может происходить через всю запрещенную зону Еg (межзонный переход) или на примесный уровень Еn, а затем с него в ВЗ – рекомбинация в примесный уровень (рис. 5.6).

59

Рис. 5.6. Схема межзонной рекомбинации (1) и рекомбинации через локальный уровень (2 и 3)

При обоих типах рекомбинаций выделяется одна и та же энергия Еg, но в первом энергия выделяется сразу (1), а во втором – по частям

(2) и (3). Выделенная энергия может происходить или в виде кванта h или в виде тепла (фононов). В первом случае рекомбинацию называют

излучательной, а во втором безизлучательной. Как показывает расчет и опыт, межзонная излучательная рекомбинация может иметь место для полупроводника с узкой ЗЗ при комнатной температуре и выше. В случае широкой ЗЗ основной механизм – безизлучательный. Для арсенида галия GaAs доля излучательной рекомбинации может достигать 50% от общего числа рекомбинаций, поэтому он является основным материалом для светодиодов и источников когерентного излучения (полупроводниковых лазеров).

5.5. Собственная проводимость полупроводников

Полупроводники высокой степени очистки (1атом на 108-109атомов полупроводника) в области не слишком высоких температур обладают электрической проводимостью, обусловленной собственными носителями n и p. Эту проводимость называют собственной проводимостью полупроводника. Удельная электропроводность определяется из проводимости электронов n = un ni q и дырок p = up pi q, где un и up – подвижность электронов и дырок.

un = vn / E,

где vn = qE mn – скорость дрейфа; Е – напряженность электрического поля (аналогично для дырок). Так как n = p, то полная проводимость

= n+ p=q n (un+up).

(5.12)

60